JP3349494B2 - Inspection method and inspection device for disk-shaped body - Google Patents

Inspection method and inspection device for disk-shaped body

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JP3349494B2
JP3349494B2 JP2000055918A JP2000055918A JP3349494B2 JP 3349494 B2 JP3349494 B2 JP 3349494B2 JP 2000055918 A JP2000055918 A JP 2000055918A JP 2000055918 A JP2000055918 A JP 2000055918A JP 3349494 B2 JP3349494 B2 JP 3349494B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、円盤状記録媒体
(光ディスク)等の円盤状体の被検査面の欠陥を検査
し、検査精度(分解能、検出能力)を維持したまま検査
時間を短縮できる検査方法及び検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention can inspect a surface of a disk-shaped object such as a disk-shaped recording medium (optical disk) for defects, and can shorten the inspection time while maintaining the inspection accuracy (resolution and detection ability). The present invention relates to an inspection method and an inspection device.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスク等の円盤状記録媒体の表面の
欠陥検査装置として図5に示すような構成が公知であ
る。図5の従来の検査装置では、光源10から円盤状記
録媒体13に光線を照射し、その反射光をライン状に画
素を配置したラインカメラ30で受光する。円盤状記録
媒体13をモータ制御装置32で制御されるモータ31
により回転させながら1周分スキャンし、ラインカメラ
30のビデオ出力信号を画像処理装置33で画像処理
し、その処理情報に基づいてCPU(中央処理装置)3
4により欠陥の解析を行い、その良否判定結果をCRT
(画像表示装置)35に表示したり、シーケンサ36ヘ
出力する。半径方向の1ライン分のスキャンにより得た
ラインカメラの画素(画素数2048)と受光量との関
係の例を図6に示す。
2. Description of the Related Art As a device for inspecting defects on the surface of a disk-shaped recording medium such as an optical disk, a configuration shown in FIG. 5 is known. In the conventional inspection apparatus of FIG. 5, a light beam is emitted from the light source 10 to the disc-shaped recording medium 13, and the reflected light is received by a line camera 30 having pixels arranged in a line. A motor 31 controlled by a motor control device 32 for a disc-shaped recording medium 13
Scans one rotation while rotating the camera, and performs image processing on the video output signal of the line camera 30 by the image processing device 33. Based on the processing information, the CPU (central processing unit) 3
4 is analyzed for defects, and the result of the pass / fail judgment is
(Image display device) Displayed on 35 or output to sequencer 36. FIG. 6 shows an example of the relationship between the pixels (2048 pixels) of the line camera obtained by scanning one line in the radial direction and the amount of received light.

【0003】図7は、図5の従来の検査装置で1台のラ
イン状に画素を配置したラインカメラで取り込んだ画像
メモリを示す概略図である。横軸は円盤状記録媒体の中
心より外周に向け放射方向に配置されたラインカメラの
画素数を表し、画素No.1は最内周、画素No.20
48は最外周である。縦軸はディスクを1回転させた時
のスキャンの回数を表し、1スキャンめがディスク回転
開始時であり、12000スキャンめがディスク回転終
了時(360度回転後)である。図7より明らかなよう
に、円盤状記録媒体の半径方向の分解能は、ラインカメ
ラの配列された画素数で決まり、円盤状記録媒体の円周
方向の分解能はディスクが1回転する間のスキャン回数
で決定される。また、1スキャン時間は、ラインカメラ
の1画素の情報を取り込む時間とそのラインカメラに付
随する画像処理装置とで決定されるので、検査時間は円
盤状記録媒体が1回転する間のスキャン回数により決定
される。
FIG. 7 is a schematic diagram showing an image memory taken by a line camera having pixels arranged in a line in the conventional inspection apparatus of FIG. The horizontal axis represents the number of pixels of the line camera arranged radially from the center of the disc-shaped recording medium toward the outer periphery. 1 is the innermost circumference, pixel No. 20
48 is the outermost periphery. The vertical axis represents the number of scans when the disk is rotated once, the first scan is at the start of disk rotation, and the 12,000 scan is at the end of disk rotation (after 360 ° rotation). As is clear from FIG. 7, the resolution in the radial direction of the disc-shaped recording medium is determined by the number of pixels arranged by the line camera, and the resolution in the circumferential direction of the disc-shaped recording medium is the number of scans during one rotation of the disc. Is determined. In addition, one scanning time is determined by a time for capturing information of one pixel of the line camera and an image processing device attached to the line camera. Therefore, the inspection time is determined by the number of scans during one rotation of the disk-shaped recording medium. It is determined.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述のような従来の検
査装置によれば、円盤状記録媒体の円周方向の分解能を
維持するためにはスキャン回数を一定にする必要がある
ため、円盤状記録媒体の円周方向の分解能を維持しなが
ら検査時間を短縮するためには、1画素の情報を取り込
む時間を短くするしか方法がなかった。しかしながら、
1画素の情報を取り込む時間を短くすると、1画素あた
りの受光量が減光し、このため検出能力が低下してしま
うという問題があった。
According to the above-described conventional inspection apparatus, it is necessary to keep the number of scans constant in order to maintain the resolution in the circumferential direction of the disk-shaped recording medium. The only way to shorten the inspection time while maintaining the resolution of the recording medium in the circumferential direction was to reduce the time to capture the information of one pixel. However,
If the time for taking in information of one pixel is shortened, the amount of received light per pixel is reduced, which causes a problem that the detection capability is reduced.

【0005】本発明は、上述のような従来技術の問題に
鑑み、円盤状記録媒体等の円盤状体について検査精度
(分解能、検出能力)を維持したまま検査時間を短縮す
ることができる検査方法及び検査装置を提供することを
目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and has an inspection method capable of shortening the inspection time for a disk-shaped body such as a disk-shaped recording medium while maintaining the inspection accuracy (resolution and detection ability). And an inspection device.

【0006】[0006]

【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明による円盤状体の検査方法は、円盤状体の被
検査面に光線を照射し、その光線の反射光または透過光
を前記円盤状体の中心より外周に向けてライン状に多数
の画素を並べた受光手段により受光し、前記円盤状体を
回転させながら前記受光手段から情報を取り込み、前記
情報に基づいて正常部と欠陥部とを判別することにより
前記円盤状体の欠陥を検査する検査方法であって、前記
受光手段の多数の画素を複数のブロックに分割し、その
分割された各ブロックが同期をとりつつ前記分割に対応
して分割される前記被検査面を並列にスキャンしなが
ら、このスキャンによって得られた情報を並列して処理
することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, a method of inspecting a disk-shaped object according to the present invention irradiates a surface to be inspected of the disk-shaped object with a reflected light or a transmitted light. Light is received by the light receiving means in which a number of pixels are arranged in a line from the center of the disc toward the outer periphery, and information is taken in from the light receiving means while rotating the disc, and a normal part is determined based on the information. An inspection method for inspecting a defect of the disc-shaped body by discriminating a defective portion, wherein a large number of pixels of the light receiving unit are divided into a plurality of blocks, and the divided blocks are synchronized with each other. The method is characterized in that information obtained by this scanning is processed in parallel while scanning the inspection surface divided in accordance with the division in parallel.

【0007】この検査方法によれば、受光手段の多数の
画素を複数に分割した各ブロックが同期をとりつつ分割
された被検査面を並列にスキャンしながら、このスキャ
ンにより得られた情報を並列して処理し、スキャン回数
を変えないで分割された各被検査面を同時に検査するこ
とができるので、分解能や検出能力等の検査精度を維持
したまま検査時間を短縮することができる。
According to this inspection method, while the blocks obtained by dividing a large number of pixels of the light receiving means are scanned in parallel while synchronizing each of the divided inspection surfaces, information obtained by this scanning is parallelized. And the inspection can be performed simultaneously without changing the number of scans, so that the inspection time can be shortened while maintaining the inspection accuracy such as resolution and detection capability.

【0008】この場合、前記分割された各ブロック間の
情報を連結して処理することが好ましい。
In this case, it is preferable that information between the divided blocks is connected and processed.

【0009】また、前記分割された被検査面の境界で一
方側に第1の欠陥信号が検出され、その他方側の前記分
割された被検査面の境界で第2の欠陥信号が検出された
とき、前記第1の欠陥信号と前記第2の欠陥信号とを連
結する連結処理を行うようにできる。これにより、分割
された被検査面の境界近傍で検出された欠陥信号を正確
に判別し、判定することができる。なお、第1の欠陥信
号と第2の欠陥信号との連結処理はスキャン回数に基づ
いて行うことができる。
A first defect signal is detected on one side at the boundary of the divided inspection surface, and a second defect signal is detected on the other boundary of the inspection surface on the other side. At this time, a connection process for connecting the first defect signal and the second defect signal can be performed. Thus, the defect signal detected near the boundary of the divided inspection surface can be accurately determined and determined. Note that the connection processing of the first defect signal and the second defect signal can be performed based on the number of scans.

【0010】また、前記分割されたブロックの各情報
は、画像処理装置で並列処理された後、中央処理装置に
より統合され、1枚の円盤状体の情報として処理され、
判定され、表示装置に表示されるようにできる。また、
前記被検査面にハロゲンランプ等からの可視光線または
波長800〜1100nm程度の近赤外線を照射するこ
とが好ましい。また、前記情報を前記反射光または前記
透過光の受光量の差から得ることができ、判別された欠
陥の合否を受光量の差に基づいて判定することができ
る。
Each information of the divided blocks is processed in parallel by an image processing device, integrated by a central processing unit, and processed as information of one disk-shaped body.
It can be determined and displayed on the display device. Also,
The surface to be inspected is preferably irradiated with visible light from a halogen lamp or the like or near infrared rays having a wavelength of about 800 to 1100 nm. Further, the information can be obtained from the difference in the amount of received light of the reflected light or the transmitted light, and the pass / fail of the determined defect can be determined based on the difference in the amount of received light.

【0011】本発明による円盤状体の検査装置は、円盤
状体の被検査面に光線を照射する光源と、その光線の反
射光または透過光を受光するために前記円盤状体の中心
より外周に向けてライン状に多数の画素を並べた受光手
段と、前記円盤状体を前記受光手段に対し回転させるた
めの回転手段と、前記円盤状体を回転させながら前記受
光手段から得た情報を取り込み、前記情報に基づいて正
常部と欠陥部とを判別する判別手段と、を備え、前記円
盤状体の欠陥を検査する検査装置であって、前記受光手
段の多数の画素を複数のブロックに分割し、その分割さ
れた各ブロックが同期をとりつつ前記分割に対応して分
割される前記被検査面を並列にスキャンしながら、この
スキャンによって得られた情報を並列して処理すること
を特徴とする。
According to the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a disk-shaped object, comprising: a light source for irradiating a light beam to a surface to be inspected of the disk-shaped object; Light receiving means in which a large number of pixels are arranged in a line toward, a rotating means for rotating the disc-shaped body with respect to the light receiving means, and information obtained from the light receiving means while rotating the disc-shaped body. A discriminating unit for discriminating between a normal portion and a defective portion based on the information, and an inspecting device for inspecting the disc-shaped body for defects. Dividing, and scanning each of the surfaces to be inspected which are divided corresponding to the division while synchronizing each divided block, and processing information obtained by the scan in parallel. And

【0012】この検査装置によれば、上述の検査方法を
実行することができ、スキャン回数を変えないで分割さ
れた各被検査面を同時に検査することができるので、分
解能や検出能力等の検査精度を維持したまま検査時間を
短縮することができる。
According to this inspection apparatus, the inspection method described above can be executed, and each of the divided inspection surfaces can be inspected simultaneously without changing the number of scans. Inspection time can be reduced while maintaining accuracy.

【0013】この場合、前記判別手段が前記分割された
各ブロック間の情報を連結して処理することが好まし
い。
In this case, it is preferable that the discriminating means processes the information by linking information between the divided blocks.

【0014】また、前記判別手段は、前記分割された被
検査面の境界で一方側に第1の欠陥信号が検出され、そ
の他方側の前記分割された被検査面の境界で第2の欠陥
信号が検出されたとき、前記第1の欠陥信号と前記第2
の欠陥信号とを連結する連結処理を行い、欠陥を判別す
ることができる。
Further, the discriminating means detects a first defect signal on one side at the boundary of the divided inspection surface, and detects a second defect signal on the other side at the boundary of the divided inspection surface. When a signal is detected, the first defect signal and the second
The defect signal can be determined by performing a linking process of linking the defect signal with the defect signal.

【0015】また、前記判定手段は画像処理装置と中央
処理装置と表示装置とを備え、前記分割されたブロック
の各情報は、前記画像処理装置で並列処理された後、前
記中央処理装置により統合され、1枚の円盤状体の情報
として処理され、判定され、前記表示装置に表示される
ようにできる。
Further, the determining means includes an image processing device, a central processing device, and a display device. Each information of the divided blocks is processed in parallel by the image processing device, and then integrated by the central processing device. Then, the information is processed and determined as information of one disk-shaped body, and can be displayed on the display device.

【0016】また、前記光源は前記被検査面に可視光線
または近赤外線を照射することが好ましい。また、前記
判別手段は、前記情報を前記反射光または前記透過光の
受光量の差から得ることにより欠陥を判別し、この判別
された欠陥の合否を前記受光量の差に基づいて判定する
ようにできる。
It is preferable that the light source emits visible light or near-infrared light to the surface to be inspected. The determining means may determine a defect by obtaining the information from a difference in the amount of received light of the reflected light or the transmitted light, and determine whether the determined defect is acceptable based on the difference in the amount of received light. Can be.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態による
円盤状体の検査装置の概略的構成を示す図である。図1
に示す検査装置は、多数の画素をライン状に並べて構成
された1次元CCD等の受光手段としてのラインカメラ
14と、このラインカメラ14からのビデオ出力信号を
それぞれ取り込んでアナログまたはデジタルのフィルタ
処理等により波形整形等の画像処理をするための画像処
理装置19,20と、この波形整形のされた画像処理信
号を基準として欠陥を判別するとともに所定の閾値と比
較し2値化処理することにより欠陥の合否を判定する中
央処理装置(CPU)21と、この判定結果をディスプ
レイに表示する表示装置22と、判定結果を記録紙に印
刷するプリンタ23と、判定結果に基づいて検査装置の
シーケンスを制御するシーケンサ24とを備える。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a disk-shaped body inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG.
The inspection apparatus shown in FIG. 1 includes a line camera 14 as a light receiving means such as a one-dimensional CCD in which a large number of pixels are arranged in a line, and a video output signal from the line camera 14 is fetched to perform analog or digital filter processing. The image processing devices 19 and 20 for performing image processing such as waveform shaping by means of, for example, determine defects based on the image-processed signal subjected to waveform shaping, and compare with a predetermined threshold to perform binarization processing. A central processing unit (CPU) 21 for determining whether the defect is acceptable, a display device 22 for displaying the result of the determination on a display, a printer 23 for printing the result of the determination on recording paper, and a sequence of the inspection device based on the result of the determination. And a sequencer 24 to be controlled.

【0018】 また、検査装置は、検査対象物である円
盤状体13の裏面13bに光線を照射するハロゲンラン
プ等からなる光源10と、円盤状体13を検査のために
回転させるモータ11と、このモータ11をCPU21
の指示に基づいて制御するモータ制御装置32とを備え
る。円盤状体13は透光性基板であり、検査後に例えば
記録層等が形成されて円盤状記録媒体とされる。
The inspection apparatus also includes a light source 10 such as a halogen lamp that irradiates a light beam on the back surface 13 b of the disk 13 that is the inspection target, a motor 11 that rotates the disk 13 for inspection, This motor 11 is connected to the CPU 21
And a motor control device 32 that performs control based on the instruction. The disk-shaped body 13 is a light-transmitting substrate, and after inspection, for example, a recording layer or the like is formed thereon to obtain a disk-shaped recording medium.

【0019】 ラインカメラ14は、光源10から円盤
状体13の裏面13bに照射して透過した透過光を受光
するように表面13aの上方に設けられ、ライン状に並
べられた多数の画素が円盤状体13の中心孔13cから
外周に向くように配置されている。受光手段であるライ
ンカメラ14の多数の画素(例えば、総画素数204
8)はライン方向に内周側と外周側の2つのブロックに
分割されており、図1に示すように、この2つの分割さ
れたブロックに対応して円盤状体13の表面13aの被
検査面において半径方向に細長く延び分割されて内周側
の撮像領域15と外周側の撮像領域16とが形成されて
いる。撮像領域15は画素No.1〜No.1024に
対応し、撮像領域16は画素No.1025〜No.2
048に対応している。
The line camera 14 is provided above the front surface 13 a so as to receive the transmitted light transmitted from the light source 10 to the back surface 13 b of the disk-shaped body 13, and a large number of pixels arranged in a line are formed in the disk. It is arranged so as to face from the center hole 13c of the body 13 to the outer periphery. A large number of pixels (for example, a total pixel number of 204
8) is divided in the line direction into two blocks on the inner peripheral side and the outer peripheral side. As shown in FIG. 1, the surface 13a of the disk 13 is inspected corresponding to the two divided blocks. The surface is elongated in the radial direction and is divided to form an inner peripheral imaging region 15 and an outer peripheral imaging region 16. The imaging area 15 has the pixel No. 1 to No. 1024, and the image pickup area 16 has the pixel No. No. 1025-No. 2
048.

【0020】 図1の検査装置の動作について説明す
る。CPU21からの指示に基づいてモータ制御装置
2はモータ11を回転させ、円盤状体13を一定の回転
速度で回転させる一方、光源10が点灯されて円盤状体
13を裏面13bから照射する。次に、ラインカメラ1
4は円盤状体13の表面13aにおいて撮像領域15と
16を各々同期をとりつつ同時にスキャンする。これに
より、撮像領域15,16において円盤状体13を透過
した透過光がラインカメラ14の各ブロックに撮像され
る。これらの撮像されたラインカメラ14の各ブロック
から受光量に応じて内周側撮像領域15のビデオ出力信
号17(画素No.1〜No.1024に対応する)と
外周側撮像領域16のビデオ出力信号18(画素No.
1025〜No.2048に対応する)がそれぞれ並列
的に出力し、画像処理装置19,20にそれぞれ入力さ
れて並列して同時進行的に波形整形等の画像処理が行わ
れ、画像処理装置19,20からの画像処理信号がCP
U(中央処理装置)21にてスキャン回数に基づいて連
結して処理され、統合処理される。これにより、各ブロ
ック(撮像領域15,16)から得られた各情報を1枚
の円盤状体13の情報として統合できる。
The operation of the inspection device shown in FIG. 1 will be described. Motor control device 3 based on an instruction from CPU 21
Numeral 2 rotates the motor 11 to rotate the disc 13 at a constant rotation speed, while the light source 10 is turned on to irradiate the disc 13 from the back surface 13b. Next, line camera 1
Numeral 4 simultaneously scans the imaging areas 15 and 16 on the surface 13a of the disc 13 while synchronizing each other. Thereby, the transmitted light transmitted through the disc 13 in the imaging regions 15 and 16 is captured by each block of the line camera 14. The video output signal 17 (corresponding to the pixels No. 1 to No. 1024) of the inner peripheral imaging area 15 and the video output signal of the outer peripheral imaging area 16 are obtained from each block of the line camera 14 according to the amount of received light. Signal 18 (pixel No.
No. 1025-No. 2048) are output in parallel, input to the image processing devices 19 and 20, respectively, and image processing such as waveform shaping is performed in parallel and simultaneously. Processing signal is CP
The U (central processing unit) 21 performs processing by linking based on the number of scans, and performs integrated processing. Thereby, each piece of information obtained from each block (imaging areas 15 and 16) can be integrated as information of one disc-shaped body 13.

【0021】図2は、図1の検査装置で半径方向への1
ライン分のスキャンにより得たラインカメラ14の内周
側ブロックにおける各画素(画素No.1〜No.10
24)と受光量との関係(a)及び外周側ブロックにお
ける各画素(画素No.1025〜No.2048)と
受光量との関係(b)の例を示す図である。
FIG. 2 shows the inspection apparatus shown in FIG.
Each pixel (pixels No. 1 to No. 10) in the inner peripheral block of the line camera 14 obtained by scanning the line
24A and 24B are diagrams illustrating examples of the relationship (a) between the amount of received light and the amount of received light and the relationship between each pixel (pixels No. 1024 to No. 2048) and the amount of received light in the outer peripheral block.

【0022】図3は、図1の検査装置でラインカメラ1
4の内周側ブロック(画素No.1〜No.1024)
で取り込んだ画像メモリ(a)及び外周側ブロック(画
素No.1025〜No.2048)で取り込んだ画像
メモリ(b)を模式的に示す図であり、横軸が画素N
o.を表し、縦軸がスキャン回数を表す。図3(a)の
画像メモリはビデオ出力信号17を画像処理装置19で
処理し、図3(b)の画像メモリはビデオ出力信号18
を画像処理装置20で処理することにより得られるもの
である。
FIG. 3 shows the inspection apparatus of FIG.
4 inner peripheral side block (pixel No. 1 to No. 1024)
FIG. 9 is a diagram schematically showing an image memory (a) fetched by the step (b) and an image memory (b) fetched by the outer peripheral block (pixels No. 1024 to No. 2048).
o. And the vertical axis represents the number of scans. The image memory of FIG. 3A processes the video output signal 17 by the image processing device 19, and the image memory of FIG.
Is processed by the image processing apparatus 20.

【0023】例えば、円盤状体13にピンホール等の欠
陥があり、ラインカメラ14の受光量が変化し、その前
後の画素(欠陥のない)に対して受光量に差が生じ、画
像処理装置19,20で波形整形した結果、図2(a)
のような+ピークaaが出現した場合、このピークaa
の値を予め設定した閾値a1と比較してa1以上であれ
ば、CPU21で欠陥信号と判定する。また、欠陥位置
は図3(a)に示すように欠陥信号39として画像メモ
リ上で特定できる。同様に、図2(b)のような−ピー
クbbが出現した場合、このピークbbの値を閾値b1
と比較してb1以下であれば、CPU21で欠陥信号と
判定する。また、欠陥位置は図3(b)に示すように欠
陥信号40として画像メモリ上で特定できる。このよう
にして、表面13aの被検査面を検査し、正常部と欠陥
部とを判別することができる。そして、欠陥と判別され
た欠陥信号が所定の閾値を超えた場合に、その欠陥を不
良(不合格)と判定することができる。この所定の閾値
は、図2(a),(b)の閾値a1,b1でよいが、別
に設定してもよい。また、図3のような画素No.とス
キャン回数との関係から、検出された欠陥の位置が実際
の被検査面において特定できる。
For example, the disc-shaped body 13 has a defect such as a pinhole, the amount of light received by the line camera 14 changes, and a difference occurs in the amount of light received between pixels before and after the line camera (with no defect). As a result of waveform shaping at 19 and 20, FIG.
When a + peak aa like this appears, this peak aa
Is compared with a preset threshold value a1, and if it is not less than a1, the CPU 21 determines that the signal is a defect signal. The defect position can be specified on the image memory as a defect signal 39 as shown in FIG. Similarly, when a negative peak bb as shown in FIG. 2B appears, the value of this peak bb is set to the threshold value b1.
If it is less than or equal to b1, the CPU 21 determines that the signal is a defect signal. The defect position can be specified on the image memory as a defect signal 40 as shown in FIG. In this manner, the inspected surface of the front surface 13a can be inspected to determine a normal portion and a defective portion. Then, when the defect signal determined as a defect exceeds a predetermined threshold, the defect can be determined to be defective (fail). The predetermined thresholds may be the thresholds a1 and b1 in FIGS. 2A and 2B, but may be set separately. In addition, as shown in FIG. And the number of scans, the position of the detected defect can be specified on the actual inspected surface.

【0024】次に、上述のような欠陥信号39,40の
情報は、表示装置22に表示し、プリンタ23で印刷す
ることができ、またシーケンサ24に検査した円盤状体
の良否判定を出力することができる。判定結果が不良
(不合格)である場合、その不合格の円盤状体は検査工
程から取り除く等の処理をすることができる。
Next, the information on the defect signals 39 and 40 as described above can be displayed on the display device 22 and printed by the printer 23, and output to the sequencer 24 a judgment on the quality of the inspected disk-shaped body. be able to. If the result of the determination is defective (failed), the failed disk-shaped body can be removed from the inspection process.

【0025】以上のような検査工程において、受光手段
であるラインカメラ14の1画素の情報を取り込む時間
を従来と同じとすると、1スキャンの時間は、図3
(a),(b)のように各ブロックが各々並列に同時に
スキャンし、その出力信号17,18が画像処理装置1
9、20で同時に処理されるため、従来に比べて半分の
時間で済むことになる。ここで、1画素の情報を取り込
む周期が20MHzで、2048画素のラインカメラで
円盤状体の全周を12000回スキャンした場合、従来
の検査装置(図5)であれば1.23秒かかるものが、
本実施の形態の検査装置によれば0.61秒で済むこと
になり、検査時間を半分に短縮できる。しかも、スキャ
ン回数を変えないで各撮像領域を同時に検査できるの
で、分解能や検出能力等の検査精度を維持したまま検査
時間を短縮できる。これにより、製品の品質を維持しな
がら製品全体の生産効率を向上できる。
In the above-described inspection process, if the time for taking in information of one pixel of the line camera 14 as the light receiving means is the same as the conventional one, the time for one scan is as shown in FIG.
(A) and (b), each block scans simultaneously in parallel, and output signals 17 and 18 thereof are output to the image processing apparatus 1.
Since the processing is performed simultaneously in steps 9 and 20, it takes only half the time as compared with the related art. Here, when the cycle of taking in information of one pixel is 20 MHz, and the entire circumference of the disc is scanned 12,000 times by the line camera of 2048 pixels, it takes 1.23 seconds with the conventional inspection apparatus (FIG. 5). But,
According to the inspection apparatus of the present embodiment, only 0.61 seconds is required, and the inspection time can be reduced to half. In addition, since each imaging region can be inspected simultaneously without changing the number of scans, the inspection time can be reduced while maintaining inspection accuracy such as resolution and detection capability. Thereby, the production efficiency of the entire product can be improved while maintaining the quality of the product.

【0026】以上のように、被検査面を分割し、分割し
た各撮像領域を同時にスキャンし、得られた各信号を並
列的に別々の画像処理装置で同時に画像処理を行うため
に、検査時間を短縮できる。本実施の形態では、ライン
カメラの総画素数を2分割し検査時間を半分に短縮でき
るが、本発明は、これに限定されるものではなく、3分
割以上としてもよく、更に検査時間を短縮でき、検査の
更なる高速化が実現できる。また、本実施の形態の検査
装置は、ピンホール、傷、濡れ、異物等の表面欠陥を検
出するものであるが、内部欠陥をも検出できる。
As described above, in order to divide the surface to be inspected, scan each of the divided imaging regions simultaneously, and simultaneously process the obtained signals in parallel by different image processing apparatuses, the inspection time is required. Can be shortened. In the present embodiment, the inspection time can be reduced to half by dividing the total number of pixels of the line camera into two. However, the present invention is not limited to this, and the inspection time may be reduced to three or more. The inspection can be further speeded up. Further, the inspection device of the present embodiment detects surface defects such as pinholes, scratches, wetness, and foreign substances, but can also detect internal defects.

【0027】 次に、図4により、図1の検査装置にお
いて受光手段の画素数を分割した境界近傍で欠陥信号が
発見された場合、その判定方法について説明する。例え
ば、図4(a)のように、内周側ブロックの画像メモリ
において欠陥信号41aが画素No.1024の4スキ
ャン目、5スキャン目に出現し、一方、図4(b)のよ
うに、外周側ブロックの画像メモリにおいて欠陥信号4
1bが画素No.1025,1026の4スキャン目、
5スキャン目に出現した場合、CPU21で欠陥信号4
1aと41bとをスキャン回数に基づいて連結する処理
を行う。欠陥信号41aと41bは同一のスキャン回数
で検出されたので、CPU21により連続した欠陥信号
と判断される。このようにして、2つのブロックの境界
で検出された欠陥信号が一体のものと判断された場合、
その欠陥の集合サイズによって欠陥の合否判定を行う。
また、例えば、欠陥信号41cが画素No.1025の
3スキャン目に出現した場合、欠陥信号41a、41
b、41cは1つの連続した欠陥信号と判定される。
Next, referring to FIG. 4, a description will be given of a determination method when a defect signal is found near the boundary where the number of pixels of the light receiving unit is divided in the inspection apparatus of FIG. For example, as shown in FIG. 4A, in the image memory of the inner peripheral block, the defect signal 41a is set to the pixel No. 1024 appear on the fourth scan and the fifth scan. On the other hand, as shown in FIG.
1b is the pixel No. 4th scan of 1025, 1026,
If it appears on the fifth scan, the CPU 21 outputs a defect signal 4
A process for linking 1a and 41b based on the number of scans is performed. Since the defect signals 41a and 41b are detected with the same number of scans, the CPU 21 determines that the defect signals are continuous. In this way, when the defect signal detected at the boundary between the two blocks is determined to be one,
The pass / fail judgment of the defect is performed based on the set size of the defect.
Further, for example, when the defect signal 41c is the pixel No. When it appears in the third scan of 1025, the defect signals 41a, 41
b and 41c are determined as one continuous defect signal.

【0028】また、図4(a)で欠陥信号42が画素N
o.1024の8スキャン目、9スキャン目に出現し、
一方、図4(b)で欠陥信号43が画素No.102
5,1026の11スキャン目に出現した場合、同一の
スキャン回数ではないので、欠陥信号42と43は独立
した欠陥信号と判定される。
In FIG. 4A, the defect signal 42 is
o. Appears on 1024 8th and 9th scans,
On the other hand, in FIG. 102
In the case where it appears on the eleventh scan of 5,1026, the number of scans is not the same, so that the defect signals 42 and 43 are determined as independent defect signals.

【0029】以上のように分割された各ブロックの境界
で欠陥信号が発見された場合、そのスキャン回数に基づ
いて連結処理を行い同一の連続した欠陥信号か否かを判
定することができる。
When a defective signal is found at the boundary of each of the divided blocks as described above, a linking process is performed based on the number of scans, and it can be determined whether or not the signals are the same continuous defective signal.

【0030】以上のように本発明を実施の形態により説
明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、
本発明の技術的思想の範囲内で各種の変形が可能であ
る。例えば、光源からの光線を円盤状体に照射し、その
反射光を受光手段のラインカメラが受光するようにして
もよく、透過光の場合と同様の効果が得られる。また、
光源は、波長800〜1100nm程度の近赤外線を射
出できるものであってもよい。
As described above, the present invention has been described by the embodiments. However, the present invention is not limited to these embodiments.
Various modifications are possible within the scope of the technical idea of the present invention. For example, a light beam from the light source may be applied to the disc-shaped body, and the reflected light may be received by the line camera of the light receiving unit, and the same effect as in the case of the transmitted light can be obtained. Also,
The light source may be capable of emitting near-infrared light having a wavelength of about 800 to 1100 nm.

【0031】また、検査対象物の円盤状体としては、光
ディスクまたは光磁気ディスクであってよく、具体的に
は、CD、CD−R、CD−RW、MD、DVD等があ
り、これらの記録媒体用の透光性基板でもよいが、これ
らに限定されるものではなく、他の用途の円盤状体であ
ってもよいことは勿論である。
The disk-shaped object to be inspected may be an optical disk or a magneto-optical disk, and specifically includes a CD, CD-R, CD-RW, MD, DVD, etc. A light-transmitting substrate for a medium may be used, but the present invention is not limited thereto, and it is a matter of course that a disk-shaped body for other uses may be used.

【0032】[0032]

【発明の効果】本発明の検査方法及び検査装置によれ
ば、検査精度(分解能、検出能力)を下げることなく、
検査時間を短縮することができ、円盤状体の品質の維持
と生産性の向上を図ることができる。
According to the inspection method and the inspection apparatus of the present invention, without lowering the inspection accuracy (resolution, detection ability),
The inspection time can be shortened, and the quality of the disk-shaped body can be maintained and the productivity can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による実施の形態の円盤状体の検査装置
の概略的構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a disk-shaped body inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の検査装置で半径方向への1ライン分のス
キャンにより得たラインカメラ14の内周側ブロックに
おける各画素と受光量との関係(a)及び外周側ブロッ
クにおける各画素と受光量との関係(b)の例を示す図
である。
FIG. 2 shows the relationship (a) between each pixel in the inner peripheral block and the amount of received light of the line camera 14 obtained by scanning one line in the radial direction with the inspection apparatus of FIG. It is a figure showing the example of the relation (b) with the amount of light reception.

【図3】図1の検査装置でライン状に画素を配置した受
光手段としてのラインカメラにおける内周側ブロックで
取り込んだ画像メモリ(a)及び外周側ブロックで取り
込んだ画像メモリ(b)を模式的に示す図である。
FIG. 3 schematically shows an image memory (a) captured by an inner peripheral block and an image memory (b) captured by an outer peripheral block in a line camera as a light receiving means in which pixels are arranged in a line in the inspection apparatus of FIG. FIG.

【図4】図1の検査装置でラインカメラにおける内周側
ブロックと外周側ブロックとの境界で欠陥が出現した場
合の欠陥判定を説明するための図3と同様の図である。
4 is a view similar to FIG. 3 for explaining defect determination when a defect appears at a boundary between an inner peripheral block and an outer peripheral block in the line camera in the inspection apparatus of FIG. 1;

【図5】従来の円盤状記録媒体の検査装置の概略的構成
を示す図である。
FIG. 5 is a view showing a schematic configuration of a conventional disk-shaped recording medium inspection apparatus.

【図6】従来の検査装置で半径方向への1ライン分のス
キャンにより得たラインカメラの各画素と受光量との関
係を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a relationship between each pixel of a line camera and a received light amount obtained by scanning one line in a radial direction with a conventional inspection device.

【図7】従来の検査装置でライン状に画素を配置したラ
インカメラで取り込んだ画像メモリを模式的に示す図で
ある。
FIG. 7 is a diagram schematically illustrating an image memory captured by a line camera having pixels arranged in a line in a conventional inspection apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 光源 11 モータ32 モータ制御装置 13 円盤状体 13a 円盤状体の表面(被検査
面) 13b 円盤状体の裏面 14 ラインカメラ(受光手
段) 15 内周側の撮像領域(分割
された被検査面) 16 外周側の撮像領域(分割
された被検査面) 19,20 画像処理装置(判定手
段) 21 中央処理装置(CPU)
(判定手段) 22 表示装置 23 プリンタ 24 シーケンサ 39,40 欠陥信号 41a,41b,41c 欠陥信号
Reference Signs List 10 light source 11 motor 32 motor control device 13 disc-shaped body 13a surface of disc-shaped body (surface to be inspected) 13b back surface of disc-shaped body 14 line camera (light receiving means) 15 inner peripheral side imaging region (divided surface to be inspected) 16) Imaging area on outer peripheral side (divided surface to be inspected) 19, 20 Image processing device (determination means) 21 Central processing device (CPU)
(Determination means) 22 display device 23 printer 24 sequencer 39, 40 defect signal 41a, 41b, 41c defect signal

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI G11B 20/18 G11B 20/18 572F (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/30 G01N 21/95 G11B 7/26 G11B 20/18 501 G11B 20/18 572 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (51) Int.Cl. 7 identification code FI G11B 20/18 G11B 20/18 572F (58) Investigated field (Int.Cl. 7 , DB name) G01B 11/30 G01N 21 / 95 G11B 7/26 G11B 20/18 501 G11B 20/18 572

Claims (12)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 円盤状体の被検査面に光線を照射し、そ
の光線の反射光または透過光を前記円盤状体の中心より
外周に向けてライン状に多数の画素を並べた受光手段に
より受光し、前記円盤状体を回転させながら前記受光手
段から情報を取り込み、前記情報に基づいて正常部と欠
陥部とを判別することにより前記円盤状体の欠陥を検査
する検査方法であって、 前記受光手段の多数の画素を複数のブロックに分割し、
その分割された各ブロックが同期をとりつつ前記分割に
対応して半径方向に分割される前記被検査面を並列にス
キャンしながら、このスキャンによって得られた情報を
並列して処理することを特徴とする円盤状体の検査方
法。
1. A light-receiving means which irradiates a light beam to a surface to be inspected of a disk-shaped body and reflects or transmits the reflected light or transmitted light from the center of the disk-shaped body toward an outer periphery thereof in a line form. Receiving an information from the light receiving means while rotating the disk-shaped body, and inspecting the disk-shaped body for defects by determining a normal part and a defective part based on the information, Dividing a large number of pixels of the light receiving means into a plurality of blocks,
The divided blocks are scanned in parallel on the surface to be inspected, which is divided in the radial direction corresponding to the division while synchronizing with each other, and information obtained by this scan is processed in parallel. Inspection method for disk-shaped objects.
【請求項2】 前記分割された各ブロック間の情報を連
結して処理することを特徴とする請求項1に記載の検査
方法。
2. The inspection method according to claim 1, wherein information between the divided blocks is connected and processed.
【請求項3】 前記分割された被検査面の境界で一方側
に第1の欠陥信号が検出され、その他方側の前記分割さ
れた被検査面の境界で第2の欠陥信号が検出されたと
き、前記第1の欠陥信号と前記第2の欠陥信号とを連結
する連結処理を行うことを特徴とする請求項1または2
に記載の検査方法。
3. A first defect signal is detected on one side at a boundary between the divided inspection surfaces, and a second defect signal is detected on a boundary between the divided inspection surfaces on the other side. 3. A connection process for connecting the first defect signal and the second defect signal.
Inspection method described in 1.
【請求項4】 前記分割されたブロックの各情報は、画
像処理装置で並列処理された後、中央処理装置により統
合され、1枚の円盤状体の情報として処理され、判定さ
れ、表示装置に表示されることを特徴とする請求項1,
2または3に記載の検査方法。
4. The information of each of the divided blocks is processed in parallel by an image processing device, integrated by a central processing unit, processed as information of one disk-shaped body, determined, and displayed on a display device. 2. The display according to claim 1,
The inspection method according to 2 or 3.
【請求項5】 前記被検査面に可視光線または近赤外線
を照射することを特徴とする請求項1,2,3または4
に記載の検査方法。
5. The method according to claim 1, wherein the surface to be inspected is irradiated with visible light or near infrared light.
Inspection method described in 1.
【請求項6】 前記情報を前記反射光または前記透過光
の受光量の差から得ることにより欠陥を判別し、この判
別された欠陥の合否を前記受光量の差に基づいて判定す
ることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載
の検査方法。
6. A method for determining a defect by obtaining the information from a difference in the amount of received light of the reflected light or the transmitted light, and determining whether or not the determined defect is acceptable based on the difference in the amount of received light. The inspection method according to any one of claims 1 to 5, wherein
【請求項7】 円盤状体の被検査面に光線を照射する光
源と、 その光線の反射光または透過光を受光するために前記円
盤状体の中心より外周に向けてライン状に多数の画素を
並べた受光手段と、 前記円盤状体を前記受光手段に対し回転させるための回
転手段と、 前記円盤状体を回転させながら前記受光手段から得た情
報を取り込み、前記情報に基づいて正常部と欠陥部とを
判別する判別手段と、を備え、前記円盤状体の欠陥を検
査する検査装置であって、 前記受光手段の多数の画素を複数のブロックに分割し、
その分割された各ブロックが同期をとりつつ前記分割に
対応して半径方向に分割される前記被検査面を並列にス
キャンしながら、このスキャンによって得られた情報を
並列して処理することを特徴とする円盤状体の検査装
置。
7. A light source for irradiating a light beam to a surface to be inspected of a disc-shaped body, and a large number of pixels arranged linearly from the center of the disc-shaped body toward the outer periphery to receive reflected light or transmitted light of the light beam. Light receiving means in which are arranged, rotating means for rotating the disc-shaped body with respect to the light receiving means, information obtained from the light receiving means while rotating the disc-shaped body, and a normal part based on the information. And a discriminating means for discriminating between a defective portion and a discriminating portion, and an inspecting device for inspecting a defect of the disk-shaped body, wherein a large number of pixels of the light receiving unit are divided into a plurality of blocks,
The divided blocks are scanned in parallel on the surface to be inspected, which is divided in the radial direction corresponding to the division while synchronizing with each other, and information obtained by this scan is processed in parallel. Inspection device for disk-shaped objects.
【請求項8】 前記判別手段が前記分割された各ブロッ
ク間の情報を連結して処理することを特徴とする請求項
7に記載の検査装置。
8. The inspection apparatus according to claim 7, wherein the discriminating unit connects and processes information between the divided blocks.
【請求項9】 前記判別手段は、前記分割された被検査
面の境界で一方側に第1の欠陥信号が検出され、その他
方側の前記分割された被検査面の境界で第2の欠陥信号
が検出されたとき、前記第1の欠陥信号と前記第2の欠
陥信号とを連結する連結処理を行い、欠陥を判別するこ
とを特徴とする請求項7または8に記載の検査装置。
9. The determination means detects a first defect signal on one side at a boundary of the divided inspection surface and a second defect at a boundary of the divided inspection surface on the other side. The inspection apparatus according to claim 7, wherein when a signal is detected, a connection process for connecting the first defect signal and the second defect signal is performed to determine a defect.
【請求項10】 前記判別手段は画像処理装置と中央処
理装置と表示装置とを備え、前記分割されたブロックの
各情報は、前記画像処理装置で並列処理された後、前記
中央処理装置により統合され、1枚の円盤状体の情報と
して処理され、判定され、前記表示装置に表示されるこ
とを特徴とする請求項7,8または9に記載の検査装
置。
10. The discrimination means includes an image processing device, a central processing unit, and a display device. Each piece of information of the divided blocks is processed in parallel by the image processing device, and then integrated by the central processing device. The inspection apparatus according to claim 7, 8 or 9, wherein the information is processed as one piece of disc-shaped body information, determined, and displayed on the display device.
【請求項11】 前記光源は前記被検査面に可視光線ま
たは近赤外線を照射することを特徴とする請求項7,
8,9または10に記載の検査装置。
11. The apparatus according to claim 7, wherein the light source irradiates the inspection surface with visible light or near-infrared light.
The inspection device according to 8, 9, or 10.
【請求項12】 前記判別手段は、前記情報を前記反射
光または前記透過光の受光量の差から得ることにより欠
陥を判別し、この判別された欠陥の合否を前記受光量の
差に基づいて判定することを特徴とする請求項7〜11
のいずれか1項に記載の検査装置。
12. The discriminating means discriminates a defect by obtaining the information from a difference in the amount of received light of the reflected light or the transmitted light, and determines whether or not the determined defect is acceptable based on the difference in the amount of received light. The method according to claim 7, wherein the determination is performed.
The inspection device according to any one of claims 1 to 7.
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