JPH05126757A - 製品の受容性を光学的に決定する方法と装置 - Google Patents

製品の受容性を光学的に決定する方法と装置

Info

Publication number
JPH05126757A
JPH05126757A JP4078540A JP7854092A JPH05126757A JP H05126757 A JPH05126757 A JP H05126757A JP 4078540 A JP4078540 A JP 4078540A JP 7854092 A JP7854092 A JP 7854092A JP H05126757 A JPH05126757 A JP H05126757A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
product
value
images
filter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4078540A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3126474B2 (ja
Inventor
Kenneth A Cox
ケネス・エー・コツクス
Henry M Dante
ヘンリー・エム・ダンテ
Robert J Maher
ロバート・ジエイ・マハー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Philip Morris Products SA
Philip Morris Products Inc
Original Assignee
Philip Morris Products SA
Philip Morris Products Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philip Morris Products SA, Philip Morris Products Inc filed Critical Philip Morris Products SA
Publication of JPH05126757A publication Critical patent/JPH05126757A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3126474B2 publication Critical patent/JP3126474B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/001Industrial image inspection using an image reference approach
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F18/00Pattern recognition
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/04Sorting according to size
    • B07C5/10Sorting according to size measured by light-responsive means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F18/00Pattern recognition
    • G06F18/20Analysing
    • G06F18/21Design or setup of recognition systems or techniques; Extraction of features in feature space; Blind source separation
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/70Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
    • GPHYSICS
    • G07CHECKING-DEVICES
    • G07CTIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • G07C3/00Registering or indicating the condition or the working of machines or other apparatus, other than vehicles
    • G07C3/14Quality control systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30164Workpiece; Machine component

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
  • Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
  • Evolutionary Biology (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Sorting Of Articles (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 製品の検査法とその装置に関し、光学的検査
システムを改良し単純化する。 【構成】 検査すべき製品12を運ぶコンベア装置20
で、センサ22が所定の位置Aで製品12を検出するた
びに、カメラ24、およびプロセッサ26が、光源30
に製品を照明させて、カメラ24に、製品の静止影像を
とらえる。この静止影像は、これをディジタル化してさ
らに処理するプロセッサ26に送られる。プロセッサ2
6は、ディスプレイ32にその影像を表示させ、その表
示を、受容可能な製品影像のアウトラインか、ある種の
特徴のアウトラインのような他の情報で増大させること
ができる。オペレータは、この情報により、システムの
他の要素を用いて、表示される製品影像が受容可能か否
かを決定し、オペレータはデータ入力装置34を用い
て、システムの全作動を制御するとともに、システムか
らの照会に応答する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】本発明は、製品の検査法とその装置に関
し、さらに詳しくは製品が受容可能な外観を有している
か否かを光学的に決定する方法と装置に関する。
【0002】包装食品、飲料、クリーニング用製品、健
康と美容用器具、シガレット、シガーなどの消費財のよ
うな多くの製品としては、製品の外観またはその包装が
一様で欠点がないことが非常に重要である。現在これら
の製品は、一般に、大量にかつ高速度で生産されている
ので、何らかの形態の自動式光学検査が実際に絶対必要
である。光学的検査システムとしては、製品の影像のす
べての部分または実質的にすべての部分を検査してその
影像のどこかで生じるあらゆる種類の欠点を検出できる
ものが極めて好ましい。同時に、その検査システムは、
理想的な製品と比べて小さいが受容可能な偏差を有す製
品を不合格品としてはならない。
【0003】シガレットパックのような比較的単純な製
品の影像でも、検査システムには、受容可能な製品(す
なわち理想的な外観または理想に近く受容できる外観を
有する製品)、および外観の欠点または理想には程遠い
外観のために不合格にしなければならない受容できない
製品を識別するのに必要な精緻性で、影像のすべての部
分または実質的にすべての部分を検査できるように大量
の情報が最初に供給されなければならない。上記の情報
を識別して検査システムの装置に入力するには、一般
に、非常に高いレベルの熟練度および/または大量のオ
ペレータの時間を必要とする。その上、このデータの識
別と入力の作業は、新製品もしくは差が小さい製品でも
検査しなければならないときはそのたびごとに繰返さね
ばならない。
【0004】本発明は、光学的検査システムを改良し単
純化することを目的とするものである。
【0005】したがって、本発明は、製品の受容可能な
影像(I)の第1セットからフィルタ(F)を作製し、
そのフィルタを、第2セットの製品の影像の各々と比較
して第2セット中の各影像についての分布の値を有する
処理された値(P)を作製し、前記フィルタを、第3セ
ットの製品の影像の各々と比較して第3セット中の各影
像についてのさらに処理された値を作製し、次いでこの
さらに処理された値の各々を前記分布と比較して上記の
さらに処理された値を有する影像に対応する製品の受容
性を決定することによって製品(12)の受容性を決定
する方法であって、処理された値の第1範囲(A)と第
2範囲(B)を前記分布から作製し(220)、第1範
囲が製品の受容可能な影像に対応する処理された値を含
み、および第2範囲が前記第1範囲から間隔をあけて存
在し、かつ製品の受容できない影像に対応する処理され
た値を含み、さらに処理された値の各々が第1と第2の
範囲の両方の外側にあるか否かを決定(318,32
2,324)し、外側にある場合、前記影像が受容可能
な場合にのみ対応する影像を選択し、および前記フィル
タを、選択された影像で適応させてトレーニングして
(334)、修正されたフィルタを作製し、その結果、
修正されたフィルタを、選択された影像と比較すること
によって、第1範囲に一層近い修正された処理された値
を作製する、ことを特徴とする製品の受容性を決定する
方法を提供するものである。
【0006】また本発明は、製品の受容可能な影像
(I)の第1セットからフィルタ(F)を作製し、その
フィルタを、第2セットの製品の影像の各々と比較して
第2セット中の各影像についての分布の値を有する処理
された値(P)を作製し、前記フィルタを、第3セット
の製品の影像の各々と比較して第3セット中の各影像に
ついてのさらに処理された値を作製し、次いでこのさら
に処理された値の各々を前記分布と比較して上記のさら
に処理された値を有する影像に対応する製品の受容性を
決定することによって製品(12)の受容性を決定する
装置であって、処理された値の第1範囲(A)と第2範
囲(B)を前記分布から作製する手段(26,220)
を備え、第1範囲が製品の受容可能な影像に対応する処
理された値を含み、および第2範囲が前記第1範囲から
間隔をあけて存在し、かつ製品の受容できない影像に対
応する処理された値を含み、さらに処理された値が各々
第1と第2の範囲の両方の外側にあるか否かを決定し、
外側にある場合、前記影像が受容可能な場合にのみ対応
する影像を選択する手段(26,318,322,32
4)、および前記フィルタを、選択された影像で適応さ
せてトレーニングして修正されたフィルタを作製し、そ
の結果、修正されたフィルタを選択された影像と比較す
ることによって、第1範囲に一層近い前記の処理された
値の修正された値を作製する手段(26,334)、を
備えていることを特徴とする製品の受容性を決定する装
置を提供するものである。
【0007】本発明の実施態様は、システムを設定して
新製品もしくは異なる製品を検査するのに必要なオペレ
ータの熟練度と時間を著しく低下させることができると
いう利点をもっている。
【0008】本発明の好ましい実施態様において、光学
的検査システムがシステムのオペレータが受容可能な影
像であると決定している比較的少数の“第1相”の影像
の複合体から初期識別機能すなわち“フィルタ”を形成
する。この複合体を形成するのに、比較的単純な方法
(例えば論理OR操作)を用いることが好ましい。少数
の影像のかような単純な結合を利用して初期識別機能を
迅速に作製する性能によって、システムの迅速な“起
動”が容易になる。その後、システムは、初期識別機能
に関する、影像についての統計情報を計算するために、
初期識別機能を用いて、比較的多数の代表的な“第2
相”の影像を処理する。特に本発明のシステムは、初期
識別機能を用いて、第2相の各影像についての処理され
た値を計算する。これらの処理された値は一般にほぼ正
規分布すなわちガウス分布をしている。第1の統計的に
多数の処理された値を含むこの分布の中央部分の上限と
下限を第1スレッショルド値と呼ぶ。第2の統計的によ
り多数の処理された値を含むこの分布の中央部の上限と
下限を第2スレッショルド値と呼ぶ。
【0009】本発明のシステムの作動の次の第3相にお
いて、第1と第2のスレッショルド値は、比較的多数の
“第3相”の影像を処理するのに用いられる。特に、本
発明のシステムは、識別機能を用いて(最初は上記の初
期識別機能を用いる)、続く第3相の各影像についての
処理された値を計算する。所定の第3相の影像について
のこの処理された値が第1スレッショルド値の間にある
場合、その第3相影像は、続いて使用される識別機能を
改善する(例えばウィドロー−ホフ(Widrow-Hoff)形の
適応的トレーニング法を使用する)のに自動的に使用さ
れる。第3相影像についての処理された値が、第2スレ
ッショルド値の間に存在しない場合、その第3相の影像
は自動的に廃棄される。第3の可能性として、第3相の
影像についての処理された値が、第1スレッショルド値
の間に存在しないが、第2スレッショルド値の間に存在
する場合、システムのオペレータは、その影像を、廃棄
すべきか(すなわちその影像が受容できないように見え
るから)否かまたはその後に使うために識別機能を改善
するのに使用すべきか(すなわちその影像が受容可能に
見えるから)否かを決める選択権を与えられる。
【0010】第3相が完了したとき、システムは、改善
された識別機能と第1スレッショルド値を用いて行う実
際の製品検査の準備ができている。実際の製品検査にお
いて、本発明のシステムは、改善された識別機能を用い
て、各製品の影像についての処理された値を計算する。
製品影像についての処理された値が第1スレッショルド
値の間に存在していれば、その製品は受容可能な外観を
もっているとして受容される。製品影像についての処理
された値が第1スレッショルド値の間に存在していなけ
れば、その製品は受容できない外観をもっているとして
不合格とされる。
【0011】本発明のシステムは、製品検査の作業を行
うためにシステムを設定するのに必要な、オペレータの
熟練度と時間を大きく低下させる。オペレータは、第1
相の期間中、比較的少数の受容可能な影像(例えば25
の影像)を識別することが必要であるにすぎない。次
に、初期識別機能は、少数の第1相影像の論理ORのよ
うな単純で迅速な方法を用いて自動的に計算される。第
2相全体も自動式である。そして第3相の間、オペレー
タは、その処理された値が第1スレッショルド値の外側
にあるが、第2スレッショルド値の間に存在する比較的
少数の影像の受容性について決定する必要があるだけで
ある。
【0012】本発明の実施態様を、実施例として下記の
図面を参照して説明する。
【0013】図1に示すように、本発明にしたがって製
造された代表的な製品検査システム10は、検査すべき
物品もしくは製品12を、図1に示すように左から右へ
と次々に運ぶコンベヤ装置20を備えている。通常の製
品センサ22が所定の位置Aで製品12を検出するたび
ごとに、反対側の通常のカメラ24、および通常のプロ
セッサ26(通常の撮像ハードウエアを備えている)
が、通常の光源30に製品を短時間照明させて、カメラ
24に、事実上、製品の静止影像をとらえさせる。この
静止影像は、その影像をディジタル化してさらに処理す
るプロセッサ26に送られる。プロセッサ26は、通常
のビデオディスプレイ32と通常のデータ入力装置34
(例えばキーボード、マウス、および/またはディスプ
レイ32に付随する接触画面エレメント)によって増大
される。プロセッサ26は、ディスプレイ32にカメラ
24がとらえた製品の影像を表示させ、その表示を、受
容可能な製品影像のアウトラインおよび/または受容可
能な製品の影像のある種の特徴のアウトラインのような
他の情報で増大させることができる。オペレータは、こ
の増大する情報を用いて、表示される製品影像が受容可
能か否かを決定するのに役立てることができる。オペレ
ータはデータ入力装置34を用いて、システムの全作動
を制御するとともに、システムからの照会(例えばオペ
レータが、ディスプレイ32に現在示されている製品影
像が受容できると判断するか否かについて)に応答する
ことができる。
【0014】システムは、製品を検査するように実質的
に作動することによって製品検査を行うように設定され
る。すなわちコンベヤ20を使用して、代表の製品を相
次いでカメラ24の前を通過させ、システムの他の要素
を用い、以下に詳しく述べるようにその製品の影像を処
理することによって製品の検査が行われる。実際に製品
検査を行っているとき、プロセッサ26は連続する各製
品12の影像が受容可能か否かを決定し、その製品がコ
ンベヤ20の制御可能なブランチ20Bに到達したと
き、プロセッサ26はそのブランチを制御して受容可能
な製品12Aを受容製品コンベヤ20Aに導き、一方受
容できない製品12Rは不合格製品コンベヤ20Rに導
かれる。
【0015】図1は、システム10が製品12の単一の
立面影像で作動しているのを示しているが、このシステ
ムは、斜視図を含む、異なる角度から撮った製品の多数
の影像を検査して、物品の所望の多くの面を検査するよ
う設定することができることは当該技術分野の熟練者に
とって明らかなことである。同様に、このシステムは、
単色(例えば白と黒)影像によって説明されているが、
どのようにすれば、全色で検査するようにシステムを改
変することができるかということは当該技術分野の熟練
者にとって明らかなことである。したがってカメラ24
は通常のNTSCまたはRGBのコンパチブルカメラで
よい。プロセッサ26は、適切にプログラムされたパー
ソナルコンピュータのワークステーションであり、例え
ばカナダ、ケベック州、ドーバル所在のMATROX Electro
nic Systems Limited 社から入手できる通常のIM−1
280撮像ハードウエアシステムを備えた米国、マサチ
ュセッツ州、メドフィールド所在のComark Corp.から入
手できるCAT386ワークステーションがある。
【0016】本発明の方法の好ましい実施態様の概要を
図2と図3に示す。図示した実施態様は、基本的に、三
つの連続相1,2および3(それぞれは箱枠100,2
00および300で示す)を含むトレーニング部および
実際の製品検査部(箱枠400で示す)で構成されてい
る。三つのトレーニング相において、システムは、シス
テムのヒトオペレータからの適切であるが比較的制限さ
れた入力で製品影像を適切に処理することによって、良
影像と不良影像を識別する方法を“学習”する。その
後、実際の製品検査中、システムは、この“知識”を利
用して製品を受容するかもしくは不合格品とする。
【0017】トレーニング相1(図2のステップ10
0)において、初期識別機能F(検査される製品影像も
しくは製品影像の部分についての二次元データに比例す
る二次元のマトリックスと考えられる)が、比較的少数
の“第1相”影像についてのデータIから作製される。
この初期識別機能は、本発明にしたがって、多くの他の
方法で計算することができるであろうが、本発明の好ま
しい実施態様(図4,5および6で詳細に示す)におい
ては、比較的簡単な方法(すなわち、第1相影像の論理
OR)を用いて、比較的小型で安価なプロセッサ26
に、システムのオペレータが各連続第1相影像について
必要な入力をするのに要する時間以上に時間を必要とす
ることなく、必要な計算を行わすことができる。したが
って、図4,5および6に示すように、トレーニング相
1はステップ102で開始され、ステップ104におい
て、種々のプログラム定数が初期設定され、入力が読取
られる(例えばプロセッサ26の一部であるメモリから
および/またはデータ入力装置34からの入力)。例え
ばステップ104にはディスプレイ32に製品影像で表
示される影像アウトラインオーバレイを選択して、オペ
レータが影像の受容性を判断するのに役立てることが含
まれている。またステップ104には、処理される影像
の一つもしくは複数の部分の境界の選択も含まれる。他
の例として、ステップ104には、以下に述べるよう
な、影像データを二値化する際に用いられるスレッショ
ルドの選択が含まれる。その外の必要なシステムの初期
化の作業は、ステップ104の一部として実施される。
【0018】ステップ106において、システムは第1
相影像の最初の影像についてのデータを照会する。これ
はカメラ24に上記のように製品影像をとらえさせるこ
とによって行われる。次にプロセッサ26は、全グレー
スケールでこの影像をディジタル化し、ステップ104
で選択された(アウトラインオーバレイのような)増大
情報とともにこのグレースケール影像を、ディスプレイ
32に表示させる。次にオペレータは、表示された影像
が受容できるか否かを(データ入力装置34を通じて)
指示する。受容可能であれば、制御はステップ108に
進む。もし受容できなければ、オペレータにとって受容
可能な影像が見つかるまで新しい製品影像でステップ1
06が繰返される。
【0019】ステップ108において、第1の受容可能
な影像は前処理される。このステップには好ましくはグ
レースケール影像のエッジ検出が含まれ、その結果、影
像の輝度が有意に変化しているかこれに近い変化をして
いる画素がデエンファサイズされた(例えば数値を減少
させられた)他の画素に対してエンファサイズされる
(例えば数値が増大される)。エッジ検出法は公知の方
法であり、例えば1989年2月9日に出願された米国
特許願第308739号の優先権を主張するヨーロッパ
特許願公開第A−0382466号に詳細に記載されて
おり、この文献は本願に援用する。エッジ検出を行った
後、エッジを検出された影像は、好ましくは二値化され
る。その結果、予め決められた二値化スレッショルドレ
ベル(ステップ104で選択されたレベル)の片側の値
を有するすべての画素が2値のうちの一つ(例えば1)
を割当てられ、一方、二値化スレッショルドレベルの他
方の側の値を有するすべての画素は2値のうちの他方
(例えば0)を割当てられる。
【0020】ステップ110では、初期識別機能Fがス
テップ108からの第1の受容可能影像データに等しく
設定される。
【0021】ステップ112では、識別機能と第1相影
像データとの点乗積の合計が初期化される。この点にお
いて、FとIは同じであるから、FとIの初期点乗積は
ちょうどIの画素値の合計になる。
【0022】ステップ114では、指数値iが1に等し
く設定される。
【0023】ステップ116では、システムは次の受容
可能な影像を照会する。それ故にステップ116は上記
ステップ106の正確な繰返しである。
【0024】ステップ118では、次の受容可能な影像
(ステップ116で照会された影像)についてのデータ
が、ステップ108について先に記載したのと正確に同
じにして前処理される。
【0025】ステップ120では、初期識別機能が、新
しい影像のデータの論理ORと古い初期識別機能のデー
タを計算して新しい初期識別機能を作ることによって新
しい影像データで更新される。換言すれば、影像データ
と古い初期識別機能データのいずれかもしくは両方が1
である各画素の位置に対して、新しい初期識別データ値
は1であり、一方、影像データと古い初期識別データの
両方が0である各画素の位置に対して、新しい初期識別
機能のデータ値は0である。
【0026】ステップ122において、識別機能と第1
相影像データとの点乗積の合計は、現行の影像に対して
更新される。各影像における1の値の画素位置は、常
に、Fにおける1の値の画素位置のサブセットであるか
ら、新しい各点乗積は、ちょうど、現行影像Iの画素値
の合計になる。
【0027】ステップ124において、指数iに1が加
算され、ステップ126では、新しい値のiが検査さ
れ、その値が25より大きいかまたは25に等しいかが
決定される。この値は、初期識別機能を計算するために
第1相影像をいくつ使うかを決定する任意数値である。
他の数値を使うこともできるが、25はよい結果を与え
ることが分かった。iがまだ25に到達していなかった
場合、制御はステップ116に戻り、ステップ116〜
126が、ステップ126での検査が満たされるまで繰
返され、次に制御はステップ128に進む。
【0028】ステップ128では、Fと、第1相影像の
各々との点乗積の平均値が、PSUMを25(第1相影
像の数)で割り算することによって計算される。
【0029】ステップ130で、トレーニング相2(図
2のステップ200)が始まる。ステップ120の最後
の動作由来の初期識別機能Fと平均点乗積を退避させ
る。
【0030】ステップ200では、初期識別機能Fは、
処理される影像についての統計情報を計算するのに使用
される。やはり、この計算は本発明にしたがって他の方
法でも行うことができるが、ステップ200の好ましい
実施態様を図7と図8に示して、例証する。
【0031】トレーニング相2はステップ202で始ま
る。ステップ204で、指数値iは1に設定され、変数
SUMは0に設定され、変数SUMSQRE(平方和と
して)も0に設定される。
【0032】ステップ205で、初期2値識別機能F
が、初期の正と負の値を使い、最後の識別機能値がプロ
セッサ26の全算術範囲を利用してバイポーラ形に変換
される。これを平均点乗積に反映するために、平均点乗
積は、ステップ205において、同じ位取り因数によっ
て位取りされる。例えばプロセッサ26が−128と+
127の間の値で8ビット算術を行う場合、機能Fで現
在用いられている初期値は、(F値が最初0であった場
合の画素位置については)−50で、(F値が最初1で
あった場合の画素位置については)+50であり、ステ
ップ128由来の平均点乗積に50が掛け算される。
【0033】ステップ206では、トレーニング相2の
間、システムのオペレータは影像が受容可能か否かを決
定する必要がないことを除いて、製品影像が前記106
と同様の方法で照会される。したがって相2の期間に受
ける影像はすべて使用される。それ故に、これらの影像
は、システムが次いで実際の製品検査中に遭遇する製品
影像の通常の範囲の変化を示すと考えられる。その上
に、この相の期間中、システムのオペレータとの対話は
全く必要でないので、、相2の影像は、相1の影像より
も著しく速く(例えば実際の製品検査速度で)処理する
ことができる。
【0034】ステップ208では、ステップ206で照
会された影像データが、ステップ108について先に述
べたのと全く同様にして前処理される。
【0035】ステップ210では、ステップ205由来
の再位取りされた初期識別機能Fと、ステップ208由
来の影像データIの点乗積Pが計算される。この計算に
は、各画素位置におけるFの値にその画素位置における
Iの値を掛け算し、得られた積の値をすべて合計して点
乗積Pを得ることが含まれる。本明細書の他の場所で、
点乗積Pに対してより一般的な用語“処理された値”が
時々用いられる。IがFと同一である場合、Pはある数
であるが、ある画素位置においてIがFと異なる場合、
Pはその数より大きいかもしくは小さい。Pが上記の数
と異なる大きさは、IがFとどれほど異なるかを示す尺
度である。実際に、Pの値は、一般に、ある平均値のま
わりにほぼ正規分布(すなわちガウス分布)している。
【0036】ステップ212において、変数SUMSQ
RSはステップ210由来のPの2乗値が加算され、指
数値iには1が加算される。
【0037】ステップ214では、指数値iが、相2で
処理される影像の予め決められた数である任意数(例え
ば1000)と比較される。充分に多数の影像を相2で
処理することができるが、1000の影像がよい結果を
与えることが分かった。ステップ214での検査が不満
足な場合、制御はステップ206に戻り、次の相2の影
像の処理が始まる。1000の相2の影像が上記のよう
にして処理された場合、ステップ214における検査は
満たされ、制御はステップ214からステップ216に
進む。
【0038】ステップ216では、指数値iは1を引き
算され、その値の最後の加算分を逆にする。
【0039】ステップ218では、ステップ205由来
の再位取りされた平均点乗積と、SUMSQRS変数の
値を用いて、先に計算された点乗積の標準偏差を計算す
る。
【0040】ステップ220では、二つの第1スレッシ
ョルド値と二つの第2スレッショルド値が選択され、相
2の点乗積の分布が図13に示すようにこれらのスレッ
ショルド値で細分される。例えば、第1スレッショルド
値は、点乗積のフラクションf1 がこれらのスレッショ
ルド値の上方値より大きく、点乗積の同じフラクション
がこれらのスレッショルド値の下方値より小さいように
選択される。フラクションf1 は、これらの第1スレッ
ショルド値の上方値より大きいかまたは下方値より小さ
い点乗積を、受容できない影像がもつ可能性を最小にす
るために、欠点があると考えられる影像のフラクション
の1/2より有意に大きいほうが好ましい。それ故、第
1スレッショルド値の間の点乗積を有する影像は図13
に示されるように自動的に受容可能である。
【0041】第2のスレッショルド値は、点乗積の小さ
い方のフラクションf2 がこれらのスレッショルド値の
上方値より大きく、かつ点乗積の同じ小さい方のフラク
ションがこれらのスレッショルド値の下方値より小さい
ように選択される。フラクションf2 は、これらの第2
スレッショルド値の下方値より小さいかまたは上方値よ
り大きい点乗積を、受容可能な影像がもつ可能性を最小
にするために、欠点があると考えられる影像のフラクシ
ョンの1/2より有意に小さい方が好ましい。それ故
に、第2スレッショルド値が境界になっている領域の外
側の点乗積を有する影像は、図13に示すように“完全
不合格品(gross reject) ”として自動的に排除され
る。第1スレッショルド値が境界になっている領域の外
側にあるが第2スレッショルド値が境界になっている領
域の内側にある点乗積をする影像は、図13に示すよう
に“境界不合格品(marginal reject)”である。かよう
な影像を受容すべきかまたは排除すべきかを決定するに
は、オペレータの介入が必要である。
【0042】点乗積の分布が例えば図14に示すように
ガウス分布であり、それ故標準偏差(ステップ128に
式で示してある)に特徴があると想定して、上記スレッ
ショルド値を選択することが便利で適切である。その場
合、スレショルド値は図15に示す式で定義することが
できる。これらの式に用いられる平均点乗積は、ステッ
プ205由来の再位取りがなされた平均点乗積である。
標準偏差を有し、これらの式で用いられるα係数は、目
標フラクションf1 とf2 を達成してガウス分布を得る
ように選択される。これらの値は、入手できるガウス分
布特性表によって容易に選択することができる。最も好
ましい方法は、ガウス分布の想定なしで第1スレッショ
ルド値を選択し(すなわちガウス分布の上記考察の前に
記載したようにして行う)、次にその第2の方法(すな
わちガウス分布を想定する)を用いて第2スレッショル
ド値を選択する方法である。図14において、領域Aは
図13の“受容可能”領域に相当し、領域Bは図13の
“完全不合格”領域に相当し、および領域Cは図13の
“境界不合格”領域に相当することに留意すべきであ
る。したがって、領域Aには、明らかに受容可能な影像
に対応することが分かっている点乗積が含まれ、一方領
域Bには、明らかに受容できない影像に対応することが
分かっている点乗積が含まれている。領域Cは、境界的
に受容可能な点乗積Pが分布する領域である。適応トレ
ーニングが、領域A内に存在する点乗積と、システムの
オペレータが受容できると決定する領域Cに存在する点
乗積とに対して、下記のように相3で行われる。
【0043】第2スレッショルド値がステップ220で
計算されてた後、制御はステップ222に進みトレーニ
ング相3を開始する(図3のステップ300)。ステッ
プ220由来の第1と第2のスレッショルド値は、ステ
ップ205由来のFと再位取りがなされた平均点乗積と
同様に退避される。
【0044】トレーニング相3(図3のステップ30
0)において、相2由来の統計情報は、他の統計的に有
意な数の影像からの影像データとともに用いられ、初期
識別機能Fが改善される。やはり、これは本発明にした
がって他の方法で行うことができるが、トレーニング相
3の好ましい実施態様を、図9〜図11に例示する。
【0045】図9〜図11に示すように、トレーニング
相3はステップ302で始まり、ステップ310におい
て指数値iが0に初期設定され、およびカウンター(相
3内で、システムのオペレータが受容すると決定する境
界的に受容可能な影像の数をカウントするのに使用す
る)も0に初期化される。
【0046】ステップ312において、相3の影像は、
ステップ206についてさきに記載したのと全く同様に
して照会され、次にステップ314において、この影像
のデータは、ステップ208について先に記載したのと
全く同様にして前処理される。
【0047】ステップ316において、識別機能の点乗
積Pとステップ314由来の影像データが計算される。
【0048】ステップ318では、ステップ316由来
の点乗積Pがステップ220由来の第2スレッショルド
値と比較される。Pがこれらの第2スレッショルド値が
境界になっている範囲の外側にある場合は、制御は影像
が排除されるステップ320に移り、次に制御はステッ
プ312に戻り、次の相3影像の収集と処理を始める。
一方、Pが第2スレッショルド値が境界になっている範
囲内にある場合、制御はステップ318からステップ3
22に進む。
【0049】ステップ322では、ステップ316由来
のPの値が、ステップ220由来の第1スレッショルド
値と比較される。Pがこれらの第1スレッショルド値が
境界になっている範囲の外側にある場合、制御はステッ
プ324に進む。影像が、受容できないとして自動的に
排除されるか(対応する点乗積が第2スレッショルド値
で定義される限界の外側にあるから)、または自動的に
受容されるか(対応する点乗積が第1スレッショルド値
で定義される限界内にあるから)のいずれの場合でもな
い時、常に制御はステップ324に進む。したがって、
ステップ324では、システムのオペレータは、介入し
て影像が受容可能か否かを決定するよう請求される。そ
の影像は、(上記ステップ106について行ったと同様
にして)ディスプレイ32に表示される。オペレータが
(ふたたびステップ106で述べたのと同様にして)影
像は受容できないと応答した場合、制御はステップ32
0に進んで影像が排除され、その後、先に記載したのと
同様にして、次の相3影像の処理が始まる。一方オペレ
ータが影像は受容可能であると応答した場合、制御はス
テップ324からステップ326に進み、カウンターna
ccが付加される。その後、制御はステップ328に進
む。ステップ322から他のブランチに戻り、Pが第ス
レッショルドによって定義される限界の外側に存在しな
い場合、影像は自動的に受容可能になり、制御は、ステ
ップ322からステップ328へ直接進む。
【0050】ステップ328は、現行の第3相影像が受
容可能な影像であると決定されたときにのみ実行され
る。ほとんどの場合、システムはこの決定を自動的に行
うであろう。というのは影像の点乗積Pが第1スレッシ
ョルド値の間にあるのでその影像は明らかに受容可能だ
からである。しかしいくつかの場合、オペレータは、ス
テップ324で先に述べたようにこの決定を援助する必
要がある。したがって、大部分の場合、影像の処理は、
相2の期間と同様に相3の期間も迅速に進めることがで
きる。オペレータは、ステップ324を実施した結果、
介入することを請求されることはごくまれである。さら
にオペレータの介入は、相3が進行するにつれて、請求
されることがますます少なくなり、識別機能は以下に述
べるように漸進的に改善される。
【0051】ステップ328は、受容可能であると丁度
決定されたばかりの影像由来のデータを用いて再スケー
リング(再位取り)された識別機能を改善するプロセス
を開始する。この識別機能改善プロセスは、受容可能な
相3の影像の各々について繰返される。ステップ328
において、ステップ205由来の平均P値とステップ3
16由来のPとの差に等しい“エラー”値が計算され
る。ステップ329において、影像データ中“on”で
ある画素の数に等しい値Nが計算される。ステップ33
0において、ステップ329由来のN値で割り算された
ステップ328由来のエラー値に等しい補正値が計算さ
れる。ステップ332では、現行の相3影像についての
2値影像データが、ステップ330由来の補正値を用い
て再スケーリングされる。特に、1の各画素値は補正値
に変更され、一方0の各画素値は変更されない。
【0052】ステップ334において再スケーリングさ
れた識別機能は、各画素値に、ステップ332由来の再
スケーリングされた影像データ中のその画素に対応する
値を加算することによって改善される。ステップ334
は、時々信号処理に使用されるウィドロー−ホフのトレ
ーニングアルゴリズムに類似の“適応トレーニング”ス
テップである(例えば、B.WidrowおよびS.D.Stearns 、
“Adaptive signal Processing”Prentice−Hall、Engl
ewood clifs 、1985年参照)。したがって、ステッ
プ334が連続する受容可能な第3相影像に実行される
につれて、再スクーリングされた識別機能は、受容可能
な影像に対応する点乗積(第1スレッショルド値が境界
になっている範囲内にあるP)と、受容できない影像に
対応する点乗積(第2スレッショルド値が境界になって
いる範囲の外側にあるP)とを明確に識別される点乗積
をますます良好に算出するようになる(ステップ316
のように)。したがって、相3が進行するにつれて、ス
テップ324を実施する必要がますます少なくなり、シ
ステムのオペレータから請求される入力の量が減少する
はずである。
【0053】ステップ336では指数値1が加算され
る。ステップ338で、この指数値は相3のカットオフ
値(例えば、2000の受容可能な相3の影像)と比較
される。指数値がこのカットオフ値より小さい場合、制
御はステップ338からステップ312に進み、そこで
次の相3影像の処理が始まる。ステップ338におい
て、指数値がカットオフ値に到達したことが検出される
と直ちに、制御はステップ338からステップ340に
進む。
【0054】ステップ340では、カウンター値nacc:
指数値iの比率が予め決定されたスレッショルド値と比
較される。この比率が上記のスレッショルド値を超える
と、システムは、システムのオペレータがステップ32
4で受容可能であると判定した非常に多数の影像を暫定
的に不合格にする。このことは、識別機能F′をさらに
改善することがいぜんとして必要であることを示してい
る。したがって制御はステップ340からステップ31
0に進みそこで、他のシリーズの相3の影像の処理が再
び始まる。一方、ステップ340における比率がスレッ
ショルド値より小さい場合、識別機能F′の改善は完全
であると判断され、トレーニング相3が、制御をステッ
プ342に進めることによって終結され、実際の製品検
査が始まる(図3のステップ400)。
【0055】実際の製品検査の例示実施態様(図3のス
テップ400)を図12に示す。このプロセスはステッ
プ402で始まり、次にステップ404で影像はステッ
プ206の場合と同様に照会される。ステップ406
で、この影像のデータがステップ208と同様に前処理
される。ステップ408において、トレーニング相3由
来の改善された識別機能と、ステップ406由来の影像
データとの点乗積が計算される。ステップ410におい
て、Pが検査され、Pがステップ220由来の第1スレ
ッショルド値の間の範囲内にあるか否かが決定される。
Pが上記範囲内にあれば、システムはその影像を受容可
能とみなし、製品を受容するために(すなわち図1に示
す受容された製品のコンベヤ20Aに製品を導くため
に)、制御はステップ412に進む。ステップ40の検
査が満たされなかった場合、システムはその影像を受容
できないとみなし、その影像を排除するために(すなわ
ち、図1に示す不合格製品コンベヤ20Rに製品を導く
ために)、制御はステップ414に進む。ステップ41
2もしくは414を実施した後、制御はステップ404
に戻り、次の影像の処理を開始する。
【0056】上記の実施態様は本発明の原理を単に例示
したものであり、本発明の適用範囲と思想から逸脱する
ことなく、当該技術分野の熟練者が種々の改変を行うこ
とができることは理解されるであろう。例えば、要素2
4と26によって形成される各影像は、複数の予め決定
されたセグメントに分解することができ、各セグメント
のデータは、全影像のデータが前記考察で処理されてい
るのと同様に、別個に処理することができる。製品が受
容されるためには、全セグメントが、実際の製品検査
中、ステップ410の試験を満たさねばならない。本発
明の適用範囲内での他の変形例として、識別機能F′
は、トレーニング相3について先に述べたのと全く同様
にして受容可能な製品の単一もしくは複数の影像にした
がって更新することによって、実際の製品検査中、改善
し続けることができる。本発明の適用範囲内の他の変形
では、バイポーラ−1と+1が2値全体の代わりに用い
られるので、例えばステップ108,118,208,
314および406の考察を理解しなければならない。
2値とバイポーラ値の両者は例に過ぎず、他の二つの値
を代わりに用いることができ、本発明の適用範囲内にあ
ることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光学的製品検査装置の実施例の簡略化
した概略ブロック図である。
【図2】本発明の光学的製品検査法の実施例のフローチ
ャートである。
【図3】本発明の光学的製品検査法の実施例の、図2よ
り続くフローチャートである。
【図4】図2〜図3に示す第1トレーニング相を詳細に
示すフローチャートである。
【図5】図4より続くフローチャートである。
【図6】図5より続くフローチャートである。
【図7】図2〜図3に示す第2トレーニング相を詳細に
示すフローチャートである。
【図8】図7より続くフローチャートである。
【図9】図2〜図3に示す第3トレーニング相を詳細に
示すフローチャートである。
【図10】図9より続くフローチャートである。
【図11】図10より続くフローチャートである。
【図12】図2〜図3に示す製品検査ステップを詳細に
示すフローチャートである。
【図13】記載されている実施態様のある種の特徴を説
明するのに有用な点乗積のスペクトルの線図である。
【図14】記載されている実施態様のある種の特徴を説
明するのに有用なヒストグラム線図である。
【図15】本発明の実施態様に用いられるいくつかの式
を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ヘンリー・エム・ダンテ アメリカ合衆国ヴアージニア州23112、ミ ドロシアン、イースト、ブラフ、ロード 13905 (72)発明者 ロバート・ジエイ・マハー アメリカ合衆国ヴアージニア州23113、ミ ドロシアン、グレンダウアー、サークル 2919

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 製品の受容可能な影像(I)の第1セッ
    トからフィルタ(F)を作製し、そのフィルタを、第2
    セットの製品の影像の各々と比較して第2セット中の各
    影像についての分布の値を有する処理された値(P)を
    作製し、前記フィルタを、第3セットの製品の影像の各
    々と比較して第3セット中の各影像についてのさらに処
    理された値を作製し、次いでこのさらに処理された値の
    各々を前記分布と比較して上記のさらに処理された値を
    有する影像に対応する製品の受容性を決定することによ
    って製品(12)の受容性を決定する方法であって、 処理された値の第1範囲(A)と第2範囲(B)を前記
    分布から作製し(220)、第1範囲が製品の受容可能
    な影像に対応する処理された値を含み、および第2範囲
    が前記第1範囲から間隔をあけて存在し、かつ製品の受
    容できない影像に対応する処理された値を含み、 さらに処理された値の各々が第1と第2の範囲の両方の
    外側にあるか否かを決定(318,322,324)
    し、外側にある場合、前記影像が受容可能な場合にのみ
    対応する影像を選択し、および前記フィルタを、選択さ
    れた影像で適応させてトレーニングして(334)、修
    正されたフィルタを作製し、その結果、修正されたフィ
    ルタを、選択された影像と比較することによって、第1
    範囲に一層近い修正された処理された値を作製する、こ
    とを特徴とする製品の受容性を決定する方法。
  2. 【請求項2】 製品の受容可能な影像の第1セットから
    フィルタを作製するプロセスが、論理OR操作を用いて
    受容可能な影像の第1セットを結合するプロセス(12
    0)を含んでいることを特徴とする請求項1記載の方
    法。
  3. 【請求項3】 受容可能な影像の第1セットを結合する
    ステップが、 各影像をエッジ検出し(108)、次いで第1の値を、
    予め決められたスレッショルド値の片側に値を有する、
    エッジを検出された各影像の各一部分と結合させ(10
    8)、第2の値を、影像を論理OR操作を用いて結合す
    る前に、エッジを検出された影像の各々の残りのすべて
    の部分と結合させる、ステップを含むことをさらに特徴
    とする請求項2記載の方法。
  4. 【請求項4】 第1と第2の値が2値の0と1であるこ
    とを特徴とする請求項3記載の方法。
  5. 【請求項5】 フィルタの適応トレーニング法がウィド
    ロー−ホフのトレーニングアルゴリズムと類似している
    ことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の
    方法。
  6. 【請求項6】 選択される影像が、影像に対応する製品
    の外観に基づいて手動で選択される(324)ことを特
    徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の方法。
  7. 【請求項7】 さらに処理された値が第1範囲内にある
    場合、フィルタを対応する影像で適応させてトレーニン
    グすることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに
    記載の方法。
  8. 【請求項8】 第2セット内の各影像の処理された値が
    フィルタと、影像の第2セットの各々との点乗積である
    請求項1〜7のいずれか一つに記載の方法。
  9. 【請求項9】 受容可能な各影像を影像の複数の部分に
    細分し、前記影像の少なくとも幾つかにすべての先の段
    階をそれぞれ遂行することを特徴とする請求項1〜8の
    いずれか一つに記載の方法。
  10. 【請求項10】 製品の受容可能な影像(I)の第1セ
    ットからフィルタ(F)を作製し、そのフィルタを、第
    2セットの製品の影像の各々と比較して第2セット中の
    各影像についての分布の値を有する処理された値(P)
    を作製し、前記フィルタを、第3セットの製品の影像の
    各々と比較して第3セット中の各影像についてのさらに
    処理された値を作製し、次いでこのさらに処理された値
    の各々を前記分布と比較して上記のさらに処理された値
    を有する影像に対応する製品の受容性を決定することに
    よって製品(12)の受容性を決定する装置であって、
    処理された値の第1範囲(A)と第2範囲(B)を前記
    分布から作製する手段(26,220)を備え、第1範
    囲が製品の受容可能な影像に対応する処理された値を含
    み、および第2範囲が前記第1範囲から間隔をあけて存
    在し、かつ製品の受容できない影像に対応する処理され
    た値を含み、 さらに処理された値が各々第1と第2の範囲の両方の外
    側にあるか否かを決定し、外側にある場合、前記影像が
    受容可能な場合にのみ対応する影像を選択する手段(2
    6,318,322,324)、および前記フィルタ
    を、選択された影像で適応させてトレーニングして修正
    されたフィルタを作製し、その結果、修正されたフィル
    タを選択された影像と比較することによって、第1範囲
    に一層近い前記の処理された値の修正された値を作製す
    る手段(26,334)、を備えていることを特徴とす
    る製品の受容性を決定する装置。
  11. 【請求項11】 フィルタを、製品の受容可能な影像の
    第1セットを論理OR操作を用いて結合する手段(2
    6,120)によって、製品の受容可能な影像の第1セ
    ットから作製することを特徴とする請求項10記載の装
    置。
  12. 【請求項12】 第1セットの受容可能な影像を結合す
    る手段が、 各影像をエッジ検出する手段(26,108)、および
    第1の値を、予め決められスレッショルド値の片側の値
    を有するエッジ検出がなされた各影像の各部分に結合
    し、および論理OR操作を用いて影像を結合する前に、
    第2の値を、エッジを検出された各影像の残りのすべて
    の部分と結合する手段(26,108)、を備えている
    ことを特徴とする請求項11記載の装置。
  13. 【請求項13】 第1と第2の値が2値の1と0である
    ことを特徴とする請求項12記載の装置。
  14. 【請求項14】 適応させてトレーニングする手段(2
    6,334)がウィドロー−ホフのトレーニングアルゴ
    リズムに類似の機能を実施することを特徴とする請求項
    10〜13のいずれか一つに記載の装置。
  15. 【請求項15】 決定する手段が、影像に対応する製品
    の外観に基づいて手動選択を行わせる手段(26,32
    4)を備えていることを特徴とする請求項10〜14の
    いずれか一つに記載の方法。
  16. 【請求項16】 第1範囲内にあるさらに処理された値
    を結合された影像で、フィルタを適応させてトレーニン
    グする手段(26)を特徴とする請求項10〜15のい
    ずれか一つに記載の装置。
  17. 【請求項17】 フィルタと第2セットの各影像の点乗
    積を形成して、前記第2セット中の各影像の処理された
    値を形成する手段を特徴とする請求項10〜16のいず
    れか一つに記載の装置。
  18. 【請求項18】 第1、第2および第3のセットの影像
    の少なくとも一つを形成するビデオカメラ(24)およ
    び製品をビデオカメラの視野内に配置する手段を特徴と
    する請求項10〜17のいずれか一つに記載の装置。
  19. 【請求項19】 製品を、ビデオカメラの視野内で照明
    する手段を特徴とする請求項18記載の装置。
  20. 【請求項20】 前記の配置する手段が、製品をビデオ
    カメラの視野を通過させて次々と運ぶコンベヤ(20)
    を備えていることを特徴とする請求項19または20に
    記載の装置。
JP04078540A 1991-02-27 1992-02-27 製品の受容性を光学的に決定する方法と装置 Expired - Fee Related JP3126474B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US661809 1991-02-27
US07/661,809 US5146510A (en) 1989-02-09 1991-02-27 Methods and apparatus for optically determining the acceptability of products

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05126757A true JPH05126757A (ja) 1993-05-21
JP3126474B2 JP3126474B2 (ja) 2001-01-22

Family

ID=24655202

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04078540A Expired - Fee Related JP3126474B2 (ja) 1991-02-27 1992-02-27 製品の受容性を光学的に決定する方法と装置

Country Status (10)

Country Link
US (1) US5146510A (ja)
EP (1) EP0501784B1 (ja)
JP (1) JP3126474B2 (ja)
KR (1) KR100225836B1 (ja)
AT (1) ATE173554T1 (ja)
CA (1) CA2061865C (ja)
DE (1) DE69227603T2 (ja)
DK (1) DK0501784T3 (ja)
ES (1) ES2124241T3 (ja)
HK (1) HK1013872A1 (ja)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1311063C (en) * 1988-12-16 1992-12-01 Tokumichi Murakami Digital signal processor
US5353356A (en) * 1989-02-09 1994-10-04 Waugh Richard M Product gauge methods and apparatus for use in the optical determination of the acceptability of products
US5237621A (en) * 1991-08-08 1993-08-17 Philip Morris Incorporated Product appearance inspection methods and apparatus employing low variance filter
ATE203844T1 (de) * 1992-03-20 2001-08-15 Commw Scient Ind Res Org Gegenstands-überwachungsystem
US5822208A (en) * 1994-04-12 1998-10-13 Bay Instrumentation & Technology Co. Method and apparatus for predicting errors in a manufacturing process
US6201576B1 (en) * 1998-06-26 2001-03-13 Lucent Technologies Inc. Apparatus and method for detecting an NTSC signal in an HDTV transmission signal
US6169600B1 (en) 1998-11-20 2001-01-02 Acuity Imaging, Llc Cylindrical object surface inspection system
DE19938964A1 (de) * 1999-08-17 2001-03-08 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Videoüberwachung von Prozeßanlagen
JP4743805B2 (ja) * 2000-04-06 2011-08-10 ルネサスエレクトロニクス株式会社 外観検査方法および装置
US7668362B2 (en) 2000-05-03 2010-02-23 Aperio Technologies, Inc. System and method for assessing virtual slide image quality
US9092841B2 (en) * 2004-06-09 2015-07-28 Cognex Technology And Investment Llc Method and apparatus for visual detection and inspection of objects
US7545949B2 (en) * 2004-06-09 2009-06-09 Cognex Technology And Investment Corporation Method for setting parameters of a vision detector using production line information
CA2533016A1 (en) * 2003-07-18 2005-01-27 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation A method and system for selecting one or more variables for use with a statistical model
WO2005119575A2 (en) 2004-05-27 2005-12-15 Aperio Technologies, Inc Systems and methods for creating and viewing three dimensional virtual slides
US8891852B2 (en) 2004-06-09 2014-11-18 Cognex Technology And Investment Corporation Method and apparatus for configuring and testing a machine vision detector
US20050276445A1 (en) * 2004-06-09 2005-12-15 Silver William M Method and apparatus for automatic visual detection, recording, and retrieval of events
US8127247B2 (en) 2004-06-09 2012-02-28 Cognex Corporation Human-machine-interface and method for manipulating data in a machine vision system
US7636449B2 (en) 2004-11-12 2009-12-22 Cognex Technology And Investment Corporation System and method for assigning analysis parameters to vision detector using a graphical interface
US9292187B2 (en) 2004-11-12 2016-03-22 Cognex Corporation System, method and graphical user interface for displaying and controlling vision system operating parameters
US7720315B2 (en) 2004-11-12 2010-05-18 Cognex Technology And Investment Corporation System and method for displaying and using non-numeric graphic elements to control and monitor a vision system
US20060116902A1 (en) * 2004-11-29 2006-06-01 Canon U.S.A., Inc. Method and apparatus for workflow
US8164622B2 (en) 2005-07-01 2012-04-24 Aperio Technologies, Inc. System and method for single optical axis multi-detector microscope slide scanner
DE102005053224A1 (de) 2005-11-06 2007-05-24 Prt Patent Registration Service & Trade Ltd. Vorrichtung und Verfahren zur Dekorporation von Strontium und weiterer radioaktiv strahlender Elemente aus dem Körper
DE202006020357U1 (de) 2006-09-21 2008-10-30 Safetec Gmbh Elektrode und Vorrichtung für Galvano-Fussbad
US8103085B1 (en) 2007-09-25 2012-01-24 Cognex Corporation System and method for detecting flaws in objects using machine vision
US8873862B2 (en) * 2011-06-28 2014-10-28 Rakuten, Inc. Product image processor, product image processing method, information recording medium, and program
US9651499B2 (en) 2011-12-20 2017-05-16 Cognex Corporation Configurable image trigger for a vision system and method for using the same
US10297020B2 (en) 2015-09-18 2019-05-21 Datalogic Ip Tech S.R.L. Stereoscopic system and method for quality inspection of cigarettes in cigarette packer machines
DE102019104822A1 (de) * 2019-02-26 2020-08-27 Wago Verwaltungsgesellschaft Mbh Verfahren und Vorrichtung zum Überwachen eines industriellen Prozessschrittes

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3835332A (en) * 1973-06-04 1974-09-10 Eastman Kodak Co Inspection apparatus for detecting defects in a web
JPS5218136A (en) * 1975-08-01 1977-02-10 Hitachi Ltd Signal processing unit
US4030068A (en) * 1976-01-12 1977-06-14 Decision Data Computer Corporation Optical character recognition system
GB1545117A (en) * 1976-05-25 1979-05-02 Nat Res Dev Comparison apparatus eg for use in character recognition
US4053056A (en) * 1976-07-19 1977-10-11 Amf Incorporated Cigarette package inspection apparatus
US4097845A (en) * 1976-11-01 1978-06-27 Rush-Presbyterian-St. Luke's Medical Center Method of and an apparatus for automatic classification of red blood cells
US4110737A (en) * 1977-08-22 1978-08-29 The Singer Company Character recognition apparatus for serially comparing an unknown character with a plurality of reference characters
EP0054596B1 (fr) * 1980-12-18 1985-05-29 International Business Machines Corporation Procédé d'inspection et de tri automatique d'objets présentant des configurations avec des tolérances dimensionnelles et des critères de rejet variables selon l'emplacement, équipement et circuits de mise en oeuvre
US4482971A (en) * 1982-01-18 1984-11-13 The Perkin-Elmer Corporation World wide currency inspection
GB8331248D0 (en) * 1983-11-23 1983-12-29 Kearney & Trecker Marwin Ltd Inspecting articles
US4589141A (en) * 1984-03-12 1986-05-13 Texas Instruments Incorporated Apparatus for automatically inspecting printed labels
JP2607457B2 (ja) * 1984-09-17 1997-05-07 株式会社東芝 パターン認識装置
US4759074A (en) * 1986-10-28 1988-07-19 General Motors Corporation Method for automatically inspecting parts utilizing machine vision and system utilizing same
IT1207600B (it) * 1987-01-20 1989-05-25 Gd Spa Metodo per il controllo elettricoottico di pacchetti
JPS63257083A (ja) * 1987-04-14 1988-10-24 Nec Corp パタ−ン認識方式
US5014327A (en) * 1987-06-15 1991-05-07 Digital Equipment Corporation Parallel associative memory having improved selection and decision mechanisms for recognizing and sorting relevant patterns
US4952805A (en) * 1987-08-20 1990-08-28 Fuji Photo Film Co., Ltd. Method of judging the presence or absence of a limited irradiation field, method of selecting a correct irradiation field, and method of judging correctness or incorrectness of an irradiation field
JP2597370B2 (ja) * 1987-10-14 1997-04-02 株式会社ヒューテック シート状被検材の有意差検出方法
JPH0782542B2 (ja) * 1988-01-29 1995-09-06 株式会社スキャンテクノロジー 印字検査方法、印字検査装置および印刷物自動振分けシステム
JPH01269034A (ja) * 1988-02-26 1989-10-26 R J Reynolds Tobacco Co パッケージ検査システム
US4972494A (en) * 1988-02-26 1990-11-20 R. J. Reynolds Tobacco Company Package inspection system
GB8810357D0 (en) * 1988-04-30 1988-06-08 Univ Manchester Data analysis method & apparatus
US4952062A (en) * 1988-08-05 1990-08-28 Bean Iii Vern W Method and apparatus for detecting flaws in fabric
US4975972A (en) * 1988-10-18 1990-12-04 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for surface inspection
US4972262A (en) * 1988-10-27 1990-11-20 Honeywell Inc. Real time edge detection
US4974261A (en) * 1988-11-15 1990-11-27 Matsushita Electric Works, Ltd. Optical surface inspection method
US5046111A (en) * 1989-02-09 1991-09-03 Philip Morris Incorporated Methods and apparatus for optically determining the acceptability of products

Also Published As

Publication number Publication date
US5146510A (en) 1992-09-08
DE69227603D1 (de) 1998-12-24
KR100225836B1 (ko) 1999-10-15
ES2124241T3 (es) 1999-02-01
ATE173554T1 (de) 1998-12-15
CA2061865A1 (en) 1992-08-28
CA2061865C (en) 2004-10-26
DE69227603T2 (de) 1999-06-24
KR920016977A (ko) 1992-09-25
HK1013872A1 (en) 1999-09-10
EP0501784B1 (en) 1998-11-18
EP0501784A3 (ja) 1994-02-16
JP3126474B2 (ja) 2001-01-22
DK0501784T3 (da) 1999-06-23
EP0501784A2 (en) 1992-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05126757A (ja) 製品の受容性を光学的に決定する方法と装置
US5353356A (en) Product gauge methods and apparatus for use in the optical determination of the acceptability of products
US5189708A (en) Methods and apparatus for optically determining the acceptability of products
JP4997252B2 (ja) 画像内の照明域を識別する方法
US5892808A (en) Method and apparatus for feature detection in a workpiece
EP0574831B1 (en) Product inspection apparatus
US5353357A (en) Methods and apparatus for inspecting the appearance of substantially circular objects
US5818953A (en) Optical characterization method
JP3143819B2 (ja) まぶたの開度検出装置
US5537670A (en) Product appearance inspection methods and apparatus employing low variance filter
JPS59218084A (ja) 可視像処理方法
JPH06282705A (ja) 物品の数量検査方法及び装置
US5208870A (en) Image inspection methods and apparatus
US6577775B1 (en) Methods and apparatuses for normalizing the intensity of an image
CN114240877A (zh) 一种检测焊接质量的方法及装置
CN110880171A (zh) 一种显示装置的检测方法及电子设备
Ruslau et al. Edge detection of digital image with different edge types
CN113763384B (zh) 工业质检中的缺陷检测方法、缺陷检测装置
JP2647502B2 (ja) パターン比較検査方法および装置
JP2003216930A (ja) 変色検査方法及び変色検査装置
JP3962525B2 (ja) 農産物の仕分けに用いる画像生成装置及び仕分区分判定装置
JP2981857B2 (ja) 包装容器の製函中の接着部材塗着状態判別装置、方法、システム及び接着部材塗着状態の判別を実行するためのプログラムを記録した媒体
JPH08189901A (ja) 画像信号を用いる検査装置
JPH0749948A (ja) 位置認識方法
JP4002387B2 (ja) 農産物の等級判定方法及び等級判定装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees