JPH0486573A

JPH0486573A - 簡易多周波混変調測定装置

Info

Publication number: JPH0486573A
Application number: JP20169890A
Authority: JP
Inventors: Mitsuaki Ogasa; 光明織笠; Shinichi Sato; 眞一佐藤; Akio Iso; 磯　彰夫
Original assignee: UCHU TSUSHIN KISO GIJUTSU KENKYUSHO KK
Current assignee: UCHU TSUSHIN KISO GIJUTSU KENKYUSHO KK
Priority date: 1990-07-30
Filing date: 1990-07-30
Publication date: 1992-03-19

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、反射鏡アンテナの鏡面として用いられるメツ
シュ状鏡面材料等の電気的特性を簡単に評価できる簡易
多周波混変調測定装置に関する。

（従来の技術）従来、反射鏡アンテナのメツシュ状鏡面材料の反射・透
過特性を−り定する測定装置としては、例えば、■第３
図に示す測定装置（ＥＳＡ　　５Ｐ−２６１、Ａｕｇｕ
ｓｔ　　１９８６　、　　Ｐ　Ｐ　ｌ　７−２２に記載
されたもの）や、■第４図に示すものが知られている。

第３図に示す■の測定装置１では、２が電波の送信器、
３と４が互いに向きあうよう配設されたホーンアンテナ
、５と６が電波の検出器である。

そして、ホーンアンテナ３と４との間に被測定対象であ
るメツシュ状鏡面材料７を介装し、送信器２から電波が
発っせられると、電波がホーンアンテナ３を介して入射
波８が放射され、向い合ったホーンアンテナ４で受信さ
れる。

この場合、一部反射した反射波９はホーンアンテナ３に
戻り検出器５により検出されて反射特性が得られる一方
、透過した透過波１０は検出器６により検出され、透過
特性が得られる。

また、第４図に示す■の測定装置１１では、２が送信器
、５と６が検出器、１２が発信体、】３が受信体、１４
が導波管、１５が同軸導波管変換器であり、導波管１４
内の発信体１２と受信体１３との間に被測定対象物であ
るメツシュ状鏡面材料７が介装されるようになっている
。

そして、導波管１４内で発信体１２から入射波が発っせ
られ、反射波を検出器５により検出する方、透過波を検
出器６に検出し、これに基づいて反射特性及び透過特性
を簡易的に得られる。

また、この装置によれば、導波管内で測定するので反射
・透過の条件が限定されるが、測定系が小さく、電力も
小さく、再現性のよい測定ができる利点を有している。

（発明が解決しようとする課題）しかしながら、上記の■の測定装置によれば、空間に電
波を放射させてホーンアンテナにより受信させる構造で
あるために、被測定物の配置精度や電波環境等による影
響が強く、再現性のある測定を行なうことが困難となる
欠点があった。

更に、空間に電波を放射させて測定するので、減衰量が
大きくなり、検出するには大電力が必要となったり、ま
た、低周波数では測定系が非常に大型化する不具合があ
る。

上記■の測定装置によれば、導波管を用いて測定すると
、導波管内に種々の高次モードが発生し、これにより周
波数帯域を複数同時に測定することが難しくなり、多周
波共用アンテナに用いるメツシュ状鏡面材料の十分な評
価ができなくなるという問題がある。

因みに、多周波共用アンテナではＰ　Ｉ　Ｍ　（Ｐａ５
ｓｉｖｅ　Ｉｎｔｅｒ　Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）の発生
の有無が重要である。

もし、２つの離れた周波数ｆ、、ｆ２が送信されると、
ＰＩＭは、△ｆ＝ｆ、−ｆ、とじて、ｆ＝ｆ　２±　　
　　　　　△ｆごとに発生する。尚、Ｎは次数をしめす。

例えば、ｆ　、＝０．８ＧＨ２ｆ、＝ｌＩＧＨ２とすると、 △ｆ＝１０．２ＧＨ２となり、３次では２１．２ＧＨ２
のＰＩＭが発生する。

そして、多周波の場合には、更に多（のＰＩＭが発生す
る可能性が有るため、多周波同時に入力させてＰＩＭを
測定してＰＩＭの発生の有無を確かめる必要があり、こ
のような測定装置の開発が要望されているのが現状であ
る。

そこで、本発明は、従来の導波管内メツシュ状鏡面材料
の評価ではできなかった多周波同時測定を可能とし、更
に測定系の小型化、消費電力の省力化、再現性の高い簡
易多周波混変調測定装置を提供することを目的としてい
る。

（課題を解決するための手段）本発明の簡易多周波混変調測定装置は、導波管に被測定
物を装着して被測定物の電波の反射・透過特性を測定す
る測定装置において、前記導波管の高さを、測定する最
も高い周波数帯のＴＥヨ。

（ティーイーエムゼロ）モード以外の高次モードを発生
させない寸法に形成すると共に、前記導波管の横幅を、
測定する最も低い周波数帯の基本モトがカットオフにな
らない寸法に形成し、各周波数帯の検出部を低い周波数
帯になるに従って前記被測定物から離して設けた構成と
されている。

（作用）従って、測定すべき各周波数帯の検出部を、低い周波数
帯になるに従って被測定物から離して順次導波管に設け
たので、多周波の電波の給電・検゛出が可能となり、ま
た導波管の寸法を所定の寸法にすることにより、多周波
を同時に入力した際のＰＩＭ評価を同特に行なうことが
できる。

（実施例）以下に本発明の一実施例を図面に基づき説明する。尚、
本実施例では２つの周波数帯に適用する場合を例に採っ
て説明する。

第１図は本実施例の簡易多周波混変調特性評価装置２１
の斜視図を示している。

本実施例の装置２１は、導波管２２の一端側を被測定物
であるメツシュ鏡面材料２３の装着部とし、導波管２２
には、高い周波数帯域の入射波を給電すると共に、その
反射波を取り出す同軸導波管変換部（検出部）２４と、
低い周波数帯域の入射波を給電するとと共に、その反射
波を取り出す同軸導波管変換部（検出部）２５が、上記
装着されるメツシュ鏡面材料２３から順次能れるように
設けられている。

導波管２２の一端側にはメツシュ鏡面材料２３を介して
透過波を取り出す同軸導波管変換部（検出部）２６が設
けられており、各同軸導波管変換部２４，２５．２６を
通じて、各周波数帯域の反射波及び透過波が検出される
。尚図中２７ａ、２７ｂ、２７ｃは整合用のチューナを
示し、各検出部に対してマツチングを行なうために設け
られている。

また、上記導波管２２は、検出原理を示す概略平断面を
第２図に示すように、低い周波数帯域の基本モードがカ
ットオフにならない寸法の横幅ａ１に形成される一方、
高い周波数帯域のＴＥｍｏモード以外の高次モードを発
生させない高さ寸法すに形成されている６尚図中、２８
は高い周波数の反射波３１ｂの検出面、２９は低い周波
数の反射波３２ｂの検出面、３０は高い周波数の透過波
３１ｃ及び低い周波数の透過波３２ｃの検出面、３１ａ
は高い周波数の入射波、３２ａは低い周波数の入射波を
示す。

このような構成では、導波管２２のカットオフ周波数は
、ＴＥ−ｎ、Ｔ、、・えゎ＝で重されるため、例えば低い周波数帯を０．８Ｇ　Ｈｚ
　、高い周波数帯を１１　Ｇ　Ｉ（ｚにした場合にａ　
＝　２９２　、　１　ｍｍ、　　ｂ　＝　７　、　８７
９　ｆｆ１１１とすると、Ｔ　Ｅ　１ｏ　：　えｃ　＝
　５８４．２　ｍｍでｆ＝０．５１ＧＨ２ＴＥ、、：　
えＣ＝　１５．７９　ｍｍでｆ＝１９ＧＨ２となり、Ｔ
Ｅｍｏ（ｍ＝１，２・・・・・）モード以外の高次モー
ドは発生しないため、ＴＥ、ｏモトのみを考慮して測定
すればよい。

また、反射波の検出は、高い周波数帯を検出する検出面
２８をメツシュ鏡面材料２３の近くに配置したので広帯
域となる。

更に、低い周波数帯は管内波長が長いため、高い周波数
帯の検出面２８よりもメツシュ鏡面材料との距離が離れ
ていても充分に帯域を確保できる。

このように測定する周波数の検出部（検出面）を、低周
波数帯になるに従って、被測定物（メツシュ鏡面材料）
から遠ざかるように設けたことにより、多周波の電波の
給電・検出が可能になると同時に、多周波を同時に入力
した際のＰＩＭの評価が可能となる。

また、導波管内での測定となるので、測定系が小さくて
済み、大電力が不要となり、再現性の高い測定が可能と
なる。

尚、上記実施例では２つの周波数帯の場合について述べ
たが、これに限らず同様な方法で多（の周波数帯域につ
いても測定できる。また、被測定物としてはメツシュ鏡
面材料に限らず、他の被測定物の一般的な混変調の測定
にも利用できることは明らかである。

（発明の効果）以上説明したように本発明によれば、導波管で測定する
周波数の検出部を低周波数帯になるに従って被測定物か
ら遠ざかるように設けたことにより、多周波の電波の給
電・検出が可能となり、多周波を同時に入力した際のＰ
ＩＭの評価が可能となる。

また、導波管内での測定であるので、測定系が小形化し
、大電力が不要となり、再現性の高い測定が可能となる
。

特に、移動体通信のようにフィーダリングとモバイルリ
ンクで周波数帯が異なり、通常の導波管を共用できない
ような場合に好適である。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は本発明の実施例に係り、第１図は測
定装置の斜視図、第２図は測定装置の概略平断面図、第
３図及び第４図は夫々従来例に係る測定装置の斜視図、
概略縦断面図である。面図中、２１は測定装置、２２は導波管、２３は被測定
物、２４，２５．２６は検出部、２７ａ、２７ｂ、２７
ｃはチューナ、ａｌは導波管の横幅、ｂは導波管の高さ
である。特許出願人　　株式会社宇宙通信基礎技術研究所代理人
　弁理士　　　　野　１）　茂 −−ｔｈ→ 第図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）導波管に被測定物を装着して被測定物の電波の反
射・透過特性を測定する測定装置において、前記導波管の高さを、測定する最も高い周波数帯のＴＥ
＿ｍ＿ｏモード以外の高次モードを発生させない寸法に
形成すると共に、前記導波管の横幅を、測定する最も低い周波数帯の基本
モードがカットオフにならない寸法に形成し、各周波数帯の検出部を低い周波数帯になるに従って前記
被測定物から離して設けた、ことを特徴とする簡易多周波混変調測定装置。
（２）前記各検出部が、整合用のチューナを有する請求
項１記載の簡易多周波混変調測定装置。
（３）前記導波管が、前記被測定物に対し、前記各検出
部と反対側に、透過波を検出する検出部を有する請求項
１記載の簡易多周波混変調測定装置。