JPH05102845A - Skew adjustment circuit - Google Patents

Skew adjustment circuit

Info

Publication number
JPH05102845A
JPH05102845A JP3258983A JP25898391A JPH05102845A JP H05102845 A JPH05102845 A JP H05102845A JP 3258983 A JP3258983 A JP 3258983A JP 25898391 A JP25898391 A JP 25898391A JP H05102845 A JPH05102845 A JP H05102845A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
input terminal
input
terminal
output terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3258983A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2819890B2 (en
Inventor
Yukio Miyatake
行夫 宮武
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3258983A priority Critical patent/JP2819890B2/en
Publication of JPH05102845A publication Critical patent/JPH05102845A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2819890B2 publication Critical patent/JP2819890B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide the skew adjustment circuit in which a clock skew causing disturbance to high speed processing in a high speed LSI and compatible with a state of debugging important in the development of the LSI. CONSTITUTION:An oscillation circuit 130 is formed in the inside of an LSI. The phase of a clock inputted externally to an input terminal 191 and the phase of an output of the oscillation circuit 130 are compared by a phase comparator circuit 110 and the result of comparison is stored in a storage circuit 120. The clock from the input terminal 191 is outputted with a delay by a variable delay circuit 100 whose delay time is controlled by the storage content in the storage circuit 120 to compensate a phase fluctuation in the clock in the inside of the LSI.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はスキュー調整回路に関
し、特に高速LSIにおいて高速化の妨げとなるクロッ
クスキューを抑えるスキュー調整回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a skew adjusting circuit, and more particularly to a skew adjusting circuit which suppresses clock skew which hinders high speed operation in a high speed LSI.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のこの種のスキュー調整回路の一例
を図2に示す。図2において、200は周波数可変発振
回路、201は周波数可変発振回路200の第1の入力
端子、206は周波数可変発振回路200の第1の出力
端子、210は位相比較回路、211は位相比較回路2
10の第1の入力端子、212は位相比較回路210の
第2の入力端子、216は位相比較回路210の第1の
出力端子、220は本従来例を含むLSI内部のクロッ
ク分配系、221はクロック分配系220の入力端子、
226はクロック分配系220の出力端子の1つ、29
1は本従来例の入力端子を表す。
2. Description of the Related Art An example of a conventional skew adjusting circuit of this type is shown in FIG. In FIG. 2, 200 is a frequency variable oscillation circuit, 201 is a first input terminal of the frequency variable oscillation circuit 200, 206 is a first output terminal of the frequency variable oscillation circuit 200, 210 is a phase comparison circuit, and 211 is a phase comparison circuit. Two
10 is a first input terminal, 212 is a second input terminal of the phase comparison circuit 210, 216 is a first output terminal of the phase comparison circuit 210, 220 is a clock distribution system inside the LSI including this conventional example, and 221 is Input terminal of clock distribution system 220,
226 is one of the output terminals of the clock distribution system 220, 29
Reference numeral 1 represents an input terminal of this conventional example.

【0003】本従来例の動作について説明する。The operation of this conventional example will be described.

【0004】図2に示すように、例えば、外部からクロ
ック回路を入力端子291に接続し、クロック分配系2
20の出力端子226の出力と入力端子291から入力
されたクロック信号との位相差を位相比較回路210で
検出し、例えば、位相差に相当する電圧値を出力端子2
16から出力する。その電圧値を入力端子201から入
力し、外部のクロック信号と周波数可発振回路200の
出力信号との位相差をなくす、あるいは、ある一定の値
になるように発振周波数を変化させる。
As shown in FIG. 2, for example, a clock circuit is connected to the input terminal 291 from the outside, and the clock distribution system 2
The phase comparison circuit 210 detects the phase difference between the output of the output terminal 226 of 20 and the clock signal input from the input terminal 291. For example, the voltage value corresponding to the phase difference is output terminal 2
Output from 16. The voltage value is input from the input terminal 201, and the phase difference between the external clock signal and the output signal of the frequency oscillating circuit 200 is eliminated, or the oscillation frequency is changed to have a certain value.

【0005】クロック分配系220はデバイスのバラツ
キや温度変化等によって入力端子221から出力端子2
26に至る遅延時間が大幅に変化する。このため、外部
のLSIとクロックの位相を調整するためにクロック分
配系220の出力と外部から入力されるクロックとの位
相差を位相比較回路210で検出し、スキューを減少さ
せるように周波数可変発振回路200への入力を変化さ
せることで調整を行なう。位相比較回路210は、例え
ば、入力される一方の信号を分周、あるいは、倍周させ
ることも可能である。
The clock distribution system 220 changes from the input terminal 221 to the output terminal 2 due to device variations and temperature changes.
The delay time up to 26 changes significantly. Therefore, in order to adjust the phase of the clock with the external LSI, the phase comparison circuit 210 detects the phase difference between the output of the clock distribution system 220 and the clock input from the outside, and the frequency variable oscillation is performed so as to reduce the skew. Adjustments are made by varying the inputs to circuit 200. The phase comparison circuit 210 can also divide or double the input one signal, for example.

【0006】このように、従来のスキュー調整回路は周
波数可変発振回路200、例えば、電圧制御発振回路か
ら出力される信号をスキュー調整されたクロックとして
用いている。
As described above, the conventional skew adjustment circuit uses the signal output from the frequency variable oscillation circuit 200, for example, the voltage controlled oscillation circuit, as the skew adjusted clock.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】この従来のスキュー調
整回路では、例えば、通常の動作状態からデバッグモー
ドに移行する場合にはクロック速度を途中で停止する必
要があるが、この場合、位相比較回路210は外部から
のクロックの速度が変化したのか周波数可変発振回路2
00の周波数が落ちたのか判断できない。そのため、外
部のクロックが停止しても内部の周波数可変発振回路2
00は数〜数十クロック停止しない場合が考えられる。
このようになるとクロックを停止させる度にどの程度の
余分にクロックが入ったかを調べる必要があり、デバッ
グに非常な困難を伴うことになる。また、デバッグのた
めにクロックを再び入力した場合にも内部のクロックが
安定するまでに必要となるクロック数を決定することは
非常に困難である。このような事態は、LSIが複数に
渡る場合、事態は飛躍的に困難さを深めることになる。
In this conventional skew adjusting circuit, for example, when shifting from the normal operating state to the debug mode, it is necessary to stop the clock speed midway, but in this case, the phase comparing circuit is used. 210 indicates whether the speed of the clock from the outside has changed or not.
I cannot judge whether the frequency of 00 dropped. Therefore, even if the external clock stops, the internal variable frequency oscillation circuit 2
It is considered that 00 does not stop for several to several tens of clocks.
In this case, it is necessary to check how much extra clock is input each time the clock is stopped, which makes debugging extremely difficult. Further, even when the clock is input again for debugging, it is very difficult to determine the number of clocks required until the internal clock becomes stable. In such a situation, when a plurality of LSIs are provided, the situation becomes extremely difficult.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明のスキュー調整回
路は、第1の出力端子を持つ発振回路と、第1及び第2
の入力端子ならびに第1の出力端子を持ち第1の入力端
子から得る信号から第1の出力端子へ出力する信号に第
2の入力端子から得る信号によって制御される遅延時間
を付加する可変遅延回路と、第1及び第2の入力端子な
らびに第1の出力端子を持ち第1の入力端子から入力さ
れる信号と第2の入力端子から入力される信号との位相
差を検出し位相差に応じた信号を第1の出力端子から出
力する第1の位相比較回路と、第1及び第2の入力端子
ならびに第1の出力端子を持ち第1の入力端子から入力
される信号を第2の入力端子から入力される信号によっ
て記憶し第1の出力端子からその結果を出力する記憶回
路とを備え、前記発振回路の第1の出力端子を前記第1
の位相比較回路の第2の入力端子に接続し前記第1の位
相比較回路の第1の出力端子を前記記憶回路の第1の入
力端子に接続し前記記憶回路の第1の出力端子を前記可
変遅延回路の第2の入力端子に接続し、前記可変遅延回
路の第1の入力端子と前記第1の位相比較回路の第1の
入力端子とを接続して第1の外部入力端子とし、前記記
憶回路の第2の入力端子を第2の外部入力端子とし、前
記可変遅延回路の第1の出力端子を第1の外部出力端子
とする。
The skew adjusting circuit of the present invention includes an oscillator circuit having a first output terminal, first and second oscillator circuits.
Delay circuit having a first input terminal and a first output terminal and adding a delay time controlled by a signal obtained from the second input terminal to a signal output from the first input terminal to the first output terminal And having a first and a second input terminal and a first output terminal, the phase difference between the signal input from the first input terminal and the signal input from the second input terminal is detected and the phase difference is detected. A first phase comparison circuit for outputting a signal from the first output terminal and a signal input from the first input terminal having the first and second input terminals and the first output terminal to the second input A storage circuit for storing the result according to a signal input from the terminal and outputting the result from the first output terminal, wherein the first output terminal of the oscillation circuit is the first output terminal.
Connected to the second input terminal of the phase comparison circuit, the first output terminal of the first phase comparison circuit is connected to the first input terminal of the storage circuit, and the first output terminal of the storage circuit is connected to the first output terminal of the storage circuit. Connecting to a second input terminal of the variable delay circuit, connecting the first input terminal of the variable delay circuit and the first input terminal of the first phase comparison circuit to form a first external input terminal, A second input terminal of the memory circuit is a second external input terminal, and a first output terminal of the variable delay circuit is a first external output terminal.

【0009】又、本発明のスキュー調整回路は、第1の
入力端子及び第1の出力端子をもち第1の入力端子の信
号によって第1の出力端子から出力する信号の周波数を
変化させられる周波数可変発振回路と、第1及び第2の
入力端子ならびに第1の出力端子を持ち第1の入力端子
から入力される信号と第2の入力端子から入力される信
号との位相差を検出し位相差に応じた信号を第1の出力
端子から出力する第2の位相比較回路と、第1,第2及
び第3の入力端子ならびに第1の出力端子を持ち第3の
入力端子に入力される信号によって第1の出力端子に出
力する信号を第1の入力端子から入力される信号と第2
の入力端子から入力される信号とのどちらかに選択する
選択回路とを含み、前記周波数可変発振回路の第1の出
力端子を外部回路を介して前記第2の位相比較回路の第
2の入力端子に接続し、前記周波数可変発振回路の第1
の出力端子を前記選択回路の第2の入力端子に接続し、
前記第1の外部出力端子を前記選択回路の第1の入力端
子に接続し、前記第1の外部入力端子と前記第2の位相
比較回路の第1の入力端子とを接続し、前記選択回路の
第3の入力端子を第3の外部入力端子とし、前記選択回
路の第1の出力端子を第2の外部出力端子として構成さ
れていてもよい。
Further, the skew adjustment circuit of the present invention has a first input terminal and a first output terminal, and a frequency at which the frequency of the signal output from the first output terminal can be changed by the signal of the first input terminal. A variable oscillator circuit, which has first and second input terminals and a first output terminal, detects a phase difference between a signal input from the first input terminal and a signal input from the second input terminal, and detects the phase difference. A second phase comparison circuit that outputs a signal corresponding to the phase difference from the first output terminal, and has first, second and third input terminals and a first output terminal, and is input to the third input terminal. The signal output to the first output terminal by the signal and the signal input from the first input terminal to the second input terminal
A selection circuit for selecting one of a signal input from an input terminal of the second phase comparison circuit, and a first output terminal of the frequency variable oscillation circuit via an external circuit. The frequency variable oscillator circuit is connected to the first
The output terminal of is connected to the second input terminal of the selection circuit,
The first external output terminal is connected to a first input terminal of the selection circuit, the first external input terminal and the first input terminal of the second phase comparison circuit are connected, and the selection circuit May be configured as a third external input terminal, and the first output terminal of the selection circuit may be configured as a second external output terminal.

【0010】[0010]

【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
The present invention will be described below with reference to the drawings.

【0011】図1は本発明の第1の実施例を示すブロッ
ク図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.

【0012】図1において、100は可変遅延回路、1
01は可変遅延回路100の第1の入力端子、102は
可変遅延回路100の第2の入力端子、106は可変遅
延回路100の第1の出力端子、110は位相比較回
路、111は位相比較回路110の第1の入力端子、1
12は位相比較回路110の第2の入力端子、116は
位相比較回路110の第1の出力端子、120は記憶回
路、121は記憶回路120の第1の入力端子、122
は記憶回路120の第2の入力端子、126は記憶回路
120の第1の出力端子、130は発振回路、131は
発振回路130の第1の出力端子、191は本実施例の
第1の入力端子、192は本実施例の第2の入力端子、
196は本実施例の第1の出力端子を表す。
In FIG. 1, 100 is a variable delay circuit, 1
Reference numeral 01 is a first input terminal of the variable delay circuit 100, 102 is a second input terminal of the variable delay circuit 100, 106 is a first output terminal of the variable delay circuit 100, 110 is a phase comparison circuit, and 111 is a phase comparison circuit. 110 first input terminal, 1
12 is the second input terminal of the phase comparison circuit 110, 116 is the first output terminal of the phase comparison circuit 110, 120 is the storage circuit, 121 is the first input terminal of the storage circuit 120, 122
Is a second input terminal of the memory circuit 120, 126 is a first output terminal of the memory circuit 120, 130 is an oscillator circuit, 131 is a first output terminal of the oscillator circuit 130, and 191 is a first input of this embodiment. Terminal, 192 is the second input terminal of this embodiment,
Reference numeral 196 represents the first output terminal of this embodiment.

【0013】本実施例の動作について説明する。The operation of this embodiment will be described.

【0014】図1に示すように、例えば、外部からクロ
ック回路を入力端子191に接続し、発振回路130の
出力と入力端子191から入力されたクロック信号との
位相差を位相比較回路110で検出し、例えば、位相差
に相当する電圧値を出力端子116から出力する。発振
回路130は、例えば、リング発振器のように本実施例
を含むLSI内のデバイスで構成し、デバイスのバラツ
キ等によって周波数が変化する可能性を含むものであ
る。位相比較回路110が出力端子116から出力した
電圧値を記憶回路120で保持、あるいは、変換して
後、可変遅延回路100に入力端子102から入力し、
外部のクロック信号と発振器130出力との位相差をな
くす、あるいは、ある一定の値になるように出力端子1
06の出力信号の位相を変化させる。位相比較回路11
0は、例えば、入力される一方の信号を分周、あるい
は、倍周させることも可能である。
As shown in FIG. 1, for example, a clock circuit is externally connected to the input terminal 191, and the phase comparison circuit 110 detects the phase difference between the output of the oscillation circuit 130 and the clock signal input from the input terminal 191. Then, for example, a voltage value corresponding to the phase difference is output from the output terminal 116. The oscillator circuit 130 is configured by a device in the LSI including the present embodiment, such as a ring oscillator, and has a possibility that the frequency may change due to variations in the device. The voltage value output from the output terminal 116 of the phase comparison circuit 110 is held in the storage circuit 120 or converted, and then input to the variable delay circuit 100 from the input terminal 102.
The output terminal 1 eliminates the phase difference between the external clock signal and the output of the oscillator 130, or maintains a constant value.
The phase of the output signal of 06 is changed. Phase comparison circuit 11
With 0, for example, one input signal can be divided or doubled.

【0015】図1の実施例のスキュー調整の動作原理を
以下に述べる。
The operation principle of skew adjustment in the embodiment of FIG. 1 will be described below.

【0016】スキューが発生する原因は、先に述べたよ
うに、クロック分配系等のデバイスのバラツキ等であ
り、このバラツキによってスキューは大幅に変化する。
よってスキューを調整するためには、スキュー調整回路
を含むLSI内部のデバイスの動作速度がどの程度のも
のかを知る必要がある。そこで、内部に、例えばリング
発振器等の発振回路130を組み込み、外部から入力さ
れるクロック信号との周波数及び位相差を検出すること
でデバイスの動作速度の設計基準値からのずれを検出す
ることが可能になる。この検出結果からクロック分配系
の動作速度を算出し、設計値で定める値になるように可
変遅延回路100の遅延時間を変化させることでスキュ
ー調整を行なうことが可能になる。この遅延時間の算出
が完了するまでの間、LSI全体としては、例えば、リ
セット状態等を保ち、リセット状態を解除する時にその
時の算出結果を記憶回路120に次のリセット状態まで
保存する。よって、一度必要な遅延時間を算出した後
は、記憶回路120からデータを抽出し通常の動作を行
なえるようにするわけである。ここで用いているのは単
なる遅延回路であるから、一度記憶回路120で遅延制
御値を設定しておけばクロックが停止するかどうかに関
係なくスキューを減少したままで使用することが出来
る。また、記憶回路120に温度補正機能も持たせれ
ば、常に一定のスキューを保持できることができる。
As described above, the cause of the skew is the variation of the devices such as the clock distribution system, and the variation causes the skew to a great extent.
Therefore, in order to adjust the skew, it is necessary to know the operating speed of the device inside the LSI including the skew adjusting circuit. Therefore, a deviation of the operating speed of the device from the design reference value can be detected by incorporating an oscillation circuit 130 such as a ring oscillator inside and detecting the frequency and phase difference from the clock signal input from the outside. It will be possible. Skew adjustment can be performed by calculating the operating speed of the clock distribution system from the detection result and changing the delay time of the variable delay circuit 100 so that it becomes a value determined by the design value. Until the calculation of the delay time is completed, for example, the entire LSI maintains a reset state or the like, and when the reset state is released, the calculation result at that time is stored in the memory circuit 120 until the next reset state. Therefore, once the required delay time is calculated, the data is extracted from the memory circuit 120 so that the normal operation can be performed. Since only the delay circuit is used here, once the delay control value is set in the memory circuit 120, it can be used with the skew reduced regardless of whether or not the clock stops. Further, if the memory circuit 120 also has a temperature correction function, it is possible to always maintain a constant skew.

【0017】本発明の第2の実施例を図3に示す。A second embodiment of the present invention is shown in FIG.

【0018】図3において、300は図1の実施例と同
じスキュー調整回路、310は周波数可変発振回路、3
11は周波数可変発振回路310の第1の入力端子、3
16は周波数可変発振回路310の第1の出力端子、3
20は第2の位相比較回路、321は位相比較回路32
0の第1の入力端子、322は位相比較回路320の第
2の入力端子、326は位相比較回路320の第1の出
力端子、330は選択回路、331は選択回路330の
第1の入力端子、332は選択回路330の第2の入力
端子、333は選択回路330の第3の入力端子、33
6は選択回路330の第1の出力端子、340はクロッ
ク分配系、341はクロック分配系340の第1の入力
端子、346はクロック分配系340の第1の出力端
子、391は本実施例の第1の入力端子、392は本実
施例の第2の入力端子、393は本実施例の第3の入力
端子、396は本実施例の第1の出力端子を表す。
In FIG. 3, 300 is the same skew adjustment circuit as that of the embodiment of FIG. 1, 310 is a frequency variable oscillation circuit, 3
11 is a first input terminal of the variable frequency oscillator circuit 310,
16 is the first output terminal of the frequency variable oscillation circuit 310, 3
20 is a second phase comparison circuit, 321 is a phase comparison circuit 32
0 is a first input terminal, 322 is a second input terminal of the phase comparison circuit 320, 326 is a first output terminal of the phase comparison circuit 320, 330 is a selection circuit, 331 is a first input terminal of the selection circuit 330. 332 is a second input terminal of the selection circuit 330, 333 is a third input terminal of the selection circuit 330, 33
6 is a first output terminal of the selection circuit 330, 340 is a clock distribution system, 341 is a first input terminal of the clock distribution system 340, 346 is a first output terminal of the clock distribution system 340, and 391 is of this embodiment. A first input terminal, 392 is a second input terminal of this embodiment, 393 is a third input terminal of this embodiment, and 396 is a first output terminal of this embodiment.

【0019】図3の実施例の動作について説明する。The operation of the embodiment shown in FIG. 3 will be described.

【0020】図3の実施例は、図1に示した本発明のス
キュー調整回路と図2に示した従来のスキュー調整回路
とを合成し、各々最適な条件のもとでどちらかの回路を
選択するようになっている。即ち、デバッグ時にはスキ
ュー調整回路300の出力を、通常の場合には周波数可
変発振回路310の出力を選択回路330で選択する。
この切り替えは本実施例の第3の入力端子393に入力
される信号、例えば、デバッグモード信号によって制御
される。この実施例の特徴は、通常の動作時には従来の
スキュー調整回路並の精度を保ちつつ、デバッグ時にも
図1の実施例並のスキューを提供するものである。
In the embodiment shown in FIG. 3, the skew adjusting circuit of the present invention shown in FIG. 1 and the conventional skew adjusting circuit shown in FIG. 2 are combined, and either circuit is selected under optimum conditions. It is designed to be selected. That is, the output of the skew adjustment circuit 300 is selected by the selection circuit 330 during debugging, and the output of the frequency variable oscillation circuit 310 is selected under normal circumstances.
This switching is controlled by a signal input to the third input terminal 393 of this embodiment, for example, a debug mode signal. The feature of this embodiment is that it provides the same skew as in the embodiment of FIG. 1 during debugging while maintaining the same precision as in the conventional skew adjusting circuit during normal operation.

【0021】[0021]

【発明の効果】本発明のスキュー調整回路を用いること
により、デバッグ時のようにクロックを自由に停止させ
ることも容易に実行出来、かつ、スキューを小さくでき
ることから高速なLSI及びボード設計が可能になる。
By using the skew adjusting circuit of the present invention, it is possible to easily stop the clock freely as at the time of debugging, and the skew can be reduced, which enables high-speed LSI and board design. Become.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】従来のスキュー調整回路を示すブロック図であ
る。
FIG. 2 is a block diagram showing a conventional skew adjustment circuit.

【図3】本発明の第2の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 3 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 可変遅延回路 110,320 位相比較回路 120 記憶回路 130 発振回路 300 スキュー調整回路 310 周波数可変発振回路 330 選択回路 340 クロック分配系 100 variable delay circuit 110, 320 phase comparison circuit 120 storage circuit 130 oscillation circuit 300 skew adjustment circuit 310 frequency variable oscillation circuit 330 selection circuit 340 clock distribution system

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1の出力端子を持つ発振回路と、第1
及び第2の入力端子ならびに第1の出力端子を持ち第1
の入力端子から得る信号から第1の出力端子へ出力する
信号に第2の入力端子から得る信号によって制御される
遅延時間を付加する可変遅延回路と、第1及び第2の入
力端子ならびに第1の出力端子を持ち第1の入力端子か
ら入力される信号と第2の入力端子から入力される信号
との位相差を検出し位相差に応じた信号を第1の出力端
子から出力する第1の位相比較回路と、第1及び第2の
入力端子ならびに第1の出力端子を持ち第1の入力端子
から入力される信号を第2の入力端子から入力される信
号によって記憶し第1の出力端子からその結果を出力す
る記憶回路とを備え、前記発振回路の第1の出力端子を
前記第1の位相比較回路の第2の入力端子に接続し前記
第1の位相比較回路の第1の出力端子を前記記憶回路の
第1の入力端子に接続し前記記憶回路の第1の出力端子
を前記可変遅延回路の第2の入力端子に接続し、前記可
変遅延回路の第1の入力端子と前記第1の位相比較回路
の第1の入力端子とを接続して第1の外部入力端子と
し、前記記憶回路の第2の入力端子を第2の外部入力端
子とし、前記可変遅延回路の第1の出力端子を第1の外
部出力端子とすることを特徴とするスキュー調整回路。
1. An oscillator circuit having a first output terminal;
And a first input terminal having a second input terminal and a first output terminal
Variable delay circuit for adding a delay time controlled by a signal obtained from the second input terminal to a signal output from the signal obtained from the input terminal to the first output terminal, first and second input terminals, and a first And a phase difference between a signal input from the first input terminal and a signal input from the second input terminal, and a signal corresponding to the phase difference is output from the first output terminal. Having a first phase comparator circuit, first and second input terminals and a first output terminal, and storing a signal input from the first input terminal as a signal input from the second input terminal. A storage circuit for outputting the result from a terminal, the first output terminal of the oscillation circuit is connected to the second input terminal of the first phase comparison circuit, and the first output terminal of the first phase comparison circuit is connected. Output terminal to the first input terminal of the memory circuit Then, the first output terminal of the storage circuit is connected to the second input terminal of the variable delay circuit, and the first input terminal of the variable delay circuit and the first input terminal of the first phase comparison circuit are connected. Are connected to serve as a first external input terminal, the second input terminal of the storage circuit serves as a second external input terminal, and the first output terminal of the variable delay circuit serves as a first external output terminal. A skew adjustment circuit characterized by the above.
【請求項2】 第1の入力端子及び第1の出力端子をも
ち第1の入力端子の信号によって第1の出力端子から出
力する信号の周波数を変化させられる周波数可変発振回
路と、第1及び第2の入力端子ならびに第1の出力端子
を持ち第1の入力端子から入力される信号と第2の入力
端子から入力される信号との位相差を検出し位相差に応
じた信号を第1の出力端子から出力する第2の位相比較
回路と、第1,第2及び第3の入力端子ならびに第1の
出力端子を持ち第3の入力端子に入力される信号によっ
て第1の出力端子に出力する信号を第1の入力端子から
入力される信号と第2の入力端子から入力される信号と
のどちらかに選択する選択回路とを含み、前記周波数可
変発振回路の第1の出力端子を外部回路を介して前記第
2の位相比較回路の第2の入力端子に接続し、前記周波
数可変発振回路の第1の出力端子を前記選択回路の第2
の入力端子に接続し、前記第1の外部出力端子を前記選
択回路の第1の入力端子に接続し、前記第1の外部入力
端子と前記第2の位相比較回路の第1の入力端子とを接
続し、前記選択回路の第3の入力端子を第3の外部入力
端子とし、前記選択回路の第1の出力端子を第2の外部
出力端子とすることを特徴とする請求項1記載のスキュ
ー調整回路。
2. A variable frequency oscillating circuit having a first input terminal and a first output terminal, wherein the frequency of a signal output from the first output terminal can be changed by a signal from the first input terminal, and It has a second input terminal and a first output terminal, detects a phase difference between a signal input from the first input terminal and a signal input from the second input terminal, and outputs a signal corresponding to the phase difference as a first signal. The second phase comparison circuit for outputting from the output terminal of the first output terminal, the first, second and third input terminals and the first output terminal, and the signal input to the third input terminal A selection circuit for selecting a signal to be output as either a signal input from the first input terminal or a signal input from the second input terminal. Of the second phase comparison circuit via an external circuit A second input terminal is connected, and a first output terminal of the variable frequency oscillation circuit is connected to a second output terminal of the selection circuit.
Connected to the first input terminal of the selection circuit, the first external output terminal to the first input terminal of the selection circuit, and the first external input terminal and the first input terminal of the second phase comparison circuit. 2. The third input terminal of the selection circuit is used as a third external input terminal, and the first output terminal of the selection circuit is used as a second external output terminal. Skew adjustment circuit.
JP3258983A 1991-10-07 1991-10-07 Skew adjustment circuit Expired - Lifetime JP2819890B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3258983A JP2819890B2 (en) 1991-10-07 1991-10-07 Skew adjustment circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3258983A JP2819890B2 (en) 1991-10-07 1991-10-07 Skew adjustment circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05102845A true JPH05102845A (en) 1993-04-23
JP2819890B2 JP2819890B2 (en) 1998-11-05

Family

ID=17327727

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3258983A Expired - Lifetime JP2819890B2 (en) 1991-10-07 1991-10-07 Skew adjustment circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2819890B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011198466A (en) * 2011-06-10 2011-10-06 Panasonic Corp Semiconductor memory device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61187418A (en) * 1985-02-14 1986-08-21 Fujitsu Ltd Phase locked oscillating circuit
JPH02230821A (en) * 1989-03-03 1990-09-13 Hitachi Ltd Clock generator and information processing system using the same
JPH03167920A (en) * 1989-11-28 1991-07-19 Seiko Epson Corp Clock supply circuit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61187418A (en) * 1985-02-14 1986-08-21 Fujitsu Ltd Phase locked oscillating circuit
JPH02230821A (en) * 1989-03-03 1990-09-13 Hitachi Ltd Clock generator and information processing system using the same
JPH03167920A (en) * 1989-11-28 1991-07-19 Seiko Epson Corp Clock supply circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011198466A (en) * 2011-06-10 2011-10-06 Panasonic Corp Semiconductor memory device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2819890B2 (en) 1998-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5428309A (en) Delay circuit
JP4520394B2 (en) DLL circuit and test method thereof
EP0181047B1 (en) Delay control circuit and method for controlling delays in a semiconductor element
US8305121B1 (en) High-performance memory interface circuit architecture
KR100784907B1 (en) Dll circuit and method for controlling the same
US10438637B2 (en) Memory controller
US20030030473A1 (en) Ring-resister controlled DLL with fine delay line and direct skew sensing detector
KR100810072B1 (en) Semiconductor memory device having delay locked loop and driving method thereof
JP2001268062A (en) Delay device provided with delay locked loop and method for calibrating it
JP2002290218A (en) Semiconductor device
US6351169B2 (en) Internal clock signal generating circuit permitting rapid phase lock
US20070273422A1 (en) Adjusting circuit and method for delay circuit
US7816961B2 (en) System and method for signal adjustment
US8395946B2 (en) Data access apparatus and associated method for accessing data using internally generated clocks
US9825587B1 (en) Mitigation of long wake-up delay of a crystal oscillator
US7428185B2 (en) Output control signal generating circuit
KR100378194B1 (en) Memory module for controlling set up and hold time of input signal of semiconductor memory device and method thereof
JPH05102845A (en) Skew adjustment circuit
JP2007127460A (en) Semiconductor integrated circuit
US6002732A (en) Method and apparatus for adjusting phase of internal clock signal
JPH03171945A (en) Digital system
JPH06149408A (en) Integrated circuit device
US6777921B2 (en) Analog filter with built-in self test
US20240184320A1 (en) Low dropout regulator, clock generating circuit, and memory device
KR100422583B1 (en) Phase Comparator for Semiconductor Memory Device and its Method

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19980728