JPH05159297A - Data recording area changing method for optical disk storage device - Google Patents

Data recording area changing method for optical disk storage device

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Publication number
JPH05159297A
JPH05159297A JP32621691A JP32621691A JPH05159297A JP H05159297 A JPH05159297 A JP H05159297A JP 32621691 A JP32621691 A JP 32621691A JP 32621691 A JP32621691 A JP 32621691A JP H05159297 A JPH05159297 A JP H05159297A
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JP
Japan
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defect
optical disk
data
sector
storage device
Prior art date
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Pending
Application number
JP32621691A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshikazu Sato
嘉一 佐藤
Masashi Kanamori
正志 金森
Yutaka Ideno
裕 出野
Tanio Urushiya
多二男 漆谷
Kenji Ozawa
賢治 小沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH05159297A publication Critical patent/JPH05159297A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To prevent the occurrence of a read/write error even when a defect is grown due to repetition of overwrite by detecting a. defect of abnormally high reflectance by a read signal and changing a sector comprising the defect over to a sound sector at the time of detecting the defect which is larger than a prescribed size. CONSTITUTION:A defect of abnormally high reflectance in a read area of an optical disk 1 is detected by a defect detecting circuit 20 based on a code pattern read signal read out by a head 3 from the disk 1, and a defect signal S in size corresponding to the reflectance is outputted to a processor 10. Then, the size of a defect is counted by a defect detecting means 30 with a counter, and a place of the defect is stored together with the size of the defect. When the defect becomes more than a prescribed value based on the above storage contents, the sector comprising the defect is changed over to the sound sector by a storage area changeover means 40 with reference to a storage area management table 41, and even when the defect is grown due to repetition of overwrite, no read/write error is substantially generated.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、相変化形の記録媒体に
データがオーバライトないし重ね書きされる光ディスク
内に欠陥が発見されたとき読み書きエラーの発生前に光
ディスク内のデータの記録領域を切り換えるようにした
光ディスク記憶装置のデータ記録領域切換方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a data recording area in an optical disc before a read / write error occurs when a defect is found in the optical disc in which data is overwritten or overwritten on a phase change recording medium. The present invention relates to a data recording area switching method of an optical disk storage device that is switched.

【0002】[0002]

【従来の技術】計算機の外部記憶等に用いられるディス
ク記憶装置には一層の大記憶容量化と小形化が要求され
ているが、光ディスク方式は磁気方式よりも記録密度が
およそ1〜2桁高く,かつ完全無接触のヘッドでデータ
にアクセスできる等の利点から将来の外部記憶装置の主
流として囑目されている。この光ディスク記憶装置には
機能面で大別して再生専用形,追記形,書換形の3種が
あるが、データの記録と再生が自由な点では書換形が有
利である。また、原理面でも大別して光磁気形と相変化
形の2種があるが、データ書き換え時に前者は古いデー
タを一旦消去した上で新しいデータを記録する必要があ
るに対し、後者は古いデータの上に新しいデータを重ね
書きするいわゆるオーバライトが可能なのでアクセスタ
イムの短縮が容易な利点を有する。本発明はかかる書換
形でかつ相変化形である光ディスク記憶装置に関し、よ
く知られていることではあるがデータのオーバライトに
よる記録と再生の原理を図4を参照して以下に簡単に説
明する。
2. Description of the Related Art Although a disk storage device used for external storage of a computer is required to have a larger storage capacity and a smaller size, the optical disk system has a recording density higher by about 1 to 2 digits than the magnetic system. In addition, it is regarded as the mainstream of future external storage devices because of the advantages of being able to access data with a completely contactless head. This optical disk storage device is roughly classified into three types, that is, a read-only type, a write-once type, and a rewritable type in terms of functions. In principle, there are roughly two types, magneto-optical type and phase change type. When rewriting data, the former requires erasing old data and then recording new data, while the latter requires old data. Since it is possible to overwrite so that new data is overwritten on top of it, there is an advantage that access time can be shortened easily. The present invention relates to such a rewritable and phase change type optical disk storage device, and as is well known, the principle of recording and reproduction by overwriting of data will be briefly described below with reference to FIG. ..

【0003】光ディスク記憶装置では記録再生用ヘッド
のレーザダイオードからレーザ光を発生させてレンズに
より光ディスクのトラック上に1μm程度の小径スポッ
トに集光するが、図4(a) にデータのオーバライト時の
このレーザ光電力Wを示す。電力Wは図示のように低い
電力W0とそれより50%以上高い電力W1とに記録すべきデ
ータのコードパターンに応じて切り換えられ、そのレー
ザ光スポットを受ける光ディスクの同図(b) に示すトラ
ックTでは、それ以前に記録されていたコードパターン
のいかんに関せずそのカルコゲン等の記録媒体が低電力
W0を受けた個所では光の反射率が高い結晶質となり、高
電力W1を受けた図でハッチングを付した個所では反射率
がその3分の1程度に低い非晶質となる。図ではこれら
電力W0とW1に対応する反射率の異なるデータのコードパ
ターンがP0とP1で示されており、パターンP0が0のコー
ド, パターンP1が1のコードをそれぞれ表し、RLL変
調方式等ではふつうパターンP1を単位コードUCとしてパ
ターンP0がその倍数分続くコードパターンとされる。例
えば、図4(b) の3個のP1と相互間の各3個のP0で示す
範囲は100010001 のコードパターンに対応する。
In an optical disk storage device, laser light is generated from a laser diode of a recording / reproducing head and focused on a small diameter spot of about 1 μm on a track of an optical disk by a lens. When data is overwritten in FIG. 4 (a). This laser light power W is shown. The power W is switched according to the code pattern of the data to be recorded to the low power W0 and the power W1 which is 50% or more higher than that as shown in the figure, and the track shown in FIG. At T, regardless of the code pattern recorded before that, the recording medium such as chalcogen has low power consumption.
The portion receiving W0 becomes crystalline with high light reflectance, and the portion hatched in the figure receiving high power W1 becomes amorphous with the reflectance being about one-third lower. In the figure, code patterns of data having different reflectances corresponding to these electric powers W0 and W1 are shown by P0 and P1, respectively, and the pattern P0 represents a code of 0 and the pattern P1 represents a code of 1, respectively. Usually, the pattern P1 is used as a unit code UC, and the pattern P0 is a code pattern that continues for a multiple of that. For example, the range indicated by three P1s in FIG. 4B and three P0s between them corresponds to 100010001 code patterns.

【0004】以上のようにトラックTの記録媒体に書き
込まれたデータのコードパターンは再生時に弱いレーザ
光のスポットを当ててその反射光をフォトトランジスタ
等に受けて読み取られるが、光ディスクの製作をいかに
入念に行なっても図4(c) に示すようにトラックTの記
録媒体に欠陥DFが稀に発生するのは避けられず、当然か
かる欠陥DFが発生した個所ではパターンP0やP1のコード
を読み取れなくなり、ないしはコードパターン自体も書
き込めないことになる。
As described above, the code pattern of the data written in the recording medium of the track T can be read by applying a spot of a weak laser beam and receiving the reflected light by a phototransistor or the like at the time of reproduction. Even if it is done carefully, it is unavoidable that a defect DF rarely occurs on the recording medium of the track T as shown in FIG. 4 (c), and of course the code of the patterns P0 and P1 can be read at the place where the defect DF occurs. It disappears, or the code pattern itself cannot be written.

【0005】このため、周知のように光ディスク内のデ
ータの記録単位である各セクタには従来からエラー訂正
コードがデータと同時に書き込まれており、欠陥DFによ
って例えば数個のコードが読み取れなくても修復ないし
は元のデータを再生して読み取りエラーの発生を防止す
るようになっている。また、セクタ内のデータの書き込
みをバイトないしはビット単位で入り組ませるインタリ
ーブと呼ばれる手法によりエラーを訂正できる確率を高
めることも可能である。なお、書き込みエラーの発生を
防止するには、データを書き込んだつど直ちにそれを読
み出して正しく書き込まれたか否かを検証するいわゆる
ベリファイを行ない、エラーが発生した場合はデータを
代替用セクタに書き換えるのが通例である。
For this reason, as is well known, an error correction code has been conventionally written at the same time as data in each sector which is a recording unit of data in an optical disk, and even if several codes cannot be read due to a defect DF. It is designed to recover or reproduce the original data to prevent a read error. It is also possible to increase the probability that an error can be corrected by a method called interleaving, in which writing of data in a sector is complicated in units of bytes or bits. To prevent the occurrence of a write error, so-called verify is performed to verify whether or not the data was written and read correctly each time the data is written, and if an error occurs, the data is rewritten to the substitute sector. Is customary.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、相変化形の光
ディスクではデータのオーバライトを繰り返すにつれて
欠陥DFが図4(d) に示すように次第に成長して来る傾向
があり、数万〜10万回のオーバライト後にその大きさが
ある限度を越えると前述のエラー訂正コード等による訂
正ができなくなって読み取りエラーが発生する問題があ
る。
However, in the phase change type optical disk, the defect DF tends to grow gradually as data overwrite is repeated, as shown in FIG. 4 (d). If the size exceeds a certain limit after overwriting a number of times, there is a problem that the error cannot be corrected by the above-described error correction code and a read error occurs.

【0007】相変化形の光ディスクでは記録媒体をレー
ザ光スポットによる加熱温度と冷却速度の差を利用して
結晶質や非晶質にするので、オーバライトごとに加熱冷
却の熱サイクルが掛かって熱歪みとともに欠陥が伝播す
るためと考えられ、この原因から見て欠陥成長の防止は
非常に困難である。なお、欠陥が微小な塵等の混入に起
因する場合その成長がとくに早いことが知られている。
In the phase-change type optical disk, the recording medium is made crystalline or amorphous by utilizing the difference between the heating temperature and the cooling rate by the laser light spot. It is considered that this is because the defects propagate with the strain, and it is very difficult to prevent the defect growth from the reason of this. It is known that the growth of a defect is particularly fast when it is caused by the inclusion of minute dust or the like.

【0008】また、前述のエラー訂正コードは欠陥に基
づく読取信号の乱れが少ない場合に本来適するものなの
で、乱れが大きくなると訂正がもちろん不可能になって
読み取りエラーの発生は避けられず、あるいは稀にでは
あるが却って誤訂正を施して誤ったデータを読み取って
しまうこともある。この対策としていわゆる再同期化コ
ードを記録データ中に挿入する手段が知られているが、
誤訂正の防止には有用であっても大きく成長した欠陥に
基づく読取信号の乱れまでを訂正できる機能はもちろん
ない。前述のインタリーブ法についても同様である。さ
らに、書き込み時のエラーは前述のベリファイによって
ほぼ完全に防止できるが、そのためには光ディスクが1
回転するのを待つ必要があるので、例えば各トラックに
データを書き込むつど15〜20mSの時間がむだになり、書
き込み時の実効アクセスタイムがそれだけ延びる欠点が
ある。
Further, since the above-mentioned error correction code is originally suitable when the disturbance of the read signal due to the defect is small, the correction becomes impossible if the disturbance becomes large, and the occurrence of the read error is unavoidable or rare. However, there are also cases where incorrect data is read and incorrect data is read. As a countermeasure against this, a means for inserting a so-called resynchronization code into the recorded data is known.
Even if it is useful for preventing erroneous correction, it does not have a function of correcting even the disturbance of the read signal due to a large grown defect. The same applies to the interleave method described above. Furthermore, errors during writing can be almost completely prevented by the above-mentioned verification.
Since it is necessary to wait for the rotation, for example, 15-20 mS of time is wasted each time data is written in each track, and the effective access time at the time of writing is extended.

【0009】以上のような問題点に鑑み、本発明の目的
は相変化形の光ディスク内の欠陥がオーバライトを繰り
返すにつれて成長しても読み書きエラーが発生しないよ
うにすることにある。
In view of the above problems, it is an object of the present invention to prevent a read / write error from occurring even if a defect in a phase change type optical disk grows as overwriting is repeated.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的は本発明方法に
よれば、相変化形の記録媒体にデータがオーバライトさ
れる光ディスク記憶装置に対し、データの読取信号から
光反射率が異常に高い欠陥とその大きさを検出する欠陥
検出回路を設け、これにより所定の大きさ以上の欠陥が
検出された時その欠陥個所を含むデータの記録領域をセ
クタ単位で他のセクタに切り換えることにより達成され
る。
According to the method of the present invention, an optical disk storage device in which data is overwritten on a phase change recording medium has an abnormally high light reflectance from a data read signal. This is achieved by providing a defect detection circuit for detecting a defect and its size, and when a defect of a predetermined size or more is detected, the data recording area including the defect portion is switched to another sector in sector units. It

【0011】なお、上述の欠陥検出回路は、光ディスク
記憶装置のデータの取り扱い動作に合わせるため、相変
化形の記録媒体の欠陥をデータ記録用コードパターンの
単位コード数で表した大きさで検出するように構成する
のがよく、このため欠陥検出手段を光ディスクの駆動用
スピンドルモータの速度を指定するクロックパルスに同
期して動作するように構成するのが有利である。
In order to match the data handling operation of the optical disk storage device, the above-mentioned defect detection circuit detects a defect of the phase change type recording medium with a size represented by the number of unit codes of the data recording code pattern. Therefore, it is advantageous to configure the defect detecting means so as to operate in synchronization with a clock pulse that specifies the speed of the spindle motor for driving the optical disk.

【0012】また、光ディスク記憶装置の使用開始の際
には、光ディスクに最初のデータを書き込む前に欠陥検
出回路により欠陥を含むセクタをあらかじめ検出して置
き、この際に所定の大きさの欠陥が検出されたセクタを
除外した健全なセクタのみに光ディスク記憶装置のデー
タの記録領域を光ディスク内で一貫したセクタ番号の順
序で設定するのが有利であり、この際セクタを除外すべ
き欠陥の大きさの判定基準はエラー訂正コードにより訂
正可能な大きさよりかなり厳格な例えば3単位コード程
度以上とするのが好適である。
Further, at the start of use of the optical disk storage device, a sector including a defect is previously detected and placed by a defect detection circuit before writing the first data on the optical disk, and at this time, a defect of a predetermined size is detected. It is advantageous to set the data recording area of the optical disk storage device in a consistent sector number order within the optical disk only for sound sectors excluding the detected sectors. It is preferable that the criterion of (3) is, for example, about 3 unit codes or more, which is considerably stricter than the size that can be corrected by the error correction code.

【0013】さらに、光ディスク記憶装置の使用中に
は、そのデータ読み書き動作の合間に欠陥検出回路によ
り光ディスク内の欠陥を検出かつ記憶して置き、所定の
大きさ以上の欠陥が検出されたセクタに対しデータを書
き込む際にそれを光ディスク内にあらかじめ設定された
代替用セクタに切り換えて書き込むようにするのが有利
であり、このセクタを切り換えるべき欠陥の大きさの判
定基準は光ディスク記憶装置の使用開始の際にセクタを
除外する基準より緩いがエラー訂正コードにより訂正可
能な大きさより厳格な5単位コード程度以上とするのが
よい。なお、この代替用セクタは光ディスク内に設定さ
れた特定のトラックにあらかじめ設定して置くのが有利
である。さらに、光ディスク記憶装置の使用中の上述の
欠陥検出はデータのオーバライトが所定回数,例えば1
万回繰り返されたつど行なうようにするのが実際的であ
る。
Further, during use of the optical disk storage device, a defect detection circuit detects and stores a defect in the optical disk between data read / write operations, and the defect is detected in a sector in which a defect having a predetermined size or more is detected. When writing data, it is advantageous to switch it to a preset alternative sector in the optical disc and write it. The criterion for determining the size of the defect to which this sector should be switched is to start using the optical disc storage device. In this case, it is preferable that the unit code is looser than the standard for excluding the sector, but about 5 unit codes or more, which is stricter than the size that can be corrected by the error correction code. It should be noted that it is advantageous to set the replacement sector in advance on a specific track set in the optical disc. Furthermore, in the above-mentioned defect detection while the optical disk storage device is in use, data overwrite is performed a predetermined number of times, for example, 1
It is practical to do it every time it is repeated.

【0014】なお、本発明方法の実施に際しては、上述
の欠陥検出およびそれに基づく記録領域の切り換えを制
御するため、光ディスク記憶装置にその読み書き動作を
含む内部制御のために組み込まれているプロセッサ内に
欠陥検出手段と記録領域切換手段をソフトウエアとして
装荷するとともにセクタの論理ないし物理アドレスを含
む記録領域管理表を記憶させて置き、欠陥検出手段には
欠陥検出回路を起動しかつその欠陥検出結果を記憶する
役目を持たせ、記録領域切換手段には欠陥検出手段と記
録領域管理表の記憶内容に基づいて欠陥を含むセクタを
健全なセクタに切り換える役目を持たせるようにするの
がよい。
In carrying out the method of the present invention, in order to control the above-mentioned defect detection and the switching of the recording area based on it, a processor incorporated in the optical disk storage device for internal control including the read / write operation thereof is carried out. The defect detecting means and the recording area switching means are loaded as software, and the recording area management table including the logical or physical address of the sector is stored and the defect detecting means activates the defect detecting circuit and outputs the defect detection result. It is preferable that the recording area switching means has a role of storing information and the recording area switching means has a function of switching a sector including a defect to a sound sector based on the stored contents of the defect detection means and the recording area management table.

【0015】[0015]

【作用】本発明は、相変化形の光ディスクをもつディス
ク記憶装置ではデータのコードパターンの読み取りが記
録媒体中の結晶質部分と非晶質部分の光の反射率の差を
利用して行なわれ、かつ記録媒体の欠陥,とくにその成
長部分が結晶質部分よりさらに高い反射率をもつので、
コードパターンの読取信号の波形から異常に高い反射率
をもつ部分を欠陥として検出できる点に着目したもの
で、光ディスク記憶装置に前項の構成にいう欠陥検出回
路を組み込んで光ディスク内の欠陥の個所と大きさを必
要に応じて随時検出させ、検出された欠陥が所定の大き
さ以上のときその欠陥個所を含むセクタを健全なセクタ
に切り換えることにより、その欠陥が成長して読み取り
エラーが実際に発生する前,つまり欠陥が大きく成長す
る前のまだ小さな間にエラーの発生原因を除去してしま
うものである。従って、本発明方法によれば読み取りエ
ラーの発生をほぼ皆無にすることができ、かつ書き込み
エラーの発生も同様に事前に防止できる。
According to the present invention, in the disk storage device having the phase change type optical disk, the reading of the data code pattern is performed by utilizing the difference in light reflectance between the crystalline portion and the amorphous portion in the recording medium. , And because the defects of the recording medium, especially its grown portion, have higher reflectance than the crystalline portion,
Focusing on the fact that a portion with an abnormally high reflectance can be detected as a defect from the waveform of the read signal of the code pattern, the defect detection circuit described in the configuration of the previous section is incorporated in the optical disk storage device to identify the defect location in the optical disk. The size is detected as needed, and when the detected defect is larger than a predetermined size, the sector containing the defect is switched to a healthy sector, and the defect grows and a read error actually occurs. This is to eliminate the cause of the error before it occurs, that is, before the defect grows large while it is still small. Therefore, according to the method of the present invention, the read error can be almost eliminated, and the write error can be similarly prevented in advance.

【0016】[0016]

【実施例】以下、図を参照して本発明の実施例を説明す
る。図1は本発明の記録領域切換方法の実施に適する光
ディスク記憶装置の内部構成例を示す構成回路図、図2
は欠陥の検出要領を示すトラックの欠陥を含む部分の拡
大図とそれに対応する読取信号の波形図、図3は欠陥検
出回路の具体構成例の回路図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration circuit diagram showing an internal configuration example of an optical disk storage device suitable for carrying out the recording area switching method of the present invention.
3 is an enlarged view of a portion including a defect of a track showing a defect detection procedure and a waveform diagram of a read signal corresponding thereto, and FIG. 3 is a circuit diagram of a specific configuration example of the defect detection circuit.

【0017】図1の上部に示された光ディスク1は、例
えば5.25インチ径のプラスチックの基板の下面にトラッ
ク設定用の溝を切って上面に記録媒体1aを成膜したもの
で、この記録媒体1aとしては例えばZnSとGe2Sb2Te5
ZnSとAlとをそれぞれ 120,60, 170, 100nmの膜厚に順
次に積層してなり、この内の Ge2Sb2Te5が実際の記録媒
体である。この光ディスク1は通例のようにスピンドル
モータ2により高速に駆動され、回転速度はその駆動回
路2aにプロセッサ10側から与えられるクロックパルスCP
によって指定される。
The optical disk 1 shown in the upper part of FIG. 1 is formed by cutting a track setting groove on a lower surface of a plastic substrate having a diameter of, for example, 5.25 inches and forming a recording medium 1a on the upper surface thereof. For example, ZnS and Ge 2 Sb 2 Te 5
ZnS and Al are sequentially laminated to have film thicknesses of 120, 60, 170, and 100 nm, respectively, and Ge 2 Sb 2 Te 5 in this is the actual recording medium. This optical disk 1 is driven at a high speed by a spindle motor 2 as usual, and the rotation speed is a clock pulse CP given to its drive circuit 2a from the processor 10 side.
Specified by.

【0018】光ディスク1の左下側に示されたヘッド3
は記録媒体1a上にレーザビームLBの小さなスポットを集
光するもので、図の左右方向の位置がプロセッサ10から
駆動信号DSを受けるその駆動回路3aにより制御され、レ
ーザビームLBを発生するその内部のレーザダイオードに
与える電力をリードライト指令RWに応じて切り換え、か
つデータのコードパターンを指定する書込信号WSにより
制御するようになっている。データの読み取り時には、
記録媒体1aに与えられる弱いレーザビームLBの反射光が
ヘッド3内のフォトトランジスタ等により検出されてそ
れからアナログの読取信号RSaが出力され、通例のよう
に復調回路4によりディジタルパルス列の読取信号RSに
変換され、かつ同期回路5により同期化された上でエン
コーダ・デコーダ回路6に与えられる。この回路6はプ
ロセッサ10から与えられるリードライト指令RWに応じ読
取信号RSをNLZ等のディジタルパルスDPにデコード
し、あるいはディジタルパルスDPを書込信号WSにエンコ
ードする。
A head 3 shown on the lower left side of the optical disk 1.
Is for focusing a small spot of the laser beam LB on the recording medium 1a, and the position in the left-right direction of the drawing is controlled by the drive circuit 3a which receives the drive signal DS from the processor 10, and the inside of which generates the laser beam LB. The power applied to the laser diode is switched according to the read / write command RW, and is controlled by the write signal WS that specifies the data code pattern. When reading data,
The reflected light of the weak laser beam LB given to the recording medium 1a is detected by a phototransistor or the like in the head 3 and then an analog read signal RSa is output. It is converted and synchronized by the synchronizing circuit 5, and then given to the encoder / decoder circuit 6. The circuit 6 decodes the read signal RS into a digital pulse DP such as NLZ or encodes the digital pulse DP into a write signal WS according to the read / write command RW given from the processor 10.

【0019】プロセッサ10は光ディスク記憶装置にその
読み書き動作の全体制御のため組み込まれるもので、デ
ータ専用プロセッサであるデータ制御回路11と連絡バス
12を介して連系され、内部バス13とインタフェース回路
14と外部バス15を介して図示しない計算機と接続され
る。データ制御回路11はシリアルなディジタルパルスDP
をパラレルなデータに変換してRAM11aを介して内部
バス13に乗せ、あるいは逆に内部バス13からRAM11a
を介しパラレルなデータを読み込んでシリアルなディジ
タルパルスDPとして出力するものである。
The processor 10 is incorporated in the optical disk storage device for overall control of its read / write operation, and includes a data control circuit 11 which is a data-only processor and a communication bus.
Interfaced with internal bus 13 via 12
It is connected to a computer (not shown) via 14 and an external bus 15. The data control circuit 11 uses a serial digital pulse DP
To parallel data and load it on the internal bus 13 via the RAM 11a, or conversely from the internal bus 13 to the RAM 11a.
The parallel data is read via and output as a serial digital pulse DP.

【0020】本発明では、以上のように構成された光デ
ィスク記憶装置に欠陥検出回路20を組み込んでヘッド3
から読取信号RSaを与え、そのアナログ波形から図2
(a) に示すトラックT内の欠陥DFを検出させる。図2
(b) に示すように、読取信号RSaは同図(a) の検出質で
高反射率のコードパターンP0と非晶質で低反射率のコー
ドパターンP1にそれぞれ対応する高低2個のレベルから
なる波形をもつが、欠陥DFがトラックTに存在すると図
のようにそれに対応して異常に高いレベルの波形が現れ
るので、欠陥検出回路20はこれを利用して欠陥DFを検出
する。
According to the present invention, the defect detection circuit 20 is incorporated in the optical disk storage device having the above-described structure to provide the head 3
The read signal RSa is given from and the analog waveform is shown in FIG.
The defect DF in the track T shown in (a) is detected. Figure 2
As shown in (b), the read signal RSa is composed of two levels, high and low, corresponding to the code pattern P0 of high quality and high reflectance of the detection quality and the code pattern P1 of amorphous and low reflectance of FIG. However, if the defect DF exists on the track T, an abnormally high level waveform appears as shown in the figure, and the defect detection circuit 20 utilizes this to detect the defect DF.

【0021】このため、図3の回路例に示すように欠陥
検出回路20のコンパレータ21により読取信号RSaを所定
のしきい値Vtと比較して、図2(b) の読取信号RSaの波
形がしきい値Vtを越えたときにその出力をハイにさせ
る。この比較出力を受ける図3のワンショット回路22p
はそのハイへの立ち上がりに, ワンショット回路22nは
ローへの立ち下がりにそれぞれ応動して所定幅のパルス
を出力し、それぞれD形フリップフロップ23と24のデー
タ入力に与える。この実施例では欠陥検出回路20の動作
を図2(a) のコードパターンP0やP1と関係付けるため、
コードパターン上の単位コードUCの幅と同じ周期をもつ
クロックパルスCPがフリップフロップ23と24のトリガ入
力に与えられる。従って、これらのフリップフロップ23
と24はそれぞれワンショット回路22pと22nの出力パル
スを受けたときクロックパルスCPに同期してセットさ
れ、それらのQ出力によって後段のフリップフロップ25
をそれぞれセットおよびリセットする。
Therefore, as shown in the circuit example of FIG. 3, the read signal RSa is compared with a predetermined threshold value Vt by the comparator 21 of the defect detection circuit 20, and the waveform of the read signal RSa of FIG. Forces its output high when the threshold Vt is exceeded. One-shot circuit 22p of FIG. 3 receiving this comparison output
Responds to the rising to the high level and the one-shot circuit 22n to the falling to the low level, and outputs a pulse having a predetermined width to the data inputs of the D flip-flops 23 and 24, respectively. In this embodiment, the operation of the defect detection circuit 20 is related to the code patterns P0 and P1 of FIG.
A clock pulse CP having the same period as the width of the unit code UC on the code pattern is applied to the trigger inputs of the flip-flops 23 and 24. Therefore, these flip-flops 23
And 24 are set in synchronism with the clock pulse CP when receiving the output pulses of the one-shot circuits 22p and 22n, respectively, and the flip-flops 25 of the subsequent stage are set by their Q outputs.
To set and reset respectively.

【0022】このようにして、フリップフロップ25のQ
出力は図2の読取信号RSaの波形がしきい値Vtを越える
時間を単位コードUCの個数で表した時間内だけハイにな
り、欠陥DFが検出された旨を示す検出信号Sとして欠陥
検出回路20から出力される。また、アンドゲート26がこ
のQ出力のハイによりイネーブルされ、カウンタ27にク
ロックパルスCPを与えて検出した欠陥DFの大きさを示す
上述の単位コード数を計数して記憶させる。
In this way, the Q of the flip-flop 25 is
The output becomes high only during the time when the waveform of the read signal RSa in FIG. 2 exceeds the threshold value Vt expressed by the number of unit codes UC, and as a detection signal S indicating that the defect DF is detected, the defect detection circuit It is output from 20. Further, the AND gate 26 is enabled by the high level of the Q output, and the clock pulse CP is given to the counter 27 to count and store the above-mentioned unit code number indicating the size of the detected defect DF.

【0023】このような欠陥検出回路20に対応して、こ
の実施例では図1のプロセッサ10にソフトウエアとして
欠陥検出手段30が装荷される。光ディスク1内の欠陥を
検出するには、この欠陥検出手段30からリセットパルス
RPを欠陥検出回路20に送ってそのカウンタ27の計数値を
クリアする。欠陥検出回路20は欠陥を検出すると検出信
号Sを出力するので、これを受けた欠陥検出手段30はそ
の消失を待って欠陥の大きさを示すカウンタ27の計数値
Nを読み取る。欠陥検出手段30はこれと同時にヘッド3
の光ディスク1上の位置を前述の駆動信号DSにより指定
しているので、検出された欠陥の個所をその大きさとと
もに記憶する。
Corresponding to the defect detecting circuit 20 as described above, in this embodiment, the defect detecting means 30 is loaded as software on the processor 10 of FIG. In order to detect a defect in the optical disk 1, a reset pulse is output from the defect detecting means 30.
The RP is sent to the defect detection circuit 20 to clear the count value of the counter 27. When the defect detection circuit 20 detects a defect, it outputs a detection signal S, and the defect detection means 30 receiving this signal waits for its disappearance and reads the count value N of the counter 27 indicating the size of the defect. At the same time, the defect detection means 30 causes the head 3
Since the position on the optical disc 1 is designated by the above-mentioned drive signal DS, the location of the detected defect is stored together with its size.

【0024】さらに、この実施例ではプロセッサ10に欠
陥検出手段30内に記憶された欠陥に基づいて動作する記
録領域切換手段40をソフトウエアとして装荷するととも
に、その動作の際に参照すべきセクタの論理アドレスや
物理アドレスを記憶する記録領域管理表41をプロセッサ
10の記憶領域内に設定する。周知のように、計算機側か
ら読み書きすべきデータが論理アドレスにより指定され
るが、光ディスク記憶装置側では記憶領域を切り換えた
先を記憶する記録領域管理表41を参照してこの論理アド
レスを光ディスク1内の物理アドレスに変換した上で実
際の読み書きを行なう。なお、この記録領域管理表41と
同じ内容を光ディスク1内の特定範囲内に記録して置
き、光ディスク記憶装置に電源を投入して起動させるつ
どそこからプロセッサ10内にまず読み込むようにする。
Further, in this embodiment, the recording area switching means 40, which operates based on the defect stored in the defect detecting means 30 in the processor 10, is loaded as software, and the sector to be referred to at the time of the operation is loaded. The recording area management table 41 that stores logical addresses and physical addresses
Set within 10 storage areas. As is well known, the data to be read and written from the computer side is designated by a logical address, but the optical disk storage device side refers to this logical address by referring to the recording area management table 41 for storing the destination where the storage area is switched. Read / write after converting to the physical address in. It should be noted that the same contents as the recording area management table 41 are recorded and stored in a specific range in the optical disk 1, and are read into the processor 10 from there each time the optical disk storage device is powered on and activated.

【0025】以上で本発明方法の実施に関連する光ディ
スク記憶装置の構成の説明を終えたので次にその動作例
を説明する。光ディスク1上への前述の記録媒体1aの成
膜はふつう高周波マグネトロン法によりなされるが、当
初は非晶質なので使用開始に先立ちレーザ光を照射して
まず結晶質に変える。この実施例では光ディスク1を36
00回転/分で回転させ、図1のヘッド3から830nmの波
長のレーザビームLBを与えてデータを読み書きする。書
き込み時のレーザ光電力は図2(a) の結晶質のコードパ
ターンP0に対するいわゆる消去電力レベルを9mWとし、
非晶質のコードパターンP1に対する記録電力レベルを15
mWとした。このコードパターンは通例のRLLの2−7
変調方式とし、単位コードUCの時間幅は55nSとした。
Now that the description of the configuration of the optical disk storage device related to the implementation of the method of the present invention has been completed, an example of its operation will be described. The above-mentioned recording medium 1a is usually formed on the optical disk 1 by a high-frequency magnetron method, but since it is initially amorphous, it is first irradiated with laser light to be crystalline before being used. In this embodiment, the optical disc 1 is 36
The data is read / written by rotating the laser at 00 rpm and applying a laser beam LB having a wavelength of 830 nm from the head 3 in FIG. The laser light power at the time of writing is set to 9 mW as the so-called erasing power level for the crystalline code pattern P0 in FIG. 2 (a),
The recording power level for the amorphous code pattern P1 is set to 15
mW. This code pattern is the usual RLL 2-7
The modulation method was used, and the unit code UC time width was 55 nS.

【0026】光ディスク1の記録媒体1aを結晶質にした
後は直ちにデータを書き込めるが、本発明方法ではその
前に欠陥を検出するのがよく、かつこの欠陥検出をデー
タのオーバライトを試験的に数百〜数千回繰り返した後
に行なうのが望ましい。この実施例では1000回のオーバ
ライト後に欠陥検出回路20を動作させて光ディスク1の
全面に亘り欠陥を検出する。この際に検出される欠陥の
大きさは単位コード数にしてふつうは最大でも2程度で
あるが、4単位コード分程度の最大欠陥が稀にではある
が検出される。
Data can be written immediately after the recording medium 1a of the optical disk 1 is made crystalline, but in the method of the present invention, it is preferable to detect a defect before this, and this defect detection is carried out on a trial basis by overwriting the data. It is desirable to carry out after repeating several hundred to several thousand times. In this embodiment, after overwriting 1000 times, the defect detection circuit 20 is operated to detect defects over the entire surface of the optical disc 1. The size of the defect detected at this time is usually at most 2 in terms of the number of unit codes, but the maximum defect of about 4 unit codes is rarely detected.

【0027】このあまり良好でない光ディスク1に対し
て引き続きオーバライトを継続して見たところ、最初か
ら4万回で10単位コードの最大欠陥が検出され、10万回
では20単位コードの最大欠陥が検出され、エラー訂正コ
ードによる読み取りデータの訂正がもちろん不可能な状
態であった。このように欠陥が次第に成長する傾向があ
るので、この実施例では光ディスク記憶装置の使用開始
に際して記録領域切換手段40を動作させて上述の欠陥検
出により3単位コード以上の欠陥が検出されたセクタを
除いてデータを書き込むようにした。
As a result of continuous overwriting on this not so good optical disc 1, a maximum defect of 10 unit codes was detected 40,000 times from the beginning, and a maximum defect of 20 unit codes was detected at 100,000 times. Of course, it was impossible to correct the read data by the error correction code after it was detected. Since the defects tend to grow gradually in this way, in this embodiment, the recording area switching means 40 is operated at the start of use of the optical disk storage device, and the sectors in which the defects of three unit codes or more are detected by the above-mentioned defect detection are selected. I tried to write the data except.

【0028】これによって欠陥セクタを飛ばした健全な
セクタのみにデータが書き込まれるので、使用開始時の
データ記録領域がヘッド3を無用に移動させる必要をな
くすように光ディスク1内で一貫したセクタ番号の順序
で設定される。かかる当初の設定結果は記録領域管理表
41内に記憶され、光ディスク1内の前述の特定範囲内に
も記録される。このように光ディスク記憶装置の使用開
始に際し3単位コード以上の欠陥をもつセクタを除外し
てデータの記録領域を設定した場合は 100万回のオーバ
ライト後にも読み取りエラーは発生せず、欠陥セクタを
除外しなかった場合は10万回のオーバライト後に読み取
りエラーが発生した。
As a result, the data is written only to the sound sector from which the defective sector has been skipped, so that the data recording area at the start of use does not need to move the head 3 unnecessarily so that the sector number is consistent in the optical disk 1. Set in order. The initial setting result is the recording area management table.
It is stored in 41 and is also recorded in the aforementioned specific range in the optical disc 1. In this way, when starting the use of the optical disk storage device and setting the data recording area by excluding the sectors having defects of 3 unit codes or more, no read error occurs even after overwriting 1 million times, and the defective sectors are recorded. If not excluded, a read error occurred after 100,000 overwrites.

【0029】このようにして光ディスク記憶装置を使用
開始した後は、使用中のデータ読み書き動作の合間に欠
陥検出回路20を動作させて光ディスク1の全面に亘り欠
陥を検出させる。この欠陥検出は読み書き動作の中断の
つどに行なう必要はもちろんなく、オーバライトを1万
回程度ずつ繰り返した後に行なうことでよい。前述の当
初は欠陥が2単位コード以下のふつうの光ディスク1に
データのオーバライトを継続した実験結果では、最初か
ら4万回のオーバライト後に3単位コード以上の欠陥が
検出され始め、10万回後には10単位コードを越える欠陥
が検出される。そこで、この実施例では光ディスク記憶
装置の使用開始後の欠陥検出時に5単位コード以上の欠
陥が検出されたセクタを記憶して置き、この欠陥セクタ
に対して次にデータを書き込む際に光ディスク1内にあ
らかじめ設定された代替用セクタに切り換えて書き込む
ようにした。
After starting the use of the optical disk storage device in this way, the defect detection circuit 20 is operated between the data reading and writing operations in use to detect defects over the entire surface of the optical disk 1. This defect detection need not always be performed each time the read / write operation is interrupted, but may be performed after overwriting is repeated about 10,000 times. As a result of the experiment in which the data is continuously overwritten on the ordinary optical disc 1 having the defect of 2 unit code or less at the beginning, the defect of 3 unit code or more starts to be detected after the overwrite of 40,000 times from the beginning. Later, defects exceeding 10 unit codes are detected. Therefore, in this embodiment, a sector in which a defect having a unit code of 5 or more is detected at the time of detecting a defect after the use of the optical disk storage device is stored, and the data is written in the defective sector in the optical disk 1 next time. Then, the data is switched to and written to the preset replacement sector.

【0030】本発明方法によりこのように記憶領域を切
り換える光ディスク記憶装置では、読み取りエラーが実
際に発生する以前にエラー発生のおそれがある欠陥セク
タを健全な代替用セクタに切り換えるので読み取りエラ
ーの発生はほぼ皆無になる。上述の5単位コード以上の
欠陥が検出されたセクタに対しデータのオーバライトを
繰り返した実験結果では、欠陥検出後の10万回のオーバ
ライト後には読み取りエラーが発生して来る。また、本
発明方法による光ディスク記憶装置をデータの書き込み
時のベリファイなしで運転した結果では、書き込みエラ
ーの発生もほぼ皆無であり、かつデータ書き込み時の平
均アクセスタイムが20%程度短縮できる好結果が得られ
ている。
In the optical disk storage device in which the storage area is thus switched by the method of the present invention, a defective sector that may cause an error is switched to a sound replacement sector before the read error actually occurs, so that no read error occurs. Almost nothing. As a result of an experiment in which data is repeatedly overwritten on a sector in which a defect of 5 unit codes or more is detected, a read error occurs after 100,000 overwrites after the defect is detected. Further, as a result of operating the optical disk storage device according to the method of the present invention without verifying at the time of writing data, there is almost no writing error, and the average access time at the time of writing data can be shortened by about 20%. Has been obtained.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明方法ではデータを相変化形記録媒
体にオーバライトする光ディスク記憶装置に対して、デ
ータの読取信号から光反射率が異常に高い欠陥とその大
きさを検出する欠陥検出回路を設け、それにより所定の
大きさ以上の欠陥が検出されたときその欠陥の個所を含
むデータの記録領域をセクタ単位で光ディスク内の他の
セクタに切り換えることにより次の効果が得られる。
According to the method of the present invention, a defect detection circuit for detecting a defect having an abnormally high light reflectance and its size from a read signal of data for an optical disk storage device which overwrites data on a phase change recording medium. When a defect of a predetermined size or more is detected by this, the data recording area including the defect portion is switched to another sector in the optical disk in sector units, and the following effects are obtained.

【0032】(a) 所定の大きさ以上の欠陥が検出された
セクタを健全なセクタに切り換えることにより、その欠
陥が成長して読み取りエラーが実際に発生する以前にエ
ラーの発生原因を除去されるので読み取りエラーの発生
がほぼ皆無になる。本発明の実施によって光ディスク記
憶装置のデータのオーバライトの保証回数を 100万回以
上に向上することが可能になる。 (b) 従来は書き込み後のベリファイに失敗した場合の健
全なセクタへのデータの書き換えに長時間を要していた
が、本発明方法によりデータ書き込み時の書き換えの必
要を実質上なくすことができる。 (c) データの読み取りエラーの発生防止のため最初の読
み取りに失敗した時に2〜3回のいわゆるリトライを掛
けるのが通例であるが、本発明では各セクタ内の欠陥を
エラー訂正コードによる訂正が可能な程度の大きさ以内
に管理できるので、読み取り失敗の発生確率を減少させ
て読み取り時の平均アクセスタイムもその分短縮するこ
とができる。
(A) By switching a sector in which a defect of a predetermined size or more is detected to a healthy sector, the cause of the error is eliminated before the defect grows and a read error actually occurs. Therefore, almost no read error occurs. By implementing the present invention, it is possible to improve the guaranteed number of times of data overwriting of the optical disk storage device to 1 million times or more. (b) Conventionally, it took a long time to rewrite data in a sound sector when the verification after writing fails, but the method of the present invention can substantially eliminate the need for rewriting at the time of writing data. .. (c) In order to prevent the occurrence of a data read error, it is customary to perform a so-called retry 2 or 3 times when the first read fails, but in the present invention, the defect in each sector is corrected by an error correction code. Since it can be managed within the size as much as possible, the probability of read failure can be reduced and the average access time during read can be shortened accordingly.

【0033】このように、本発明方法は相変化形記録媒
体の欠陥がデータのオーバライトを繰り返すにつれて成
長する欠点を補って光ディスク記憶装置の長期運転信頼
性を向上しかつ動作性能を改善する効果を備え、その実
用化と普及とに顕著な貢献を果たし得るものである。
As described above, the method of the present invention compensates for the defects that the defects of the phase-change recording medium grow as data is repeatedly overwritten, and improves the long-term operation reliability and the operation performance of the optical disk storage device. It is possible to make a significant contribution to its practical application and spread.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による記録領域切換方法の実施に適する
光ディスク記憶装置の内部構成を例示するその構成回路
図である。
FIG. 1 is a configuration circuit diagram illustrating an internal configuration of an optical disk storage device suitable for implementing a recording area switching method according to the present invention.

【図2】欠陥検出回路によって光ディスク内の欠陥を検
出する要領を示し、同図(a) は欠陥を含むトラックの一
部の拡大展開図、同図(b) はそれに対応する読取信号の
波形図である。
2A and 2B show a procedure for detecting a defect in an optical disk by a defect detection circuit. FIG. 2A is an enlarged development view of a part of a track including a defect, and FIG. 2B is a waveform of a corresponding read signal. It is a figure.

【図3】欠陥検出回路の具体構成例の回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of a specific configuration example of a defect detection circuit.

【図4】相変化形の記録媒体を用いる光ディスクにデー
タのコードパターンを書き込む要領を示し、同図(a) は
コードパターンの書き込み時のレーザ光電力の波形図、
同図(b) はこれによりコードパターン書き込まれたトラ
ックの一部拡大展開図、同図(c) は欠陥を含むトラック
の一部拡大展開図、同図(d) はこの欠陥がオーバライト
の繰り返しにより成長した後のトラックの一部拡大展開
図である。
FIG. 4 shows a procedure for writing a data code pattern on an optical disc using a phase-change recording medium. FIG. 4A is a waveform diagram of laser light power at the time of writing the code pattern,
The figure (b) is a partially enlarged development view of the track in which the code pattern is written, the figure (c) is a partially enlarged development view of the track including the defect, and the figure (d) shows that this defect is overwritten. It is a partially expanded development view of the track after it grew up by repetition.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光ディスク 1a 記録媒体 3 ヘッド 10 光ディスク記憶装置の組み込みプロセッサ 20 欠陥検出回路 30 プロセッサに装荷された欠陥検出手段 40 プロセッサに装荷された記録領域切換手段 41 プロセッサ内に記憶された記録領域管理表 DF 欠陥 N 欠陥の大きさを表す単位コード数 P0 コードパターン P1 コードパターン S 欠陥検出信号 T トラック UC 単位コード 1 Optical Disc 1a Recording Medium 3 Head 10 Embedded Processor of Optical Disc Storage Device 20 Defect Detection Circuit 30 Defect Detection Means Loaded in Processor 40 Recording Area Switching Means Loaded in Processor 41 Recording Area Management Table DF Defects Stored in Processor N Number of unit code indicating size of defect P0 code pattern P1 code pattern S Defect detection signal T Track UC Unit code

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 漆谷 多二男 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内 (72)発明者 小沢 賢治 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Tanio Urushitani, No. 1 Tanabe Shinden, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Fuji Electric Co., Ltd. (72) Kenji Ozawa, 1 Tanabe Nitta, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa No. 1 within Fuji Electric Co., Ltd.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】相変化形の記録媒体にデータがオーバライ
トされる光ディスク記憶装置のデータ記録領域を切り換
える方法であって、データの読取信号から光反射率が異
常に高い欠陥とその大きさを検出する欠陥検出回路を設
け、欠陥検出回路により所定の大きさ以上の欠陥が検出
された時その欠陥の個所を含むデータの記録領域をセク
タを単位として光ディスク内の他のセクタに切り換える
ようにしたことを特徴とする光ディスク記憶装置のデー
タ記録領域切換方法。
1. A method of switching a data recording area of an optical disk storage device in which data is overwritten on a phase-change type recording medium, wherein a defect having an abnormally high light reflectance from a read signal of data and its size are detected. A defect detection circuit for detecting is provided, and when a defect larger than a predetermined size is detected by the defect detection circuit, the data recording area including the location of the defect is switched to another sector in the optical disk in sector units. A data recording area switching method for an optical disk storage device, comprising:
【請求項2】請求項1に記載の方法において、光ディス
クに最初のデータを書き込む前に欠陥を含むセクタをあ
らかじめ欠陥検出回路により検出して置き、データの記
録領域を欠陥が検出されたセクタを除く光ディスク内の
セクタに一貫したセクタ番号順で設定するようにしたこ
とを特徴とする光ディスク記憶装置のデータ記録領域切
換方法。
2. The method according to claim 1, wherein a sector including a defect is previously detected by a defect detection circuit before the first data is written on the optical disc, and a data recording area is set to a sector where the defect is detected. A method for switching a data recording area of an optical disk storage device, wherein the sectors in the optical disk other than the above are set in a consistent sector number order.
【請求項3】請求項1に記載の方法において、光ディス
ク記憶装置の使用中のデータの読み書き動作の合間に欠
陥検出回路により光ディスク内の欠陥を検出かつ記憶し
て置き、欠陥が検出されたセクタに対するデータの書き
込み時にそのセクタを光ディスク内にあらかじめ設定さ
れた代替用セクタに切り換えるようにしたことを特徴と
する光ディスク記憶装置のデータ記録領域切換方法。
3. The method according to claim 1, wherein a defect in the optical disk is detected and stored by a defect detection circuit during a read / write operation of data during use of the optical disk storage device, and the defect is detected. A method for switching a data recording area of an optical disk storage device, characterized in that the sector is switched to a preset replacement sector in the optical disk when writing data to the optical disk.
【請求項4】請求項1に記載の方法において、欠陥検出
回路がデータ記録用コードパターンの単位コード数で表
した欠陥の大きさを検出するようにしたことを特徴とす
る光ディスク記憶装置のデータ記録領域切換方法。
4. The data of an optical disk storage device according to claim 1, wherein the defect detection circuit detects the size of the defect represented by the number of unit codes of the data recording code pattern. Recording area switching method.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6052348A (en) * 1997-04-03 2000-04-18 Seagate Technology, Inc. System and method for write location defect compensation in computer storage media
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