JPH05172733A - ライン型環境試験装置におけるレール等の固定構造 - Google Patents
ライン型環境試験装置におけるレール等の固定構造Info
- Publication number
- JPH05172733A JPH05172733A JP35497891A JP35497891A JPH05172733A JP H05172733 A JPH05172733 A JP H05172733A JP 35497891 A JP35497891 A JP 35497891A JP 35497891 A JP35497891 A JP 35497891A JP H05172733 A JPH05172733 A JP H05172733A
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- JP
- Japan
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- fixed
- guide rail
- line type
- environmental testing
- rails
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、ライン型の環境試験装置において
様々な温度において環境試験を行う際に案内レールの位
置が熱膨張等で多少ずれても、試験品とのプラグの接続
がずれることなく行えるようにする。 【構成】 断熱材で覆われた環境試験室内に恒温空気供
給装置から所定の温度の空気を供給するように構成さ
れ、該室内に施設された案内レール上を試験片を載せた
パレットを直線方向に連続的に移動させるように構成さ
れた装置において、前記案内レールが水平方向に摺動自
在に支持され、該案内レールに軸受が固定され、該軸受
に嵌挿された軸の一方の先端にプラグコネクターが接続
され、該軸の下端が継手を介してシリンダ装置と接続さ
れたライン型環境試験装置におけるレール等の固定方
法。
様々な温度において環境試験を行う際に案内レールの位
置が熱膨張等で多少ずれても、試験品とのプラグの接続
がずれることなく行えるようにする。 【構成】 断熱材で覆われた環境試験室内に恒温空気供
給装置から所定の温度の空気を供給するように構成さ
れ、該室内に施設された案内レール上を試験片を載せた
パレットを直線方向に連続的に移動させるように構成さ
れた装置において、前記案内レールが水平方向に摺動自
在に支持され、該案内レールに軸受が固定され、該軸受
に嵌挿された軸の一方の先端にプラグコネクターが接続
され、該軸の下端が継手を介してシリンダ装置と接続さ
れたライン型環境試験装置におけるレール等の固定方
法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試験片をパレットに載
せて恒温室を移動させるタイプのライン型環境試験装置
において、恒温室内にて試験機のプラグコネクターを試
験片に接続しやすくするためのレール等の固定構造に関
するものである。
せて恒温室を移動させるタイプのライン型環境試験装置
において、恒温室内にて試験機のプラグコネクターを試
験片に接続しやすくするためのレール等の固定構造に関
するものである。
【０００２】
【従来技術】従来のライン型の環境試験装置としては、
断熱材で覆われた環境試験室内に恒温空気供給装置から
所定の温度の空気を供給するように構成したものにおい
て、該試験室内に案内レールを施設し、昇降装置を試験
室の底壁に固定すると共に該昇降装置に試験機を装着し
たものが知られている。該装置では、試験機のプラグコ
ネクターを上昇させて、案内レールに載置されたパレッ
トのプラグと接続し、試験片に恒温下で通電試験を行っ
ていた。
断熱材で覆われた環境試験室内に恒温空気供給装置から
所定の温度の空気を供給するように構成したものにおい
て、該試験室内に案内レールを施設し、昇降装置を試験
室の底壁に固定すると共に該昇降装置に試験機を装着し
たものが知られている。該装置では、試験機のプラグコ
ネクターを上昇させて、案内レールに載置されたパレッ
トのプラグと接続し、試験片に恒温下で通電試験を行っ
ていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来の装置の場合には、試験室内が高温又は低温に晒さ
れるために、試験室内に施設された案内レールは温度の
影響により膨張したり縮んだりする。そのために案内レ
ール上に載置されたパレットの位置と、試験室の底壁に
固定された昇降装置の位置が熱膨張のためにずれてしま
い、試験機のプラグコネクターがパレットのコネクタと
接続出来ず、通電試験がうまく行えないといった不都合
がある。そこで本発明はかかる従来技術の欠点に鑑み為
されたもので、温度が変化しても試験機のプラグコネク
タとパレットのコネクタとの位置ずれが生じない構造を
提供することを目的とする。
従来の装置の場合には、試験室内が高温又は低温に晒さ
れるために、試験室内に施設された案内レールは温度の
影響により膨張したり縮んだりする。そのために案内レ
ール上に載置されたパレットの位置と、試験室の底壁に
固定された昇降装置の位置が熱膨張のためにずれてしま
い、試験機のプラグコネクターがパレットのコネクタと
接続出来ず、通電試験がうまく行えないといった不都合
がある。そこで本発明はかかる従来技術の欠点に鑑み為
されたもので、温度が変化しても試験機のプラグコネク
タとパレットのコネクタとの位置ずれが生じない構造を
提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、試験
室内の案内レールを温度の上昇等により自由に伸びるよ
うに摺動自在に支持し、また昇降機により上下動する試
験機のプラグコネクタを前記案内レールに装着すると共
に、該プラグコネクタを支持する軸を継手を介して昇降
機と接続してなる案内レールの接続構造により本目的を
達成する。
室内の案内レールを温度の上昇等により自由に伸びるよ
うに摺動自在に支持し、また昇降機により上下動する試
験機のプラグコネクタを前記案内レールに装着すると共
に、該プラグコネクタを支持する軸を継手を介して昇降
機と接続してなる案内レールの接続構造により本目的を
達成する。
【０００５】
【作用】すなわち本発明にかかる装置では、案内レール
が加熱され、熱膨張した時、そこに載置されたパレット
の位置が温度に比例してずれるが、これと同時に案内レ
ールに固定されたプラグコネクタも同じに温度に比例し
てずれる。従って、プラグコネクタとパレット間の相対
位置のずれは補正されて０となる。
が加熱され、熱膨張した時、そこに載置されたパレット
の位置が温度に比例してずれるが、これと同時に案内レ
ールに固定されたプラグコネクタも同じに温度に比例し
てずれる。従って、プラグコネクタとパレット間の相対
位置のずれは補正されて０となる。
【０００６】
【実施例】以下に本発明を図面に示された一実施例に従
って詳細に説明する。図において、装置は断熱材１を介
して高温槽２と低温槽３とに区画されており、該恒温槽
２と低温槽３間には、連通口を介して連通しており、ま
た高温槽２、低温槽３等には略Ｕ字状の案内レール４を
水平方向に摺動自在にレール支え５を介して施設されて
いる。レール４の一端はパレット６送りシャフト７の送
り機構８に固定されている。各高温槽２、低温槽３内の
所定の個所（底部）には軸受９、10が装着されており、
該軸受９、10より軸11、12が昇降自在に支持されてお
り、軸11、12の一端には試験機のプラグコネクタ13、14
が接続されている。
って詳細に説明する。図において、装置は断熱材１を介
して高温槽２と低温槽３とに区画されており、該恒温槽
２と低温槽３間には、連通口を介して連通しており、ま
た高温槽２、低温槽３等には略Ｕ字状の案内レール４を
水平方向に摺動自在にレール支え５を介して施設されて
いる。レール４の一端はパレット６送りシャフト７の送
り機構８に固定されている。各高温槽２、低温槽３内の
所定の個所（底部）には軸受９、10が装着されており、
該軸受９、10より軸11、12が昇降自在に支持されてお
り、軸11、12の一端には試験機のプラグコネクタ13、14
が接続されている。
【０００７】軸11、12の他端は試験槽２、３の底壁に固
定された昇降装置16と継手18を介して接続されており、
継手18は軸11、12と接合された内部が円柱状の空洞22を
有し、下方に小径の開口を有する円板19、20と、該円板
19、20の円柱状の空洞22内に配置されたディスク24とか
らなり、該ディスク24は昇降装置16のピストン軸26と接
合されている。前記ディスク24の径は、円板19、20の円
柱状の空洞22の内径よりも狭く、かつ円板19、20の開口
よりも広くなるように構成されている。
定された昇降装置16と継手18を介して接続されており、
継手18は軸11、12と接合された内部が円柱状の空洞22を
有し、下方に小径の開口を有する円板19、20と、該円板
19、20の円柱状の空洞22内に配置されたディスク24とか
らなり、該ディスク24は昇降装置16のピストン軸26と接
合されている。前記ディスク24の径は、円板19、20の円
柱状の空洞22の内径よりも狭く、かつ円板19、20の開口
よりも広くなるように構成されている。
【０００８】パレット送りシャフトの送り機構８は、図
１に示すように台に固定された２本の支柱27、28と、該
支柱間を渡したスライド軸30と、該スライド軸30に装着
されたスライド軸受32と、支柱27に接続されたシリンダ
34及びスライド軸受32に接続されたピストン軸36と、該
スライド軸受32に接合されシャフト７を軸方向に回転さ
せる回転手段38とからなる。
１に示すように台に固定された２本の支柱27、28と、該
支柱間を渡したスライド軸30と、該スライド軸30に装着
されたスライド軸受32と、支柱27に接続されたシリンダ
34及びスライド軸受32に接続されたピストン軸36と、該
スライド軸受32に接合されシャフト７を軸方向に回転さ
せる回転手段38とからなる。
【０００９】パレット送り機構と接続されたシャフト７
は、本実施例では、案内レール４と同一の素材からな
り、所定間隔で突起片40が装着されている。尚、このシ
ャフト７も、前述の案内レール４と同様に試験槽２、３
内では水平方向に摺動自在に支持されており、熱により
膨張又は収縮した際には、支持部材上を摺動するように
構成されている。尚、シャフト７、突起片40及び送り機
構８によるパレット６の移動の仕組みは、本出願人が考
案した実公平３−２８４０号に詳細に記載されたものを
用いている。
は、本実施例では、案内レール４と同一の素材からな
り、所定間隔で突起片40が装着されている。尚、このシ
ャフト７も、前述の案内レール４と同様に試験槽２、３
内では水平方向に摺動自在に支持されており、熱により
膨張又は収縮した際には、支持部材上を摺動するように
構成されている。尚、シャフト７、突起片40及び送り機
構８によるパレット６の移動の仕組みは、本出願人が考
案した実公平３−２８４０号に詳細に記載されたものを
用いている。
【００１０】以上述べた構成において本発明にかかる装
置では、図示しない恒温空気供給装置から各高温槽２、
低温槽３内に所定の温度の空気が供給され、高温槽２で
は案内レール４は伸び、一方低温槽３では、収縮するた
めに、案内レール４は、レール支え５上を低温槽３では
右方向に、高温槽２では左方向に移動する。一方断熱材
からなる各試験槽２、３の底壁に装着された昇降装置
は、移動しない。
置では、図示しない恒温空気供給装置から各高温槽２、
低温槽３内に所定の温度の空気が供給され、高温槽２で
は案内レール４は伸び、一方低温槽３では、収縮するた
めに、案内レール４は、レール支え５上を低温槽３では
右方向に、高温槽２では左方向に移動する。一方断熱材
からなる各試験槽２、３の底壁に装着された昇降装置
は、移動しない。
【００１１】しかし、案内レール４に装着された軸受
９、10が、案内レール4と共に移動し、その為軸受９、1
0に支持された軸に装着された試験機のプラグコネクタ
とパレットに設けたプラグとの相対位置はずれない。こ
のため軸受９、10と昇降装置の位置関係は、ずれた状態
となるが本実施例にかかる装置では、軸11、12と昇降装
置のピストン軸とを継手により接続するように構成して
いるために、ディスクの径と円柱状の中空部の径との差
がこのずれを吸収し、昇降装置の上昇運動をプラグコネ
クタに伝えるために、パレットのプラグとの接続が容易
に行える。軸とレールとを同一材質のものですれば位置
ずれをさらに小さくすることができる。
９、10が、案内レール4と共に移動し、その為軸受９、1
0に支持された軸に装着された試験機のプラグコネクタ
とパレットに設けたプラグとの相対位置はずれない。こ
のため軸受９、10と昇降装置の位置関係は、ずれた状態
となるが本実施例にかかる装置では、軸11、12と昇降装
置のピストン軸とを継手により接続するように構成して
いるために、ディスクの径と円柱状の中空部の径との差
がこのずれを吸収し、昇降装置の上昇運動をプラグコネ
クタに伝えるために、パレットのプラグとの接続が容易
に行える。軸とレールとを同一材質のものですれば位置
ずれをさらに小さくすることができる。
【００１２】
【効果】以上述べた構成において本発明にかかる装置
は、従来の装置では起りがちであった、試験槽に装着さ
れたプラグコネクタと試験片のプラグとの接続の狂いを
大幅に改善することができる。
は、従来の装置では起りがちであった、試験槽に装着さ
れたプラグコネクタと試験片のプラグとの接続の狂いを
大幅に改善することができる。
【図１】 本発明にかかる装置の縦断面図である。
【図２】 図１のＡ−Ａ断面図である。
１ 断熱材 ２ 高温槽 ３ 低温槽 ４ 案内レール ５ レール支え ６ パレット ７ シャフト ８ 送り機構 ９、10 軸受 11、12 軸 13、14 プラグコネクタ 16 昇降装置 18 継手 19、20 円板 22 空洞 24 ディスク 26 ピストン軸 27、28 支柱 30 スライド軸 32 スライド軸受 34 シリンダ 36 ピストン軸受 38 回転手段 40 突起片
Claims (2)
- 【請求項１】 断熱材で覆われた環境試験室内に恒温空
気供給装置から所定の温度の空気を供給するように構成
され、該室内に施設された案内レール上を試験片を載せ
たパレットを直線方向に連続的に移動させるように構成
された装置において、前記案内レールが水平方向に摺動
自在に支持され、該案内レールに軸受が固定され、該軸
受に嵌挿された軸の一方の先端にプラグコネクターが接
続され、該軸の下端が継手を介してシリンダ装置と接続
されていることを特徴とするライン型環境試験装置にお
けるレール等の固定構造。 - 【請求項２】 前記シリンダ装置が試験室の底壁に固定
され、前記軸とシリンダ装置とを接続する継手が、水平
方向のずれを吸収するものである請求項１記載のライン
型環境試験装置におけるレール等の固定構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35497891A JPH081417B2 (ja) | 1991-12-20 | 1991-12-20 | ライン型環境試験装置におけるレール等の固定構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35497891A JPH081417B2 (ja) | 1991-12-20 | 1991-12-20 | ライン型環境試験装置におけるレール等の固定構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05172733A true JPH05172733A (ja) | 1993-07-09 |
| JPH081417B2 JPH081417B2 (ja) | 1996-01-10 |
Family
ID=18441154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35497891A Expired - Fee Related JPH081417B2 (ja) | 1991-12-20 | 1991-12-20 | ライン型環境試験装置におけるレール等の固定構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH081417B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6526841B1 (en) * | 1999-08-02 | 2003-03-04 | Pemstar, Inc. | Environmental test chamber and a carrier for use therein |
| US6806700B2 (en) | 2001-04-25 | 2004-10-19 | Pemstar, Inc. | Hard drive test fixture |
| US7232101B2 (en) | 2003-11-26 | 2007-06-19 | Pemstar, Inc. | Hard drive test fixture |
-
1991
- 1991-12-20 JP JP35497891A patent/JPH081417B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6526841B1 (en) * | 1999-08-02 | 2003-03-04 | Pemstar, Inc. | Environmental test chamber and a carrier for use therein |
| US6679128B2 (en) * | 1999-08-02 | 2004-01-20 | Pemstar, Inc. | Environmental test chamber |
| US7070323B2 (en) | 1999-08-02 | 2006-07-04 | Pemstar, Inc. | Environmental test chamber and a carrier for use therein |
| US6806700B2 (en) | 2001-04-25 | 2004-10-19 | Pemstar, Inc. | Hard drive test fixture |
| US7232101B2 (en) | 2003-11-26 | 2007-06-19 | Pemstar, Inc. | Hard drive test fixture |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH081417B2 (ja) | 1996-01-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080110 Year of fee payment: 12 |
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110110 Year of fee payment: 15 |
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