JPH0481638A - 恒温槽による流体試料温度制御装置 - Google Patents
恒温槽による流体試料温度制御装置Info
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- JPH0481638A JPH0481638A JP19574090A JP19574090A JPH0481638A JP H0481638 A JPH0481638 A JP H0481638A JP 19574090 A JP19574090 A JP 19574090A JP 19574090 A JP19574090 A JP 19574090A JP H0481638 A JPH0481638 A JP H0481638A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は恒温槽に浸漬された液体試料の粘度を測定する
に際して恒温槽の浴温度と液体試料温度を効果的に制御
する温度制御装置に関する。
に際して恒温槽の浴温度と液体試料温度を効果的に制御
する温度制御装置に関する。
(従来技術)
流体試料の粘度を測定するに際しての当該試料の温度制
御は一般に恒温槽を用いて行なわれる。そして、その温
度制御は試料の加熱・冷却用液体として水、油などを用
い、該液体の温度制御を介して間接的に行なわれていた
。
御は一般に恒温槽を用いて行なわれる。そして、その温
度制御は試料の加熱・冷却用液体として水、油などを用
い、該液体の温度制御を介して間接的に行なわれていた
。
(発明が解決しようとする課題)
上記従来技術に於ては、流体試料の温度を所望の温度に
設定するには長時間を要する。また、流体試料の粘度を
広い温度範囲にわたって逐次測定しようとする場合は、
恒温槽の設定温度の変更とあいまって同試料の現実の温
度を推定することが困難となるという問題点があった。
設定するには長時間を要する。また、流体試料の粘度を
広い温度範囲にわたって逐次測定しようとする場合は、
恒温槽の設定温度の変更とあいまって同試料の現実の温
度を推定することが困難となるという問題点があった。
例えば、用田裕部著; 「粘度」、改訂版;コロナ社出
版、日本;1983年;41頁に述べられているように
、毛細管粘度計においては恒温槽の液体洛中に該粘度計
を浸漬し、その液体浴温度を該粘度計内の流体試料の温
度とみなしている。しかし、試料によって熱伝導率が異
なるにもかかわらず試料の温度を直接測定できないため
、試料の粘度と温度との関係を求めるのに長時間を要す
る。
版、日本;1983年;41頁に述べられているように
、毛細管粘度計においては恒温槽の液体洛中に該粘度計
を浸漬し、その液体浴温度を該粘度計内の流体試料の温
度とみなしている。しかし、試料によって熱伝導率が異
なるにもかかわらず試料の温度を直接測定できないため
、試料の粘度と温度との関係を求めるのに長時間を要す
る。
また、上記専門書の第109 =、 110頁に述べら
れているように、回転粘度計では試料容器を水ジャケッ
トで囲み、外部に設置した恒温槽の水バスより水をジャ
ケットに循環させて試料温度を制御している。この場合
、温度制御は恒温槽内の水について行なっているか、試
料の温度を恒温槽の温度制御にフィードバックさせてい
ないため、試料温度を所望の設定温度に持ち来すのが容
易でないという問題点があった。
れているように、回転粘度計では試料容器を水ジャケッ
トで囲み、外部に設置した恒温槽の水バスより水をジャ
ケットに循環させて試料温度を制御している。この場合
、温度制御は恒温槽内の水について行なっているか、試
料の温度を恒温槽の温度制御にフィードバックさせてい
ないため、試料温度を所望の設定温度に持ち来すのが容
易でないという問題点があった。
(課題に解決するための手段)
本発明は前記従来技術の問題点の解消を目的とするもの
である。
である。
本発明者らは、先に新規な音叉振動型粘度計を発明し、
これを特開昭59−107236及び1988年3月8
日発行のアメリカ特許箱4729237に開示した。本
発明は、この粘度計の使用に際して流体試料の温度制御
を精密かつ迅速に行ないたいという動機からなされた。
これを特開昭59−107236及び1988年3月8
日発行のアメリカ特許箱4729237に開示した。本
発明は、この粘度計の使用に際して流体試料の温度制御
を精密かつ迅速に行ないたいという動機からなされた。
本発明゛は流体試料の粘度測定に際し、流体試料の温度
を検出し、その検出温度を恒温槽の温度制御にフィード
バックさせ、さらに、恒温槽の温度をPID制御(比例
+積分十微分制御)するという温度制御手段を提供する
ものである。
を検出し、その検出温度を恒温槽の温度制御にフィード
バックさせ、さらに、恒温槽の温度をPID制御(比例
+積分十微分制御)するという温度制御手段を提供する
ものである。
本発明によれば、広い温度範囲にわたって流体試料の温
度を効果的かつ速やかに所望の設定値に持ち来すことが
できる。
度を効果的かつ速やかに所望の設定値に持ち来すことが
できる。
本発明は液体浴中の流体試料の温度を制御する手段であ
って、以下の構成要素から成る。即ち、 (a)液体浴中の流体試料の温度を測定する第1手段と
; (b)所望の試料温度と前記の測定された試料温度との
差を求める第2手段と; (C)前記第2手段によって求めた前記温度差の絶対値
が予め定めた値よりも大きい場合には該温度差の第1関
数式によって、また、前記第2手段によって求めた前記
温度差の絶対値が当該予定値よりも大きくない場合には
該温度差の第2関数式によって所望の浴温度を法定する
第3手段と; (d)前記の所望浴温度と所望試料温度との差を求める
第4手段と; (e)前記第4手段によって求めた前記温度差が成る与
えられた値を越える場合には前記の所望試料温度プラス
当該与えられた値となるように、また、前記第4手段に
よって求めた前記温度差が当該与えられた値の負数以下
の場合には前記の所望試料温度マイナス当該与えられた
値となるように、前記第3手段によって決定された前記
の所望浴温度を制限する第5手段と; (f)浴温度を測定する第6手段と; (g)前記の第3手段と第5手段とから決定された前記
の所望浴温度と前記の測定された浴温度との差を求める
第7手段と;並びに、(h)前記第7手段によって求め
られた温度差がゼロどなるように当該温度差の関数とし
て前記液体浴を加熱・冷却する手段と、 から成る恒温槽による流体試料温度制御装置を特徴とす
るものである。
って、以下の構成要素から成る。即ち、 (a)液体浴中の流体試料の温度を測定する第1手段と
; (b)所望の試料温度と前記の測定された試料温度との
差を求める第2手段と; (C)前記第2手段によって求めた前記温度差の絶対値
が予め定めた値よりも大きい場合には該温度差の第1関
数式によって、また、前記第2手段によって求めた前記
温度差の絶対値が当該予定値よりも大きくない場合には
該温度差の第2関数式によって所望の浴温度を法定する
第3手段と; (d)前記の所望浴温度と所望試料温度との差を求める
第4手段と; (e)前記第4手段によって求めた前記温度差が成る与
えられた値を越える場合には前記の所望試料温度プラス
当該与えられた値となるように、また、前記第4手段に
よって求めた前記温度差が当該与えられた値の負数以下
の場合には前記の所望試料温度マイナス当該与えられた
値となるように、前記第3手段によって決定された前記
の所望浴温度を制限する第5手段と; (f)浴温度を測定する第6手段と; (g)前記の第3手段と第5手段とから決定された前記
の所望浴温度と前記の測定された浴温度との差を求める
第7手段と;並びに、(h)前記第7手段によって求め
られた温度差がゼロどなるように当該温度差の関数とし
て前記液体浴を加熱・冷却する手段と、 から成る恒温槽による流体試料温度制御装置を特徴とす
るものである。
(実施例)
第1図に於て、粘度を泗定すべき流体試料3は試料容器
4に収容されて恒温槽1の液体浴8に浸漬されている。
4に収容されて恒温槽1の液体浴8に浸漬されている。
粘度検知器2の粘度センサ及び第1温度計11の感温部
は流体試料3中に浸漬されており、ここに、粘度検知器
2と第1温度計11はスタンド5に固定されている。
は流体試料3中に浸漬されており、ここに、粘度検知器
2と第1温度計11はスタンド5に固定されている。
検知器2と温度計11で測定された流体試料の温度と粘
度はそれぞれ記録計7によってカウントされ表示される
。記録計7は流体試料3の検知温度に相当する出力信号
を発し、この信号を恒温槽1の温度制御装置6に入力す
る。
度はそれぞれ記録計7によってカウントされ表示される
。記録計7は流体試料3の検知温度に相当する出力信号
を発し、この信号を恒温槽1の温度制御装置6に入力す
る。
第2図に於て、第1温度計11は流体試料3の温度を検
知し、この第1温度計に取り付けられた伝送器12は流
体試料3の検知温度に相当する出力信号(以後、第1出
力信号という)を発し、この信号を第1調節器13に入
力する。
知し、この第1温度計に取り付けられた伝送器12は流
体試料3の検知温度に相当する出力信号(以後、第1出
力信号という)を発し、この信号を第1調節器13に入
力する。
第1温度計11としては好ましくは、白金抵抗線若しく
はサーミスタから成る抵抗温度計または熱雷対温度計か
用いられる。流体試料3の温度の所望設定点は予め人力
器14によって第1調節器13に入力しておく。第1調
節器13は流体試料温度の所望設定点と検出値(時間と
共に変化)との差の関数として表される第1及び第2演
算式のうちの1つに従って、液体浴8の温度の設定点を
計算する。第1及び第2演算式は後はど詳細に説明する
。第1調節器13は2つの演算回路の各々によってそれ
ぞれ計算された液体浴数定温度に相当する第1及び第2
調節信号のうちの1つを発しこれを第2調節器17に入
力する。第2温度計15は液体浴8の温度を検知し、こ
の温度計に取り付けられた伝送器16は液体浴8の検知
温度に相当する出力信号(以後、第2出力信号という)
を発しこれを第2調節器に入力する。第2調節器17は
この第2呂力信号と前記の入力された調節信号とのレベ
ル差に相当する動作信号を形成し、加熱・冷却手段18
の操作をPID制御するためにこの動作信号に基づいて
形成されたPID調節信号を発生する。加熱・冷却手段
18はこのPID調節信号に応答して液体浴8を加熱又
は冷却する。
はサーミスタから成る抵抗温度計または熱雷対温度計か
用いられる。流体試料3の温度の所望設定点は予め人力
器14によって第1調節器13に入力しておく。第1調
節器13は流体試料温度の所望設定点と検出値(時間と
共に変化)との差の関数として表される第1及び第2演
算式のうちの1つに従って、液体浴8の温度の設定点を
計算する。第1及び第2演算式は後はど詳細に説明する
。第1調節器13は2つの演算回路の各々によってそれ
ぞれ計算された液体浴数定温度に相当する第1及び第2
調節信号のうちの1つを発しこれを第2調節器17に入
力する。第2温度計15は液体浴8の温度を検知し、こ
の温度計に取り付けられた伝送器16は液体浴8の検知
温度に相当する出力信号(以後、第2出力信号という)
を発しこれを第2調節器に入力する。第2調節器17は
この第2呂力信号と前記の入力された調節信号とのレベ
ル差に相当する動作信号を形成し、加熱・冷却手段18
の操作をPID制御するためにこの動作信号に基づいて
形成されたPID調節信号を発生する。加熱・冷却手段
18はこのPID調節信号に応答して液体浴8を加熱又
は冷却する。
多数の実験の結果として、前記の第1及び第2演算式は
流体試料の設定温度と検出温度との差の絶対値が予め定
めた温度値、例えば2°Cを越える場合に及びこの絶対
値が当該予定温度値に等しいか又はそれ以下の場合に、
それぞれ実行されることが好ましいと判明した。さらに
、好ましくは下記の一般式(1)と(2)がそれぞれ第
1演算式及び第2演算式として用いられる。
流体試料の設定温度と検出温度との差の絶対値が予め定
めた温度値、例えば2°Cを越える場合に及びこの絶対
値が当該予定温度値に等しいか又はそれ以下の場合に、
それぞれ実行されることが好ましいと判明した。さらに
、好ましくは下記の一般式(1)と(2)がそれぞれ第
1演算式及び第2演算式として用いられる。
Tb5=Ts+KpX (Ts−Ms(i))
(1)及び、 Tbs = Ts + Kp X (Ts −Ms (
i))+τXK4XΣ’4=o (Ts−Ms+、>
) (2)ここに、Tbsは液体浴の設定温度で
あり、Tsは流体試料の所望設定温度てあり、では液体
浴の設定温度決定の相次く繰返しの時間間隔として定義
される制御周期であり、Ms(」>とMS(jlは本温
度制御手段の操作開始後における制御周期の1一番目及
びJ一番目の繰返し中におけるそ才tそれの流体試料検
出温度であり、Kpは比例定数であり、K工は積分定数
である。Kp及びに工の値は、恒温槽、浴媒体、流体試
料容器その他を予め選択・採用した上でなされた温度制
御実験の結果から求めておく。上記の式から理解される
ように、液体浴の設定温度は流体試料の検出温度の変化
に応して変化する。
(1)及び、 Tbs = Ts + Kp X (Ts −Ms (
i))+τXK4XΣ’4=o (Ts−Ms+、>
) (2)ここに、Tbsは液体浴の設定温度で
あり、Tsは流体試料の所望設定温度てあり、では液体
浴の設定温度決定の相次く繰返しの時間間隔として定義
される制御周期であり、Ms(」>とMS(jlは本温
度制御手段の操作開始後における制御周期の1一番目及
びJ一番目の繰返し中におけるそ才tそれの流体試料検
出温度であり、Kpは比例定数であり、K工は積分定数
である。Kp及びに工の値は、恒温槽、浴媒体、流体試
料容器その他を予め選択・採用した上でなされた温度制
御実験の結果から求めておく。上記の式から理解される
ように、液体浴の設定温度は流体試料の検出温度の変化
に応して変化する。
本発明に於ては、好ましくは、第1及び第2調節器の働
きはこれらの働きをなすようにプログラムされたマイク
ロコンピュータによって実行される。これらの働きを遂
行するルーチンのフローチャートを第3(a)図及び第
3(b)図に示す。プログラムはこのルーチンを一定時
間間隔で繰返し行なうように設計されている。
きはこれらの働きをなすようにプログラムされたマイク
ロコンピュータによって実行される。これらの働きを遂
行するルーチンのフローチャートを第3(a)図及び第
3(b)図に示す。プログラムはこのルーチンを一定時
間間隔で繰返し行なうように設計されている。
第3(a)図に於て、ルーチンの各繰返しはステップ5
0に始まりステップ60に終わる。以後、ルーチンの各
ステップを簡潔に説明するため、用語パ温度値″、″設
定温度″、″温度偏差″等はこれらに相当する電気信号
レベルをそれぞれ意味するものとして使用する。ステッ
プ51において、液体系8の温度の測定値Tbmは第2
温度計15から与えられる。ステップ52て、ルーチン
の現在のn一番目の繰返しにおける液体浴温度偏差値E
b+n)が、前の(i −1)一番目の制御周期におい
て後記のステップ80または83で決定済みの液体浴数
定温度Tbsからステップ51で丁度与えられた値Tb
mを差し引いた値として決定される。ステップ53で、
丁度ステップ52で決定された現在の液体浴温度偏差値
Eb(n)と及びルーチンの前の(n −1)一番目の
繰返しにおいてステップ54で計算された前の液体浴温
度偏差値Eb(n−11とを用いて、制御力PをPID
アルゴリズムによって計算する。
0に始まりステップ60に終わる。以後、ルーチンの各
ステップを簡潔に説明するため、用語パ温度値″、″設
定温度″、″温度偏差″等はこれらに相当する電気信号
レベルをそれぞれ意味するものとして使用する。ステッ
プ51において、液体系8の温度の測定値Tbmは第2
温度計15から与えられる。ステップ52て、ルーチン
の現在のn一番目の繰返しにおける液体浴温度偏差値E
b+n)が、前の(i −1)一番目の制御周期におい
て後記のステップ80または83で決定済みの液体浴数
定温度Tbsからステップ51で丁度与えられた値Tb
mを差し引いた値として決定される。ステップ53で、
丁度ステップ52で決定された現在の液体浴温度偏差値
Eb(n)と及びルーチンの前の(n −1)一番目の
繰返しにおいてステップ54で計算された前の液体浴温
度偏差値Eb(n−11とを用いて、制御力PをPID
アルゴリズムによって計算する。
このようにして得た制御力Pは加熱・冷却手段18に送
られ1手段18の操作は制御力Pに従って制御される。
られ1手段18の操作は制御力Pに従って制御される。
ステップ54で次の(n+1)一番目の繰返しにおいて
使用すへ< 、 Eb(n−1)の値に新たに値Eb(
n)に等し、く設定する。ステップ55で繰返し数nを
カウンターで1だけ増加させる。ステップ56で繰返し
数かセロからnとなるまてに経過する時間とし2て定義
される制御時間をタイマーで計測する。ステップ57で
この制御時間が前記の予め定めた制御周期で、例えば1
0秒に等しいかそれともてに達していないかを点検する
。そして、この制御時間がτに達していない場合には、
プログラムはステップ58及び第3(b)図のフローチ
ャートに示されるサブルーチン59を飛び越してステッ
プ60で終わる。プログラムは制御時間が制御周期τ、
例えば10秒に達するまでステップ50と57の間を繰
り返す。しかし、制御時間がてに等しくなるとルーチン
はステップ58に入る。
使用すへ< 、 Eb(n−1)の値に新たに値Eb(
n)に等し、く設定する。ステップ55で繰返し数nを
カウンターで1だけ増加させる。ステップ56で繰返し
数かセロからnとなるまてに経過する時間とし2て定義
される制御時間をタイマーで計測する。ステップ57で
この制御時間が前記の予め定めた制御周期で、例えば1
0秒に等しいかそれともてに達していないかを点検する
。そして、この制御時間がτに達していない場合には、
プログラムはステップ58及び第3(b)図のフローチ
ャートに示されるサブルーチン59を飛び越してステッ
プ60で終わる。プログラムは制御時間が制御周期τ、
例えば10秒に達するまでステップ50と57の間を繰
り返す。しかし、制御時間がてに等しくなるとルーチン
はステップ58に入る。
ステップ58では制御時間が制御周期τに達した後、タ
イマーによる制御時間の計算をクリヤーする。即ち、タ
イマーはルーチンの次の繰返しセットにおいて制御時間
を新たに計測するため再びゼロに設定する。それから、
サブルーチン59が第3(b)図に示すようにステップ
70で開始される。
イマーによる制御時間の計算をクリヤーする。即ち、タ
イマーはルーチンの次の繰返しセットにおいて制御時間
を新たに計測するため再びゼロに設定する。それから、
サブルーチン59が第3(b)図に示すようにステップ
70で開始される。
ステップ56のタイマーが制御周期τ、例えば10秒を
カウントする度毎にサブルーチンが実施される。ステッ
プ71で流体試料3の温度の測定値Ms (i)が第1
温度計11から与えられる。ステップ72において、ス
テップ56で計測された現在の1一番目の制御周期中に
おける流体試料温度偏差値Es (j)が、本制御系の
オペレータによって決定済みの試料設定温度Tsからス
テップ71で丁度与えられた値Mstj)を差し引いた
値として決定される。ステップ73でjを制御周期の繰
返し数としてjがゼロからjまで増加するまでの試料温
度偏差値Es(J)の積算値l5(i)が決定される。
カウントする度毎にサブルーチンが実施される。ステッ
プ71で流体試料3の温度の測定値Ms (i)が第1
温度計11から与えられる。ステップ72において、ス
テップ56で計測された現在の1一番目の制御周期中に
おける流体試料温度偏差値Es (j)が、本制御系の
オペレータによって決定済みの試料設定温度Tsからス
テップ71で丁度与えられた値Mstj)を差し引いた
値として決定される。ステップ73でjを制御周期の繰
返し数としてjがゼロからjまで増加するまでの試料温
度偏差値Es(J)の積算値l5(i)が決定される。
ステップ74においてステップ72で計算された試料温
度偏差値の絶対値IEs (i)lが予め定めた温度値
例えば2℃を越えているか否かを点検する。この値IE
s(i) 1が例えば2°Cを越える場合は、サブルー
チンはステップ75に入る。他方、この値か2°C以下
の場合は、サブルーチンはステップ78に入る。
度偏差値の絶対値IEs (i)lが予め定めた温度値
例えば2℃を越えているか否かを点検する。この値IE
s(i) 1が例えば2°Cを越える場合は、サブルー
チンはステップ75に入る。他方、この値か2°C以下
の場合は、サブルーチンはステップ78に入る。
ステップ75では、値IEs(j)1か2℃を越える場
合、ステップ73で求めた積算値1s(j)はクリヤー
される。ステップ75に続き比例項KpXEs (1)
がステップ76で決定されるが、ここで定数Kpは先に
定められている。ステップ77てはIEs山1が2℃を
越える場合、系膜定温度Tbsをステップ76で求めた
比例項に試料設定温度Tsを加えた値として定める。そ
れからTbsとTsとの温度差をステップ81で求め、
ステップ82でこの差を与えられた温度値、例えば5℃
と比較する。他方、値1Es(i+lがステップ74で
2℃を越えていないことが判明した場合には、積分項で
×にxXTscj)をステップ78で求めるが、ここに
定数に、は先に決定済みである。ステップ78に続き比
例項Kp X Es (iンをまたステップ79で求め
る。ステップ80で現在の」〜番目の制御周期における
系膜定温度Tbsがステップ78とステップ79で求め
た各項の和に試料設定温度Tsを加えた値として決定さ
れる。ステップ81で温度差Δ丁が現在の畜殺定温度T
bsから試料設定温度Tsを差し引いて求められる。ス
テップ82で前記の温度差の絶対値1ΔT1が予め定め
た温度値、例えば5°Cを越えているか否かを点検する
。これが5°Cを越えている場合には、サブルーチンは
ステップ83に入る。他方5°C以下の場合は、サブル
ーチンはステップ83を飛び越して直接ステップ84に
入る。ステップ83では絶対値lΔTlがステップ81
て5°Cを越えていることが判明した後、ステップ80
におけるTbsの現実の計算結果を無視して、Tbsの
値を新たに(Ts+5)又は(Ts−5)の値に等しい
と設定する。他方、値1ΔTlがステップ82で5°C
以下であることが判明した場合は、現在の畜殺定温度T
bsはステップ80で既に求めた値そのものとする。か
かる選択行為は恒温槽1の温度制御の過渡期における試
料設定温度Tsに対する液体浴温度Tbmの好ましから
ざるオバーシュート又はアンダーシュートを回避するだ
めに採用される。ステップ84でルーチンの繰返し数n
を計数するカウンターをゼロに設定する。それからサブ
ルーチンがステップ85で終わりルーチンがステップ6
0で終わる。
合、ステップ73で求めた積算値1s(j)はクリヤー
される。ステップ75に続き比例項KpXEs (1)
がステップ76で決定されるが、ここで定数Kpは先に
定められている。ステップ77てはIEs山1が2℃を
越える場合、系膜定温度Tbsをステップ76で求めた
比例項に試料設定温度Tsを加えた値として定める。そ
れからTbsとTsとの温度差をステップ81で求め、
ステップ82でこの差を与えられた温度値、例えば5℃
と比較する。他方、値1Es(i+lがステップ74で
2℃を越えていないことが判明した場合には、積分項で
×にxXTscj)をステップ78で求めるが、ここに
定数に、は先に決定済みである。ステップ78に続き比
例項Kp X Es (iンをまたステップ79で求め
る。ステップ80で現在の」〜番目の制御周期における
系膜定温度Tbsがステップ78とステップ79で求め
た各項の和に試料設定温度Tsを加えた値として決定さ
れる。ステップ81で温度差Δ丁が現在の畜殺定温度T
bsから試料設定温度Tsを差し引いて求められる。ス
テップ82で前記の温度差の絶対値1ΔT1が予め定め
た温度値、例えば5°Cを越えているか否かを点検する
。これが5°Cを越えている場合には、サブルーチンは
ステップ83に入る。他方5°C以下の場合は、サブル
ーチンはステップ83を飛び越して直接ステップ84に
入る。ステップ83では絶対値lΔTlがステップ81
て5°Cを越えていることが判明した後、ステップ80
におけるTbsの現実の計算結果を無視して、Tbsの
値を新たに(Ts+5)又は(Ts−5)の値に等しい
と設定する。他方、値1ΔTlがステップ82で5°C
以下であることが判明した場合は、現在の畜殺定温度T
bsはステップ80で既に求めた値そのものとする。か
かる選択行為は恒温槽1の温度制御の過渡期における試
料設定温度Tsに対する液体浴温度Tbmの好ましから
ざるオバーシュート又はアンダーシュートを回避するだ
めに採用される。ステップ84でルーチンの繰返し数n
を計数するカウンターをゼロに設定する。それからサブ
ルーチンがステップ85で終わりルーチンがステップ6
0で終わる。
第3(b)図に示され、また前記したように、ステップ
72て求めた試料温度偏差か例えば+2°C以上または
一2℃以下の場合には、プログラムはステップ78−8
0を飛び越し、代ってステップ75−77および81を
実施する。かかる選択手続きは流体試料温度が試料設定
温度に迅速に接近できるように液体浴8を加熱又は冷却
すへく、第2調節器を介して加熱・冷却手段18を効果
的に制御するため用意された。
72て求めた試料温度偏差か例えば+2°C以上または
一2℃以下の場合には、プログラムはステップ78−8
0を飛び越し、代ってステップ75−77および81を
実施する。かかる選択手続きは流体試料温度が試料設定
温度に迅速に接近できるように液体浴8を加熱又は冷却
すへく、第2調節器を介して加熱・冷却手段18を効果
的に制御するため用意された。
次に、本発明の温度制御手段を用いて行った温度制御実
験の結果を第4図−第6図について説明する。第4図−
第6図でAは流体試料の設定温度である。Bは流体試料
の測定温度であり、Cは前記の第1調節器で計算された
液体浴数定温度であり、及びDは該液体浴の測定温度で
ある。これら温度A−Dはコンピュータで追跡された。
験の結果を第4図−第6図について説明する。第4図−
第6図でAは流体試料の設定温度である。Bは流体試料
の測定温度であり、Cは前記の第1調節器で計算された
液体浴数定温度であり、及びDは該液体浴の測定温度で
ある。これら温度A−Dはコンピュータで追跡された。
第4図に示すように、比較的高粘度の油状液体である流
体試料の温度Bは、約35分後に30°Cの設定点Aに
調節され、以後一定に保たれる。第5図、第6図は第4
図に結果を示した実験で使用した流体試料に比へて粘度
が低く、かつ、熱伝導率が高い流体試料を用いて得た実
験結果を示す。第4図−第6図に示すように各実験の初
期段階において液体浴の設定温度Cは第3 (b)図に
示す温度制御プログラムに従い、流体試料の設定温度よ
り5℃だけ高いか又は低いように調節されている。
体試料の温度Bは、約35分後に30°Cの設定点Aに
調節され、以後一定に保たれる。第5図、第6図は第4
図に結果を示した実験で使用した流体試料に比へて粘度
が低く、かつ、熱伝導率が高い流体試料を用いて得た実
験結果を示す。第4図−第6図に示すように各実験の初
期段階において液体浴の設定温度Cは第3 (b)図に
示す温度制御プログラムに従い、流体試料の設定温度よ
り5℃だけ高いか又は低いように調節されている。
流体試料の設定温度と測定温度との差に基づいて第2調
節器17に形成したPID調節信号に従って加熱・冷却
手段18の操作を制御した場合の実験結果を第7図に示
す。この実験では第1調節器13は使用せず、流体試料
の設定温度と測定温度にそれぞれ相当する信号を直接第
2調節器に入力し、液体浴の測定温度は第2調節器にフ
ィードバックさせていない。第7図に示すように液体浴
温度りは経時的にかなりの動揺を繰返し、このため、流
体試料温度Bもまたかなりの応答の遅れをもって波打ち
、長時間後もその設定点に接近しない。
節器17に形成したPID調節信号に従って加熱・冷却
手段18の操作を制御した場合の実験結果を第7図に示
す。この実験では第1調節器13は使用せず、流体試料
の設定温度と測定温度にそれぞれ相当する信号を直接第
2調節器に入力し、液体浴の測定温度は第2調節器にフ
ィードバックさせていない。第7図に示すように液体浴
温度りは経時的にかなりの動揺を繰返し、このため、流
体試料温度Bもまたかなりの応答の遅れをもって波打ち
、長時間後もその設定点に接近しない。
(効 果)
本発明によると、液体洛中の流体試料の温度を制御する
手段であって、(a)液体浴中の流体試料の温度を測定
するための第1手段と、(b)希望試料温度と前記の測
定された試料温度との差を決定するための第2手段と、
(c)前記第2手段によって決定された前記差の絶対値
が予め定められた値を越える場合には前記第2手段によ
って決定された前記差の第1関数に従って、また、前記
第2手段によって決定された前記差の絶対値が前記予定
値以内にある場合には前記第2手段によって決定された
前記差の第2関数に従って、それぞれ希望浴温度を決定
するための第3手段と、(d)前記希望浴温度と前記希
望試料温度との差を決定するための第4手段と、(e)
前記第3手段によって決定された前記希望浴温度を、前
記第4手段によって決定された前記差が成る与えられた
値を越える場合には前記希望試料温度とこの与えられた
値との和とするように、又、前記第4手段によって決定
された前記差がこの与えられた値の負数以下である場合
には前記希望試料温度からこの与えられた値を差し引い
た値とするように、それぞれ制限するための第5手段と
、(f)前記浴温度を測定するための第6手段と、(g
)前記の第3と第5手段によって決定された前記希望浴
温度と前記の測定された浴温度との差を決定するための
第7手段と、並びに、(h)前記第7手段によって決定
された前記差の関数としてこの差がゼロとなるように、
前記液体浴を加熱・冷却するための手段とから成ってい
るので、恒温槽の浴温度と液体試料温度を広い温度範囲
にわたって効果的に制御でき、試料温度を容易に所望の
設定温度とすることができる。
手段であって、(a)液体浴中の流体試料の温度を測定
するための第1手段と、(b)希望試料温度と前記の測
定された試料温度との差を決定するための第2手段と、
(c)前記第2手段によって決定された前記差の絶対値
が予め定められた値を越える場合には前記第2手段によ
って決定された前記差の第1関数に従って、また、前記
第2手段によって決定された前記差の絶対値が前記予定
値以内にある場合には前記第2手段によって決定された
前記差の第2関数に従って、それぞれ希望浴温度を決定
するための第3手段と、(d)前記希望浴温度と前記希
望試料温度との差を決定するための第4手段と、(e)
前記第3手段によって決定された前記希望浴温度を、前
記第4手段によって決定された前記差が成る与えられた
値を越える場合には前記希望試料温度とこの与えられた
値との和とするように、又、前記第4手段によって決定
された前記差がこの与えられた値の負数以下である場合
には前記希望試料温度からこの与えられた値を差し引い
た値とするように、それぞれ制限するための第5手段と
、(f)前記浴温度を測定するための第6手段と、(g
)前記の第3と第5手段によって決定された前記希望浴
温度と前記の測定された浴温度との差を決定するための
第7手段と、並びに、(h)前記第7手段によって決定
された前記差の関数としてこの差がゼロとなるように、
前記液体浴を加熱・冷却するための手段とから成ってい
るので、恒温槽の浴温度と液体試料温度を広い温度範囲
にわたって効果的に制御でき、試料温度を容易に所望の
設定温度とすることができる。
第1図は本発明の温度制御手段を具備した粘度測定用恒
温槽の外観図、第2図は本発明の温度制御手段の計装フ
ローシート、第3(a)図は本発明の温度制御手段の好
適なソフトウェアプログラムのルーチン・フローチャー
ト、第3(b)図は第3(a)図のルーチンに用いられ
た好適なサブルーチンのフローチャート、第4図は本発
明による液体浴と流体試料の各温度の制御の実験結果を
示すグラフ、第5図及び第6図は本発明による液体浴と
流体試料の各温度の制御の別の2つの実験結果を示すグ
ラフ、第7図は本イ4F温度制御手段において第1制御
器を使用せずに流体試料温度の設定点と測定値を第2調
節器に直接フィードバックさせるという条件下で、液体
浴を加熱及び冷却した場合の実験結果を示すグラフであ
る。 1・・・恒温槽 3・・流体試料 5・・・スタンド 7・・記録計 11・・・温度計 13・・・第1調節器 2・・・粘度検知器 4・・試料容器 6・温度制御装置 8・・液体浴 12・・伝送器 14・・入力器 15・・第2温度計 17・・第2調節器 16・・伝送器 18・加熱・冷却手段 特許畠願人 秩父セメント株式会社
温槽の外観図、第2図は本発明の温度制御手段の計装フ
ローシート、第3(a)図は本発明の温度制御手段の好
適なソフトウェアプログラムのルーチン・フローチャー
ト、第3(b)図は第3(a)図のルーチンに用いられ
た好適なサブルーチンのフローチャート、第4図は本発
明による液体浴と流体試料の各温度の制御の実験結果を
示すグラフ、第5図及び第6図は本発明による液体浴と
流体試料の各温度の制御の別の2つの実験結果を示すグ
ラフ、第7図は本イ4F温度制御手段において第1制御
器を使用せずに流体試料温度の設定点と測定値を第2調
節器に直接フィードバックさせるという条件下で、液体
浴を加熱及び冷却した場合の実験結果を示すグラフであ
る。 1・・・恒温槽 3・・流体試料 5・・・スタンド 7・・記録計 11・・・温度計 13・・・第1調節器 2・・・粘度検知器 4・・試料容器 6・温度制御装置 8・・液体浴 12・・伝送器 14・・入力器 15・・第2温度計 17・・第2調節器 16・・伝送器 18・加熱・冷却手段 特許畠願人 秩父セメント株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 液体浴中の流体試料の温度を制御する手段であって; (a)液体浴中の流体試料の温度を測定するための第1
手段と; (b)希望試料温度と前記の測定された試料温度との差
を決定するための第2手段と; (c)前記第2手段によって決定された前記差の絶対値
が予め定められた値を越える場合には前記第2手段によ
って決定された前記差の第1関数に従って、また、前記
第2手段によって決定された前記差の絶対値が前記予定
値以内にある場合には前記第2手段によって決定された
前記差の第2関数に従って、それぞれ希望浴温度を決定
するための第3手段と; (d)前記希望浴温度と前記希望試料温度との差を決定
するための第4手段と; (e)前記第3手段によって決定された前記希望浴温度
を、前記第4手段によって決定された前記差が或る与え
られた値を越える場合には前記希望試料温度とこの与え
られた値との和とするように、又、前記第4手段によっ
て決定された前記差がこの与えられた値の負数以下であ
る場合には前記希望試料温度からこの与えられた値を差
し引いた値とするように、それぞれ制限するための第5
手段と; (f)前記浴温度を測定するための第6手段と;(g)
前記の第3と第5手段によって決定された前記希望浴温
度と前記の測定された浴温度との差を決定するための第
7手段と;並びに、 (h)前記第7手段によって決定された前記差の関数と
してこの差がゼロとなるように、前記液体浴を加熱・冷
却するための手段と; から成る恒温槽による流体試料温度制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2195740A JPH0675682B2 (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 恒温槽による流体試料温度制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2195740A JPH0675682B2 (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 恒温槽による流体試料温度制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0481638A true JPH0481638A (ja) | 1992-03-16 |
JPH0675682B2 JPH0675682B2 (ja) | 1994-09-28 |
Family
ID=16346180
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2195740A Expired - Fee Related JPH0675682B2 (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 恒温槽による流体試料温度制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0675682B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007237138A (ja) * | 2006-03-13 | 2007-09-20 | Equos Research Co Ltd | 酸素富化膜、酸素富化装置及び酸素富化方法 |
JP2008018338A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Equos Research Co Ltd | 酸素富化膜及び酸素富化膜の製造方法 |
CN108427450A (zh) * | 2018-03-19 | 2018-08-21 | 运城学院 | 一种无机化学实验温度实时监控装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52136436A (en) * | 1976-05-10 | 1977-11-15 | Toyo Sanso Kk | Cooling method |
-
1990
- 1990-07-24 JP JP2195740A patent/JPH0675682B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52136436A (en) * | 1976-05-10 | 1977-11-15 | Toyo Sanso Kk | Cooling method |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007237138A (ja) * | 2006-03-13 | 2007-09-20 | Equos Research Co Ltd | 酸素富化膜、酸素富化装置及び酸素富化方法 |
JP2008018338A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Equos Research Co Ltd | 酸素富化膜及び酸素富化膜の製造方法 |
CN108427450A (zh) * | 2018-03-19 | 2018-08-21 | 运城学院 | 一种无机化学实验温度实时监控装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0675682B2 (ja) | 1994-09-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |