JPH0467644B2 - - Google Patents

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JPH0467644B2
JPH0467644B2 JP61090342A JP9034286A JPH0467644B2 JP H0467644 B2 JPH0467644 B2 JP H0467644B2 JP 61090342 A JP61090342 A JP 61090342A JP 9034286 A JP9034286 A JP 9034286A JP H0467644 B2 JPH0467644 B2 JP H0467644B2
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JP
Japan
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push
push button
button switch
main body
measuring
Prior art date
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JP61090342A
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Japanese (ja)
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JPS62245428A (en
Inventor
Yukikazu Kogai
Yoshio Kobayashi
Sumiichi Kyota
Shiro Kanda
Yutaka Sakaguchi
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 被試験押釦スイツチを1個ずつキーボード試験
装置は試験時間の短縮に限度がある。そこで複数
個の被試験押釦スイツチを同時に試験することに
よつて試験時間の短縮を図つたものである。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] A keyboard testing device that tests one pushbutton switch at a time has a limit in shortening the testing time. Therefore, the test time is reduced by testing a plurality of push button switches at the same time.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は多数個の押釦スイツチで構成されるキ
ーボードの試験装置に係り、特に押釦スイツチの
動作位置を自動的に測定する試験装置に関する。
The present invention relates to a keyboard testing device comprising a large number of pushbutton switches, and more particularly to a testing device for automatically measuring the operating position of a pushbutton switch.

各種情報処理装置に用いられるキーボードは多
数個の押釦スイツチで構成されており、オペレー
タがこれ等の押釦スイツチを押下することによつ
て、各種の情報を情報処理装置に入力することが
できる。しかし押下力や動作位置が押釦スイツチ
毎に大きく異なると、押釦スイツチを押下したつ
もりでいてもスイツチが動作せず入力ミスの原因
になる。そこでキーボードの組立が完了した時点
で押釦スイツチを押下し押下力や動作位置の測定
を行つている。
Keyboards used in various information processing devices are composed of a large number of push button switches, and by pressing these push button switches, an operator can input various information into the information processing device. However, if the pressing force and operating position differ greatly from push button switch to push button switch, the switch will not operate even if the push button switch is intended to be pushed down, leading to input errors. Therefore, when the keyboard assembly is completed, the push button switch is pressed and the pressing force and operating position are measured.

かかるキーボードの試験は数値制御装置を用い
たキーボード試験装置によつて自動的に行われて
いるが、キーボードの製作台数の増加に伴つて試
験時間の短縮が要求され、それを実現できるキー
ボード試験装置の開発が望まれている。
Testing of such keyboards is automatically performed using a keyboard testing device using a numerical control device, but as the number of keyboards manufactured increases, there is a need to shorten the testing time, and a keyboard testing device that can achieve this is required. development is desired.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第4図は従来のキーボード試験装置を示すブロ
ツク図、第5図は測定部の回路構成を示すブロツ
ク図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a conventional keyboard testing device, and FIG. 5 is a block diagram showing the circuit configuration of a measuring section.

キーボードの試験において例えば押釦スイツチ
の動作位置を測定するためには、押釦スイツチの
押下を開始してから接点間が閉鎖するまでの、押
下距離の変化または押下力の変化を測定する必要
がある。
In order to measure the operating position of a pushbutton switch in a keyboard test, for example, it is necessary to measure the change in the pressing distance or the change in the pressing force from when the pushbutton switch starts being pressed until the contacts close.

従来のキーボード試験装置は第4図に示す如
く、予め設定された順序に従つて押釦スイツチ1
2を順次位置決めする数値制御装置2と、数値制
御装置2から出力される測定命令によつて押釦ス
イツチ12の動作を試験する測定部3とを具えて
おり、数値制御装置2はキーボード1を搭載する
XYテーブル21と、XYテーブル21をX軸方
向に移動させるX軸モータ22と、XYテーブル
21をY軸方向に移動させるY軸モータ23と、
X軸モータ22およびY軸モータ23を制御する
数値制御装置本体24とで構成されている。
As shown in FIG.
2, and a measuring section 3 that tests the operation of the push button switch 12 based on measurement commands output from the numerical controller 2. The numerical controller 2 is equipped with a keyboard 1. do
An XY table 21, an X axis motor 22 that moves the XY table 21 in the X axis direction, a Y axis motor 23 that moves the XY table 21 in the Y axis direction,
It is composed of a numerical control device main body 24 that controls an X-axis motor 22 and a Y-axis motor 23.

一方測定部3は押下を開始してから接点間が閉
鎖するまでの、押下距離の変化と押下力の変化を
測定できる押下機構31と、押釦スイツチの接点
間が閉鎖するのを検知する接点動作検知部32
と、押下機構31および接点動作検知部32から
入力される信号から、押釦スイツチの動作位置を
算出する測定機本体4とを具えている。
On the other hand, the measurement unit 3 includes a push-down mechanism 31 that can measure changes in the push-down distance and push-down force from the time the push button starts until the contacts close, and a contact operation that detects when the contacts of the push button switch are closed. Detection section 32
and a measuring device main body 4 that calculates the operating position of the push button switch from signals input from the push-down mechanism 31 and the contact operation detection section 32.

押下機構31は上下動し押釦スイツチを押下す
る軸34と、軸34を駆動すると共に軸34の移
動量を示す情報を出力するモータ35と、押下に
伴つて変化する押釦スイツチの押下力を検出する
圧力センサ36とで、また接点動作検知部32は
第5図に示す如くエンコーダ37とデコーダ38
とマイクロコンピユータ39とで構成されてい
る。
The push-down mechanism 31 includes a shaft 34 that moves up and down to push down the push button switch, a motor 35 that drives the shaft 34 and outputs information indicating the amount of movement of the shaft 34, and detects the pushing force of the push button switch that changes as the push button is pressed. The contact operation detection section 32 has an encoder 37 and a decoder 38 as shown in FIG.
and a microcomputer 39.

予め設定され順序に従つて押釦スイツチを位置
決めすると、数値制御装置2は測定部3に対して
測定命令を出力し、押下機構31のモータ35が
始動して押釦スイツチの押下が開始する。モータ
35からは軸34の移動量を示す情報が測定機本
体4に入力され、圧力センサ36からは押下に伴
つて変化する押釦スイツチの押下力を示す情報が
測定機本体4に入力される。
When the push button switches are positioned in accordance with the preset order, the numerical control device 2 outputs a measurement command to the measuring section 3, the motor 35 of the push mechanism 31 is started, and the push button switches begin to be pressed. Information indicating the amount of movement of the shaft 34 is input from the motor 35 to the measuring instrument main body 4, and information indicating the pressing force of the push button switch that changes as the push button is pressed is input to the measuring instrument main body 4 from the pressure sensor 36.

一方マイクロコンピユータ39からエンコーダ
37とデコーダ38に対し、位置決めされる押釦
スイツチの順序に関係無くマトリツクス状に配設
された破線11の交点を示す信号、即ちその交点
に接続された押釦スイツチの位置信号が順次出力
され、エンコーダ37とデコーダ38は位置信号
に基づいてマトリツクス状に配設された配線11
を選択し、押下機構31によつて押下され接点間
が閉鎖した押釦スイツチの位置を検索する。押釦
スイツチの位置を検知するとマイクロコンピユー
タ39は、位置信号をその押釦スイツチに付与さ
れたキーコードに翻訳し、接点間が閉鎖したこと
を示すストローブ信号と共に測定機本体4に出力
する。
On the other hand, the microcomputer 39 sends a signal to the encoder 37 and decoder 38 indicating the intersection of the broken lines 11 arranged in a matrix, regardless of the order of the pushbutton switches to be positioned, that is, the position signal of the pushbutton switch connected to the intersection. are sequentially output, and the encoder 37 and decoder 38 connect the wiring 11 arranged in a matrix based on the position signal.
is selected, and the position of the push button switch that is pressed down by the push-down mechanism 31 and the contact points are closed is searched. When the position of the push button switch is detected, the microcomputer 39 translates the position signal into a key code assigned to the push button switch, and outputs it to the measuring machine main body 4 together with a strobe signal indicating that the contacts are closed.

測定機本体4は第5図に示す如くモータ35か
ら入力される情報を計数する位置計測カウンタ4
1、圧力センサ36から入力される情報を増幅す
る増幅回路42、押釦スイツチが押下を開始する
位置を検出するための基準電圧43およびコンパ
レータ44、押釦スイツチが押下を開始する位置
を記憶する記憶回路45、並びに接点動作検知部
32から入力されるストローブ信号によつて接点
間閉鎖を記憶する記憶回路46を具えており、演
算回路47によつて記憶回路46に記憶されてい
る接点間閉鎖位置と、記憶回路45に記憶されて
いる押下開始位置との差を算出し、辞書フアイル
49に記憶されている上下限、値と比較すること
によつて、判別回路48において被試験押釦スイ
ツチの良不良を判別する。
The measuring device main body 4 includes a position measuring counter 4 that counts information input from a motor 35 as shown in FIG.
1. An amplifier circuit 42 that amplifies information input from the pressure sensor 36, a reference voltage 43 and a comparator 44 for detecting the position at which the push button switch starts to be pressed, and a memory circuit that memorizes the position at which the push button switch starts to be pressed. 45, and a memory circuit 46 for storing the contact closure position according to the strobe signal input from the contact operation detection unit 32, and the contact closure position stored in the memory circuit 46 by the arithmetic circuit 47. By calculating the difference from the push start position stored in the memory circuit 45 and comparing it with the upper and lower limits and values stored in the dictionary file 49, the determination circuit 48 determines whether the push button switch under test is good or bad. Determine.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかし予め設定された順序に従つて数値制御装
置が押釦スイツチを位置決めする時間や、測定命
令によつて測定部が押釦スイツチの動作位置を測
定する時間の短縮を図つても、押釦スイツチを1
個ずつ測定する従来の方式では時間短縮に限界が
あり、数多くの押釦スイツチで構成されるキーボ
ードの試験に多くの時間を必要とするという問題
があつた。
However, even if attempts are made to shorten the time it takes for the numerical control device to position the pushbutton switches according to a preset order, or the time it takes for the measurement unit to measure the operating position of the pushbutton switches based on a measurement command, it is possible to
The conventional method of measuring individual pushbuttons has a limit in terms of time reduction, and has the problem of requiring a lot of time to test keyboards made up of a large number of pushbutton switches.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

第1図は本発明のキーボード試験装置を示すブ
ロツク図である。なお全図を通し同じ対象物は同
一記号で表している。
FIG. 1 is a block diagram showing a keyboard testing device of the present invention. The same objects are represented by the same symbols throughout the figures.

上記問題点は押下機構51と接点動作検知部5
2と測定機本体6とで構成された測定部5、およ
び予め設定された順序に従つて押釦スイツチを押
下機構51に位置決めする数値制御装置2を具え
た試験装置であつて、複数個の被試験押釦スイツ
チ12を同時に押下し押下距離に対応した押下距
離信号、および押下された被試験押釦スイツチ1
2のそれぞれの押下力に対応した押下力信号を出
力する押下機構51と、押下機構51によつて押
下された複数個の被試験押釦スイツチ12の接点
間が、それぞれ閉鎖したことを示す接点間閉鎖信
号を出力する接点動作検知部52と、押下機構5
1から出力される押下距離信号および押下力信
号、接点動作検知部52から出力される接点間閉
鎖信号により、それぞれの被試験押釦スイツチ1
2の動作位置を算出する測定機本体6とを、設け
てなる本発明のキーボード試験装置によつて解決
される。
The above problem is caused by the push-down mechanism 51 and the contact operation detection unit 5.
2 and a measuring device body 6, and a numerical control device 2 that positions a push button switch in a pressing mechanism 51 according to a preset order. Press the test pushbutton switches 12 at the same time and receive a push distance signal corresponding to the pushdown distance and the pushbutton switch 1 to be tested that was pushed down.
between the contact points of the push-down mechanism 51 that outputs a push-down force signal corresponding to each push-down force of 2, and the plurality of push button switches 12 to be tested pressed by the push-down mechanism 51, respectively, indicating that the contacts are closed. A contact operation detection unit 52 that outputs a closing signal and a push-down mechanism 5
1 and the contact closure signal output from the contact operation detection section 52, each push button switch 1 under test is
This problem is solved by the keyboard testing device of the present invention, which is provided with a measuring device main body 6 for calculating the operating position of No. 2.

〔作用〕[Effect]

第1図においてキーボード試験装置に複数個の
被試験押釦スイツチ12を同時に押下し、それぞ
れの被試験押釦スイツチ12の押下力に対応した
押下力信号、および押下距離に対応した押下距離
信号を出力する押下機構51と、複数個の被試験
押釦スイツチ12の接点間がそれぞれ閉鎖したこ
とを示す、接点間閉鎖信号を出力する接点動作検
知部52とを設けることによつて、キーボードを
試験する時間の大幅な短縮を実現することができ
る。
In FIG. 1, a plurality of pushbutton switches 12 to be tested are pressed simultaneously on the keyboard testing device, and a push-down force signal corresponding to the push-down force of each push-button switch 12 to be tested and a push-down distance signal corresponding to the push-down distance are output. By providing the push-down mechanism 51 and the contact operation detection unit 52 that outputs a contact closure signal indicating that the contacts of the plurality of push button switches 12 under test are closed, the time required to test the keyboard can be reduced. A significant reduction can be achieved.

〔実施例〕〔Example〕

以下添付図により本発明の実施例について説明
する。なお第2図は接点動作検知部の回路構成を
示すブロツク図、第3図は測定機本体の回路構成
を示すブロツク図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. Note that FIG. 2 is a block diagram showing the circuit configuration of the contact operation detection section, and FIG. 3 is a block diagram showing the circuit configuration of the main body of the measuring machine.

第1図において本発明のキーボード試験装置は
予め設定された順序に従つて押釦スイツチ12を
順次位置決めする数値制御装置2と、数値制御装
置2から出力される測定命令によつて押釦スイツ
チ12の動作を試験する測定部5とを具えてお
り、測定部5は複数個の被試験押釦スイツチ12
(図では3個)を同時に押下し、それぞれの被試
験押釦スイツチ12の押下力に対応した押下力信
号と、押下距離に対応した押下距離信号とを出力
する押下機構51と、複数個の被試験押釦スイツ
チ12の接点間がそれぞれ閉鎖したことを示す接
点間閉鎖信号を出力する接点動作検知部52と、
押下機構51および接点動作検知部52から入力
される信号から、押釦スイツチの動作位置を算出
する測定機本体6とを具えている。
In FIG. 1, the keyboard testing device of the present invention includes a numerical control device 2 that sequentially positions the pushbutton switches 12 according to a preset order, and an operation of the pushbutton switches 12 based on measurement commands output from the numerical control device 2. The measuring section 5 is equipped with a measuring section 5 for testing a plurality of push button switches 12 to be tested.
(three in the figure) are pressed at the same time to output a pressing force signal corresponding to the pressing force of each push button switch 12 under test and a pressing distance signal corresponding to the pressing distance; a contact operation detection unit 52 that outputs a contact closure signal indicating that each of the contacts of the test push button switch 12 is closed;
It includes a measuring device main body 6 that calculates the operating position of the push button switch from signals input from the push-down mechanism 51 and the contact operation detection section 52.

押下機構51は上下動し押釦スイツチを押下す
る複数個の軸34と、複数個の軸34を同時に駆
動すると共に軸34の移動量を示す情報を出力す
るモータ35と、押下に伴つて変化する押釦スイ
ツチの押下力を検出する複数個の圧力センサ36
とで構成されている。
The push-down mechanism 51 includes a plurality of shafts 34 that move up and down to push down the push button switch, and a motor 35 that simultaneously drives the plurality of shafts 34 and outputs information indicating the amount of movement of the shafts 34, which changes as the button is pressed. A plurality of pressure sensors 36 detecting the pressing force of the push button switch.
It is made up of.

接点動作検知部52は第2図に示す如くキーボ
ードのマトリツクス状に配設された配線11に接
続される入力端子53と、入力側が並列に接続さ
れた複数組の接点間閉鎖検出回路54とで構成さ
れており、接点間閉鎖検出回路54は配線11の
それぞれに対応する選択スイツチ群55と、フオ
トカプラ56およびワンシヨツトマルチ57で形
成されている。
As shown in FIG. 2, the contact operation detection section 52 includes an input terminal 53 connected to the wiring 11 arranged in a matrix of the keyboard, and a plurality of sets of inter-contact closure detection circuits 54 whose input sides are connected in parallel. The inter-contact closure detection circuit 54 is made up of a selection switch group 55 corresponding to each wiring 11, a photocoupler 56, and a one-shot multiplier 57.

例えば第5図に示すキーボードのマトリツクス
状に配設された配線11(6本×2)は入力端子
53に接続されており、マトリツクス配線1と6
の交点に接続された押釦スイツチ(位置1・6)、
マトリツクス配線3と6の交点に接続された押釦
スイツチ(位置3・6)、マトリツクス配線3と
4の交点に接続された押釦スイツチ(位置3・
4)の接点間閉鎖を同時に検出する場合、第1の
接点間閉鎖検出回路54aの選択スイツチ群55
aはマトリツクス配線1と6を選択し、第2の接
点間閉鎖検出回路54bの選択スイツチ群55b
はマトリツクス配線3と6を、第3の接点間閉鎖
検出回路54cの選択スイツチ群55cはマトリ
ツクス配線3と4を選択する。
For example, wires 11 (6 wires x 2) arranged in a matrix of the keyboard shown in FIG. 5 are connected to an input terminal 53, and matrix wires 1 and 6
push button switches (positions 1 and 6) connected to the intersection of
A push button switch (positions 3 and 6) connected to the intersection of matrix wirings 3 and 6, and a pushbutton switch (positions 3 and 6) connected to the intersection of matrix wirings 3 and 4.
4) When detecting the contact closure at the same time, the selection switch group 55 of the first contact closure detection circuit 54a
a selects matrix wiring 1 and 6, and selects the selection switch group 55b of the second contact closure detection circuit 54b.
selects the matrix wirings 3 and 6, and the selection switch group 55c of the third contact closure detection circuit 54c selects the matrix wirings 3 and 4.

第1の接点間閉鎖検出回路54aのフオトカプ
ラ56a、および選択スイツチ群55aを介して
マトリツクス配線に印加される電源Vaと接地線
Ga、第2の接点間閉鎖検出回路54bのフオト
カプラ56b、および選択スイツチ群55bを介
してマトリツクス配線に印加される電源Vbと接
地線Gb、第3の接点間閉鎖検出回路54cのフ
オトカプラ56c、および選択スイツチ群55c
を介してマトリツクス配線に印加される電源Vc
と接地線Gcは完全に独立しており、マトリツク
ス配線や入力側で並列に接続している配線を介し
て廻り込みを生じることはない。
The power supply Va and the ground line are applied to the matrix wiring through the photocoupler 56a of the first contact closure detection circuit 54a and the selection switch group 55a.
Ga, a photocoupler 56b of the second contact-to-contact closure detection circuit 54b, a power supply Vb applied to the matrix wiring via the selection switch group 55b, a ground line Gb, a photocoupler 56c of the third contact-to-contact closure detection circuit 54c, and Selection switch group 55c
The power supply Vc applied to the matrix wiring via
The ground line Gc and the ground line Gc are completely independent, and there is no looping through the matrix wiring or the wiring connected in parallel on the input side.

予め設定された順序に従つて押釦スイツチを位
置決めすると、数値制御装置2から測定部5に対
して測定命令が出力され、押下機構51のモータ
35が始動して押釦スイツチの押下が開始され、
モータ35からは軸34の移動量を示す情報が測
定機本体6に入力され、圧力センサ36からは押
下に伴つて変化する押釦スイツチの押下力を示す
情報がそれぞれ測定機本体6に入力される。
When the push button switches are positioned in accordance with a preset order, a measurement command is output from the numerical control device 2 to the measuring unit 5, the motor 35 of the push mechanism 51 is started, and the push button switches are started to be pressed.
Information indicating the amount of movement of the shaft 34 is input from the motor 35 to the measuring machine main body 6, and information indicating the pressing force of the push button switch that changes as it is pressed is input to the measuring machine main body 6 from the pressure sensor 36. .

一方測定機本体6から接点動作検知部52に対
して選択スイツチ群55の選択信号が入力され、
接点間閉鎖検出回路54はそれぞれマトリツクス
状に配設された配線11を選択し待機する。押下
機構51によつて押下され接点間が閉鎖するとワ
ンシヨツトマルチ57は、接点間が閉鎖したこと
を示すストローブ信号を測定機本体6に出力す
る。
On the other hand, the selection signal of the selection switch group 55 is inputted from the measuring device main body 6 to the contact operation detection section 52,
The inter-contact closure detection circuit 54 selects each of the wires 11 arranged in a matrix and waits. When pressed down by the push-down mechanism 51 and the contacts are closed, the one-shot multi 57 outputs a strobe signal to the measuring instrument body 6 indicating that the contacts are closed.

測定機本体6は第3図に示す如くモータ35の
回転方向を検出する方向検知61、モータ35か
ら入力される情報を計数する位置計測カウンタ4
1、圧力センサ36から並列に入力される複数個
の情報を増幅する増幅回路62、押釦スイツチが
押下を開始する位置を検出するための基準電圧4
3およびコンパレータ44、並びにそれぞれの押
釦スイツチが押下を開始する位置と接点間を閉鎖
する位置を記憶する記憶回路63を具えており、
演算回路64によつて記憶回路63に記憶されて
いる接点間閉鎖位置と押下開始位置との差を算出
し、辞書フアイル49に記憶されている上下限値
と比較することによつて、判別回路65において
被試験押釦スイツチの良不良を判別する。
As shown in FIG. 3, the measuring device main body 6 includes a direction detector 61 that detects the rotational direction of the motor 35, and a position measurement counter 4 that counts information input from the motor 35.
1. An amplifier circuit 62 that amplifies multiple pieces of information input in parallel from the pressure sensor 36, a reference voltage 4 for detecting the position at which the push button switch starts to be pressed.
3 and a comparator 44, and a memory circuit 63 for storing the position at which each push button switch starts to be pressed and the position at which the contact is closed.
The arithmetic circuit 64 calculates the difference between the contact closed position stored in the memory circuit 63 and the push start position, and compares it with the upper and lower limit values stored in the dictionary file 49. At step 65, it is determined whether the push button switch to be tested is good or bad.

しかし複数個の押釦スイツチを同時に押下する
構造では、押下機構51の軸34の下に押釦スイ
ツチが存在しない場合もある。そのために測定機
本体6は測定禁止設定回路66を具えており、軸
34の下に押釦スイツチが存在しない場合は測定
禁止設定によつて測定値を無効にしている。
However, in a structure in which a plurality of push button switches are pressed at the same time, there may be no push button switches below the shaft 34 of the push mechanism 51. For this purpose, the main body 6 of the measuring device is provided with a measurement prohibition setting circuit 66, and when there is no push button switch under the shaft 34, the measurement value is invalidated by the measurement prohibition setting.

かかるキーボード試験装置を用いることによつ
て複数個の押釦スイツチを同時に試験することが
可能になり、キーボードを試験する時間の大幅な
短縮を実現することができる。
By using such a keyboard testing device, it is possible to test a plurality of pushbutton switches simultaneously, and the time required to test a keyboard can be significantly reduced.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

上述の如く本発明によれば試験時間の短縮を実
現できるキーボード試験装置を提供することがで
きる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a keyboard testing device that can shorten testing time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のキーボード試験装置を示すブ
ロツク図、第2図は接点動作検知部の回路構成を
示すブロツク図、第3図は測定機本体の回路構成
を示すブロツク図、第4図は従来のキーボード試
験装置を示すブロツク図、第5図は測定部の回路
構成を示すブロツク図、である。 図において、1はキーボード、2は数値制御装
置、5は測定部、6は測定機本体、11は配線、
12は押釦スイツチ、34は軸、35はモータ、
36は圧力センサ、41は位置計測カウンタ、4
3は基準電圧、44はコンパレータ、49は辞書
フアイル、51は押下機構、52は接点動作検知
部、53は入力端子、54,54a,54b,5
4cは接点間閉鎖検出回路、55,55a,55
b,55cは選択スイツチ群、56,56a,5
6b,56cはフオトカプラ、57はワンシヨツ
トマルチ、61は方向検知、62は増幅回路、6
3は記憶回路、64は演算回路、65は判別回
路、66は測定禁止設定回路、をそれぞれ表す。
Fig. 1 is a block diagram showing the keyboard testing device of the present invention, Fig. 2 is a block diagram showing the circuit configuration of the contact operation detection section, Fig. 3 is a block diagram showing the circuit configuration of the main body of the measuring machine, and Fig. 4 is FIG. 5 is a block diagram showing a conventional keyboard testing device, and FIG. 5 is a block diagram showing the circuit configuration of a measuring section. In the figure, 1 is a keyboard, 2 is a numerical control device, 5 is a measurement section, 6 is a measuring device main body, 11 is a wiring,
12 is a push button switch, 34 is a shaft, 35 is a motor,
36 is a pressure sensor, 41 is a position measurement counter, 4
3 is a reference voltage, 44 is a comparator, 49 is a dictionary file, 51 is a push mechanism, 52 is a contact operation detection section, 53 is an input terminal, 54, 54a, 54b, 5
4c is a contact closure detection circuit, 55, 55a, 55
b, 55c are selection switch groups, 56, 56a, 5
6b, 56c are photo couplers, 57 is one shot multi, 61 is direction detection, 62 is an amplifier circuit, 6
3 represents a storage circuit, 64 represents an arithmetic circuit, 65 represents a determination circuit, and 66 represents a measurement prohibition setting circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 押下機構51と接点動作検知部52と測定機
本体6とで構成された測定部5、および予め設定
された順序に従つて押釦スイツチを該押下機構5
1に位置決めする数値制御装置2を具えた試験装
置であつて、 複数個の被試験押釦スイツチ12を同時に押下
し押下距離に対応した押下距離信号、および押下
された該被試験押釦スイツチ12のそれぞれの反
力、即ち押下力に対応した押下力信号を出力する
押下機構51と、 該押下機構51によつて押下された複数個の該
被試験押釦スイツチ12の接点間が、それぞれ閉
鎖したことを示す接点間閉鎖信号を出力する接点
動作検知部52と、 該押下機構51から出力される押下距離信号お
よび押下力信号、該接点動作検知部52から出力
される接点間閉鎖信号により、それぞれの被試験
押釦スイツチ12の動作位置を算出する測定機本
体6とを、設けてなることを特徴とするキーボー
ド試験装置。
[Scope of Claims] 1. A measuring section 5 composed of a pressing mechanism 51, a contact operation detecting section 52, and a measuring device main body 6, and a pressing mechanism 5 that operates a push button switch according to a preset order.
A testing device equipped with a numerical control device 2 for positioning a plurality of push buttons 12 under test at the same time, and receiving a pressing distance signal corresponding to the pressing distance and each of the pressed push buttons 12 under test. The push-down mechanism 51, which outputs a push-down force signal corresponding to the reaction force of The contact movement detection unit 52 outputs a contact closure signal shown in FIG. A keyboard testing device comprising a measuring device main body 6 for calculating the operating position of a test push button switch 12.
JP61090342A 1986-04-18 1986-04-18 Keyboard testing equipment Granted JPS62245428A (en)

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