JPH05118814A - 端縁測定装置 - Google Patents

端縁測定装置

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JPH05118814A
JPH05118814A JP30964991A JP30964991A JPH05118814A JP H05118814 A JPH05118814 A JP H05118814A JP 30964991 A JP30964991 A JP 30964991A JP 30964991 A JP30964991 A JP 30964991A JP H05118814 A JPH05118814 A JP H05118814A
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JP
Japan
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light
photosensor
strip
edge
cover
Prior art date
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Pending
Application number
JP30964991A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuaki Ichinose
瀬 康 明 一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nireco Corp
Original Assignee
Nireco Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 被測定物からの落下物の影響を防ぐ。 【構成】 投光部1から受光部2への光の投光面を鉛直
線に対して傾斜を有するように投光器1と受光器2を配
置する。また被測定物3の下面に投光面の周囲のみを開
口した保護カバー4を設ける。さらに受光器2の受光面
に空気を吹き付ける空気吹き付け部5を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、投受光器の間に設定さ
れた被測定物の端縁を測定する端縁測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】鋼板、紙、ゴム、樹脂など製造や加工工
程においては、これらの帯状体がロールにより駆動され
巻取られたり、巻出されたりする。この場合、走行中の
帯状体が所定の経路を搬送されるように、その端縁位置
を計測し、所定範囲となるよう制御する。また、板など
を連続的に動かすか、測定装置を移動走査して端縁を連
続的に測定することにより、板などの形状を測定するこ
とができる。
【0003】この端縁を計測する装置としては、投光部
と受光部の間に帯状体を配置し、帯状体に遮光されず受
光部に到達した光より帯状体の端縁位置や、両端の計測
値より幅中心位置を計測する装置が用いられることが多
い。
【0004】図2は帯状鋼板の形状測定装置の一例を示
す図である。架台8上をフレーム6は帯状鋼板(ストリ
ップ)3の走行方向と直角方向に移動できるように構成
されている。フレーム6の上方にはストリップ3より幅
広の、棒状または帯状の投光器1が設けられ下方の対応
する位置には棒状または帯状の受光器2が設けられ、ス
トリップ3によって遮光されない投光器1からの光を受
光してストリップ3の端縁を測定する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような計測装置の
場合、投光器と受光器は上下方向に配置され、その間を
帯状体が通過するような配置が用いられている。帯状体
によっては、加工に使用した処理液や粉末などを撒き散
らしながら走行するものがあり、このような場合、帯状
体の下側に設けられた投光部または受光部にこれらの液
滴や粉末がかかり、性能が劣化する。
【0006】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
もので、帯状体からの落下物によって性能を害されない
端縁測定装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、投光部と受光部を上下方向に対向して配置し、その
間に被測定物を挟み、投光部より投光された光のうち被
測定物に遮断されずに到達した光を受光部で受光するこ
とにより被測定物の端縁を測定する端縁測定装置におい
て、投光部より受光部への光の投光面の周囲のみを開口
した投光部または受光部の保護カバーを設け、前記投光
面を鉛直軸に対し所定角度傾斜するようにしたものであ
る。
【0008】また、前記受光部または投光部の対向面の
うち下方側になる面に空気を吹き付けるようにする。
【0009】
【作用】投光部よりの光は保護カバーの開口を通し、受
光部へ到達するが、帯状体から落下する液滴や粉末は、
下方へ落下してゆくので、鉛直軸に対して所定の傾斜角
で、保護カバーの下方へ配置されている投光部または受
光部には、振りかからず性能劣化は生じない。
【0010】また、保護カバーの下方に配置される投光
器または受光器の相手器への対向面に空気を吹きつける
ことにより、帯状体からの液滴や粉末をさらに完全に排
除することができる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図1は本実施例の構成を示す図であり、図2のA
−A断面に相当する断面図を表す。1は投光器でライン
状に発光する光源を有する。2は受光器でライン状のイ
メージセンサを有する。3はストリップでロール7によ
り連続的に走行する。4は保護カバーで投光器1より受
光器2への光の投光面に添ってスリットが設けられ、投
光器1よりの光を通過させる。5は空気吹き付け部で受
光器2の受光面に空気を吹き付け、ストリップ3からの
液滴や粉末を吹き飛ばす。6はフレームで投光面が鉛直
線に対して所定角傾斜するよう設置される。
【0012】上述の構成により、ストリップ3より落下
する液滴や粉末はほぼ下方に落下するので、保護カバー
に妨げられて受光器2の表面には振りかからない。さら
に空気吹き付け部5で受光器2の受光面に空気を吹き付
けることにより、ほぼ完全に液滴や粉末を防ぐことが可
能となる。
【0013】投光面の鉛直軸に対する傾斜角は保護カバ
ー4とストリップ下面との距離によって変わってくる。
この距離が大きければ傾斜角は少なくなり、距離が小さ
ければ大きくなる。
【0014】投光器1でライン状に光をストリップ3な
どの被測定物3に照射し、被測定物3に遮光されない光
を受光器2で受光して被測定物3の端縁を計測する場
合、図3(a)に示すように斜めに入射した光があると
端縁を正確に受光器2で検出することが困難になる。そ
こで(b)に示すようにほぼ平行光のみが受光素子9に
到達するようなスリット10を用いるとよい。また(c)
に示すようにスリット10の出口にかまぼこ型レンズまた
はロッドレンズ11を設けるとよい。実開昭63-72527号公
報にはこれらの技術が開示されている。
【0015】このように被測定物3の端縁は、暗部と明
部とが1点で変化するのでなく、なだらかに変化する。
このため、測定前に基準板を用いて受光素子列の各素子
毎に基準板端縁の光レベルを求め、その値によって、各
受光レベルに比例したしきい値を設定し、記憶装置にこ
のしきい値を記憶しておき、測定時は各受光素子の測定
受光レベル値と、このしきい値を比較して、端縁を検出
するようにしてもよい。特開昭63-307304 号公報には、
これらの技術が開示されている。
【0016】投光器1はライン状の光源を用いるが、実
現方法としては、光源からの光を光ファイバーで導きラ
イン状の光を投光部で発生する装置などが市販されてい
るので、このような装置を用いると投光部分のスペース
が狭い所にも設置できる。このような装置はラインの長
さに制限があるので、所定のライン長さを得るには、こ
れらの投光部を複数個継ぐ必要がある。なお、この場合
分解能を上げるためには、図4に示すように投光部を千
鳥状にずらして配置するとよい。
【0017】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は、投光面を鉛直線に対して傾斜させることにより帯状
体の下方に位置する投光器または受光器を帯状体からの
落下物から遮断し性能劣化を防ぐ。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す構成図である。
【図2】従来の形状測定装置の一例を示す図である。
【図3】受光器に平行光を受光させるために設けたスリ
ットの説明図である。
【図4】投光器のライン状投光部の配置を説明する図で
ある。
【符号の説明】
1 投光器 2 受光器 3 ストリップ 4 保護カバー 5 空気吹き付け部 6 フレーム 7 ロール 9 受光素子 10 スリット 11 ロッドレンズ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 投光部と受光部を上下方向に対向して配
    置し、その間に被測定物を挟み、投光部より投光された
    光のうち被測定物に遮断されずに到達した光を受光部で
    受光することにより被測定物の端縁を測定する端縁測定
    装置において、投光部より受光部への光の投光面の周囲
    のみを開口した投光部または受光部の保護カバーを設
    け、前記投光面を鉛直軸に対し所定角度傾斜するように
    したことを特徴とする端縁測定装置。
  2. 【請求項2】 前記受光部または投光部の対向面のうち
    下方側になる面に空気を吹き付けるようにしたことを特
    徴とする請求項1記載の端縁測定装置。
JP30964991A 1991-10-29 1991-10-29 端縁測定装置 Pending JPH05118814A (ja)

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JP30964991A JPH05118814A (ja) 1991-10-29 1991-10-29 端縁測定装置

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JP30964991A JPH05118814A (ja) 1991-10-29 1991-10-29 端縁測定装置

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JPH05118814A true JPH05118814A (ja) 1993-05-14

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008020379A (ja) * 2006-07-14 2008-01-31 Topy Ind Ltd 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法
WO2019097747A1 (ja) * 2017-11-14 2019-05-23 株式会社ホタニ ストリップの端部検出装置及びブラッシング装置

Cited By (3)

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JP4716433B2 (ja) * 2006-07-14 2011-07-06 トピー工業株式会社 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法
WO2019097747A1 (ja) * 2017-11-14 2019-05-23 株式会社ホタニ ストリップの端部検出装置及びブラッシング装置

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