JPH0478935A - Simulation test system for input device - Google Patents

Simulation test system for input device

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JPH0478935A
JPH0478935A JP2192564A JP19256490A JPH0478935A JP H0478935 A JPH0478935 A JP H0478935A JP 2192564 A JP2192564 A JP 2192564A JP 19256490 A JP19256490 A JP 19256490A JP H0478935 A JPH0478935 A JP H0478935A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
input
data
input device
file
Prior art date
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Pending
Application number
JP2192564A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Fumiko Komatsu
文子 小松
Toshibumi Hanada
花田 俊文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
NEC Solution Innovators Ltd
Original Assignee
NEC Corp
NEC Software Kyushu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, NEC Software Kyushu Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP2192564A priority Critical patent/JPH0478935A/en
Publication of JPH0478935A publication Critical patent/JPH0478935A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To execute the test even in the case abnormality cannot be generated actually by replacing a read-in part from an input device with an input device simulation processing, and editing a file of inputted test data, based on a device information file. CONSTITUTION:The system is provided with a test program replacing means 13 for replacing a read-in part from an input device with an input device simulation processing, in the case of testing a program for inputting and executing various data from the input device. Also, this system is provided with a test data input means for generating input data in advance and inputting it onto a test program at the time of test, and a test data editing means 15 for editing a file 12 of its inputted test data, based on a device information file 11 and making it look like being inputted from the input device. In such a way, the test can be executed irrespective of whether a hardware exists or not, and also, various cases of the input data can be executed.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は入力装置のシミュレーションテスト方式に関し
、特に入力装置からデータを入力するプログラム開発に
おいて、その入力装置か準備できない状況下てテストを
行う入力装置のシミュレーションテスト方式に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a simulation test method for input devices, and in particular, in the development of a program that inputs data from an input device, it is an input device that performs a test under a situation where the input device is not ready. This article relates to a simulation test method for equipment.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、入力装置からデータを入力するプログラムテスト
では、シミュレーションを行ったとしてもテストデータ
の内容をそのまま通知するシミュレーション方式であっ
た。
Conventionally, in a program test in which data is input from an input device, even if a simulation is performed, a simulation method is used in which the contents of the test data are reported as they are.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来の入力情報シミュレーションテスト方式で
は、該当するハードウェア環境を整えなければならなか
った。プログラム開発はハードウェア環境整備には依存
せず進める場合が多く、プログラムテストの段階でハー
ドウェア環境が整っていないという問題点が発生し、テ
スト実施時期遅延という欠点があった。
In the conventional input information simulation test method described above, a corresponding hardware environment had to be prepared. In many cases, program development proceeds without depending on the preparation of the hardware environment, and the problem arises that the hardware environment is not prepared at the program testing stage, which has the disadvantage of delaying the test implementation time.

また、該当するハードウェアが整備されたとしても、異
常処理のテストなどでは実際に異常を発生させることか
できないものなとがあり、テス1へ不可能の場合が発生
するという欠点かあった。
Furthermore, even if the relevant hardware is in place, there are cases where it is impossible to actually generate an abnormality in abnormality processing tests, and there are cases where Test 1 is impossible.

〔課頭を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明による入出力装置のシミュレーションテスト方式
は、入力装置から諸データを入力し、実行するプロクラ
ムをテストする場合において、入力装置からの読み込み
部分を、入力装置シミュレーション処理に置換するテス
トプログラム置換手段と、入力データを前もって作成し
ておきテスト時にテストプログラム上に入力するテスト
データ入力手段と、その入力されたテストデータのファ
イルを装置情報ファイルをもとに編集し入力装置から入
力されたように見せかけるテストデータ編集手段とを備
えて構成される。
The input/output device simulation test method according to the present invention includes test program replacement means for replacing the part read from the input device with input device simulation processing when testing a program to be executed by inputting various data from the input device. , a test data input means for creating input data in advance and inputting it into the test program at the time of testing, and editing the input test data file based on the device information file to make it appear as if it was input from the input device. and test data editing means.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明について図面を参照して詳細に説明する。 Next, the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

第1図は本実施例の構成を示すブロック図で、入力装置
のシミュレーションテスト方式を構成する3つの処理と
2つのファイルの関係の全体をブロック図で示したちの
である。装置情報ファイル11及びテストデータファイ
ル12は、既存のファイル作成手段により作られたもの
てあつ、そのファイルな内容の一例は第2図(a)装置
情報ファイル21と第2図(b)のテストチータフアイ
ル22に示される。ここで、装置情報ファイルの例とし
て磁気テープについて示したものか装置情報ファイル2
3であるので、これについて説明する。装置名24には
ファイル見出しの意味を持たせ、装置25は略号を記入
する(ここては装置名か磁気テープ、装置記号か000
1となっている)。要素数26は該当装置のデータを構
成するための必要な要素の種類数を入れ、その数量分の
要素を次に入れる(1・・レコード長、2・・・ブロッ
ク長、3・・・データ形式、・・・・・・)。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of this embodiment. The block diagram shows the entire relationship between three processes and two files that make up the input device simulation test method. The device information file 11 and the test data file 12 are created by existing file creation means, and an example of the file contents is the device information file 21 in FIG. 2(a) and the test in FIG. 2(b). Shown in Cheetah File 22. Here, as an example of the device information file, the one shown for magnetic tape or the device information file 2
3, so this will be explained. The device name 24 should have the meaning of a file heading, and the device 25 should have an abbreviation (here, the device name, magnetic tape, device symbol, or 000) should be entered.
1). For the number of elements 26, enter the number of types of elements necessary to configure the data of the applicable device, and then enter the number of elements next (1...record length, 2...block length, 3...data format,······).

テストデータファイル22ては、1つずつのデータを順
編成で入れておく。このように前もって準備しておくこ
とで、本発明の入力装置のシミュレーションテストは実
行可能となる。第1図のブロック図に示すようにこのシ
ミュレーションテストは、テストプログラム内の入力装
置からの読み込み部分を入力装置シミュレーション処理
に置換するテストプログラム置換手段13と、テストチ
ータフアイル12からテストデータを読み込むテストデ
ータ入力手段14と、そして最後にテストデータ編集手
段15との3つのブロックから成立っている。
The test data file 22 stores data one by one in a sequential format. By preparing in advance in this manner, a simulation test of the input device of the present invention can be executed. As shown in the block diagram of FIG. 1, this simulation test includes a test program replacement means 13 that replaces the part read from the input device in the test program with input device simulation processing, and a test that reads test data from the test cheat file 12. It consists of three blocks: a data input means 14 and finally a test data editing means 15.

テストプログラム置換手段13での、処理置換部分を第
3図に示している。これはテストプログラム31上の、
入力装置からの読み込み処理部分32をシミュレータ3
4に完全に置き換えることを意味し、他の部分33は全
く触らないものとする。
FIG. 3 shows the process replacement part in the test program replacement means 13. This is on test program 31,
The reading processing part 32 from the input device is executed by the simulator 3.
4, and the other part 33 is not touched at all.

テストデータファイル12がら本シミュレータにテスト
データを読み込むテストデータ入力手段14の詳細を第
4図に示す。テストデータ入力手段14は順編成ファイ
ル読み込み処理42として一般的に使用されている手法
をそのまま使用する。そして、簡単に示すとテストデー
タファイル12のデータが存在しなくなるまで1データ
すっ読み込んでいく手法である。
FIG. 4 shows details of the test data input means 14 for reading test data into the simulator from the test data file 12. The test data input means 14 uses the method generally used as the sequential file reading process 42 as is. To put it simply, this is a method of reading one data item at a time until there is no more data in the test data file 12.

次に、テストデータ編集手段]5の処理を第5図に示す
。装置情報ファイル11がら装置情報に関するデータを
装置情報入力処理51で入力する。その情報をもとに、
先に入力しているテストデータを編集するテストデータ
編集処理52を行うことで、入力装置からのシミュレー
ションデータを完成させる。そして、テストプログラム
との整合性をとるために、テストプロクラム整合処理5
3を行う。
Next, the processing of test data editing means]5 is shown in FIG. Data related to device information from the device information file 11 is input in device information input processing 51 . Based on that information,
Simulation data from the input device is completed by performing a test data editing process 52 that edits the test data that has been previously input. Then, in order to ensure consistency with the test program, test program consistency processing 5
Do step 3.

さらに、装置情報入力処理51の流れ図を第6図に示す
。装置情報ファイルから入力処理61を行い、テストを
行う装置種別〈置換された入力装置シミュレーション処
理35より与えられる〉と装置情報ファイル11の情報
とを比較して(参照符号62)、該当ファイルが出現す
るまて検索する。
Further, a flowchart of the device information input processing 51 is shown in FIG. Perform input processing 61 from the device information file, compare the device type to be tested (given by the replaced input device simulation process 35) and the information in the device information file 11 (reference numeral 62), and find the corresponding file. Search for it.

ここでテストデータ編集処理52の処理内容を第7図に
示した流れ図で説明する。まず、装置種別の判断71を
行い、磁気テープ編集処理72゜IDカート編集処理7
3.バーコード編集処理74など各装置毎に処理手段を
設け、対応する編集処理を行う。第2図(C)で示した
磁気テープを例にとると、装置情報ファイルのデータか
らシミュレート後のデータの型〈シミュレートデータの
型28)を作成する。そして、テストデータファイル2
2から入力されたテストデータをセットしていく。これ
て、シミュレーションデータの完成である。この後、第
9図に示したテストプロクラム整合処理53を行うこと
で、シミュレーションデータを完全に編集し終える。装
置種別は第8図に示すような種類(例えばIDカード・
磁気カード・紙テープ・キーボード・磁気テープ・バー
コード ファックス・タブレット・光学文字読み取り装
置など)が挙げられる。
Here, the processing contents of the test data editing process 52 will be explained with reference to the flowchart shown in FIG. First, the device type is determined 71, and magnetic tape editing processing 72. ID cart editing processing 7 is performed.
3. A processing means such as barcode editing processing 74 is provided for each device to perform corresponding editing processing. Taking the magnetic tape shown in FIG. 2(C) as an example, a simulated data type (simulated data type 28) is created from the data of the device information file. And test data file 2
Set the test data input from step 2. This completes the simulation data. Thereafter, by performing the test program matching process 53 shown in FIG. 9, the simulation data is completely edited. The device type is as shown in Figure 8 (for example, ID card,
(magnetic cards, paper tape, keyboards, magnetic tape, barcodes, fax machines, tablets, optical character readers, etc.).

さらに、テストプログラム整合処理53の流れ図を第9
図に示す。テストプログラムでは、ある領域に目的のデ
ータを格納する形式であるため、その形式を作成するた
めにテストプロクラムへの移送形式作成処理91を実行
する。次に、いま作成した形式に合わせてテストデータ
の形式を変更するためにデータ形式変更処理92を行い
処理を終了する。最後にテストプログラム整合処理を返
却し、処理を終了する。
Furthermore, the flowchart of the test program matching process 53 is shown in the ninth section.
As shown in the figure. Since the test program is in a format in which target data is stored in a certain area, a transfer format creation process 91 to the test program is executed to create the format. Next, a data format change process 92 is performed to change the format of the test data to match the format just created, and the process ends. Finally, the test program matching process is returned and the process ends.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、テストプログラム置換手
段を設けたのてハードウェアの有無に関係なくテストで
きるという効果かあるはかってなく、入力装置のデータ
をシミュレーションてきるため、入力データの様々な場
合のテストか可能になるという効果かある。
As explained above, the present invention has the unprecedented effect of being able to perform tests regardless of the presence or absence of hardware by providing a test program replacement means, and since it can simulate the data of the input device, it can be used to convert various input data. There is an effect that it becomes possible to test the case.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を構成を示すブロック図、第
2図(a)〜(d)は本発明で用いるファイルの内容を
具体例も含めて示した説明図、第3図はテストプログラ
ムにシミニレ−1〜テストプログラムの置換部分を示す
説明図、第4図はテストデータファイルからのテストデ
ータ入力手段の動作を示す流れ図、第5図はテストデー
タ編集手段の動作を示すブロック図、第6図は装置情報
ファイル入力処理の流れ図、第7図はテストデータ編集
処理の流れ図、第8図は対象入力装置−覧図、第9図は
テストプログラム整合処理の流れ図である。 11・・・入力装置情報格納ファイル、12・・・テス
トデータ格納ファイル、13・・・テストプログラム置
換手段、14・・・テストデータ入力手段、150.。 テストデータ編集手段。
Figure 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, Figures 2 (a) to (d) are explanatory diagrams showing the contents of files used in the present invention, including specific examples, and Figure 3 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. An explanatory diagram showing the replacement part of the test program from SIMILE-1 to the test program, FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the test data input means from the test data file, and FIG. 5 is a block diagram showing the operation of the test data editing means. , FIG. 6 is a flowchart of device information file input processing, FIG. 7 is a flowchart of test data editing processing, FIG. 8 is a list of target input devices, and FIG. 9 is a flowchart of test program matching processing. 11... Input device information storage file, 12... Test data storage file, 13... Test program replacement means, 14... Test data input means, 150. . Test data editing means.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 入力装置から諸データを入力し、実行するプログラムを
テストする場合において、入力装置からの読み込み部分
を、入力装置シミュレーション処理に置換するテストプ
ログラム置換手段と、入力データを前もつて作成してお
きテスト時にテストプログラム上に入力するテストデー
タ入力手段と、その入力されたテストデータのファイル
を装置情報ファイルをもとに編集し入力装置から入力さ
れたように見せかけるテストデータ編集手段とを備えて
成ることを特徴とする入力装置のシミュレーションテス
ト方式。
When testing a program to be executed by inputting various data from an input device, a test program replacement means replaces the part read from the input device with input device simulation processing, and a test program that prepares input data in advance for testing. and a test data editing means that edits the input test data file based on the device information file to make it appear as if it has been input from the input device. A simulation test method for input devices characterized by:
JP2192564A 1990-07-20 1990-07-20 Simulation test system for input device Pending JPH0478935A (en)

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JP2192564A JPH0478935A (en) 1990-07-20 1990-07-20 Simulation test system for input device

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JP (1) JPH0478935A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102471255A (en) * 2009-10-26 2012-05-23 株式会社艾迪科 Aromatic sulfonium salt compound

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102471255A (en) * 2009-10-26 2012-05-23 株式会社艾迪科 Aromatic sulfonium salt compound

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