JPH05104164A - Die for working lead of semiconductor equipment - Google Patents

Die for working lead of semiconductor equipment

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Publication number
JPH05104164A
JPH05104164A JP3264657A JP26465791A JPH05104164A JP H05104164 A JPH05104164 A JP H05104164A JP 3264657 A JP3264657 A JP 3264657A JP 26465791 A JP26465791 A JP 26465791A JP H05104164 A JPH05104164 A JP H05104164A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
bending
die
semiconductor device
groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3264657A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Matsuura
哲也 松浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3264657A priority Critical patent/JPH05104164A/en
Publication of JPH05104164A publication Critical patent/JPH05104164A/en
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Punching Or Piercing (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the quality of a semiconductor equipment by preventing a transverse bend of a lead, a solder adhesion or a scratch. CONSTITUTION:A bending punch 1 constitutes a working die for an external lead of the semiconductor equipment and the tip of the external lead is bent by it. Straightening grooves 2 having a width each a little larger than the lead width are provided on the bending punch 1 corresponding to the lead, therefore, the lead is prevented being bent transversely by this groove 2.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、曲げパンチと曲げダイ
とからなる半導体装置のリード加工用金型に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead processing die for a semiconductor device comprising a bending punch and a bending die.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4(a)は、従来の第1先端曲げパン
チ11の斜視図、同図(b)は従来の第2先端曲げパン
チ12の斜視図、図5(a)はJベンド用の曲げダイ1
3の斜視図、同図(b)は同じく側面図である。図6は
半導体装置6の側面図で7は成形加工する前の外部リー
ドである。図7は半導体装置6の外部リード7を前記第
1、第2先端曲げパンチ11、12および曲げダイ13
によって成形加工するリードベンド工程を示す動作図で
ある。同図において、15は第1先端曲げ金型ダイ、1
6は第2先端曲げ金型ダイ、17は70°曲げローラ、
18は90°曲げローラ、19は半導体装置6を押さえ
るためのストリッパである。
2. Description of the Related Art FIG. 4 (a) is a perspective view of a conventional first tip bending punch 11, FIG. 4 (b) is a perspective view of a conventional second tip bending punch 12, and FIG. 5 (a) is a J bend. Bending die 1
3 is a perspective view, and FIG. 3B is a side view of the same. FIG. 6 is a side view of the semiconductor device 6, and 7 is an external lead before being molded. In FIG. 7, the external lead 7 of the semiconductor device 6 is connected to the first and second tip bending punches 11 and 12 and the bending die 13.
FIG. 8 is an operation diagram showing a lead bend step of forming and processing by. In the figure, 15 is a first tip bending die, 1
6 is a second tip bending die, 17 is a 70 ° bending roller,
Reference numeral 18 is a 90 ° bending roller, and 19 is a stripper for pressing the semiconductor device 6.

【0003】次に、動作を説明する。図7(a)の第1
先端曲げ工程において、半導体装置6を第1先端曲げパ
ンチ11と第1先端曲げ金型ダイ15とで抑え込んで、
外部リード7の先端を折り曲げる。次に、図7(b)の
第2先端曲げ工程において、半導体装置6を第2先端曲
げパンチ12と第2先端曲げ金型ダイ16とで抑え込ん
で、リード7の先端の折り曲げをより深くする。引き続
いて、図7(c)の70°ベンド工程において、70°
曲げローラ17によって、リード7を根元部から70°
に折り曲げる。さらに、図7(d)の90°ベンド工程
において、90°曲げローラ18によって、リード7を
根元部から90°に折り曲げる。最後に、図7(e)の
Jベンド工程において、半導体装置6をJベンド曲げダ
イ13とストリッパ19とで抑え込んで、外部リード7
をJ型に成形する。
Next, the operation will be described. First in FIG. 7 (a)
In the tip bending step, the semiconductor device 6 is held by the first tip bending punch 11 and the first tip bending mold die 15,
Bend the tip of the external lead 7. Next, in the second tip bending step of FIG. 7B, the semiconductor device 6 is held by the second tip bending punch 12 and the second tip bending die 16 to deepen the bending of the tip of the lead 7. .. Subsequently, in the 70 ° bend process of FIG. 7C, 70 °
The bending roller 17 causes the lead 7 to move 70 ° from the root.
Fold it in. Further, in the 90 ° bend process of FIG. 7D, the lead 7 is bent from the root portion to 90 ° by the 90 ° bending roller 18. Finally, in the J bend process of FIG. 7E, the semiconductor device 6 is held by the J bend bending die 13 and the stripper 19, and the external lead 7
Is molded into a J shape.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来のリード加工用金型においては、リードフレーム作成
時に外部リード7が、C−C線を中心として対称形とな
らずに作成された場合には、ベンド工程において、この
リード7に対して均等な力が加わらず、このためリード
7が、図9に示すリード22のように横方向に変形し、
隣接するリード間で短絡を起こすといった問題が発生し
ていた。また、Jベンド工程において、90°に曲げら
れたリード7がJベンドダイ3に入るときに、Jベンド
ダイ3の側面と摺接してリード7の表面に電界メッキ法
により密着しているはんだメッキ層8が剥離してはんだ
屑21が発生し、このはんだ屑21がJベンドダイ3に
堆積する。そして、これが次の半導体装置6がJベンド
ダイ3によって成形されるときにリード7の表面に付着
して図9に示すような付着物21となって短絡の原因と
なり、基板に実装することが困難となる不都合が生じて
いた。本発明は、上記した従来の問題点あるいは不都合
に鑑みてなされたものであり、その目的とするところ
は、リードの横曲りやはんだ付着あるいはこすり傷を防
止し、半導体装置の品質の向上を図ったリード加工用金
型を提供することにある。
By the way, in the above-mentioned conventional die for lead processing, when the external lead 7 is not formed symmetrically with respect to the CC line at the time of producing the lead frame, Does not apply an even force to the lead 7 in the bending process, so that the lead 7 is laterally deformed like the lead 22 shown in FIG.
There has been a problem that a short circuit occurs between adjacent leads. Further, in the J bend process, when the lead 7 bent at 90 ° enters the J bend die 3, the solder plating layer 8 which is in sliding contact with the side surface of the J bend die 3 and adheres to the surface of the lead 7 by the electroplating method. Are peeled off to generate solder scraps 21, and the solder scraps 21 are deposited on the J-bend die 3. Then, when the next semiconductor device 6 is molded by the J-bend die 3, the semiconductor device 6 adheres to the surface of the lead 7 and becomes an adhering substance 21 as shown in FIG. 9, which causes a short circuit, and is difficult to mount on the substrate. There was an inconvenience. The present invention has been made in view of the above conventional problems or inconveniences, and an object of the present invention is to prevent lateral bending of leads, solder adhesion, or scratches, and to improve the quality of semiconductor devices. To provide a die for lead processing.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明に係るリード加工用金型は、半導体装置のリ
ードを所定の角度に折り曲げる曲げパンチと曲げダイと
からなる半導体装置のリード加工用金型において、前記
曲げパンチと曲げダイとに前記半導体装置のリードに対
応してリード矯正用の溝を設けたものである。また、本
発明に係るリード加工用金型は、曲げダイのリード矯正
用の溝の入り口部分にこの溝の傾斜を緩やかにした誘い
込み部を設けたものである。
To achieve this object, a lead processing die according to the present invention is a semiconductor device lead comprising a bending punch and a bending die for bending the leads of the semiconductor device at a predetermined angle. In the processing die, the bending punch and the bending die are provided with lead straightening grooves corresponding to the leads of the semiconductor device. In addition, the lead processing die according to the present invention is provided with a guide portion having a gentle inclination of the groove at the entrance of the lead straightening groove of the bending die.

【0006】[0006]

【作用】本発明においては、リードフレーム成形時に非
対称形となったリードはリード矯正用の溝で、所定の形
状に矯正される。また、リードは誘い込み部から矯正用
の溝に円滑に案内される。
In the present invention, the lead, which is asymmetrical when the lead frame is molded, is corrected into a predetermined shape by the groove for correcting the lead. Further, the reed is smoothly guided from the guiding portion to the correction groove.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図に基づいて説明
する。図1は本発明に係るリード加工用金型の曲げパン
チの斜視図、図2(a)は同じく曲げダイの斜視図、同
図(b)は同じく側面図である。これらの図において、
本発明の特徴とするところは、曲げパンチ1および曲げ
ダイ3に数条の矯正用の溝2、4を設けた点にある。こ
れら矯正用の溝2、4は、半導体装置6の外部リード7
と対応した位置に設けられており、それぞれの溝2、4
の幅はリード7よりもやや大に形成され、また溝2、4
の底の傾斜は、それぞれ曲げパンチ1あるいは曲げダイ
3の表面と同一形状に形成されている。また、曲げダイ
3の溝4の上部は、曲げダイ3の表面の傾斜よりも角度
θだけ緩やかに形成されており、リード7を溝4の下方
に誘い込み案内する誘い込み部4aが設けられている。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view of a bending punch of a lead processing die according to the present invention, FIG. 2 (a) is a perspective view of a bending die, and FIG. 2 (b) is a side view thereof. In these figures,
The feature of the present invention resides in that the bending punch 1 and the bending die 3 are provided with several straightening grooves 2 and 4. These straightening grooves 2 and 4 are formed on the external leads 7 of the semiconductor device 6.
Is provided at a position corresponding to
Has a width slightly larger than that of the lead 7, and the grooves 2, 4
The slopes of the bottoms are formed in the same shape as the surface of the bending punch 1 or the bending die 3, respectively. Further, the upper portion of the groove 4 of the bending die 3 is formed more gently by an angle θ than the inclination of the surface of the bending die 3, and a guiding portion 4a for guiding and guiding the lead 7 below the groove 4 is provided. ..

【0008】次に、動作を説明する。リードフレーム成
形時に外部リード7がC−C線を中心として非対称形に
形成された場合でも、図7(a)、(b)の第1、第2
の先端曲げ工程において、外部リード7は曲げパンチ1
の溝2に入り込み、先端が折り曲げられると同時に、リ
ード7に横方向の力が働いても溝2によって矯正的に抑
え込まれるため外部リード7は所定の形状に加工され
る。続いて、図7(c)、(d)の70°、90°曲げ
工程を経て、図7(e)のJベンド工程において、外部
リード7は曲げダイ3の溝4に入り込み、この工程にお
いても非対称形に起因するリード7に対する横方向の力
は溝4によって矯正的に抑え込まれリード7の横曲がり
が防止される。
Next, the operation will be described. Even when the external lead 7 is formed asymmetrical about the C-C line at the time of molding the lead frame, the first and second parts of FIGS. 7A and 7B are formed.
In the step of bending the tip of the
The outer lead 7 is processed into a predetermined shape because the groove 2 enters the groove 2 and the tip is bent, and at the same time, even if a lateral force acts on the lead 7, it is restrained by the groove 2 in a corrective manner. Subsequently, through the 70 ° and 90 ° bending steps of FIGS. 7C and 7D, in the J bend step of FIG. 7E, the external lead 7 enters the groove 4 of the bending die 3, and in this step. The lateral force on the lead 7 due to the asymmetrical shape is restrained by the groove 4 to prevent the lead 7 from bending laterally.

【0009】また、本発明においては、曲げダイ3の溝
4の上部に誘い込み部4aを設けているので、図7
(d)の90°曲げ工程の後、半導体装置6のリード7
がJベンド工程で曲げダイ3の溝4に入りこむとき、図
3に示すようにリード7の側面のはんだメッキ8が曲げ
ダイ3の溝4の入り口付近で摺接することなく円滑に溝
4内に入り込み、これによりはんだメッキ8が剥離する
ことがなくしたがってはんだ屑の発生を軽減できて外部
リード7へのはんだ付着を防止することができる。な
お、本実施例ではJ型パッケージに適用した例を示した
が、これに限定されず、ガルウィング型パッケージある
いはDIP型パッケージの曲げパンチに上記同様な溝を
形成することによって、同様な作用効果が得られること
は勿論である。
Further, in the present invention, since the guiding portion 4a is provided above the groove 4 of the bending die 3, FIG.
After the 90 ° bending step of (d), the leads 7 of the semiconductor device 6
When the solder enters the groove 4 of the bending die 3 in the J-bending process, the solder plating 8 on the side surface of the lead 7 smoothly enters the groove 4 in the vicinity of the entrance of the groove 4 of the bending die 3 as shown in FIG. As a result, the solder plating 8 does not peel off, so that the generation of solder scraps can be reduced and the solder adhesion to the external leads 7 can be prevented. In addition, although the example applied to the J-type package is shown in the present embodiment, the present invention is not limited to this, and by forming the groove similar to the above in the bending punch of the gull wing type package or the DIP type package, the same action and effect can be obtained. Of course, it can be obtained.

【0010】[0010]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、リ
ード加工用金型の曲げパンチと曲げダイに外部リードが
入り込む矯正用の溝を設けたので、リード加工時にリー
ドの横曲がりを防止することができる。また、曲げダイ
の溝に誘い込み部を設けたので、リード表面のこすり傷
やはんだ付着を防止することができ、これにより半導体
装置の品質が向上する効果がある。
As described above, according to the present invention, since the bending punch and the bending die of the lead processing die are provided with the straightening groove for receiving the external lead, the lateral bending of the lead is prevented during the lead processing. can do. Further, since the guiding portion is provided in the groove of the bending die, it is possible to prevent the lead surface from being scratched or the solder is adhered, which has the effect of improving the quality of the semiconductor device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るリード加工用金型の曲げパンチの
斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a bending punch of a lead processing die according to the present invention.

【図2】本発明に係るリード加工用金型の曲げダイを示
し、(a)は斜視図、(b)は側面図である。
2A and 2B show a bending die of a lead processing die according to the present invention, wherein FIG. 2A is a perspective view and FIG. 2B is a side view.

【図3】本発明に係る曲げダイに半導体装置を挿入する
状態を示す側面図である。
FIG. 3 is a side view showing a state in which a semiconductor device is inserted into a bending die according to the present invention.

【図4】従来の曲げパンチを示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a conventional bending punch.

【図5】従来の曲げダイを示し、(a)は斜視図、
(b)は側面図である。
FIG. 5 shows a conventional bending die, (a) is a perspective view,
(B) is a side view.

【図6】半導体装置の平面図である。FIG. 6 is a plan view of a semiconductor device.

【図7】従来の外部リードの曲げ工程を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a conventional external lead bending process.

【図8】従来の曲げダイに半導体装置を挿入する状態を
示す側面図である。
FIG. 8 is a side view showing a state in which a semiconductor device is inserted into a conventional bending die.

【図9】従来の半導体装置のリードの曲げ加工が終了し
た状態を示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a state where the bending process of the leads of the conventional semiconductor device is completed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 曲げパンチ 2 矯正用の溝 3 曲げダイ 4 矯正用の溝 4a 誘い込み部 6 半導体装置 7 外部リード DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Bending punch 2 Straightening groove 3 Bending die 4 Straightening groove 4a Guide part 6 Semiconductor device 7 External lead

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体装置のリードを所定の角度に折り
曲げる曲げパンチと曲げダイとからなる半導体装置のリ
ード加工用金型において、前記曲げパンチと曲げダイと
に前記半導体装置のリードに対応してリード矯正用の溝
を設けたことを特徴とする半導体装置のリード加工用金
型。
1. A lead processing die for a semiconductor device, comprising a bending punch and a bending die for bending the leads of the semiconductor device at a predetermined angle, wherein the bending punch and the bending die correspond to the leads of the semiconductor device. A lead processing die for a semiconductor device, which is provided with a groove for correcting a lead.
【請求項2】 請求項1記載の半導体装置のリード加工
用金型において、前記曲げダイのリード矯正用の溝の入
り口部分にこの溝の傾斜を緩やかにした誘い込み部を設
けたことを特徴とする半導体装置のリード加工用金型。
2. The lead processing die for a semiconductor device according to claim 1, wherein a lead-in portion having a gentle inclination is provided at an entrance portion of the lead straightening groove of the bending die. Mold for semiconductor device lead processing.
JP3264657A 1991-10-14 1991-10-14 Die for working lead of semiconductor equipment Pending JPH05104164A (en)

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