JPH05119336A - Display testing device for liquid crystal display panel - Google Patents
Display testing device for liquid crystal display panelInfo
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- JPH05119336A JPH05119336A JP28340491A JP28340491A JPH05119336A JP H05119336 A JPH05119336 A JP H05119336A JP 28340491 A JP28340491 A JP 28340491A JP 28340491 A JP28340491 A JP 28340491A JP H05119336 A JPH05119336 A JP H05119336A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は被試験液晶表示パネルに
各種試験信号を印加し表示特性を試験する試験装置に係
り、特に極く狭い間隔をおいて配列された液晶表示パネ
ル上の電極に試験信号を印加する手段に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test apparatus for applying various test signals to a liquid crystal display panel under test to test display characteristics, and particularly to electrodes on a liquid crystal display panel arranged at extremely narrow intervals. It relates to a means for applying a test signal.
【0002】ガラス基板上に半導体集積回路が直接実装
されてなる液晶表示パネルにおいて外部から試験信号を
入力し表示試験を行う際は、信号入力用の電極の数が少
なくその間隔も広いため比較的容易に試験プローブを接
触させることができる。In a liquid crystal display panel in which a semiconductor integrated circuit is directly mounted on a glass substrate, when a test signal is input from the outside and a display test is performed, the number of signal input electrodes is small and the distance between them is relatively wide, so that it is relatively large. The test probe can be easily contacted.
【0003】しかし、例えばTAB方式等によって半導
体集積回路が実装される液晶表示パネルにおいて表示試
験を行う際は、ガラス基板上に形成されている信号入力
用の電極の数が多くその間隔も狭いため試験プローブの
接触が極めて困難である。However, when performing a display test on a liquid crystal display panel in which a semiconductor integrated circuit is mounted by, for example, the TAB method, the number of signal input electrodes formed on a glass substrate is large and the intervals between them are narrow. The contact of the test probe is extremely difficult.
【0004】そこでかかる液晶表示パネルの表示試験に
際して極く狭い間隔をおいて配列されたガラス基板上の
電極に、試験信号を送出する制御回路を容易に接続でき
る手段を具えた表示試験装置の開発が望まれている。Therefore, in the display test of such a liquid crystal display panel, a display test apparatus having means for easily connecting a control circuit for sending a test signal to electrodes on a glass substrate arranged at extremely narrow intervals is developed. Is desired.
【0005】[0005]
【従来の技術】図5は従来の表示試験装置の主要部を示
す斜視図である。図において従来の表示試験装置は試験
される液晶表示パネル1を装着する液晶表示パネル装着
部2と制御回路3からなり、液晶表示パネル1を構成す
るガラス基板11には所定のピッチで配列された複数の電
極12が形成されている。2. Description of the Related Art FIG. 5 is a perspective view showing a main part of a conventional display test apparatus. In the figure, a conventional display test apparatus comprises a liquid crystal display panel mounting portion 2 for mounting a liquid crystal display panel 1 to be tested and a control circuit 3, and a glass substrate 11 constituting the liquid crystal display panel 1 is arranged at a predetermined pitch. A plurality of electrodes 12 are formed.
【0006】液晶表示パネル装着部2は所定の位置に配
設された固定軸21に沿って上下動可能なプローブ支持枠
22を有し、それぞれ制御回路3に接続された複数の試験
プローブ23が電極12の配列ピッチに合わせプローブ支持
枠22に植設されている。The liquid crystal display panel mounting portion 2 is a probe support frame which is vertically movable along a fixed shaft 21 arranged at a predetermined position.
A plurality of test probes 23 each having 22 and connected to the control circuit 3 are planted in the probe support frame 22 in accordance with the arrangement pitch of the electrodes 12.
【0007】図示省略された位置決め機構に合わせて試
験される液晶表示パネル1を液晶表示パネル装着部2に
装着し、プローブ支持枠22を降下させるとプローブ支持
枠22に植設された試験プローブ23の触針が同時に対応す
る電極12に接触する。When the liquid crystal display panel 1 to be tested according to a positioning mechanism (not shown) is mounted on the liquid crystal display panel mounting portion 2 and the probe supporting frame 22 is lowered, the test probe 23 implanted in the probe supporting frame 22. The stylus touches the corresponding electrode 12 at the same time.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の表示試
験装置において制御回路を電極に接続するため用いられ
ている試験プローブは外径が大きく、かかる試験プロー
ブを例えば千鳥状に2列に配列してもプローブ支持枠に
植設できる本数に限界がある。However, the test probe used for connecting the control circuit to the electrode in the conventional display test apparatus has a large outer diameter, and such test probes are arranged in two rows in a staggered manner, for example. However, there is a limit to the number that can be planted in the probe support frame.
【0009】しかるに、最近の液晶表示パネルは高品位
表示が要求されるため電極の数が増え配列ピッチは益々
小さくなってきている。即ち、外径の大きい試験プロー
ブは制御回路を電極に接続するための手段として利用で
きないという問題があった。However, recent liquid crystal display panels are required to have high quality display, so that the number of electrodes is increased and the array pitch is becoming smaller and smaller. That is, there is a problem that a test probe having a large outer diameter cannot be used as a means for connecting the control circuit to the electrode.
【0010】本発明の目的は液晶表示パネルの表示試験
に際して極く狭い間隔をおいて配列されたガラス基板上
の電極に、試験信号を送出する制御回路を容易に接続で
きる手段を具えた表示試験装置を提供することにある。An object of the present invention is to provide a display test including means for easily connecting a control circuit for sending a test signal to electrodes on a glass substrate arranged at extremely narrow intervals in a display test of a liquid crystal display panel. To provide a device.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】図1は本発明になる表示
試験装置の主要部を示す模式図である。なお全図を通し
同じ対象物は同一記号で表している。FIG. 1 is a schematic diagram showing a main part of a display test apparatus according to the present invention. Note that the same object is denoted by the same symbol throughout the drawings.
【0012】上記課題は基板41の同一面に表示試験に際
して液晶表示パネル1の電極12に接触せしめる複数の金
属突起42と、金属突起42を介して電極12に信号を印加す
る導体パターン43を具えた中継パネル4を有し、且つ、
基板41の一端に装着されたコネクタ6を介して中継パネ
ル4の導体パターン43が、試験信号を送出する制御回路
3に接続されてなる本発明の表示試験装置によって達成
される。The above-mentioned problem comprises a plurality of metal protrusions 42 which are brought into contact with the electrodes 12 of the liquid crystal display panel 1 in a display test on the same surface of the substrate 41, and a conductor pattern 43 which applies a signal to the electrodes 12 through the metal protrusions 42. Has a relay panel 4 and
This is achieved by the display test apparatus of the present invention in which the conductor pattern 43 of the relay panel 4 is connected to the control circuit 3 for sending a test signal via the connector 6 attached to one end of the substrate 41.
【0013】[0013]
【作用】図1において基板の同一面に表示試験に際して
液晶表示パネルの電極に接触せしめる複数の金属突起
と、金属突起を介して電極に信号を印加する導体パター
ンを具えた中継パネルを有する本発明になる表示試験装
置は、金属突起や導体パターンの占有スペースを縮小す
ることが可能で千鳥状に2列に配列することはもとよ
り、3列或いは4列に配列することによって電極の数が
増え配列ピッチが小さくなった液晶表示パネルに制御回
路を容易に接続できる。In the present invention, as shown in FIG. 1, there is provided a relay panel having a plurality of metal protrusions on the same surface of a substrate for contacting electrodes of a liquid crystal display panel in a display test, and a conductor pattern for applying a signal to the electrodes through the metal protrusions. The display tester can reduce the space occupied by metal protrusions and conductor patterns, and can be arranged in two rows in a zigzag pattern, or by arranging in three or four rows to increase the number of electrodes. A control circuit can be easily connected to a liquid crystal display panel with a small pitch.
【0014】即ち液晶表示パネルの表示試験に際して極
く狭い間隔をおいて配列されたガラス基板上の電極に、
試験信号を送出する制御回路を容易に接続できる手段を
具えた表示試験装置を実現することができる。That is, in the display test of the liquid crystal display panel, the electrodes on the glass substrate arranged with an extremely narrow interval,
It is possible to realize a display test apparatus including means for easily connecting a control circuit for sending a test signal.
【0015】しかも、基板の一端に装着されたコネクタ
を介して中継パネルの導体パターンを制御回路に接続す
ることによって、中継パネルの交換が可能になり電極の
数や配列ピッチの異なる液晶表示パネルの表示試験も可
能になる。In addition, by connecting the conductor pattern of the relay panel to the control circuit through the connector mounted on one end of the substrate, the relay panel can be replaced, and the liquid crystal display panel having a different number of electrodes and a different arrangement pitch can be used. Display tests are also possible.
【0016】[0016]
【実施例】以下添付図により本発明の実施例について説
明する。なお、図2は本発明になる表示試験装置の変形
例を示す模式図、図3は本発明の別の実施例を示す平面
図、図4は本発明の更に別の実施例を示す平面図であ
る。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. 2 is a schematic diagram showing a modification of the display test apparatus according to the present invention, FIG. 3 is a plan view showing another embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a plan view showing yet another embodiment of the present invention. Is.
【0017】図1(a) において本発明になる表示試験装
置は被試験液晶表示パネル1を装着する液晶表示パネル
装着部2と制御回路3からなり、液晶表示パネル1を構
成するガラス基板11には所定のピッチで配列された複数
の電極12が形成されている。In FIG. 1 (a), the display test apparatus according to the present invention comprises a liquid crystal display panel mounting portion 2 for mounting a liquid crystal display panel 1 to be tested and a control circuit 3, and a glass substrate 11 constituting the liquid crystal display panel 1. Are formed with a plurality of electrodes 12 arranged at a predetermined pitch.
【0018】液晶表示パネル装着部2は所定の位置に配
設された固定軸21に沿って上下動可能なプローブ支持枠
24を有し、プローブ支持枠24には制御回路3を液晶表示
パネル1の電極12に接続する複数の中継パネル4が固定
されている。The liquid crystal display panel mounting portion 2 is a probe support frame which is vertically movable along a fixed shaft 21 arranged at a predetermined position.
A plurality of relay panels 4 for fixing the control circuit 3 to the electrodes 12 of the liquid crystal display panel 1 are fixed to the probe support frame 24.
【0019】中継パネル4は図1(b) に示す如く基板41
と基板41の同一面に設けた金属突起42および導体パター
ン43からなり、金属突起42はセラミック等からなる基板
41の辺に沿って電極12の配列ピッチに合わせ1列或いは
2列以上に配列されている。The relay panel 4 is a substrate 41 as shown in FIG. 1 (b).
And a metal protrusion 42 and a conductor pattern 43 provided on the same surface of the substrate 41, and the metal protrusion 42 is a substrate made of ceramic or the like.
The electrodes are arranged in one or more rows along the side 41 according to the arrangement pitch of the electrodes 12.
【0020】また導体パターン43は基板41の一辺に嵌挿
されたカードエッジ形のコネクタ6を介して制御回路3
に接続されており、液晶表示パネル1の電極12に入力す
る試験信号はコネクタ6および導体パターン43を介して
金属突起42に印加される。Further, the conductor pattern 43 is connected to the control circuit 3 via the card-edge type connector 6 fitted on one side of the substrate 41.
The test signal input to the electrode 12 of the liquid crystal display panel 1 is applied to the metal protrusion 42 via the connector 6 and the conductor pattern 43.
【0021】図示省略された位置決め機構に合わせて試
験される液晶表示パネル1を液晶表示パネル装着部2に
装着し、プローブ支持枠24を降下させるとプローブ支持
枠24に固定された中継パネル4の金属突起42が同時に対
応する電極12に接触する。When the liquid crystal display panel 1 to be tested according to a positioning mechanism (not shown) is mounted on the liquid crystal display panel mounting portion 2 and the probe support frame 24 is lowered, the relay panel 4 fixed to the probe support frame 24 The metal protrusions 42 simultaneously contact the corresponding electrodes 12.
【0022】なお金属突起42は図1(c) に示す如く予め
接点状に成形され導体パターン43に固着されたものであ
っても、また図1(d)に示す如く基板41に植設され且つ
導体パターン43に固着された線材状のものであってもよ
い。The metal projection 42 may be formed in the shape of a contact in advance as shown in FIG. 1 (c) and fixed to the conductor pattern 43, or may be implanted in the substrate 41 as shown in FIG. 1 (d). Further, it may be a wire-shaped member fixed to the conductor pattern 43.
【0023】また本発明の変形例は図2(a) に示す如く
中継パネル5が基板41と金属突起42および導体パターン
43からなり、金属突起42はセラミック等からなる基板41
の辺に沿って電極12の配列ピッチに合わせ1列或いは2
列以上に配列されている。In a modification of the present invention, as shown in FIG. 2 (a), the relay panel 5 includes a substrate 41, metal protrusions 42 and conductor patterns.
43, and the metal protrusion 42 is a substrate 41 made of ceramic or the like.
1 row or 2 according to the arrangement pitch of the electrodes 12 along the side of
It is arranged in more than one column.
【0024】しかし、導体パターン43は前記実施例にお
ける中継パネル4とは違って基板41の金属突起42と異な
る面に形成されており、対応する金属突起42と導体パタ
ーン43はそれぞれ基板41を貫通するスルーホール44を介
して接続されている。However, unlike the relay panel 4 in the above-described embodiment, the conductor pattern 43 is formed on a surface different from the metal protrusion 42 of the substrate 41, and the corresponding metal protrusion 42 and conductor pattern 43 penetrate the substrate 41, respectively. It is connected through the through hole 44.
【0025】なお予め接点状に成形された金属突起42を
基板41上に配列しスルーホール44を介して導体パターン
43に接続しているが、図2(b) に示す如く線材状の金属
突起42を基板41に植設しその一端を導体パターン43に半
田付けしてもよい。It should be noted that the metal protrusions 42 formed in advance in the shape of a contact are arranged on the substrate 41 and the conductor pattern is formed through the through holes 44.
Although it is connected to the wiring 43, it is also possible to implant a wire-shaped metal protrusion 42 on the substrate 41 and solder one end thereof to the conductor pattern 43 as shown in FIG.
【0026】このように基板の同一面または異なる面に
表示試験に際して液晶表示パネルの電極に接触せしめる
複数の金属突起と、金属突起を介して電極に信号を印加
する導体パターンを具えた中継パネルを有する本発明に
なる表示試験装置は、金属突起や導体パターンの占有ス
ペースを縮小することが可能で千鳥状に2列に配列する
ことはもとより、3列或いは4列に配列することによっ
て電極の数が増え配列ピッチが小さくなった液晶表示パ
ネルに制御回路を容易に接続できる。In this way, a relay panel having a plurality of metal protrusions on the same surface or different surfaces of the substrate for contacting the electrodes of the liquid crystal display panel in the display test and a conductor pattern for applying a signal to the electrodes via the metal protrusions is provided. The display test apparatus according to the present invention has a space for occupying metal protrusions and conductor patterns and can be arranged in two rows in a zigzag pattern, or by arranging in three rows or four rows to increase the number of electrodes. Therefore, the control circuit can be easily connected to the liquid crystal display panel whose array pitch has become smaller.
【0027】図3において本発明の別の実施例は中継パ
ネル7が基板41の同一面または異なる面に設けられた金
属突起42と導体パターン45を有し、入力信号に基づいて
液晶表示パネル1を駆動する半導体集積回路8が導体パ
ターン45に実装されている。In FIG. 3, another embodiment of the present invention is that the relay panel 7 has a metal projection 42 and a conductor pattern 45 provided on the same surface or different surfaces of the substrate 41, and the liquid crystal display panel 1 is based on an input signal. The semiconductor integrated circuit 8 for driving the circuit is mounted on the conductor pattern 45.
【0028】また導体パターン45の入力側は基板41の一
辺に嵌挿されたコネクタ6を介して制御回路3に接続さ
れており、制御回路3から出力される試験信号はコネク
タ6および導体パターン45の入力側を介して半導体集積
回路8に入力される。The input side of the conductor pattern 45 is connected to the control circuit 3 via the connector 6 fitted on one side of the substrate 41, and the test signal output from the control circuit 3 is the connector 6 and the conductor pattern 45. Is input to the semiconductor integrated circuit 8 through the input side of.
【0029】金属突起42はセラミック等からなる基板41
の辺に沿って電極12の配列ピッチに合わせ1列或いは2
列以上に配列され、半導体集積回路8から出力される信
号は導体パターン45の出力側を介してそれぞれ対応する
金属突起42に印加される。The metal protrusion 42 is a substrate 41 made of ceramic or the like.
1 row or 2 according to the arrangement pitch of the electrodes 12 along the side of
Signals output from the semiconductor integrated circuit 8 arranged in rows or more are applied to the corresponding metal protrusions 42 via the output side of the conductor pattern 45.
【0030】このように中継パネルの導体パターンに液
晶表示パネルを駆動する半導体集積回路を実装すること
によって、電極の数が増え配列ピッチが小さくなった液
晶表示パネルに制御回路を容易に接続できると共に、制
御回路と中継パネルを接続する配線が少なくなって基板
に嵌挿されるコネクタを小型化することができる。By mounting the semiconductor integrated circuit for driving the liquid crystal display panel on the conductor pattern of the relay panel as described above, the control circuit can be easily connected to the liquid crystal display panel in which the number of electrodes is increased and the arrangement pitch is reduced. As a result, the number of wires connecting the control circuit and the relay panel is reduced, and the connector fitted on the board can be downsized.
【0031】例えば駆動用の半導体集積回路がTAB方
式等によって実装される液晶表示パネルにおける電極は
一般に、1枚のフレキシブルプリント板に接続される電
極を一群として群の間に適当な間隙を設けている。そこ
で前記の中継パネルはいずれもかかる一群の電極を単位
として接続できるように構成されている。For example, electrodes in a liquid crystal display panel in which a driving semiconductor integrated circuit is mounted by a TAB method or the like are generally formed by grouping electrodes connected to one flexible printed board as a group and providing an appropriate gap between the groups. There is. Therefore, each of the relay panels described above is configured so that the group of electrodes can be connected as a unit.
【0032】本発明の更に別の実施例における中継パネ
ル9は図4に示す如く前記中継パネル7に相当する複数
の中継パネルを一体化し、基板41の一辺に嵌挿された1
個のコネクタ6を介して複数の半導体集積回路8を制御
回路3に接続している。As shown in FIG. 4, a relay panel 9 according to still another embodiment of the present invention has a plurality of relay panels corresponding to the relay panel 7 integrated with each other and is fitted to one side of a substrate 41.
A plurality of semiconductor integrated circuits 8 are connected to the control circuit 3 via the individual connectors 6.
【0033】このように複数の中継パネルを一体化し1
個のコネクタを介して複数の半導体集積回路を制御回路
に接続することによって、制御回路と中継パネルを接続
する配線が少なくなって基板に嵌挿されるコネクタを更
に小型化することができる。In this way, a plurality of relay panels are integrated into one unit.
By connecting the plurality of semiconductor integrated circuits to the control circuit via the individual connectors, the number of wires connecting the control circuit and the relay panel is reduced, and the connector fitted on the substrate can be further downsized.
【0034】即ち液晶表示パネルの表示試験に際して極
く狭い間隔をおいて配列されたガラス基板上の電極に、
試験信号を送出する制御回路を容易に接続できる手段を
具えた表示試験装置を実現することができる。That is, in the display test of the liquid crystal display panel, the electrodes on the glass substrate arranged with an extremely narrow interval,
It is possible to realize a display test apparatus including means for easily connecting a control circuit for sending a test signal.
【0035】しかも、基板の一端に装着されたコネクタ
を介して中継パネルの導体パターンを制御回路に接続す
ることによって、中継パネルの交換が可能になり電極の
数や配列ピッチの異なる液晶表示パネルの表示試験も可
能になる。In addition, by connecting the conductor pattern of the relay panel to the control circuit through the connector mounted on one end of the substrate, the relay panel can be replaced and liquid crystal display panels having different numbers of electrodes and arrangement pitches can be used. Display tests are also possible.
【0036】[0036]
【発明の効果】上述の如く本発明によれば液晶表示パネ
ルの表示試験に際して極く狭い間隔をおいて配列された
ガラス基板上の電極に、試験信号を送出する制御回路を
容易に接続できる手段を具えた表示試験装置を提供する
ことができる。As described above, according to the present invention, means for easily connecting a control circuit for sending a test signal to the electrodes on the glass substrate arranged at a very narrow interval in the display test of the liquid crystal display panel. It is possible to provide a display test device including the above.
【図1】 本発明になる表示試験装置の主要部を示す模
式図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing a main part of a display test apparatus according to the present invention.
【図2】 本発明になる表示試験装置の変形例を示す模
式図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing a modified example of the display test apparatus according to the present invention.
【図3】 本発明の別の実施例を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing another embodiment of the present invention.
【図4】 本発明の更に別の実施例を示す平面図であ
る。FIG. 4 is a plan view showing still another embodiment of the present invention.
【図5】 従来の表示試験装置の主要部を示す斜視図で
ある。FIG. 5 is a perspective view showing a main part of a conventional display test apparatus.
1 液晶表示パネル 2 液晶表示パネル装着部 3 制御回路 4、5、7、9 中継パネル 6 コネクタ 8 半導体集積回路 11 ガラス基板 12 電極 21 固定軸 24 プローブ支持枠 41 基板 42 金属突起 43、45 導体パターン 44 スルーホール 1 liquid crystal display panel 2 liquid crystal display panel mounting portion 3 control circuit 4, 5, 7, 9 relay panel 6 connector 8 semiconductor integrated circuit 11 glass substrate 12 electrode 21 fixed shaft 24 probe support frame 41 substrate 42 metal protrusion 43, 45 conductor pattern 44 through hole
Claims (3)
晶表示パネル(1) の電極(12)に接触せしめる複数の金属
突起(42)と、該金属突起(42)を介して該電極(12)に信号
を印加する導体パターン(43)を具えた中継パネル(4) を
有し、 且つ、該基板(41)の一端に装着されたコネクタ(6) を介
して該中継パネル(4)の該導体パターン(43)が、試験信
号を送出する制御回路(3) に接続されてなることを特徴
とする液晶表示パネルの表示試験装置。1. A plurality of metal projections (42) which are brought into contact with electrodes (12) of a liquid crystal display panel (1) during a display test on the same surface of a substrate (41), and the electrodes through the metal projections (42). A relay panel (4) having a conductor pattern (43) for applying a signal to (12), and the relay panel (4) via a connector (6) attached to one end of the substrate (41). The display test device for a liquid crystal display panel, wherein the conductor pattern (43) is connected to a control circuit (3) for sending a test signal.
液晶表示パネル(1)の電極(12)に接触せしめる複数の金
属突起(42)と、該金属突起(42)を介して該電極(12)に信
号を印加する導体パターン(43)を具えた中継パネル(5)
を有し、 且つ、該基板(41)の一端に装着されたコネクタ(6) を介
して該中継パネル(5)の該導体パターン(43)が、試験信
号を送出する制御回路(3) に接続されてなることを特徴
とする液晶表示パネルの表示試験装置。2. A plurality of metal projections (42) to be brought into contact with the electrodes (12) of the liquid crystal display panel (1) in a display test on different surfaces of the substrate (41), and the electrodes through the metal projections (42). Relay panel (5) with conductor pattern (43) for applying signal to (12)
And the conductor pattern (43) of the relay panel (5) via a connector (6) attached to one end of the substrate (41) is connected to a control circuit (3) for sending a test signal. A display test device for a liquid crystal display panel, which is connected.
示試験装置であって基板(41)上の導体パターン(43)に、
半導体集積回路(8) が実装されてなることを特徴とする
液晶表示パネルの表示試験装置。3. The display test apparatus according to claim 1 or 2, wherein the conductor pattern (43) on the substrate (41) comprises:
A display test apparatus for a liquid crystal display panel, characterized in that a semiconductor integrated circuit (8) is mounted.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28340491A JPH05119336A (en) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | Display testing device for liquid crystal display panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28340491A JPH05119336A (en) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | Display testing device for liquid crystal display panel |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05119336A true JPH05119336A (en) | 1993-05-18 |
Family
ID=17665092
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28340491A Withdrawn JPH05119336A (en) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | Display testing device for liquid crystal display panel |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH05119336A (en) |
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1991
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