JPH0461321B2 - - Google Patents
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- JPH0461321B2 JPH0461321B2 JP58238812A JP23881283A JPH0461321B2 JP H0461321 B2 JPH0461321 B2 JP H0461321B2 JP 58238812 A JP58238812 A JP 58238812A JP 23881283 A JP23881283 A JP 23881283A JP H0461321 B2 JPH0461321 B2 JP H0461321B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は合成樹脂レンズのような合成樹脂基板
の多層反射防止膜に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a multilayer antireflection coating for a synthetic resin substrate such as a synthetic resin lens.
近年、成形の容易さと軽量とによつて合成樹脂
製光学部品、特にレンズが用いられるようになつ
たが、これらの光学部品の反射防止膜には、なお
問題が残つている。 In recent years, synthetic resin optical parts, especially lenses, have come into use due to their ease of molding and light weight, but problems still remain with antireflection coatings for these optical parts.
従来、このような反射防止膜としては、例えば
次のものが知られている。すなわち、特公昭56−
18922号には、合成樹脂基板上に機械的強度を補
うに十分な、数μの膜厚の二酸化ケイ素(SiO2)
からなる第1層を形成し、その上に膜厚0.15λ〜
0.25λ〔λ(光の波長)=450〜550nm〕の酸化イツ
トリウム(Y2O3)膜からなる第2層、その上に
膜厚0.35λ〜0.45λの酸化ジルコニウム(ZrO2)膜
からなる第3層、およびさらに第3層の上に膜厚
0.20λ〜0.30λの二酸化ケイ素膜からなる第4層を
順次積層した多層反射防止膜が開示されている。 Conventionally, the following are known as such antireflection films, for example. In other words, the special public official 1984-
No. 18922 describes a silicon dioxide (SiO 2 ) film with a thickness of several μm, which is sufficient to supplement mechanical strength, on a synthetic resin substrate.
Form a first layer consisting of
The second layer consists of a yttrium oxide (Y 2 O 3 ) film with a thickness of 0.25λ [λ (wavelength of light) = 450 to 550 nm], and on top of that a zirconium oxide (ZrO 2 ) film with a thickness of 0.35λ to 0.45λ. The third layer, and the film thickness on top of the third layer
A multilayer antireflection coating is disclosed in which a fourth layer of silicon dioxide film having a thickness of 0.20λ to 0.30λ is sequentially laminated.
特開昭50−67147号には、合成樹脂基板上に、
例えば、第1層として一酸化ケイ素(SiO)を1/
4λまたは1/2λ(λ=530nm)の厚さに蒸着し、
ついで第2層として二酸化ケイ素を1/4λの厚さ
に蒸着して多層反射防止膜を形成することが開示
されている。 JP-A No. 50-67147 discloses that on a synthetic resin substrate,
For example, silicon monoxide (SiO) is used as the first layer.
Deposited to a thickness of 4λ or 1/2λ (λ = 530nm),
It is disclosed that silicon dioxide is then deposited as a second layer to a thickness of 1/4λ to form a multilayer antireflection coating.
また、特開昭56−121001号には、合成樹脂基板
上に第1層として膜厚20nm以下の一酸化ケイ素
膜、その上に第2層として膜厚0.50λ未満のアル
ミナ膜、さらにその上に第3層として膜厚0.25λ
〜0.30λのフツ化マグネシウム(MgF2)膜を順次
積層したプラスチツク光学部品が開示されてい
る。 In addition, JP-A-56-121001 discloses a silicon monoxide film with a thickness of 20 nm or less as a first layer on a synthetic resin substrate, an alumina film with a thickness of less than 0.50λ as a second layer, and film thickness 0.25λ as the third layer
A plastic optical component in which magnesium fluoride (MgF 2 ) films of ~0.30λ are sequentially laminated is disclosed.
さらに、特開昭58−60701号には、複数の、蒸
着条件を異にするため異つた屈折率を持つた一酸
化ケイ素の蒸着膜によつて構成される多層反射防
止膜が開示され、具体的には基板上に屈折率1.60
〜1.68、光学的膜厚がλ/4の一酸化ケイ素から
なる第1層、その上に屈折率1.75〜1.83、光学的
膜厚がλ/4の一酸化ケイ素からなる第2層、さ
らにその上に屈折率1.50〜1.55、光学的膜厚が
λ/4の一酸化ケイ素膜からなる第3層を、順次
積層した多層反射防止膜が開示されている。この
際、一酸化ケイ素の屈折率は蒸着速度一定の条件
下に酸素ガス圧力を変化させたり、または酸素ガ
ス圧力一定の条件下に蒸着速度を変化させること
によつて、変化させることが開示されている。 Furthermore, JP-A No. 58-60701 discloses a multilayer antireflection coating composed of a plurality of vapor-deposited films of silicon monoxide having different refractive indexes due to different vapor-deposition conditions. The refractive index is 1.60 on the substrate.
A first layer of silicon monoxide with a refractive index of 1.68 to 1.68 and an optical thickness of λ/4, a second layer of silicon monoxide with a refractive index of 1.75 to 1.83 and an optical thickness of λ/4, and then A multilayer antireflection film is disclosed in which a third layer made of a silicon monoxide film having a refractive index of 1.50 to 1.55 and an optical thickness of λ/4 is sequentially laminated thereon. In this case, it is disclosed that the refractive index of silicon monoxide can be changed by changing the oxygen gas pressure under conditions of a constant evaporation rate, or by changing the evaporation rate under conditions of a constant oxygen gas pressure. ing.
これらの多層反射防止膜のうち、特開昭56−
18922号に開示されたものは、合成樹脂基板とし
てジエチレングリコールビスアリルカーボネート
(CR−39)が使用され、メガネ用に開発された多
層反射防止膜であり、上記の構成膜をインジエク
シヨンおよびキヤスト成形された基板に適用する
と第1層の二酸化ケイ素膜に亀裂が発生する。ま
た、特開昭50−67147号および特開昭56−121001
号に開示されたものは、膜の亀裂の発生はない
が、可視光領域における反射防止効果が低く、密
着性に若干の不安がある。 Among these multilayer antireflection coatings, JP-A-56-
What was disclosed in No. 18922 is a multilayer anti-reflection film developed for eyeglasses, using diethylene glycol bisallyl carbonate (CR-39) as a synthetic resin substrate. When applied to a substrate, cracks occur in the first layer silicon dioxide film. Also, JP-A-50-67147 and JP-A-56-121001
Although the film disclosed in the above issue does not cause cracks in the film, it has a low antireflection effect in the visible light region, and there are some concerns about adhesion.
さらに、特開昭58−60701号に開示されたもの
は、一酸化ケイ素のみで構成されているので、大
気中に放置すると酸素の影響を受け、二酸化ケイ
素に近ずくため、経時的に分光反射特性が変化す
るという欠点がある。 Furthermore, since the material disclosed in JP-A-58-60701 is composed only of silicon monoxide, if left in the atmosphere it will be affected by oxygen and will approach silicon dioxide, resulting in spectral reflection over time. The disadvantage is that the characteristics change.
本発明の目的は、合成樹脂基板の種類に関係な
く、基板の補強効果と可視光領域における反射防
止効果を向上させた合成樹脂基板の反射防止膜を
提供することにある。 An object of the present invention is to provide an antireflection film for a synthetic resin substrate that improves the reinforcing effect of the substrate and the antireflection effect in the visible light region, regardless of the type of synthetic resin substrate.
本発明のいま一つの目的は、カラーバランスが
良好で、基板に対する密着性が高く、かつ耐溶剤
性、耐磨耗性、耐環境性の良好な反射防止膜を提
供することにある。 Another object of the present invention is to provide an antireflection film with good color balance, high adhesion to a substrate, and good solvent resistance, abrasion resistance, and environmental resistance.
本発明による合成樹脂基板の反射防止膜は、合
成樹脂基板上に形成された光学的膜厚0.13λ〜λ
〔λ(光の波長)=450〜550nm〕の一酸化ケイ素膜
からなる第1層、該第1層上に形成された光学的
膜厚0.13λ〜λの二酸化ケイ素膜からなる第2層、
該第2層上に形成された光学的膜厚0.2λ〜0.28λ
の酸化イツトリウム、一酸化ケイ素またはこれら
の混合物の膜、或は酸化イツトリウムおよび一酸
化ケイ素の多層膜からなる第3層、および該第3
層上に形成された光学的膜厚0.2λ〜0.28λの二酸
化ケイ素、フツ化マグネシウムまたはこれらの混
合物の膜、或は二酸化ケイ素およびフツ化マグネ
シウムの多層膜からなる第4層からなることを特
徴とするものである。 The antireflection film for a synthetic resin substrate according to the present invention has an optical film thickness of 0.13λ to λ formed on a synthetic resin substrate.
[λ (wavelength of light) = 450 to 550 nm] A first layer made of a silicon monoxide film, a second layer made of a silicon dioxide film with an optical thickness of 0.13λ to λ formed on the first layer,
Optical film thickness formed on the second layer: 0.2λ to 0.28λ
a third layer consisting of a film of yttrium oxide, silicon monoxide or a mixture thereof, or a multilayer film of yttrium oxide and silicon monoxide;
A fourth layer formed on the layer is a film of silicon dioxide, magnesium fluoride, or a mixture thereof having an optical thickness of 0.2λ to 0.28λ, or a multilayer film of silicon dioxide and magnesium fluoride. That is.
本発明において、前記第2層から第4層までは
活性化反応蒸着により形成されたものであること
が各層間の密着性を高める上で好ましい。ここで
「活性化反応蒸着」とは、プラズマ化された活性
ガス、例えば酸素ガス中で蒸着を行なうことを意
味する。 In the present invention, it is preferable that the second to fourth layers are formed by activated reaction vapor deposition in order to improve the adhesion between each layer. The term "activated reactive vapor deposition" as used herein means that vapor deposition is carried out in an active gas turned into plasma, such as oxygen gas.
本発明における合成樹脂基板としては、特に小
型カメラ用レンズ、ビデオカメラ用レンズ、複写
機用レンズ等に利用される非球面レンズを目的と
したレンズ構成に用いられる合成樹脂レンズを挙
げることができる。これらの合成樹脂基板は、例
えばジエチレングリコールビスアリルカーボネー
ト、キヤステイング成形またはインジエクシヨン
成形されたアクリル樹脂、ポリカーボネート樹
脂、スチレン樹脂からなる。 Examples of the synthetic resin substrate in the present invention include synthetic resin lenses used in lens constructions intended for aspherical lenses used particularly in small camera lenses, video camera lenses, copier lenses, and the like. These synthetic resin substrates are made of, for example, diethylene glycol bisallyl carbonate, cast or injection molded acrylic resin, polycarbonate resin, or styrene resin.
合成樹脂基板上に各層を順次積層するには、真
空蒸着、エレクトロンビームなどの公知の手段を
用いることができるが、第2層から第4層までは
前述した活性化反応蒸着により積層するのが、各
層相互間の密着性が高くなるので好ましい。第1
層の一酸化ケイ素膜は合成樹脂との密着性がよい
ので、特に活性化反応蒸着によらなくてもよい。 In order to sequentially laminate each layer on a synthetic resin substrate, known means such as vacuum evaporation or electron beam can be used, but it is preferable to laminate the second to fourth layers by the activation reaction evaporation described above. , is preferable because the adhesion between each layer becomes high. 1st
Since the silicon monoxide film of the layer has good adhesion to the synthetic resin, activation reaction vapor deposition is not particularly necessary.
本発明による多層防止膜において、一酸化ケイ
素膜からなる第1層と二酸化ケイ素膜からなる第
2層とは反射防止の機能とともに、基板の補強機
能をも備えている。 In the multilayer anti-film according to the present invention, the first layer made of a silicon monoxide film and the second layer made of a silicon dioxide film have a function of preventing reflection and also a function of reinforcing the substrate.
以下に本発明を実施例によつてさらに詳細に説
明する。 The present invention will be explained in more detail below using examples.
実施例 1
第1図を参照して本発明の実施例を説明する。
第1図は、この実施例の反射防止膜の一部の拡大
断面図である。インジエクシヨン成形されたアク
リル樹脂基板1の表面に、真空度1×10-5Torr
において一酸化ケイ素を抵抗加熱により、蒸着速
度2Å/秒(一定)で真空蒸着して膜厚0.5λ(λ
=450〜550nm)の第1層2を形成する。このと
きの第1層の屈折率は1.60〜1.68である。Example 1 An example of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 1 is an enlarged sectional view of a part of the antireflection film of this example. A vacuum of 1×10 -5 Torr is applied to the surface of the injection molded acrylic resin substrate 1.
, silicon monoxide was vacuum-deposited by resistance heating at a deposition rate of 2 Å/sec (constant) to a film thickness of 0.5 λ (λ
= 450 to 550 nm). The refractive index of the first layer at this time is 1.60 to 1.68.
第1層の上に二酸化ケイ素をエレクトロンビー
ムで蒸着して膜厚0.5λの第2層3を形成する。第
2層の屈折率は1.45〜1.46である。第1層と第2
層とは基板の補強効果をも有している。 Silicon dioxide is deposited on the first layer using an electron beam to form a second layer 3 having a thickness of 0.5λ. The refractive index of the second layer is 1.45-1.46. 1st layer and 2nd layer
The layer also has the effect of reinforcing the substrate.
第2層の上に、酸化イツトリウムをエレクトロ
ンビームで蒸着して膜厚0.25λの第3層4を形成
する。第3層の屈折率は1.69〜1.71である。 On the second layer, yttrium oxide is deposited using an electron beam to form a third layer 4 having a thickness of 0.25λ. The third layer has a refractive index of 1.69 to 1.71.
ついで、第3層の上に二酸化ケイ素をエレクト
ロンビームによつて蒸着して膜厚0.25λの第4層
5を形成する。この第4層の屈折率は1.45〜1.46
である。 Next, silicon dioxide is deposited on the third layer using an electron beam to form a fourth layer 5 having a thickness of 0.25λ. The refractive index of this fourth layer is 1.45 to 1.46
It is.
このようにして得られた反射防止膜の分光反射
率を第2図に示す。第2図から明らかなように、
この反射防止膜においては、可視光領域にわたつ
て反射の減少が認められる。 The spectral reflectance of the antireflection film thus obtained is shown in FIG. As is clear from Figure 2,
In this antireflection film, a decrease in reflection is observed over the visible light region.
次に、この実施例により得られた反射防止膜に
ついて以下の試験を行つた。 Next, the following tests were conducted on the antireflection film obtained in this example.
(1) 密着性テスト:上記のようにして得られた反
射防止膜の表面にセロハンテープ(ニチバン)
を接着させた後、この表面にほゞ垂直な角度
で、すばやくとりのぞくテストを15回繰返した
が、蒸着膜の剥離を生ずることがなかつた。(1) Adhesion test: Cellophane tape (Nichiban) was applied to the surface of the anti-reflection film obtained as above.
After adhering, the test was repeated 15 times by quickly removing the film at an angle almost perpendicular to the surface, but no peeling of the deposited film occurred.
(2) 耐溶剤性テスト:反射防止膜表面をエーテ
ル、アルコール混合液をつけたレンズ拭き紙
(シルボン紙)で拭いたが、異常が認められな
かつた。(2) Solvent resistance test: The surface of the antireflection film was wiped with lens wiping paper (Silbon paper) moistened with a mixture of ether and alcohol, but no abnormalities were observed.
(3) 耐摩耗テスト:反射防止膜表面の1ケ所をレ
ンズ拭き紙(シルボン紙)を用いて3〜4Kg/
cm2の圧で50往復こすつたが、異常が認められな
かつた。(3) Abrasion resistance test: One place on the surface of the anti-reflection film was coated with 3-4 kg of lens wiping paper (Silbon paper).
I rubbed it back and forth 50 times with a pressure of cm2 , but no abnormalities were observed.
(4) 耐環境テスト:反射防止膜を45℃、相対湿度
95%の恒温恒湿槽中に1000時間放置し、ついで
熱衝撃テスト(60℃30℃)を5回繰返した
が、異常が認められなかつた。(4) Environmental resistance test: anti-reflection coating at 45℃, relative humidity
It was left in a constant temperature and humidity chamber at 95% for 1000 hours, and then the thermal shock test (60°C and 30°C) was repeated 5 times, but no abnormalities were observed.
実施例 2
実施例1における第2層3、第3層4および第
4層5を真空度7×10-5〜1×10-4Torrにおい
て高周波(13.56MHz)酸素プラズマ中において
活性化蒸着する。Example 2 The second layer 3, third layer 4, and fourth layer 5 in Example 1 are activated by vapor deposition in high frequency (13.56 MHz) oxygen plasma at a degree of vacuum of 7×10 −5 to 1×10 −4 Torr. .
この実施例により得られた反射防止膜は、実施
例1により得られた反射防止膜と実質的に同じ分
光反射特性を示し、密着性テストにおける20回の
繰返しでも膜の剥離は認められず、また耐溶剤性
も実施例1の反射防止膜のそれと同等またはそれ
以上であつた。 The antireflection film obtained in this example showed substantially the same spectral reflection characteristics as the antireflection film obtained in Example 1, and no peeling of the film was observed even after 20 repetitions of the adhesion test. Further, the solvent resistance was equal to or higher than that of the antireflection film of Example 1.
実施例 3
実施例2において、酸化イツトリウム膜に代え
て、(イ)一酸化ケイ素膜、(ロ)酸化イツトリウムと一
酸化ケイ素との混合物の膜、または(イ)酸化イツト
リウムおよび一酸化ケイ素の多層膜をもつて第3
層を形成した。密着性、耐溶剤性、耐摩耗性、耐
環境性に優れた多層反射防止膜が得られた。Example 3 In Example 2, instead of the yttrium oxide film, (a) a silicon monoxide film, (b) a film of a mixture of yttrium oxide and silicon monoxide, or (a) a multilayer of yttrium oxide and silicon monoxide. 3rd with membrane
formed a layer. A multilayer antireflection film with excellent adhesion, solvent resistance, abrasion resistance, and environmental resistance was obtained.
実施例 4
実施例2において、二酸化ケイ素膜に代えて(イ)
フツ化マグネシウム膜、(ロ)二酸化ケイ素とフツ化
マグネシウムとの混合物の膜、または(ハ)二酸化ケ
イ素およびフツ化マグネシムの多層膜をもつて第
4層を形成した。密着性、耐溶剤性、耐摩耗性、
耐環境性において優れた多層反射防止膜が得られ
た。Example 4 In Example 2, instead of the silicon dioxide film (a)
The fourth layer was formed using a magnesium fluoride film, (b) a film of a mixture of silicon dioxide and magnesium fluoride, or (c) a multilayer film of silicon dioxide and magnesium fluoride. Adhesion, solvent resistance, abrasion resistance,
A multilayer antireflection film with excellent environmental resistance was obtained.
比較例 1
実施例1で用いたと同じインジエクシヨン成形
されたアクリル樹脂基板の表面に、真空度1×
10-5Torrにおいて一酸化ケイ素を抵抗加熱によ
り、蒸着速度2Å/秒(一定)で真空蒸着して膜
厚3λ(λ=450〜550nm)の第1層を形成する。
このときの第1層の屈折率は1.60〜1.68である。Comparative Example 1 The surface of the same injection molded acrylic resin substrate as used in Example 1 was coated with a vacuum of 1×
Silicon monoxide is vacuum-deposited at a deposition rate of 2 Å/sec (constant) by resistance heating at 10 −5 Torr to form a first layer having a thickness of 3λ (λ=450 to 550 nm).
The refractive index of the first layer at this time is 1.60 to 1.68.
第1層の上に実施例1におけると同様の操作で
第2層から第4層を順次形成する。 The second to fourth layers are sequentially formed on the first layer by the same operation as in Example 1.
このようにして得られた膜は本発明が目的とす
る良好なカラーバランスを得ていないが、実施例
1と同様にその特性を試験して次の結果が得られ
た。 Although the film thus obtained did not have the good color balance aimed at by the present invention, its properties were tested in the same manner as in Example 1 and the following results were obtained.
(1) 密着性テスト:蒸着膜の剥離なし。(1) Adhesion test: No peeling of the deposited film.
(2) 耐溶剤性テスト:異常が認められない。(2) Solvent resistance test: No abnormality observed.
(3) 耐摩耗性テスト:異常が認められない。(3) Abrasion resistance test: No abnormality observed.
(4) 耐環境テスト:熱衝撃テストの5回繰返し
で、透過目視観察により樹脂基板中央に微小な
蒸着膜の膜ワレの発生が認められた。(4) Environmental resistance test: After repeating the thermal shock test five times, microscopic cracking of the deposited film was observed in the center of the resin substrate through transparent visual observation.
比較例 2
第1層の膜厚を6λ(λ=450〜550nm)にした
以外は比較例1と同様にして反射防止膜を形成
し、実施例1におけると同様に特性を試験した。
結果は次のとおりであつた。Comparative Example 2 An antireflection film was formed in the same manner as in Comparative Example 1, except that the thickness of the first layer was 6λ (λ = 450 to 550 nm), and the characteristics were tested in the same manner as in Example 1.
The results were as follows.
(1) 密着性テスト:蒸着膜の剥離なし。(1) Adhesion test: No peeling of the deposited film.
(2) 耐溶剤テスト:異常が認められない。(2) Solvent resistance test: No abnormality observed.
(3) 耐摩耗テスト:異常が認められない。(3) Wear resistance test: No abnormality observed.
(4) 耐環境テスト:熱衝撃テストの5回の繰返し
で、透過目視観察により樹脂基板中央に微小な
蒸着膜の膜ワレの発生が認められた。(4) Environmental resistance test: After repeating the thermal shock test five times, microscopic cracking of the deposited film was observed in the center of the resin substrate through transparent visual observation.
比較例 3
実施例1で用いたと同じインジェクシヨン成形
されたアクリル樹脂基板の表面に、真空度1×
10-5Torrにおいて二酸化ケイ素をエレクトロン
ビームにより真空蒸着して膜厚0.5λ(λ=450〜
550nm)の第1層を形成する。このときの第1層
の屈折率は1.45〜1.46である。Comparative Example 3 The same injection-molded acrylic resin substrate as used in Example 1 was coated with a vacuum of 1×
Silicon dioxide was vacuum deposited using an electron beam at 10 -5 Torr to a film thickness of 0.5λ (λ = 450~
550 nm). The refractive index of the first layer at this time is 1.45 to 1.46.
第1層の上に、実施例1と同様の操作で第2層
から第4層を順次形成する。 On the first layer, the second to fourth layers are sequentially formed in the same manner as in Example 1.
このようにして得られた反射防止膜は第1層と
第2層とが同じ二酸化ケイ素膜から形成されてい
るため、見かけは1層少ない3層構成となる。こ
の膜は本発明が目的とする良好なカラーバランス
を得ていないが、実施例1と同様にその物性を試
験して次の結果が得られた。 Since the first layer and the second layer of the antireflection film obtained in this way are formed from the same silicon dioxide film, it appears to have a three-layer structure, one layer less. Although this film did not have the good color balance aimed at by the present invention, its physical properties were tested in the same manner as in Example 1, and the following results were obtained.
(1) 密着性テスト:セロハンテープを接着し、取
り除く操作の5回の繰返しにより蒸着膜が樹脂
基板から剥離した。(1) Adhesion test: The vapor deposited film was peeled off from the resin substrate by repeating the operation of attaching and removing cellophane tape five times.
(2) 耐溶剤性テスト:蒸着膜の膜うきと線状の膜
はがれが発生した。(2) Solvent resistance test: Thickness and linear peeling of the deposited film occurred.
(3) 耐摩耗テスト:50往復のこすりで蒸着膜の線
状の膜はがれが発生した。(3) Abrasion resistance test: Linear peeling of the deposited film occurred after 50 repeated rubbings.
(4) 耐環境テスト:熱衝撃の5回の繰返しで、透
過目視観察により蒸着膜の一部に膜うきが認め
られた。(4) Environmental resistance test: After repeating the thermal shock five times, film fraying was observed in a part of the deposited film through transparent visual observation.
本発明によれば、合成樹脂の種類、成形方法に
無関係に、合成樹脂基板の補強効果と可視光領域
における良好な反射防止効果とを兼ね備え、しか
も密着性、耐溶剤性、耐摩耗性および耐環境性に
優れた合成樹脂基板の反射防止膜をうることがで
きる。 According to the present invention, regardless of the type of synthetic resin or the molding method, it has both a reinforcing effect for the synthetic resin substrate and a good antireflection effect in the visible light region, and also has good adhesion, solvent resistance, abrasion resistance, and It is possible to obtain an antireflection film for a synthetic resin substrate that is environmentally friendly.
第1図は本発明の一実施例の反射防止膜の一部
の拡大断面図であり、第2図は上記反射防止膜の
分光反射率特性を示すグラフである。
1……基板、2……第1層、3……第2層、4
……第3層、5……第4層。
FIG. 1 is an enlarged sectional view of a part of an antireflection film according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a graph showing the spectral reflectance characteristics of the antireflection film. 1... Substrate, 2... First layer, 3... Second layer, 4
...3rd layer, 5...4th layer.
Claims (1)
0.13λ〜λ〔λ(光の波長)=450〜550nm〕の一酸
化ケイ素膜からなる第1層、該第1層上に形成さ
れた光学的膜厚0.13λ〜λの二酸化ケイ素膜から
なる第2層、該第2層上に形成された光学的膜厚
0.2λ〜0.28λの酸化イツトリウム、一酸化ケイ素
またはこれらの混合物の膜、或は酸化イツトリウ
ムおよび一酸化ケイ素の多層膜からなる第3層、
および該第3層上に形成された光学的膜厚0.2λ〜
0.28λの二酸化ケイ素、フツ化マグネシウムまた
はこれらの混合物の膜、或は二酸化ケイ素および
フツ化マグネシウムの多層膜からなる第4層から
なることを特徴とする合成樹脂基板の反射防止
膜。 2 前記第2層から第4層までが活性化反応蒸着
によつて形成されたものである特許請求の範囲第
1項記載の反射防止膜。[Claims] 1. Optical film thickness formed on a synthetic resin substrate
A first layer consisting of a silicon monoxide film of 0.13λ to λ [λ (wavelength of light) = 450 to 550 nm], and a silicon dioxide film with an optical thickness of 0.13λ to λ formed on the first layer. Second layer, optical film thickness formed on the second layer
A third layer consisting of a film of 0.2λ to 0.28λ of yttrium oxide, silicon monoxide, or a mixture thereof, or a multilayer film of yttrium oxide and silicon monoxide,
and an optical film thickness of 0.2λ~ formed on the third layer
An antireflection coating for a synthetic resin substrate, characterized by comprising a fourth layer consisting of a 0.28λ film of silicon dioxide, magnesium fluoride, or a mixture thereof, or a multilayer film of silicon dioxide and magnesium fluoride. 2. The antireflection film according to claim 1, wherein the second to fourth layers are formed by activated reaction vapor deposition.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58238812A JPS60130702A (en) | 1983-12-20 | 1983-12-20 | Antireflection film for plastic substrate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58238812A JPS60130702A (en) | 1983-12-20 | 1983-12-20 | Antireflection film for plastic substrate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60130702A JPS60130702A (en) | 1985-07-12 |
JPH0461321B2 true JPH0461321B2 (en) | 1992-09-30 |
Family
ID=17035651
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58238812A Granted JPS60130702A (en) | 1983-12-20 | 1983-12-20 | Antireflection film for plastic substrate |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60130702A (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6258201A (en) * | 1985-09-09 | 1987-03-13 | Mitsubishi Shindo Kk | Antireflection filter |
JPH07107563B2 (en) * | 1986-10-31 | 1995-11-15 | キヤノン株式会社 | Anti-reflection film |
JPH06234294A (en) * | 1993-02-09 | 1994-08-23 | Atsumi Komori | Lettering plate |
-
1983
- 1983-12-20 JP JP58238812A patent/JPS60130702A/en active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60130702A (en) | 1985-07-12 |
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