JPH049466B2 - - Google Patents
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- JPH049466B2 JPH049466B2 JP5707685A JP5707685A JPH049466B2 JP H049466 B2 JPH049466 B2 JP H049466B2 JP 5707685 A JP5707685 A JP 5707685A JP 5707685 A JP5707685 A JP 5707685A JP H049466 B2 JPH049466 B2 JP H049466B2
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業状の利用分野〕
本発明は鏡面反射特性を有する面のキズの有無
を検出するキズ検出装置に係り、特に鏡面反射特
性を有する回転面物体のキズ検出装置に関する。Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a flaw detection device for detecting the presence or absence of flaws on a surface having specular reflection characteristics, and particularly relates to a flaw detection device for a rotating surface object having specular reflection characteristics. .
例えば第６図に示す如きドアのノブやその他の
機械部品の如き鏡面反射特性を有する回転面物体
（ある物体を回転させることにより得られるもの）
の表面にキズの有無を検出し製品の良、不良を判
別することが必要である。 For example, a rotating surface object (obtained by rotating a certain object) with specular reflection characteristics, such as a door knob or other mechanical parts as shown in Figure 6.
It is necessary to detect the presence or absence of scratches on the surface of the product and determine whether the product is good or bad.
このような鏡面反射特性を有する回転面物体の
表面のキズの有無を検出するとき、従来は目視に
よるものがほとんどである。ところでこの目視に
よる場合には検出もれが存在するのでコンピユー
タにおける画像処理技術を用いて、このようなキ
ズ検出を自動的に行うことが試みられている。 When detecting the presence or absence of scratches on the surface of a rotating surface object having such specular reflection characteristics, most conventional methods have been based on visual inspection. By the way, when this visual inspection is used, there are some omissions in detection, so attempts have been made to automatically perform such flaw detection using image processing technology in a computer.
ところでコンピユータにおける画像処理技術を
用いてキズの検出を行う場合、その物体の表面の
濃淡画像をメモリに一度記憶させ、一旦２値化処
理を行ない、その「１」または「０」の境界の幾
何学的形状からキズの有無の検出を行う方式と、
前記濃淡値を微分してエツジ検出を行い、そのエ
ツジ強度からキズの検出を行う方式がある。
By the way, when detecting flaws using image processing technology in a computer, a grayscale image of the surface of the object is stored in memory once, and then binarized and the geometry of the boundary between ``1'' and ``0'' is calculated. A method for detecting the presence or absence of scratches from the scientific shape,
There is a method in which edges are detected by differentiating the gradation values, and flaws are detected from the edge strength.
しかしこれらの方式はいずれも閾値の設定が難
かしく、したがつてキズ検出を正確に行うことが
非常に困難であるという問題点が存在する。
However, each of these methods has a problem in that it is difficult to set a threshold value, and therefore it is very difficult to accurately detect flaws.
前記の如き問題点を解決するため、本発明の鏡
面反射特性を有する回転面物体のキズ検出装置で
は、対象物体を観測する濃淡画像入力手段と、該
濃淡画像入力手段より入力された濃淡画像データ
を保持する画像メモリを具備するキズ検出装置に
おいて、対象物体の周辺を円周状に照射する円周
状照射光源と、該円周状照射光源と対象物体との
相対距離を順次変更する光源位置制御手段と、保
持された画像データを円周形状に検索する制御手
段と、前記検索する制御手段から読み出された画
像データにもとづいて円周状照射範囲を検出する
内径外径検出手段と、検出された前記円周状照射
範囲内で前記円周状に読出された画像データの暗
部分を検出してキズの有無を判定する手段を設け
たことを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, the flaw detection device for a rotating surface object having specular reflection characteristics according to the present invention includes a grayscale image input means for observing the target object, and grayscale image data inputted from the grayscale image input means. A flaw detection device equipped with an image memory that stores a circumferential irradiation light source that irradiates the periphery of a target object in a circumferential manner, and a light source position that sequentially changes the relative distance between the circumferential irradiation light source and the target object. a control means, a control means for searching the retained image data in a circumferential shape, and an inner diameter/outer diameter detection means for detecting a circumferential irradiation range based on the image data read from the searching control means; The present invention is characterized in that means is provided for detecting dark portions of the circumferentially read image data within the detected circumferential irradiation range and determining the presence or absence of scratches.
本発明ではキズの有無の検査対象物体がある物
体を回転した形状を有する回転面表面からなるこ
と、またその表面が鏡面反射特性を有することを
利用して、例えばサーキユラー・ランプのような
円周状照射光源（円形状の線光源）を用い、光源
と対象物体間の位置、距離を徐々に変化させなが
ら観測される画像データを取込み、そのデータを
円周形状に探索することにより、もしキズが存在
するときその円周状照射光源で照射されたことに
よる反射光に濃淡が存在することよりこの濃淡値
により容易に、高速にキズの有無を検出するもの
である。
In the present invention, the object to be inspected for the presence or absence of scratches is made of a rotating surface having the shape of a rotated object, and the surface has specular reflection characteristics. Using a circular irradiation light source (circular linear light source), image data is captured while gradually changing the position and distance between the light source and the target object, and the data is searched in a circular pattern to detect scratches. When , there is a shading in the light reflected from the circumferential irradiation light source, and the presence or absence of a flaw can be easily and quickly detected based on this shading value.
すなわち、第１図ａに示す如く、例えば円錐台
形の検査対象物体１の鏡面反射特性を有する物体
表面１−１におけるキズの有無を検出するとき、
その周囲を均一に照射するサーキユラー・ランプ
２を配置する。そしてこの検査対象物体１の上方
にTVカメラ３の如き濃淡画像入力部を配置す
る。したがつてサーキユラー・ランプ２より検査
対象物体１を照射した光はその鏡面反射特性を有
する物体の表面１−１より反射され、法線ベクト
ルＬに対する入射角θ0と同一の反射角θ0で反射さ
れることになる。サーキユラー・ランプ２が第１
図ａに示す、第１位置にあるときその表面１−１
の最上位部分より反射される光が入射する検査対
象物体１の回転中心の上方にTVカメラ３を配置
しておけば第１図ｂの如きこの表面１−１の画像
データ１′を入力することができる（サーキユラ
ー・ランプ２からの光は直接TVカメラ３に入射
しないものとする）。この画像データ１′はリング
状の明部分１−１−０と暗部分１−１′と、同じ
く上面部分１−２に相当する円形の暗部分１−
２′によりなる（第１図では説明の都合上白く示
してある）。 That is, as shown in FIG. 1a, when detecting the presence or absence of scratches on the object surface 1-1 having specular reflection characteristics of the truncated cone-shaped object 1 to be inspected, for example,
A circular lamp 2 is arranged to uniformly illuminate the surrounding area. A grayscale image input unit such as a TV camera 3 is placed above the object 1 to be inspected. Therefore, the light irradiated from the circular lamp 2 onto the object to be inspected 1 is reflected from the surface 1-1 of the object having specular reflection characteristics, and the light is reflected at the same reflection angle θ 0 as the incident angle θ 0 with respect to the normal vector L. It will be reflected. Circular lamp 2 is the first
Its surface 1-1 when in the first position shown in Figure a
If the TV camera 3 is placed above the center of rotation of the object to be inspected 1, where the light reflected from the uppermost part of the object is incident, image data 1' of this surface 1-1 as shown in FIG. 1b can be input. (assuming that the light from the circular lamp 2 does not directly enter the TV camera 3). This image data 1' includes a ring-shaped bright part 1-1-0, a dark part 1-1', and a circular dark part 1-1, which also corresponds to the upper surface part 1-2.
2' (shown in white in FIG. 1 for convenience of explanation).
この状態で第１図ｃに示す如き位置まで、サー
キユラー・ランプ２を下方に移動して、サーキユ
ラー・ランプ２と検査対象物体１との距離を徐々
に変化させることにより、第１図ｂに示す如き、
リング状の明部分１−１−０が傾斜面の最上位に
ある画像データから第１図ｄに示す如き、リング
状の明部分１−１−ｎが最下位にある画像データ
を順次得ることができる。 In this state, the circular lamp 2 is moved downward to the position shown in Fig. 1c, and the distance between the circular lamp 2 and the object to be inspected 1 is gradually changed, as shown in Fig. 1b. Like,
To sequentially obtain image data in which the ring-shaped bright portion 1-1-n is at the lowest position as shown in FIG. 1d from image data in which the ring-shaped bright portion 1-1-0 is at the top of the slope I can do it.
もし、第１図ｅに示す如く、検査対象物体１の
表面にキズＡがあれば、この部分の反射光はTV
カメラ３に入射しないので、この場合の画像デー
タは、第１図ｆに示す如く、リング状の明部分１
−１−ｍの一部に暗部分A′の存在するものとな
る。すなわち、検査対象物体１の回転中心を中心
とする同一円周上の表面にキズが存在すれば、そ
の部分の微小面素からの反射光は観測部である
TVカメラ３には入射せず、他の方向に反射する
ので、その部分は暗くなる。したがつて、キズの
検出は、リング上の明るい帯状の領域内の暗い部
分を検出することに帰着する。 If there is a scratch A on the surface of the object to be inspected 1, as shown in Figure 1e, the reflected light from this part will be reflected by the TV.
Since it does not enter the camera 3, the image data in this case is a ring-shaped bright part 1, as shown in FIG.
A dark part A' exists in a part of -1-m. In other words, if there is a flaw on the surface on the same circumference centered on the rotation center of the object to be inspected 1, the reflected light from the micro-area element in that part is the observation part.
Since the light does not enter the TV camera 3 and is reflected in another direction, that part becomes dark. Therefore, flaw detection comes down to detecting a dark part within a bright band-like area on the ring.
このキズ検出（リング状の明領域内からの暗部
分検出）は次に３段階の処理より成る。 This flaw detection (dark area detection from within the ring-shaped bright area) consists of three steps of processing.
(1) 円状走査によるリングの内径の検出
(2) 円状走査によるヒストグラム作成
(3) キズの検出
以上これらの各処理について、第２図及び第３
図により説明する。(1) Detection of the inner diameter of the ring by circular scanning (2) Creation of a histogram by circular scanning (3) Detection of scratches For each of these processes, see Figures 2 and 3.
This will be explained using figures.
(1) 円状走査によるリングの内径の検出
まず画像データの明るい部分と暗い部分の濃
淡レベルの間に閾値Th0を設定する。この場
合、TVカメラの出力データは、暗い部分の濃
淡レベルが非常に低く、明るい部分の濃淡レベ
ルは鏡面反射光が入射されるため高いので、こ
の閾値設定は非常に容易である。そして画像デ
ータの回転中心を中心とした同心円周上を走査
する。このとき第１図ａ，ｃ，ｅ等に示す円錐
台形の場合には、その上面の直径の円周D0か
ら前記走査を行えば効率的である。このように
して直径D0から順次大きな円周D1，D2…を走
査し、各円周毎に画像データを前記閾値Th0と
比較し、これより小さいときは「０」、等しい
か大きいときは「１」とし、同一円周における
「１」の個数をカウントする。そしてこの個数
が閾値Th1以上であれば、その円周を明るいリ
ング状の帯状部分（以下リングという）の内径
とする。このようにして、例えば第２図ｂに示
す如く、円周D1の場合には、0°〜360°までオー
ル「０」が得られ、D2の場合にも0°〜360°まで
オール「０」が得られるが、D3の場合には90°
の近傍を除き「１」が得られ、この「１」の個
数は前記Th1より大きいのでこのD3がリング内
径であることがわかる。この場合円の直径が大
きくなり走査すべき円周が大になるにつれて前
記Th1の値もこれに応じて変化するように定め
るか、あるいは円周のデータを中心からのある
角度単位で出力してその濃淡データの平均値を
とり、これを前記Th1と比較することが必要と
なる。単にリング内径のみを決定するものであ
ればどの手法でもよいが、後述する如く、キズ
の検出の際に必要な角度単位でヒストグラムを
作成するために後者の手法が望ましい。(1) Detection of the inner diameter of the ring by circular scanning First, a threshold Th 0 is set between the gray levels of the bright and dark parts of the image data. In this case, in the output data of the TV camera, the gradation level of dark parts is very low, and the gradation level of bright parts is high because specularly reflected light is incident, so this threshold value setting is very easy. Then, a concentric circle centered around the rotation center of the image data is scanned. At this time, in the case of a truncated cone shape as shown in FIGS. 1a, c, e, etc., it is efficient to perform the scanning from the circumference D 0 of the diameter of the upper surface. In this way, successively larger circumferences D 1 , D 2 , etc. are scanned from the diameter D 0 , and the image data for each circumference is compared with the threshold Th 0 , and if it is smaller than this, it is "0", and if it is equal or larger When the time is "1", the number of "1"s on the same circumference is counted. If this number is greater than or equal to the threshold value Th 1 , the circumference is set as the inner diameter of the bright ring-shaped strip (hereinafter referred to as ring). In this way, for example, as shown in Figure 2b, in the case of the circumference D 1 , all "0" is obtained from 0° to 360°, and in the case of D 2 , all "0" is obtained from 0° to 360°. "0" is obtained, but in case of D 3 90°
``1'' is obtained except in the vicinity of , and since the number of ``1'' is larger than Th 1 , it can be seen that this D 3 is the ring inner diameter. In this case, as the diameter of the circle increases and the circumference to be scanned increases, the value of Th 1 may be set to change accordingly, or circumference data may be output in units of a certain angle from the center. It is necessary to take the average value of the density data and compare it with Th 1 . Any method may be used as long as it merely determines the inner diameter of the ring, but as will be described later, the latter method is preferable in order to create a histogram in angular units necessary for detecting flaws.
(2) 円状走査によるヒストグラム作成
前記(1)によりリング内径が検出されたとき、
第３図ａに示す如く、このリングの内径d1から
外径dnまで、前記(1)と同様に、順次円周上に
走査して単位角度毎の「１」、「０」の出力を算
出し、第３図ｂに示す如く、「１」出力のヒス
トグラムを作成する。このときリングの外径の
検出は、前記(1)の内径検出と同様に「１」出力
の個数が閾値Th1以下の部分を外径dnとする。(2) Creation of histogram by circular scanning When the ring inner diameter is detected according to (1) above,
As shown in Figure 3a, from the inner diameter d 1 to the outer diameter dn of this ring, the circumference is sequentially scanned in the same way as in (1) above, and outputs of "1" and "0" are obtained for each unit angle. Then, as shown in FIG. 3b, a histogram of "1" output is created. At this time, in detecting the outer diameter of the ring, similarly to the inner diameter detection in (1) above, the portion where the number of "1" outputs is equal to or less than the threshold Th 1 is set as the outer diameter dn.
(3) キズの検出
前記(2)により得られたヒストグラムに対し、
第３図ｂに示す如く、閾値Th2を設定し、閾値
Th2より「１」の数が小さいところをキズとし
て検出する。(3) Detection of scratches For the histogram obtained in (2) above,
As shown in Figure 3b, set the threshold Th 2 and
A place where the number of "1" is smaller than Th 2 is detected as a flaw.
このようにして、第３図ａにおいて黒く示した
キズの部分を正確に検出することができる。 In this way, the flawed portion shown in black in FIG. 3a can be accurately detected.
次に前記(1)〜(3)を遂行する、本発明の一実施例
構成を、第４図にもとづき他図を参照しつつ説明
する。
Next, a configuration of an embodiment of the present invention that accomplishes the above (1) to (3) will be described based on FIG. 4 and with reference to other figures.
第４図において、３はTVカメラであつて検査
対象物体１からの光が入力され、画像データを出
力するもの、４は光源位置制御回路であつて、検
査対象物体１を照射する光源がサーキユラー・ラ
ンプ２の場合には第１図に示す如く、これを上下
動するものであるが、後述する第５図に示す如
く、点状光源の場合には、この点状光源を相対的
に検査対象物体の周囲を回動するとともに、この
点状光源を上下動するものである。５は画像メモ
リであつてTVカメラ３より出力された画像デー
タを保持するもの、６はアドレス・コントローラ
であつて例えば画像メモリ５に記憶されている画
像データを円周状に読み出すためのアドレスを出
力するもの、７は閾値設定部であつて前記(1)〜(3)
で説明した閾値Th0，Th1，Th2を出力するもの、
８は明点抽出回路であつて画像メモリ５から順次
出力された画像データ「１」、「０」を判定しこれ
を出力するもの、９は内径外径検出回路であつて
リングの内径および外径を検出するもの、１０は
ヒストグラム作成回路であつて前記(2)に示す如く
ヒストグラムを作成するもの、１はキズ検出回路
であつてキズの有無を検出するものである。 In FIG. 4, numeral 3 is a TV camera that receives light from the object 1 to be inspected and outputs image data, and 4 is a light source position control circuit in which the light source that illuminates the object 1 to be inspected is circular. - In the case of the lamp 2, it is moved up and down as shown in Figure 1, but in the case of a point light source, it is relatively inspected as shown in Figure 5, which will be described later. It rotates around the target object and also moves this point light source up and down. 5 is an image memory that holds image data output from the TV camera 3, and 6 is an address controller that controls addresses for reading out the image data stored in the image memory 5 in a circumferential manner, for example. 7 is a threshold value setting section which outputs the above (1) to (3).
The one that outputs the threshold values Th 0 , Th 1 , Th 2 explained in
Reference numeral 8 is a bright point extraction circuit which determines and outputs image data "1" and "0" sequentially output from the image memory 5. Reference numeral 9 is an inner/outer diameter detection circuit which detects the inner and outer diameters of the ring. 10 is a histogram creation circuit that creates a histogram as shown in (2) above, and 1 is a flaw detection circuit that detects the presence or absence of flaws.
次にこの第４図に示す本発明の動作を光源とし
てサーキユラー・ランプを使用した場合について
説明する。 Next, the operation of the present invention shown in FIG. 4 will be explained in the case where a circular lamp is used as the light source.
(a) まず、第１図ａに示す如く、サーキユラー・
ランプ２を光源位置制御回路４により、その検
査対象物体１の最上面からの反射光がTVカメ
ラ３に入射するような位置におき、第１図ｂに
示す如き画像データを画像メモリ５に記憶させ
る。(a) First, as shown in Figure 1a, the circular
The lamp 2 is positioned by the light source position control circuit 4 so that the reflected light from the top surface of the object 1 to be inspected enters the TV camera 3, and image data as shown in FIG. 1b is stored in the image memory 5. let
(b) 明点抽出回路８は画像メモリ５に画像データ
が入力されたとき、アドレス・コントローラ６
を制御して、第２図ａに示す如く、中心点０よ
り一定半径の画像データを円周状に出力させ
る。このときアドレス・コントローラ６は、検
査対象物体１のサイズ例えばその上面部分１−
２の大きさがあらかじめわかつているときに
は、中心点近傍からスタートするより、この既
知のデータにもとづき最初の円周状データを出
力させる方が効率的である。そしてこのように
して画像メモリ５から円周状に読出した画像デ
ータを閾値設定部７から伝達された閾値Th0と
比較してこれよりも大きな場合に「１」とし
て、この「１」の数を内径外径検出回路９に伝
達する。この内径外径検出回路９には閾値設定
部７から閾値Th1が伝達されており、同一円周
状の「１」の数がこの閾値Th1を越えたとき、
その円周を明るい帯状のリングの内径を判別す
る。そしてこの内径検出をヒストグラム作成回
路１０に伝達する。(b) The bright point extraction circuit 8 controls the address controller 6 when image data is input to the image memory 5.
is controlled to output image data of a constant radius from the center point 0 in a circumferential manner as shown in FIG. 2a. At this time, the address controller 6 determines the size of the object 1 to be inspected, for example, the upper surface portion 1-
When the size of 2 is known in advance, it is more efficient to output the first circumferential data based on this known data than to start from near the center point. The image data thus read out in a circumferential manner from the image memory 5 is compared with the threshold value Th 0 transmitted from the threshold value setting section 7, and if it is larger than this, it is determined as "1", and the number of "1" is determined as "1". is transmitted to the inner diameter/outer diameter detection circuit 9. A threshold value Th 1 is transmitted from the threshold value setting section 7 to this inner diameter/outer diameter detection circuit 9, and when the number of "1"s on the same circumference exceeds this threshold value Th 1 ,
Determine the inner diameter of the bright band-shaped ring around its circumference. This inner diameter detection is then transmitted to the histogram creation circuit 10.
(c) これによりヒストグラム作成回路１０はその
とき明点抽出回路８から送出されている「１」
のデータを0°〜360°の単位角度毎にカウントを
開始する。アドレス・コントローラ６は直径方
向の単位幅毎に、円周状に画像データを出力す
るようにアドレスを出力するので、第３図ａに
示す如く、リングの内径d1を出力したのち、
d2，d3…と順次円周状に画像データを出力す
る。そしてこのd2，d3…毎にその「１」の数が
単位角度毎にカウントされ、これにより第３図
ｂに示す如く、ヒストグラムが作成される。こ
のようにしてリングの画像データを順次出力し
ているときに、dnにおいてその円周状の「１」
の数が前記閾値Th1以下になつたことが内径外
径検出回路９により検出されたとき、このdn
がリングの外径として判別されるので、これに
より外径検出信号がアドレス・コントローラ６
に出力されて画像メモリ５の読出しが一時停止
され、また光源位置制御回路４、ヒストグラム
作成回路１０およびキズ検出回路１１にも外径
検出信号が伝達され、このときまでに作成され
ていた、例えば第３図ｂの如きヒストグラムが
キズ検出回路１１に伝達され、前記閾値Th2と
比較されてこの閾値Th2より小さいものが存在
するとき、これをキズと判定し、その有無を出
力する。したがつてヒストグラムが第３図ｂの
如き場合には、キズ有という判別結果が出力さ
れることになる。(c) As a result, the histogram creation circuit 10 receives the "1" that is being sent from the bright point extraction circuit 8 at that time.
Start counting data for each unit angle from 0° to 360°. Since the address controller 6 outputs an address so as to output image data in a circumferential manner for each unit width in the diametrical direction, as shown in FIG. 3a, after outputting the inner diameter d 1 of the ring,
Image data is sequentially output in a circular manner as d 2 , d 3 , and so on. The number of "1"s is counted for each unit angle of d 2 , d 3 . . . , thereby creating a histogram as shown in FIG. 3b. When the image data of the ring is sequentially output in this way, the "1" of the circumference is displayed in dn.
When the inner diameter/outer diameter detection circuit 9 detects that the number of dn has become less than the threshold value Th1 , this dn
is determined as the outer diameter of the ring, so the outer diameter detection signal is sent to the address controller 6.
The reading of the image memory 5 is temporarily stopped, and the outer diameter detection signal is also transmitted to the light source position control circuit 4, the histogram creation circuit 10, and the flaw detection circuit 11. A histogram as shown in FIG. 3b is transmitted to the flaw detection circuit 11, and compared with the threshold value Th2 . If there is a histogram smaller than the threshold value Th2 , it is determined to be a flaw and the presence or absence thereof is outputted. Therefore, if the histogram is as shown in FIG. 3b, the determination result that there is a flaw will be output.
(d) ところで前記外径検出信号は光源位置制御回
路４にも伝達され、これによりサーキユラー・
ランプ２を一定位置だけ下方に移動させる。そ
して前記(a)〜(c)と同様にして新しく得られた画
像データに対してキズの有無の検出処理を行う
ことになる。このとき、先に外径検出信号によ
り外径dnまで画像データを読出したことがア
ドレス・コントローラ６において認識されてい
るので、このdnをもとにしてリングの内径を
検出するようにアドレスを出力することにな
る。(d) By the way, the outer diameter detection signal is also transmitted to the light source position control circuit 4, which causes the circular
Move the lamp 2 downward by a certain position. Then, similarly to (a) to (c) above, the newly obtained image data is subjected to the process of detecting the presence or absence of scratches. At this time, the address controller 6 recognizes that the image data up to the outer diameter dn has been read out using the outer diameter detection signal, so it outputs an address to detect the inner diameter of the ring based on this dn. I will do it.
(e) このようなことを第１図ｃに示す如く、サー
キユラー・ランプ２があらかじめ定められた最
下位の位置まで繰返されたとき検査対象物体１
に対する検査が終了することになり、それまで
キズ有信号が出力されなければその検査対象物
体はキズがないものとして判定される。(e) As shown in Fig. 1c, when the circular lamp 2 is repeatedly moved to the predetermined lowest position,
The inspection for the object is completed, and if no flaw presence signal is output until then, the object to be inspected is determined to be free of flaws.
前記説明では、明るい帯状のリングの画像デー
タを得るため、第５図ｂに示す如く、サーキユラ
ー・ランプ２を使用した例について説明したが、
この代りに、第５図ａに示す如く、点状光源２′
を使用してこれを検査対象物体１の周りを回転さ
せることもできる。勿論この点状光源２′を使用
する場合この点状光源２′を円周状に回転させる
代りにこれを固定して検査対象物体１を回転させ
てもよい。 In the above explanation, an example was explained in which the circular lamp 2 was used as shown in FIG. 5b to obtain image data of a bright band-shaped ring.
Alternatively, as shown in FIG. 5a, a point light source 2'
It can also be rotated around the object 1 to be inspected using the . Of course, when using this point light source 2', instead of rotating this point light source 2' circumferentially, it may be fixed and the object 1 to be inspected may be rotated.
本発明によれば検査対象物体の鏡面反射特性と
回転面に応じた光源を利用しているので、正常部
分とキズの部分との濃淡レベルを大きく異なつた
形で抽出することができるので、濃淡値のみでキ
ズ検出が容易にできる。
According to the present invention, since a light source corresponding to the specular reflection characteristics and rotating surface of the object to be inspected is used, it is possible to extract the shading levels of the normal part and the scratched part in greatly different forms. Flaws can be easily detected using only the values.
第１図ａ〜ｆは本発明の概略説明図、第２図
ａ，ｂは明るい帯状のリングの内径検出状態説明
図、同ｃはキズの状態説明図、第３図ａ，ｂはヒ
ストグラム作成状態説明図、第４図は本発明の一
実施例構成図、第５図ａ，ｂは本発明の円周状照
射光源の説明図、第６図は検査対象物体の一例で
ある。
図中、１は検査対象物体、２はサーキユラー・
ランプ、３はTVカメラ、４は光源位置制御回
路、５は画像メモリ、６はアドレス・コントロー
ラ、７は閾値設定部、８は明点抽出回路、９は内
径外径検出回路、１０はヒストグラム作成回路、
１１はキズ検出回路を示す。
Figures 1 a to f are schematic explanatory diagrams of the present invention, Figures 2 a and b are diagrams explaining the inner diameter detection state of a bright band-shaped ring, Figure 3 c is a diagram explaining the state of scratches, and Figures 3 a and b are histogram creation. 4 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention, FIGS. 5a and 5b are explanatory diagrams of a circumferential irradiation light source of the present invention, and FIG. 6 is an example of an object to be inspected. In the figure, 1 is the object to be inspected, 2 is the circular
lamp, 3 is a TV camera, 4 is a light source position control circuit, 5 is an image memory, 6 is an address controller, 7 is a threshold value setting section, 8 is a bright point extraction circuit, 9 is an inner diameter/outer diameter detection circuit, 10 is a histogram creation circuit,
Reference numeral 11 indicates a flaw detection circuit.
Claims (1)
濃淡画像入力手段より入力された濃淡画像データ
を保持する画像メモリを具備するキズ検出装置に
おいて、対象物体の周辺を円周状に照射する円周
状照射光源と、該円周状照射光源と対象物体との
相対距離を順次変更する光源位置制御手段と、保
持された画像データを円周形状に検索する制御手
段と、前記検索する制御手段から読み出された画
像データにもとづいて円周状照射範囲を検出する
内径外径検出手段と、検出された前記円周状照射
範囲内で前記円周形状に読出された画像データの
暗部分を検出してキズの有無を判定する手段を設
けたことを特徴とする鏡面反射特性を有する回転
面物体のキズ検出装置。 ２ 前記円周状照射光源としてサーキユラー・ラ
ンプを使用したことを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の鏡面反射特性を有する回転面物体の
キズ検出装置。 ３ 前記円周状照射光源として対象物体の周辺を
順次照射する点状光源を使用したことを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の鏡面反射特性を有
する回転面物体のキズ検出装置。[Claims] 1. In a flaw detection device comprising a grayscale image input means for observing a target object and an image memory for holding grayscale image data inputted from the grayscale image input means, the periphery of the target object is circumferentially a circumferential irradiation light source that irradiates in a circular shape, a light source position control means that sequentially changes the relative distance between the circumferential irradiation light source and a target object, and a control means that searches the retained image data in a circumferential shape; inner diameter/outer diameter detection means for detecting a circumferential irradiation range based on image data read out from the search control means; and an image read out in the circumferential shape within the detected circumferential irradiation range. What is claimed is: 1. A flaw detection device for a rotating surface object having specular reflection characteristics, comprising means for determining the presence or absence of flaws by detecting dark portions of data. 2. A flaw detection device for a rotating surface object having specular reflection characteristics according to claim 1, characterized in that a circular lamp is used as the circumferential irradiation light source. 3. The flaw detection device for a rotating surface object having specular reflection characteristics according to claim 1, wherein a point light source that sequentially illuminates the periphery of the target object is used as the circumferential irradiation light source.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5707685A JPS61213752A (en) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | Apparatus for detecting flaw of mirror reflection characteristic surface |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5707685A JPS61213752A (en) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | Apparatus for detecting flaw of mirror reflection characteristic surface |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61213752A JPS61213752A (en) | 1986-09-22 |
| JPH049466B2 true JPH049466B2 (en) | 1992-02-20 |
Family
ID=13045369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5707685A Granted JPS61213752A (en) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | Apparatus for detecting flaw of mirror reflection characteristic surface |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61213752A (en) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63153414A (en) * | 1986-12-17 | 1988-06-25 | Haishisutemu Control Kk | Inspecting instrument for empty can |
| JPS6459145A (en) * | 1987-08-31 | 1989-03-06 | Kao Corp | Analyzer of surface nature |
| JPH0711415B2 (en) * | 1987-11-16 | 1995-02-08 | 東洋製罐株式会社 | Method and device for inspecting shape of container mouth having convex curved surface with specular gloss |
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| CN109799238B (en) * | 2019-01-24 | 2021-08-31 | 常州市武进信和精密机械有限公司 | Surface treatment device |
| CN110389089A (en) * | 2019-08-06 | 2019-10-29 | 哈尔滨工业大学 | The offline dark-field examination device of large caliber reflecting mirror surface particulate contamination object |
-
1985
- 1985-03-20 JP JP5707685A patent/JPS61213752A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61213752A (en) | 1986-09-22 |
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Legal Events
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