JPH0512776Y2 - - Google Patents
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- JPH0512776Y2 JPH0512776Y2 JP1988020657U JP2065788U JPH0512776Y2 JP H0512776 Y2 JPH0512776 Y2 JP H0512776Y2 JP 1988020657 U JP1988020657 U JP 1988020657U JP 2065788 U JP2065788 U JP 2065788U JP H0512776 Y2 JPH0512776 Y2 JP H0512776Y2
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- probe
- plate
- circuit board
- probe plate
- lifting
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
「技術分野」
本考案は、回路基板のパターンや導通を試験す
るためのパターンチエツカーに関し、特にそのプ
ローブピンの被検物との接離機構に関する。[Detailed Description of the Invention] [Technical Field] The present invention relates to a pattern checker for testing the pattern and continuity of a circuit board, and particularly relates to a mechanism for bringing probe pins into contact with and separating from a test object.
「従来技術およびその問題点」
印刷等の手法によつて所定の回路を形成した
FPC等の回路基板は、その回路パターンが正確
に形成されているか否かをパターンチエツカーに
よつて検査する。このパターンチエツカーは、複
数のプローブピン（触針）を被検回路基板の所定
部分に接触させ、プローブピンに接続されている
判定回路によりパターンチエツクを行なうもので
ある。このパターンチエツカーは従来、プローブ
ピンを有するプローブプレートを被検回路基板に
対して平行に移動させて接離させるタイプと、プ
ローブプレートを回動軸を中心に回動させて、被
検回路基板に接離させるタイプが知られている。
前者はプローブピンと被検回路基板のこすれが生
じない利点があるが、装置が大型化するという問
題があり、また後者は装置は小型であるが、プロ
ーブピンの回動運動によりプローブピンと被検回
路基板がこすれ、プローブピンの破損、回路の損
傷等が生じるおそれがある。"Prior art and its problems" A predetermined circuit is formed using methods such as printing.
A circuit board such as an FPC is inspected by a pattern checker to determine whether its circuit pattern is accurately formed. This pattern checker brings a plurality of probe pins into contact with predetermined portions of a circuit board to be tested, and performs a pattern check using a determination circuit connected to the probe pins. Conventionally, this pattern checker has two types: one type that moves a probe plate with probe pins parallel to the circuit board under test to bring it in and out, and the other type that moves the probe plate with probe pins in parallel to the circuit board to be tested. A type that connects and separates is known.
The former has the advantage of not causing rubbing between the probe pin and the circuit board under test, but has the problem of increasing the size of the device, and the latter has a small device, but the rotational movement of the probe pin causes the probe pin to rub against the circuit under test. There is a risk that the board will be rubbed, the probe pins may be damaged, and the circuit may be damaged.
「考案の目的」
本考案は、プローブピンを有するプローブプレ
ートが回動軸を中心に回動するタイプであつて、
しかもプローブピンと被検回路基板とのこすれが
生じないプローブピンの接離機構を得ることを目
的とする。"Purpose of the invention" The present invention is a type in which a probe plate having a probe pin rotates around a rotation axis.
Moreover, it is an object of the present invention to provide a probe pin contact/separation mechanism that does not cause rubbing between the probe pin and the circuit board to be tested.
「考案の概要」
本考案は、プローブピンを有し、回動軸を中心
に回動可能なプローブプレートの下方に、プロー
ブピンと接触する被検回路基板を載置する載置台
を昇降可能に設け、さらにプローブプレートと載
置台とが平行になつた後、載置台とプローブプレ
ートとを接近させる平行移動機構とを設けた装置
において、この平行運動機構を、プローブプレー
トの回動に連動して回動するカムプレートと、プ
ローブプレートと載置台とが平行になる前には、
載置台をプローブプレートとの離間位置に保持す
る、このカムプレートに形成した離間位置保持区
間と、プローブプレートと載置台とが平行になつ
た後に、載置台をプローブプレートに接近させ
る、カムプレートに形成した平行移動区間とによ
つて構成したことを特徴としている。"Summary of the invention" This invention has a mounting table that can be raised and lowered to place the circuit board to be tested in contact with the probe pins under a probe plate that has probe pins and is rotatable around a rotation axis. Further, in an apparatus provided with a parallel movement mechanism that brings the mounting table and the probe plate closer together after the probe plate and the mounting table become parallel, the parallel movement mechanism is rotated in conjunction with the rotation of the probe plate. Before the moving cam plate, probe plate and mounting table become parallel,
After the separation position holding section formed on the cam plate, which holds the mounting table at a distance from the probe plate, and the probe plate and the mounting table become parallel, the mounting table is brought closer to the probe plate. It is characterized by being constructed by a parallel movement section formed.
「考案の実施例」
以下図示実施例について本考案を説明する。第
１図、第２図において、基台１１上に立てた支柱
１２には、回動軸１３でカムプレート１４が枢着
され、このカムプレート１４に一体にプローブプ
レート１５が設けられている。カムプレート１４
は、回動軸１３を中心とする円弧面（離間位置保
持区間）１４ａと、切欠部（平行移動区間）１４
ｂとを有している。切欠部１４ｂは、プローブプ
レート１５と直交しかつ回動軸１３の中心を通る
昇降ガイド面１４ｃと、このガイド面１４ｃに直
交しプローブプレート１５と平行なストツパ面１
４ｄとからなる。``Embodiments of the invention'' The invention will be described below with reference to illustrated embodiments. In FIGS. 1 and 2, a cam plate 14 is pivotally attached to a support 12 erected on a base 11 through a rotation shaft 13, and a probe plate 15 is integrally provided with this cam plate 14. Cam plate 14
is a circular arc surface (separated position holding section) 14a centered on the rotation axis 13, and a notch (parallel movement section) 14
It has b. The notch 14b has an elevation guide surface 14c that is orthogonal to the probe plate 15 and passes through the center of the rotating shaft 13, and a stopper surface 1 that is orthogonal to the guide surface 14c and parallel to the probe plate 15.
It consists of 4d.
プローブプレート１５は、その平面に直交する
複数のプローブピン１６を有している。これらの
プローブピン１６は被検回路基板のパターンに対
応するパターンで配置されたもので、それぞれ圧
ばね１６ｂによつてその先端接触部１６ａがプロ
ーブプレート１５から突出する方向に付勢されて
おり、かつその後端部１６ｃは、判定回路１７に
接続されている。このプローブプレート１５は、
カムプレート１４に立てたばね掛けピン１８と基
台１１との間に張設した引張ばね１９により、プ
ローブプレート１５が上方を向くように回動付勢
されている。 The probe plate 15 has a plurality of probe pins 16 orthogonal to its plane. These probe pins 16 are arranged in a pattern corresponding to the pattern of the circuit board to be tested, and each of the probe pins 16 is biased by a pressure spring 16b in a direction in which its tip contact portion 16a protrudes from the probe plate 15. Further, the rear end portion 16c is connected to the determination circuit 17. This probe plate 15 is
A tension spring 19 stretched between a spring hanging pin 18 set up on the cam plate 14 and the base 11 biases the probe plate 15 to rotate upward.
基台１１には、プローブプレート１５の下方に
位置させて、昇降台２０が設けられている。この
昇降台２０はその下面に一体に設けた昇降軸２１
を、基台１１に穿けたガイド孔２２に摺動自在に
嵌め、かつ昇降軸２１の外周に嵌めた圧縮ばね２
３によつて上昇する方向に付勢したものである。
この昇降台２０は、その大きさに応じ、昇降軸２
１を複数設け、あるいは角軸とすることにより、
回動が生じないようにされている。 An elevating table 20 is provided on the base 11 and positioned below the probe plate 15. This elevating table 20 has an elevating shaft 21 integrally provided on its lower surface.
A compression spring 2 is slidably fitted into a guide hole 22 drilled in the base 11 and fitted around the outer periphery of the lifting shaft 21.
3 in the upward direction.
This elevating platform 20 has an elevating shaft 2 depending on its size.
By providing multiple 1 or using a square shaft,
Rotation is prevented from occurring.
この昇降台２０の支柱１２側の規制端面２４
は、回動軸１３の中心を通る鉛直線と同一面をな
している。したがつて、昇降台２０は、カムプレ
ート１４の円弧面１４ａが昇降台２０上面と係合
する状態では上昇が規制されるが、プローブプレ
ート１５が回動軸１３を中心に回動して昇降ガイ
ド面１４ｃが規制端面２４と合致すると、この昇
降ガイド面１４ｃに沿つて上昇することができ
る。そしてその上昇端は昇降台２０の上面がスト
ツパ面１４ｄに当接する位置で規制される。なお
プローブプレート１５が昇降台２０と平行となる
側の回動端は、ストツパピン２６によつて規制さ
れている。 The restriction end surface 24 of the lift table 20 on the support column 12 side
is in the same plane as a vertical line passing through the center of the pivot shaft 13. Therefore, the lifting of the lifting platform 20 is restricted when the arcuate surface 14a of the cam plate 14 is engaged with the upper surface of the lifting platform 20, but when the probe plate 15 rotates about the pivot shaft 13 and the lifting guide surface 14c coincides with the restricting end surface 24, the lifting platform 20 can rise along the lifting guide surface 14c. The lifting end is restricted at the position where the upper surface of the lifting platform 20 abuts against the stopper surface 14d. The rotation end on the side where the probe plate 15 is parallel to the lifting platform 20 is restricted by the stopper pin 26.
したがつて上記構成の本装置は、カムプレート
１４の円弧面１４ａが昇降台２０の上面と係合す
る第１図の状態、つまり昇降台２０が圧縮ばね２
３を撓ませて下降している第１図の状態におい
て、昇降台２０上の所定位置に位置決めして被検
回路基板２５を載置する。その後プローブプレー
ト１５を引張ばね１９の力に抗し回動軸１３を中
心に回動させて昇降台２０上に閉じていくと、プ
ローブプレート１５と昇降台２０が平行になつた
とき、つまりプローブプレート１５がストツパピ
ン２６と当接したときに、その規制端面２４と昇
降ガイド面１４ｃとが一致する。すると昇降台２
０は圧縮ばね２３の力により上昇し、昇降台２０
の上面がストツパ面１４ｄと当接する位置で上昇
を停止する（第２図）。 Therefore, the present device having the above-mentioned configuration is in the state shown in FIG.
In the state shown in FIG. 1 in which the test circuit board 3 is bent and lowered, it is positioned at a predetermined position on the lifting table 20 and the circuit board 25 to be tested is placed thereon. After that, when the probe plate 15 is rotated around the rotation axis 13 against the force of the tension spring 19 and closed on the lifting table 20, when the probe plate 15 and the lifting table 20 become parallel, that is, the probe When the plate 15 comes into contact with the stopper pin 26, the regulating end surface 24 and the elevation guide surface 14c coincide with each other. Then the elevator platform 2
0 is raised by the force of the compression spring 23, and the lifting platform 20
The lifting is stopped at the position where the upper surface of the lever comes into contact with the stopper surface 14d (FIG. 2).
この上昇停止位置では、プローブピン１６の先
端接触部１６ａは被検回路基板２５によつて押さ
れ、圧縮ばね１６ｂが撓んで接触圧力が発生する
ように、プローブピン１６とストツパ面１４ｄの
位置が設定されており、したがつて判定回路１７
によつて確実に被検回路基板２５のパターンチエ
ツクを行なうことができる。そしてこの昇降台２
０の上昇は、プローブプレート１５と昇降台２０
とが平行になつた時点で生じるから、プローブピ
ン１６と被検回路基板２５とが接触する際、こじ
れが生じるおそれはない。またこの昇降台２０の
上昇状態では、規制端面２４と昇降ガイド面１４
ｃと係合により、引張ばね１９の力によるプロー
ブプレート１５の回動が阻止される。よつて作業
者がプローブプレート１５から手を離してもプロ
ーブピン１６と被検回路基板２５とが離れること
がない。 At this raised stop position, the tip contact portion 16a of the probe pin 16 is pressed by the test circuit board 25, and the positions of the probe pin 16 and the stopper surface 14d are adjusted so that the compression spring 16b is bent and contact pressure is generated. Therefore, the determination circuit 17
This allows the pattern check of the circuit board 25 to be tested to be performed reliably. And this lifting platform 2
0 is raised by the probe plate 15 and the lifting platform 20.
Since this occurs when the probe pins 16 and the test circuit board 25 become parallel, there is no risk of twisting when the probe pins 16 and the circuit board 25 to be tested come into contact. In addition, in the elevated state of this elevating table 20, the regulating end surface 24 and the elevating guide surface 14
By engaging with C, rotation of the probe plate 15 due to the force of the tension spring 19 is prevented. Therefore, even if the operator takes his hand off the probe plate 15, the probe pins 16 and the circuit board to be tested 25 will not separate.
パターンチエツクが済んだら、圧縮ばね２３の
力に抗して昇降台２０を押し下げる。すると昇降
台２０の規制端面２４とカムプレート１４の昇降
ガイド面１４ｃの係合が外れた時点で、プローブ
プレート１５は引張ばね１９の力により昇降台２
０から離れる方向に回動し、カムプレート１４は
その円弧面１４ａを昇降台２０の上面と係合させ
て、昇降台２０を下降端に保持する。このプロー
ブプレート１５の回動の時点では、被検回路基板
２５とプローブピン１６は既に離れているから、
プローブピン１６が被検回路基板２５を傷付ける
おそれは皆無である。 After the pattern check is completed, the lifting platform 20 is pushed down against the force of the compression spring 23. Then, when the regulating end surface 24 of the lifting table 20 and the lifting guide surface 14c of the cam plate 14 are disengaged, the probe plate 15 is moved to the lifting table 2 by the force of the tension spring 19.
The cam plate 14 rotates in a direction away from 0, and its arcuate surface 14a engages with the upper surface of the lifting table 20, thereby holding the lifting table 20 at the lower end. At the time of this rotation of the probe plate 15, the circuit board 25 to be tested and the probe pins 16 are already separated.
There is no possibility that the probe pins 16 will damage the circuit board 25 to be tested.
以後昇降台２０上から検査の済んだ被検回路基
板２５を外し、新しい被検回路基板２５をセツト
して同様にパターンチエツクを続けることができ
る。 Thereafter, the inspected circuit board 25 that has been inspected can be removed from the lifting table 20, a new inspected circuit board 25 can be set, and pattern checking can be continued in the same manner.
「考案の効果」
以上のように本考案によれば、回動軸を中心に
回動するプローブプレートが昇降台上の被検回路
基板と平行になつた後、昇降台とプローブプレー
トが接近して、プローブピンと被検回路基板とが
接触するため、プローブピンが被検回路基板とこ
すれるおそれがない。このためプローブピンの回
動運動に起因してプローブピンおよび被検回路基
板の破損が生じることがない。そしてプローブプ
レートは回動軸を中心に回動運動するから、プロ
ーブプレートを昇降台に対して水平に昇降させる
装置に比し、小型化が図れる。さらに本考案は、
プローブプレートの回動に連動して回動するカム
プレートが備えられていて、このカムプレート
に、プローブプレートと載置台とが平行になる前
には、該載置台をプローブプレートとの離間位置
に保持する離間位置保持区間と、プローブプレー
トと載置台とが平行になつた後に、該載置台をプ
ローブプレートに接近させる平行移動区間を設け
たから、簡単な構造の装置が得られる。"Effect of the invention" As described above, according to the invention, after the probe plate, which rotates around the rotation axis, becomes parallel to the circuit board to be tested on the lifting platform, the lifting platform and the probe plate approach each other. Since the probe pins and the circuit board to be tested come into contact with each other, there is no possibility that the probe pins will rub against the circuit board to be tested. Therefore, the probe pin and the circuit board to be tested are not damaged due to the rotational movement of the probe pin. Since the probe plate rotates around the rotation axis, it can be made more compact than a device that raises and lowers the probe plate horizontally with respect to the lifting platform. Furthermore, this invention
A cam plate is provided that rotates in conjunction with the rotation of the probe plate, and the cam plate is provided with a cam plate that moves the mounting base to a position separated from the probe plate before the probe plate and the mounting base become parallel. A device with a simple structure can be obtained because the spaced-off position holding section for holding the probe plate and the parallel movement section for moving the mounting table closer to the probe plate after the probe plate and the mounting table are made parallel to each other are provided.
第１図、第２図はそれぞれ、本考案によるプロ
ーブピンを有するパターンチエツカーの実施例を
示す互いに異なる作動状態の正面図である。
１１……基台、１２……支柱、１３……回動
軸、１４……カムプレート、１４ａ……円弧面
（離間位置保持区間）、１４ｂ……切欠部（平行移
動区間）、１４ｃ……昇降ガイド面、１４ｄ……
ストツパ面、１５……プローブプレート、１６…
…プローブピン、１７……判定回路、１９……引
張ばね、２０……昇降台、２１……昇降軸、２２
……ガイド孔、２３……圧縮ばね、２４……規制
端面、２５……被検回路基板。
FIGS. 1 and 2 are front views of a pattern checker having a probe pin according to the present invention in different operating states. DESCRIPTION OF SYMBOLS 11... Base, 12... Strut, 13... Rotating shaft, 14... Cam plate, 14a... Arc surface (separated position holding section), 14b... Notch (parallel movement section), 14c... Lifting guide surface, 14d...
Stopper surface, 15... Probe plate, 16...
... Probe pin, 17 ... Judgment circuit, 19 ... Tension spring, 20 ... Lifting platform, 21 ... Lifting shaft, 22
... Guide hole, 23 ... Compression spring, 24 ... Regulation end surface, 25 ... Test circuit board.
Claims (1)
プローブプレートと； 上記プローブピンと接触する被検回路基板を載
置し、上記プローブプレートの下方において昇降
可能な載置台と； 上記プローブプレートの回動に連動して回動す
るカムプレートと； プローブプレートと載置台とが平行になる前に
は、該載置台をプローブプレートとの離間位置に
保持する、このカムプレートに形成した離間位置
保持区間と； プローブプレートと載置台とが平行になつた後
に、該載置台をプローブプレートに接近させる、
上記カムプレートに形成した平行移動区間と； を有することを特徴とするプローブピンを有する
パターンチエツカー。[Claims for Utility Model Registration] A probe plate that has probe pins and is rotatable about a rotation axis; A circuit board to be tested is placed in contact with the probe pins, and is movable up and down below the probe plate. a mounting table; a cam plate that rotates in conjunction with the rotation of the probe plate; a separated position holding section formed on the cam plate; and after the probe plate and the mounting table become parallel, the mounting table is brought closer to the probe plate;
A pattern checker having a probe pin, comprising: a parallel movement section formed on the cam plate;
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988020657U JPH0512776Y2 (en) | 1988-02-19 | 1988-02-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988020657U JPH0512776Y2 (en) | 1988-02-19 | 1988-02-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01129672U JPH01129672U (en) | 1989-09-04 |
| JPH0512776Y2 true JPH0512776Y2 (en) | 1993-04-02 |
Family
ID=31237211
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988020657U Expired - Lifetime JPH0512776Y2 (en) | 1988-02-19 | 1988-02-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0512776Y2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4583890B2 (en) * | 2004-11-17 | 2010-11-17 | 日本電子株式会社 | Probe apparatus and sample inspection apparatus having the probe apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6053067B2 (en) * | 1977-03-30 | 1985-11-22 | 大日本インキ化学工業株式会社 | colored polyester composition |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57205073U (en) * | 1981-06-25 | 1982-12-27 | ||
| JPS6053067U (en) * | 1983-09-20 | 1985-04-13 | 株式会社富士通ゼネラル | Circuit board inspection equipment |
-
1988
- 1988-02-19 JP JP1988020657U patent/JPH0512776Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6053067B2 (en) * | 1977-03-30 | 1985-11-22 | 大日本インキ化学工業株式会社 | colored polyester composition |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01129672U (en) | 1989-09-04 |
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