JPH0485105U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0485105U JPH0485105U JP12514490U JP12514490U JPH0485105U JP H0485105 U JPH0485105 U JP H0485105U JP 12514490 U JP12514490 U JP 12514490U JP 12514490 U JP12514490 U JP 12514490U JP H0485105 U JPH0485105 U JP H0485105U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- frame
- lower frame
- measurement device
- generating unit
- Prior art date
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- Granted
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 231100000628 reference dose Toxicity 0.000 description 1
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
第１図は本考案による厚み計の構成図、第２図
は本考案による厚み計の設置状態図、第３図は従
来の厚み計の設置状態図、第４図は従来の厚み計
を２台の圧延機の間に設置した状態図である。 １ａ……厚み計、１ｂ……圧延機、１ｃ……被
測定板、３ａ……放射線発生部、３ｂ……下フレ
ーム、３ｃ……放射線検出部、３ｄ……上フレー
ム、３ｅ……縦フレーム、３ｆ，３ｇ……軸、３
ｈ……ストツパー、３ｉ……直動アクチユエータ
、３ｊ……復帰センサー、３ｋ……復帰装置、３
ｌ……校正装置、３ｍ……厚み測定値、３ｎ……
基準線量、３ｏ……システム制御部。
は本考案による厚み計の設置状態図、第３図は従
来の厚み計の設置状態図、第４図は従来の厚み計
を２台の圧延機の間に設置した状態図である。 １ａ……厚み計、１ｂ……圧延機、１ｃ……被
測定板、３ａ……放射線発生部、３ｂ……下フレ
ーム、３ｃ……放射線検出部、３ｄ……上フレー
ム、３ｅ……縦フレーム、３ｆ，３ｇ……軸、３
ｈ……ストツパー、３ｉ……直動アクチユエータ
、３ｊ……復帰センサー、３ｋ……復帰装置、３
ｌ……校正装置、３ｍ……厚み測定値、３ｎ……
基準線量、３ｏ……システム制御部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ 下フレームと、 下フレームに設置された放射線発生部と、 下フレームの一端にその下端が結合された縦フ
レームと、 縦フレームの上端にその一端が結合される上フ
レームと、 下フレームの放射線発生部と対向して上フレー
ムに設置された放射線検知部とを有し、放射線通
路に被測定物を配して厚さ等を測定する放射線応
用測定装置において、 各フレームの結合部が回転自在である可動部と
を備えたことで上フレームと下フレームが接近し
てフレーム形状を可変形とすることを特徴とする
放射線応用測定装置。 ２ 上下フレームの接近状態から元のコ字状態に
復帰したことを検知する復帰センサーと、 この復帰センサーが検知信号を出力すると放射
線通路に校正片を挿入して、この校正片の透過放
射線検出量から検量線を作成する検量線作成手段
とを有することを特徴とする請求項(1)記載の放
射線応用測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12514490U JPH0752571Y2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 放射線応用測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12514490U JPH0752571Y2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 放射線応用測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0485105U true JPH0485105U (ja) | 1992-07-23 |
| JPH0752571Y2 JPH0752571Y2 (ja) | 1995-11-29 |
Family
ID=31872759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12514490U Expired - Lifetime JPH0752571Y2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 放射線応用測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0752571Y2 (ja) |
-
1990
- 1990-11-29 JP JP12514490U patent/JPH0752571Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0752571Y2 (ja) | 1995-11-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |