JPH0481004A - 信号発生装置 - Google Patents
信号発生装置Info
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- JPH0481004A JPH0481004A JP19222590A JP19222590A JPH0481004A JP H0481004 A JPH0481004 A JP H0481004A JP 19222590 A JP19222590 A JP 19222590A JP 19222590 A JP19222590 A JP 19222590A JP H0481004 A JPH0481004 A JP H0481004A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、信号発生装置に関するものであり、詳しくは
、D/A変換器で変換されたアナログ信号のレベルを調
整するレベル調整回路の周波数特性の診断に関するもの
である。
、D/A変換器で変換されたアナログ信号のレベルを調
整するレベル調整回路の周波数特性の診断に関するもの
である。
〈従来の技術〉
第3図は従来の信号発生装置の一例を示すブロック図で
ある0図において、D/A変換器1の出力端子にはフィ
ルタ2を介してアッテネータ3およびアンプ4の直列回
路よりなるレベル調整回路5が接続されている。
ある0図において、D/A変換器1の出力端子にはフィ
ルタ2を介してアッテネータ3およびアンプ4の直列回
路よりなるレベル調整回路5が接続されている。
ところで、このような構成において、用途に応じた所望
の出力周波数特性が得られるように、D/A変換器1か
らは出力周波数帯域において平坦な信号を出力させ、レ
ベル調整回路5でフィルタ2の周波数特性を調整するこ
とか行われている。
の出力周波数特性が得られるように、D/A変換器1か
らは出力周波数帯域において平坦な信号を出力させ、レ
ベル調整回路5でフィルタ2の周波数特性を調整するこ
とか行われている。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、このような従来の構成によれは、出力信号の周
波数特性を測定するためには別途レベル測定器を用意し
なければならす、不便である。
波数特性を測定するためには別途レベル測定器を用意し
なければならす、不便である。
本発明は、このような点に着目したものでありその目的
は、比較的簡単な構成で出力周波数特性の測定診断が行
える信号発生装置を提供することにある。
は、比較的簡単な構成で出力周波数特性の測定診断が行
える信号発生装置を提供することにある。
く課題を解決するための手段〉
本発明の信号発生装置は、
出力信号設定データをアナログ信号に変換するD /’
A変換器と、 このD / A変換器の出力信号のレベルを調整するレ
ベル調N口路と、 このレベル調整回路の出力端子を出力信号線と終端抵抗
に選択的に接続する切換スイッチと、これら終端抵抗と
切換スイッチの接続点に接続される検波回路と、 この検波回路の出力信号か710えられるノ\ D変換
器と、 これらり、′A変換器および4八7D変換器が接続され
る演算制御部と、 この演算制御部に接続され、前記レベル調整回路の基準
周波数特性データを格納するメモリとを具備し、 前記演算制御部は前記切換スイッチを終端抵抗側に切り
換えた状態で前記D /’ A変換器の設定周波数を変
化させながら前記A /’ D変換器の出力データを読
み込み、前記メモリに格納された基準周波数特性データ
と比較することを特徴とする。
A変換器と、 このD / A変換器の出力信号のレベルを調整するレ
ベル調N口路と、 このレベル調整回路の出力端子を出力信号線と終端抵抗
に選択的に接続する切換スイッチと、これら終端抵抗と
切換スイッチの接続点に接続される検波回路と、 この検波回路の出力信号か710えられるノ\ D変換
器と、 これらり、′A変換器および4八7D変換器が接続され
る演算制御部と、 この演算制御部に接続され、前記レベル調整回路の基準
周波数特性データを格納するメモリとを具備し、 前記演算制御部は前記切換スイッチを終端抵抗側に切り
換えた状態で前記D /’ A変換器の設定周波数を変
化させながら前記A /’ D変換器の出力データを読
み込み、前記メモリに格納された基準周波数特性データ
と比較することを特徴とする。
〈作用〉
出力信号の周波数測定にあたって、レベル調整回路の出
力信号は切換スイッチを介して終端抵抗に加えられると
ともに、検波回路にも加えられて検波整流される。検波
N流信号はセレクタを介してA/D変換器に加えられて
デジタル信号に変換され、演算制御部に取り込まれる。
力信号は切換スイッチを介して終端抵抗に加えられると
ともに、検波回路にも加えられて検波整流される。検波
N流信号はセレクタを介してA/D変換器に加えられて
デジタル信号に変換され、演算制御部に取り込まれる。
そして、演算制御部は、A/D変換器から加えられる周
波数測定データとメモリに格納されている基準周波数特
性データとを比較して良否を判定する。
波数測定データとメモリに格納されている基準周波数特
性データとを比較して良否を判定する。
〈実施例〉
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、第
3図と同一部分には同一符号を付けている。図において
、レベル調整回路5の出力端子には切換スイッチ6を介
して出力信号線7と終端抵抗8か選択的に接続されてい
る。切換スイッチ6と終端抵抗8の接続点はセレクタ9
および検波回路10に接続されている。検波回路1oに
おいて、検波用のダイオード11のアノードは切換スイ
ッチ6と終端抵抗8とセレクタ9との接続点に接続され
、カソードは平滑用のコンデンサ12と放電用の抵抗1
3を介して接地されるとともにセレクタ9に接続されて
いる。セレクタ9は切換スイッチ6と終端抵抗8の接続
点の電圧、検波信号の他基準電圧VSおよびアース電圧
も選択できるように構成されていて、その出力端子には
A/D変換器14か接続されている。演算制御部(CP
TJ)15はバス16を介してD/A変換器1とレベル
調N回路5とセレクタ9およびA 、’ D変換器14
に接続されている。演算制御部15にはA/D変換器1
4の出力データおよび予め測定されている出力信号の基
準周波数特性データを格納するメモリ17も接続されて
いる。
3図と同一部分には同一符号を付けている。図において
、レベル調整回路5の出力端子には切換スイッチ6を介
して出力信号線7と終端抵抗8か選択的に接続されてい
る。切換スイッチ6と終端抵抗8の接続点はセレクタ9
および検波回路10に接続されている。検波回路1oに
おいて、検波用のダイオード11のアノードは切換スイ
ッチ6と終端抵抗8とセレクタ9との接続点に接続され
、カソードは平滑用のコンデンサ12と放電用の抵抗1
3を介して接地されるとともにセレクタ9に接続されて
いる。セレクタ9は切換スイッチ6と終端抵抗8の接続
点の電圧、検波信号の他基準電圧VSおよびアース電圧
も選択できるように構成されていて、その出力端子には
A/D変換器14か接続されている。演算制御部(CP
TJ)15はバス16を介してD/A変換器1とレベル
調N回路5とセレクタ9およびA 、’ D変換器14
に接続されている。演算制御部15にはA/D変換器1
4の出力データおよび予め測定されている出力信号の基
準周波数特性データを格納するメモリ17も接続されて
いる。
このように構成された装置の動作を説明する。
出力信号の周波数特性の測定にあたっては切換スイッチ
6を終端抵抗811IIに切り換え、セレクタ9で検/
II信号を選択してA 、、′D変換器14に加える。
6を終端抵抗811IIに切り換え、セレクタ9で検/
II信号を選択してA 、、′D変換器14に加える。
一方、演算制御部15はD /’ A変換器1に振幅レ
ベルが平坦(例えばIVp −p )で所望の複数の周
波数の正弦波波形データを選択的に入力するとともに、
各周波数でのA/D変換器14の出力データを読み取っ
てメモリ17に格納されている基準周波数データと比較
照合する。
ベルが平坦(例えばIVp −p )で所望の複数の周
波数の正弦波波形データを選択的に入力するとともに、
各周波数でのA/D変換器14の出力データを読み取っ
てメモリ17に格納されている基準周波数データと比較
照合する。
例えばレベル翻整回H5のフィルタ2として次のような
周波数特性のものを用いるとすると、DC〜IMHz・
・・0±0.1dB 10MHz −−−−3=0.3dB20MH
z −−−−23+0.3dBIMHzから2
0MHzまでI M Hzステップで周波数を変化させ
て各周波数て゛のA /’ D変換器14の出力データ
を読み取るようにする。
周波数特性のものを用いるとすると、DC〜IMHz・
・・0±0.1dB 10MHz −−−−3=0.3dB20MH
z −−−−23+0.3dBIMHzから2
0MHzまでI M Hzステップで周波数を変化させ
て各周波数て゛のA /’ D変換器14の出力データ
を読み取るようにする。
第2図はこのような周波数特性測定状態の理思的な波形
側図であり、細線は検波入力波形を示し、太線は検波出
力波形を示している。(a>は周波数がIMHzの状態
であり、検波出力は最終的には1■になる。(b)は周
波数が10MHzの状態であり、検波入力波形の振幅は
フィルタ2の周波数特性により1■に対して3dB小さ
くなり、検波出力も最終的には3dB小さくなる。(c
)は周波数が20MHzの場合であり、検波入力波形の
振幅はフィルタ2の周波数特性により1vに対して23
dB小さくなり、検波出力も最終的には23dB小さく
なる。演算制御部15に取り込まれたA/D変換器14
の出力レベルデータが各周波数での許容範囲内であれば
判定結果は良、になり、許容範囲外であれば判定結果は
1否、になる。
側図であり、細線は検波入力波形を示し、太線は検波出
力波形を示している。(a>は周波数がIMHzの状態
であり、検波出力は最終的には1■になる。(b)は周
波数が10MHzの状態であり、検波入力波形の振幅は
フィルタ2の周波数特性により1■に対して3dB小さ
くなり、検波出力も最終的には3dB小さくなる。(c
)は周波数が20MHzの場合であり、検波入力波形の
振幅はフィルタ2の周波数特性により1vに対して23
dB小さくなり、検波出力も最終的には23dB小さく
なる。演算制御部15に取り込まれたA/D変換器14
の出力レベルデータが各周波数での許容範囲内であれば
判定結果は良、になり、許容範囲外であれば判定結果は
1否、になる。
このように構成することにより、A 、−” D変換器
14は検波信号をデジタル信号に変換することから、検
波回路10の検波特性による制限は受けるものの、かな
りの高周波信号であっても低速のA/D変換器で測定で
きる。
14は検波信号をデジタル信号に変換することから、検
波回路10の検波特性による制限は受けるものの、かな
りの高周波信号であっても低速のA/D変換器で測定で
きる。
また、必要に応じてセレクタ9で基準電圧VSとアース
電圧を選択することにより、A 、/ D変換器14自
体の特性も校正できる。すなわち、A、′D変換器14
の校正にあたっては、セレクタ9で0■を選択してA
/’ D変換器14の出力データを読み取ってメモリ1
7に格納し、次にセレクタ13でVsを選択してA /
D変換器14の出力ブタを読み取ってメモリ17に格
納する。ここで、Vsは+IVとする。これにより、切
換スイッチ6から加えられる出力信号か0■、±I■に
なった時のA/D変換器14の値に対する校正ができる
。
電圧を選択することにより、A 、/ D変換器14自
体の特性も校正できる。すなわち、A、′D変換器14
の校正にあたっては、セレクタ9で0■を選択してA
/’ D変換器14の出力データを読み取ってメモリ1
7に格納し、次にセレクタ13でVsを選択してA /
D変換器14の出力ブタを読み取ってメモリ17に格
納する。ここで、Vsは+IVとする。これにより、切
換スイッチ6から加えられる出力信号か0■、±I■に
なった時のA/D変換器14の値に対する校正ができる
。
例えば、A/D変換器14の値がOVに対して8003
H(Hハ16 進’Rヲ示T ) トし、】vに対して
FFFOHとすると、A/D変換器14のオフセント誤
差に対する補正データは一0003Hになり、ゲインに
対する補正データは、 FFFr旧’fFFfOH−0003H)になる、すな
わち、A / D変換器14の出力ブタDOに対する補
正後のデータADは、AI)=FFFFH(DO−00
03H)/FFEDIIになる。これらの誤差補正演算
は演算制御部15が行う。
H(Hハ16 進’Rヲ示T ) トし、】vに対して
FFFOHとすると、A/D変換器14のオフセント誤
差に対する補正データは一0003Hになり、ゲインに
対する補正データは、 FFFr旧’fFFfOH−0003H)になる、すな
わち、A / D変換器14の出力ブタDOに対する補
正後のデータADは、AI)=FFFFH(DO−00
03H)/FFEDIIになる。これらの誤差補正演算
は演算制御部15が行う。
このようなA/D変換器14の校正を行うことにより、
精度の高い周波数特性の測定診断か行える。
精度の高い周波数特性の測定診断か行える。
また、上記実施例ではレベル調整回路5全体としての周
波数特性を測定するものとして説明したが、必要に応じ
てアッテネータ3やアンプ4の周波数特性を個別に測定
することもできる。これらの個別測定にあたっては、不
要部分を信号系統から外してその部分を高周波特性の優
れたケーブルなどの接続手段などでバイパスさせればよ
い。
波数特性を測定するものとして説明したが、必要に応じ
てアッテネータ3やアンプ4の周波数特性を個別に測定
することもできる。これらの個別測定にあたっては、不
要部分を信号系統から外してその部分を高周波特性の優
れたケーブルなどの接続手段などでバイパスさせればよ
い。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、比穀的簡単な構
成で出力周波数特性の測定診断が行える信号発生装置が
実現できる。
成で出力周波数特性の測定診断が行える信号発生装置が
実現できる。
第1図は本発明の一実施例を示すブロフク図、第2図は
第1図の動作波形副因、第3図は従来の装置の一例を示
すブロフク図である。 1・・・D/A変換器、2・・・フィルタ、3・・・ア
ッテネータ、4・・・アンプ、5・・・レベル調整回路
、6・・切換スイッチ、8・・・終端抵抗、9・・・セ
レクタ、10・・・検波回路、11・・・ダイオード、
12・・・抵抗、13・・・コンデンサ、14・・・、
A/D変換器、15・・・演算制御部(CPU)、16
・・・バス、17・・・メモ第 図 第 図 第 面 り
第1図の動作波形副因、第3図は従来の装置の一例を示
すブロフク図である。 1・・・D/A変換器、2・・・フィルタ、3・・・ア
ッテネータ、4・・・アンプ、5・・・レベル調整回路
、6・・切換スイッチ、8・・・終端抵抗、9・・・セ
レクタ、10・・・検波回路、11・・・ダイオード、
12・・・抵抗、13・・・コンデンサ、14・・・、
A/D変換器、15・・・演算制御部(CPU)、16
・・・バス、17・・・メモ第 図 第 図 第 面 り
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 出力信号設定データをアナログ信号に変換するD/A変
換器と、 このD/A変換器の出力信号のレベルを調整するレベル
調整回路と、 このレベル調整回路の出力端子を出力信号線と終端抵抗
に選択的に接続する切換スイッチと、これら終端抵抗と
切換スイッチの接続点に接続される検波回路と、 この検波回路の出力信号が加えられるA/D変換器と、 これらD/A変換器およびA/D変換器が接続される演
算制御部と、 この演算制御部に接続され、前記レベル調整回路の基準
周波数特性データを格納するメモリとを具備し、 前記演算制御部は前記切換スイッチを終端抵抗側に切り
換えた状態で前記D/A変換器の設定周波数を変化させ
ながら前記A/D変換器の出力データを読み込み、前記
メモリに格納された基準周波数特性データと比較するこ
とを特徴とする信号発生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19222590A JPH0481004A (ja) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | 信号発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19222590A JPH0481004A (ja) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | 信号発生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0481004A true JPH0481004A (ja) | 1992-03-13 |
Family
ID=16287747
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19222590A Pending JPH0481004A (ja) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | 信号発生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0481004A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010243204A (ja) * | 2009-04-01 | 2010-10-28 | Hioki Ee Corp | 検査装置および測定試料の合否範囲設定方法 |
JP2013223113A (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-28 | Miharu Communications Co Ltd | ノード装置、信号伝送システム、及び、信号伝送システムの変更方法 |
-
1990
- 1990-07-20 JP JP19222590A patent/JPH0481004A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010243204A (ja) * | 2009-04-01 | 2010-10-28 | Hioki Ee Corp | 検査装置および測定試料の合否範囲設定方法 |
JP2013223113A (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-28 | Miharu Communications Co Ltd | ノード装置、信号伝送システム、及び、信号伝送システムの変更方法 |
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