JPH046060B2 - - Google Patents
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- JPH046060B2 JPH046060B2 JP59100341A JP10034184A JPH046060B2 JP H046060 B2 JPH046060 B2 JP H046060B2 JP 59100341 A JP59100341 A JP 59100341A JP 10034184 A JP10034184 A JP 10034184A JP H046060 B2 JPH046060 B2 JP H046060B2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/16—Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation
- H01J27/18—Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation with an applied axial magnetic field
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は電子サイクロトロン共鳴イオン源に関
するものである。それは抽出されるイオンの運動
のエネルギの異なる値の関数としてのいろいろな
応用を有するとともに、薄層スパツタ、マイクロ
エツチ、イオン注入、核融合炉のプラズマの高速
中性子による加熱、タンデム加速器、シンクロサ
イクロトロンなどに使用される。
するものである。それは抽出されるイオンの運動
のエネルギの異なる値の関数としてのいろいろな
応用を有するとともに、薄層スパツタ、マイクロ
エツチ、イオン注入、核融合炉のプラズマの高速
中性子による加熱、タンデム加速器、シンクロサ
イクロトロンなどに使用される。
(従来の技術)
電子サイクロトロン共鳴イオン源では、イオン
は空洞に作られる高周波電磁界と前記空洞内で顕
著な合成磁界との組合せ作用の結果として、超高
周波空洞内に含まれる気体または固体の蒸気を強
く電離することによつて作られる。また磁界は電
子サイクロトロン共鳴条件Br=f・2πm/eを満足 する大きさBrを有する。ただしmは電子の質両、
eはその電荷、fは電磁界の周波数である。この
共鳴は生成される電子を強く加速させることがで
き、したがつて気体または蒸気の中性原子に対す
る衝撃によつて、後者を強く電離させることがで
きる。
は空洞に作られる高周波電磁界と前記空洞内で顕
著な合成磁界との組合せ作用の結果として、超高
周波空洞内に含まれる気体または固体の蒸気を強
く電離することによつて作られる。また磁界は電
子サイクロトロン共鳴条件Br=f・2πm/eを満足 する大きさBrを有する。ただしmは電子の質両、
eはその電荷、fは電磁界の周波数である。この
共鳴は生成される電子を強く加速させることがで
き、したがつて気体または蒸気の中性原子に対す
る衝撃によつて、後者を強く電離させることがで
きる。
サイクロトロン共鳴源の作動は、本出願人の名
で出願された米国特許第4417178号に詳しく説明
されている。
で出願された米国特許第4417178号に詳しく説明
されている。
例えばバークリ(Berckeley)(1974年10月)
の「イオン源およびイオン・ビーム形成に関する
シンポジウムの議事録」においてアール・ゲラー
(R.Geller)、シー・ジヤコウ(C.Jacquot)、およ
びピー・サーメツト(P.Sermet)が説明し、ま
た北オランダ出版社196の1982年発行の「核計測
器および方法」の第325頁から第329頁まででエ
フ・ブア(F.Bourg)、アール・ゲラー(R.
Geller)、ビー・ジヤコウ(B.Jacqout)、テイ
ー・ミラー(T.Lamy)、エム・ポントニヤ(M.
Pontonnier)およびジエー・シー・ロコ(J.C.
Rocco)が説明したような、これまでの電子サイ
クロトロン共鳴イオン源の構造は、磁気ミラー配
位の助けを借りたプラズマの閉じ込めに基づく。
最初の引用文献による構造では、磁気ミラー配位
は3群のコイルによつて得られる。
の「イオン源およびイオン・ビーム形成に関する
シンポジウムの議事録」においてアール・ゲラー
(R.Geller)、シー・ジヤコウ(C.Jacquot)、およ
びピー・サーメツト(P.Sermet)が説明し、ま
た北オランダ出版社196の1982年発行の「核計測
器および方法」の第325頁から第329頁まででエ
フ・ブア(F.Bourg)、アール・ゲラー(R.
Geller)、ビー・ジヤコウ(B.Jacqout)、テイ
ー・ミラー(T.Lamy)、エム・ポントニヤ(M.
Pontonnier)およびジエー・シー・ロコ(J.C.
Rocco)が説明したような、これまでの電子サイ
クロトロン共鳴イオン源の構造は、磁気ミラー配
位の助けを借りたプラズマの閉じ込めに基づく。
最初の引用文献による構造では、磁気ミラー配位
は3群のコイルによつて得られる。
第1図はこのイオン源を構成する主な素子の位
置表示を重ねることによる先行技術によるイオン
源の中心軸に沿う距離と関数としての磁界曲線を
示すグラフである。第1図に示される通り、コイ
ルによつて供給される磁界1の曲線はコイルの第
1群2および第3群4の位置で2つの最大値を有
するとともに、コイルの第2群3の位置でこれら
2つの最大値の間に1つの最小値を有し、前記第
2群は逆磁界を供給する。
置表示を重ねることによる先行技術によるイオン
源の中心軸に沿う距離と関数としての磁界曲線を
示すグラフである。第1図に示される通り、コイ
ルによつて供給される磁界1の曲線はコイルの第
1群2および第3群4の位置で2つの最大値を有
するとともに、コイルの第2群3の位置でこれら
2つの最大値の間に1つの最小値を有し、前記第
2群は逆磁界を供給する。
最大値はサイクロトロン共鳴に対応する磁気誘
導値Brよりも高く、共振は2つの最大値の中間
に得られる。かくて、プラズマは前記磁界の最大
値の中間に置かれるイオン源の区域内に作られか
つ閉じ込められる。前記イオン源の磁気誘導の最
大値および最小値はこの場合、それぞれ4200ガウ
スならびに3200ガウスである。電子サイクロトロ
ン共鳴は3600ガウスで起こり、注入される高周波
の周波数は約10GHzで固定される。
導値Brよりも高く、共振は2つの最大値の中間
に得られる。かくて、プラズマは前記磁界の最大
値の中間に置かれるイオン源の区域内に作られか
つ閉じ込められる。前記イオン源の磁気誘導の最
大値および最小値はこの場合、それぞれ4200ガウ
スならびに3200ガウスである。電子サイクロトロ
ン共鳴は3600ガウスで起こり、注入される高周波
の周波数は約10GHzで固定される。
プラズマ内に作られたイオンは、磁界の第2の
最大値の下流に置かれる電極によつて構成される
抽出装置5によつて最終的に抽出される。さら
に、前述の例のように、イオン抽出装置が第2磁
界最大値の下流に置かれかつ第2磁界最大値が減
少されるならば、イオン源から出るイオン電流は
それに比例して減少される。
最大値の下流に置かれる電極によつて構成される
抽出装置5によつて最終的に抽出される。さら
に、前述の例のように、イオン抽出装置が第2磁
界最大値の下流に置かれかつ第2磁界最大値が減
少されるならば、イオン源から出るイオン電流は
それに比例して減少される。
強いイオン電流を得るために、イオンはサイク
ロトロン共鳴界と略同じ大きさの磁界で抽出され
る。イオン・ビームがコイル群により作られた磁
界内に放出されかつ磁界がイオン源の第2コイル
の下流から突然除去されると、イオンは横エネル
ギを得てイオン・ビームは発散し、その結果その
光特性は破壊される。この効果はブツシユの定理
に説明されている。
ロトロン共鳴界と略同じ大きさの磁界で抽出され
る。イオン・ビームがコイル群により作られた磁
界内に放出されかつ磁界がイオン源の第2コイル
の下流から突然除去されると、イオンは横エネル
ギを得てイオン・ビームは発散し、その結果その
光特性は破壊される。この効果はブツシユの定理
に説明されている。
イオン源の下流のビームの光特性を保持するた
めには、イオン使用位置または、イオンを中性粒
子に変換させる位置まで、イオン・ビームのあら
ゆる滑動空間において磁界を一定に保つ必要があ
る。前述の例では、一定に保つべき磁界は約3600
ガウスの誘導に相当するが、前記磁界を作るコイ
ル6によつて消費される電気エネルギは約1メガ
ワツトである。
めには、イオン使用位置または、イオンを中性粒
子に変換させる位置まで、イオン・ビームのあら
ゆる滑動空間において磁界を一定に保つ必要があ
る。前述の例では、一定に保つべき磁界は約3600
ガウスの誘導に相当するが、前記磁界を作るコイ
ル6によつて消費される電気エネルギは約1メガ
ワツトである。
低エネルギのイオン(1KeV以下)を用いる場
合は、抽出装置は高密度イオンを抽出することが
不可能である。密度を増大させるために、イオン
源の下流においてイオン・ビームを圧縮すること
ができる。磁界はイオン・ビームを圧縮するため
に比例して増加されなければならない。かくて、
イオン電流密度の増加は、この大きさの磁界を作
ることに関して起こる技術的問題によつて制限さ
れる。
合は、抽出装置は高密度イオンを抽出することが
不可能である。密度を増大させるために、イオン
源の下流においてイオン・ビームを圧縮すること
ができる。磁界はイオン・ビームを圧縮するため
に比例して増加されなければならない。かくて、
イオン電流密度の増加は、この大きさの磁界を作
ることに関して起こる技術的問題によつて制限さ
れる。
要するに、先行技術のイオン源は磁界配位のエ
ネルギ消費が極めて大きいという不利を受ける一
方、低運動エネルギのイオン電流の密度増加は大
きな磁界を必要とする。
ネルギ消費が極めて大きいという不利を受ける一
方、低運動エネルギのイオン電流の密度増加は大
きな磁界を必要とする。
(発明の要約)
本発明の目的はこれらの不利を除去することで
ある。このために、本発明は電子サイクロトロン
共鳴イオン源においてプラズマの磁界配位による
閉じ込めの変形を提供し、これにより先行技術の
イオン源の磁界よりもずつと弱い磁界内でイオン
を抽出することができる。
ある。このために、本発明は電子サイクロトロン
共鳴イオン源においてプラズマの磁界配位による
閉じ込めの変形を提供し、これにより先行技術の
イオン源の磁界よりもずつと弱い磁界内でイオン
を抽出することができる。
本発明は電子サイクロトロン共鳴イオン源に関
し、特に、磁界配位中で作られかつその中に閉じ
込められるプラズマを構成する気体または物質の
蒸気を容れる空洞内に超高周波電力を注入する装
置と、イオン抽出装置とを有する電子サイクロト
ロン共鳴イオン源において、磁界配位が2群のコ
イルによつて構成され、超高周波注入器の気密の
窓によつて形成される平面内に置かれる第1群は
プラズマを閉じ込める磁界を供給する一方、第1
群のコイルとは逆磁界を供給する第2群コイルは
イオン抽出装置を囲むことを特徴とする。
し、特に、磁界配位中で作られかつその中に閉じ
込められるプラズマを構成する気体または物質の
蒸気を容れる空洞内に超高周波電力を注入する装
置と、イオン抽出装置とを有する電子サイクロト
ロン共鳴イオン源において、磁界配位が2群のコ
イルによつて構成され、超高周波注入器の気密の
窓によつて形成される平面内に置かれる第1群は
プラズマを閉じ込める磁界を供給する一方、第1
群のコイルとは逆磁界を供給する第2群コイルは
イオン抽出装置を囲むことを特徴とする。
イオン源の1つの好適な実施例によれば、イオ
ン抽出装置の下流に取り付けられかつ第1群と同
じ方向の電流を供給される第3群のコイルは抽出
されたイオン・ビームを圧縮するように抽出装置
の磁界よりも強い磁界を供給する。
ン抽出装置の下流に取り付けられかつ第1群と同
じ方向の電流を供給される第3群のコイルは抽出
されたイオン・ビームを圧縮するように抽出装置
の磁界よりも強い磁界を供給する。
もう1つの特徴により、コイルのすべての群に
より供給される磁界はコイルの第1群の位置にお
けるサイクロトロン共鳴の最大値よりも大きな最
大値を有し、かつ磁界がコイルの第2群の位置で
最小値まで減少する一方、2群のコイルの中間に
おいてサイクロトロン共鳴に対応する磁気誘導
Brの値を通過する。
より供給される磁界はコイルの第1群の位置にお
けるサイクロトロン共鳴の最大値よりも大きな最
大値を有し、かつ磁界がコイルの第2群の位置で
最小値まで減少する一方、2群のコイルの中間に
おいてサイクロトロン共鳴に対応する磁気誘導
Brの値を通過する。
イオン源のもう1つの実施例により、イオン源
の抽出装置の位置は、抽出位置での弱い磁界がコ
イルの第1群によつてのみ供給されるように選択
される。
の抽出装置の位置は、抽出位置での弱い磁界がコ
イルの第1群によつてのみ供給されるように選択
される。
イオン源のなおもう1つの実施例により、超高
周波注入装置は数個の超高周波注入器によつて構
成され、これらの各注入器は1群のコイルによつ
て囲まれ、これらのコイルは各注入器の気密な窓
によつて形成される平面内に置かれる もう1つの特徴により、プラズマを閉じ込める
磁界配位はさらに、永久磁石によつて構成される
多極磁界配位をも含む。
周波注入装置は数個の超高周波注入器によつて構
成され、これらの各注入器は1群のコイルによつ
て囲まれ、これらのコイルは各注入器の気密な窓
によつて形成される平面内に置かれる もう1つの特徴により、プラズマを閉じ込める
磁界配位はさらに、永久磁石によつて構成される
多極磁界配位をも含む。
もう1つの特徴により、サイクロトロン共鳴に
対応する磁界は、超高周波注入装置とイオン源の
空洞との接続点の約数cm下流での距離で得られ
る。
対応する磁界は、超高周波注入装置とイオン源の
空洞との接続点の約数cm下流での距離で得られ
る。
もう1つの特徴により、気体の注入はイオン抽
出装置付近の下流側で行われる。
出装置付近の下流側で行われる。
もう1つの特徴により、イオン抽出装置は1個
の電極によつて構成される。
の電極によつて構成される。
本発明によるイオン源のもう1つの実施例によ
り、プラズマを構成する気体は重水素であり、ま
たコイルの第2群の位置における磁界は数百ガウ
ス程度である。
り、プラズマを構成する気体は重水素であり、ま
たコイルの第2群の位置における磁界は数百ガウ
ス程度である。
本発明は、以下の実施例に関し付図を用いて詳
しく説明される。
しく説明される。
(実施例)
第2a図はイオン源の中心軸に沿う電子サイク
ロトロン共鳴イオン源の1つの実施例の簡潔化さ
れた断面形を示す。真空空洞9において、例えば
回転円筒の形で、一端は超高周波電力注入器8を
取り付け、他端はイオン利用位置に接続されてい
る。空洞9はイオン源の特性の関数としてランダ
ムな形状を有することができるのに注目すべきで
ある。特に、超高周波電力注入装置8は数個の超
高周波注入器によつて構成される。気体または蒸
気は17に導入されるが、これはイオン抽出装置
の下流およびその付近で2×10-3〜2×10-3トリ
チエリーの低い圧力の下でプラズマを形成するの
に役立つ。
ロトロン共鳴イオン源の1つの実施例の簡潔化さ
れた断面形を示す。真空空洞9において、例えば
回転円筒の形で、一端は超高周波電力注入器8を
取り付け、他端はイオン利用位置に接続されてい
る。空洞9はイオン源の特性の関数としてランダ
ムな形状を有することができるのに注目すべきで
ある。特に、超高周波電力注入装置8は数個の超
高周波注入器によつて構成される。気体または蒸
気は17に導入されるが、これはイオン抽出装置
の下流およびその付近で2×10-3〜2×10-3トリ
チエリーの低い圧力の下でプラズマを形成するの
に役立つ。
軸方向の静磁界は、空洞を囲むコイルによつて
加えられる。磁気制限界を供給するために空洞を
囲む永久磁石を用いることもできる。
加えられる。磁気制限界を供給するために空洞を
囲む永久磁石を用いることもできる。
超高周波界の脈動ωが磁界内の電子サイクロト
ロン共鳴の脈動に等しければ、プラズマが作られ
る。
ロン共鳴の脈動に等しければ、プラズマが作られ
る。
イオン源のもう1つの実施例では、プラズマは
別の位置で作られ、次に空洞9に注入される。プ
ラズマはコイルの2群11,12によつて得られ
る磁界配位内に閉じ込められる。コイルの第1群
11は、超高周波注入器8の気密の窓13により
形成される平面内に置かれて注入器8を囲む。
別の位置で作られ、次に空洞9に注入される。プ
ラズマはコイルの2群11,12によつて得られ
る磁界配位内に閉じ込められる。コイルの第1群
11は、超高周波注入器8の気密の窓13により
形成される平面内に置かれて注入器8を囲む。
コイルの第2群12はコイルの第1群の下流の所
定距離に置かれ、第1群のコイルとは逆磁界を生
じる電流を供給される。
定距離に置かれ、第1群のコイルとは逆磁界を生
じる電流を供給される。
第2b図に示される通り、コイルのこれら2群
の合計は、コイルの第1群11の位置で最大値を持
つ磁界を供給する。この値は電子サイクロトロン
光鳴に対応する値Brを越える。磁界はコイルの
第2群12の位置で最小値まで減少する。
の合計は、コイルの第1群11の位置で最大値を持
つ磁界を供給する。この値は電子サイクロトロン
光鳴に対応する値Brを越える。磁界はコイルの
第2群12の位置で最小値まで減少する。
ちなみに、磁界はサイクロトロン共鳴に対応す
る磁界の値Brに達する。抽出位置の磁界がコイ
ルの第1群によつてのみ供給されるように、コイ
ルの第1群と抽出装置との間の距離を選択するこ
とも可能である。
る磁界の値Brに達する。抽出位置の磁界がコイ
ルの第1群によつてのみ供給されるように、コイ
ルの第1群と抽出装置との間の距離を選択するこ
とも可能である。
磁界の断面形状は、電子サイクロトロン共鳴が
超高周波電力注入器と空洞との接続部の数cmほど
下流に起こるように選択される。さらに、共鳴区
域は窓13から十分離れていて、この点で作られ
るプラズマ10は窓までほとんど拡散せず、した
がつて窓を損傷する危険のないことが保証され
る。さらに、共鳴は空洞の壁から十分離れてい
て、プラズマ密度に減少がないことが保証され
る。
超高周波電力注入器と空洞との接続部の数cmほど
下流に起こるように選択される。さらに、共鳴区
域は窓13から十分離れていて、この点で作られ
るプラズマ10は窓までほとんど拡散せず、した
がつて窓を損傷する危険のないことが保証され
る。さらに、共鳴は空洞の壁から十分離れてい
て、プラズマ密度に減少がないことが保証され
る。
1群を構成するコイルの数は、供給すべき磁界
に左右される。プラズマの磁気閉じ込めの好適な
実施例では、コイルの第1群11と第2群12との間
に多極磁界配位が具備されている。
に左右される。プラズマの磁気閉じ込めの好適な
実施例では、コイルの第1群11と第2群12との間
に多極磁界配位が具備されている。
第3図は第2a図のA−Aに沿う断面におい
て、補助磁気閉じ込めの6極配列を示す。プラズ
マ10は、プラズマを囲む空洞の円筒部分の回り
にリング状に分布されかつ交互極性を持つ永久磁
石18によつて作られる磁力線により閉じ込めら
れる。
て、補助磁気閉じ込めの6極配列を示す。プラズ
マ10は、プラズマを囲む空洞の円筒部分の回り
にリング状に分布されかつ交互極性を持つ永久磁
石18によつて作られる磁力線により閉じ込めら
れる。
プラズマを形成する気体が重水素である場合
は、超高周波界の脈動の周波数はほぼ10GHzであ
り、したがつて電子サイクロトロン共鳴は誘導
Br=3600ガウスにおいて生じる。
は、超高周波界の脈動の周波数はほぼ10GHzであ
り、したがつて電子サイクロトロン共鳴は誘導
Br=3600ガウスにおいて生じる。
コイルの第1群の位置における誘導Bnaxの最
大幅は約5000ガウスに選択されることが望まし
く、コイルの第2群の位置における値は数百ガウ
ス程度に選択されることが望ましい。イオン抽出
装置14は第2群を構成するコイル内に置かれ
る。
大幅は約5000ガウスに選択されることが望まし
く、コイルの第2群の位置における値は数百ガウ
ス程度に選択されることが望ましい。イオン抽出
装置14は第2群を構成するコイル内に置かれ
る。
本発明によるイオン源においては、抽出装置の
位置においてこの磁気誘導値はサイクロトロン共
鳴に対応する誘導Brの値の10%未満であること
が注目される。抽出装置は1個の電極の形である
ことができる。
位置においてこの磁気誘導値はサイクロトロン共
鳴に対応する誘導Brの値の10%未満であること
が注目される。抽出装置は1個の電極の形である
ことができる。
本発明によるイオン源および抽出装置14の位
置ぎめと共に実施された試験は、イオン抽出装置
5(第1図)がプラズマに閉じ込め用磁界の第2
最大値の下流に置かれる先行技術によるイオン源
について実施された試験の場合と違つて、抽出さ
れたイオンの電流が抽出位置での磁気誘導値に比
例しないことを示した。比較し得る条件の下で、
本発明によるイオン源から出たイオン電流は在来
のイオン源のそれの2倍である。
置ぎめと共に実施された試験は、イオン抽出装置
5(第1図)がプラズマに閉じ込め用磁界の第2
最大値の下流に置かれる先行技術によるイオン源
について実施された試験の場合と違つて、抽出さ
れたイオンの電流が抽出位置での磁気誘導値に比
例しないことを示した。比較し得る条件の下で、
本発明によるイオン源から出たイオン電流は在来
のイオン源のそれの2倍である。
単位容積当たりの超高周波電力を増加すると、
イオン電流は増加する。そのとき、より大きなイ
オン電流を抽出し、すなわち空洞の幅および直径
を減少することが可能であり、これは「小形空
洞」の使用につながるが、ただしサイクロトロン
共鳴がガイドから数cmの空洞内にあるものとする
(空洞変移)。
イオン電流は増加する。そのとき、より大きなイ
オン電流を抽出し、すなわち空洞の幅および直径
を減少することが可能であり、これは「小形空
洞」の使用につながるが、ただしサイクロトロン
共鳴がガイドから数cmの空洞内にあるものとする
(空洞変移)。
抽出されたビーム16の放射方向の均一性が著
しく改善され、また本発明によるこの磁界配位で
作られたプラズマ10の安定性は先行技術ののそ
れよりも大きいことも判明している。
しく改善され、また本発明によるこの磁界配位で
作られたプラズマ10の安定性は先行技術ののそ
れよりも大きいことも判明している。
イオン源から抽出されたビームは、抽出装置1
4に加えられる磁界よりも強い磁界を加えること
によつて、抽出電極の下流で圧縮されることが見
出されている。イオン電流の密度は加えられた磁
界に比例して増加する。
4に加えられる磁界よりも強い磁界を加えること
によつて、抽出電極の下流で圧縮されることが見
出されている。イオン電流の密度は加えられた磁
界に比例して増加する。
この磁界は第2図に示される通り、コイルの第
3群15によつて作られる。イオン抽出位置の磁
界は、イオン源の上流のイオン・ビームの光特性
を保持または増大するように極めて弱く、それに
は先行技術のイオン源に用いられる磁界よりもず
つと低い磁界を供給するコイルで事が足りる。
3群15によつて作られる。イオン抽出位置の磁
界は、イオン源の上流のイオン・ビームの光特性
を保持または増大するように極めて弱く、それに
は先行技術のイオン源に用いられる磁界よりもず
つと低い磁界を供給するコイルで事が足りる。
上述の例では、これらのコイルのエネルギ消費
はフアクターとして10以上減少されるので、エネ
ルギ節約は顕著である。
はフアクターとして10以上減少されるので、エネ
ルギ節約は顕著である。
イオン・ビームの光特性に関するもう1つの面
により、磁界を加える位置の十分手前で磁界を除
去することができ、しかもその特性は少しも劣化
しない。ブツシユの定理に示される影響が無視で
きるようになるのは、磁界が比較的弱いからであ
る。これはイオン源の下流でのさらに有意義なエ
ネルギ節約につながり、全寸法は数多いコイルの
除去により減少される。
により、磁界を加える位置の十分手前で磁界を除
去することができ、しかもその特性は少しも劣化
しない。ブツシユの定理に示される影響が無視で
きるようになるのは、磁界が比較的弱いからであ
る。これはイオン源の下流でのさらに有意義なエ
ネルギ節約につながり、全寸法は数多いコイルの
除去により減少される。
第1図は先行技術のイオン源の中心軸に沿う距
離の関数として磁界曲線を示すグラフに前記イオ
ン源を構成する主な様子の幾つかの位置を表わす
図を重ねたものであり、第2a図はイオン源の中
心軸を含む平面内の部分における本発明による電
子サイクロトロン共鳴イオン源を示す図であり、
第2b図は本発明によるイオン源の中心軸に沿う
距離の関数としての磁界の断面図を示すグラフで
あり、第3図は第2図の矢印に沿う断面の形でプ
ラズマの補助磁気閉じ込めの6極配列を示す図で
ある。 主な符号の説明、1……磁界曲線;2,3,
4,6……コイル;5,14……イオン抽出装
置;8……超高周波電力注入装置;9……空洞;
10……プラズマ;11,12,15……コイ
ル;13……窓;18……永久磁石。
離の関数として磁界曲線を示すグラフに前記イオ
ン源を構成する主な様子の幾つかの位置を表わす
図を重ねたものであり、第2a図はイオン源の中
心軸を含む平面内の部分における本発明による電
子サイクロトロン共鳴イオン源を示す図であり、
第2b図は本発明によるイオン源の中心軸に沿う
距離の関数としての磁界の断面図を示すグラフで
あり、第3図は第2図の矢印に沿う断面の形でプ
ラズマの補助磁気閉じ込めの6極配列を示す図で
ある。 主な符号の説明、1……磁界曲線;2,3,
4,6……コイル;5,14……イオン抽出装
置;8……超高周波電力注入装置;9……空洞;
10……プラズマ;11,12,15……コイ
ル;13……窓;18……永久磁石。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 プラズマ10生成物質のガスまたは蒸気を容
れる空洞9と、該空洞の一端から超高周波電力を
注入する装置8と、イオン抽出装置14とを有す
る電子サイクロトロン共鳴イオン源7であつて、
前記プラズマは磁界配位中で作られて該磁界配位
中に閉じ込められ、前記超高周波電力注入装置8
は気密な窓13を持つものにおいて、 前記磁界配位は2群のコイル11,12によつ
て作られ、 第1群コイル11は前記超高周波電力注入装置
8の気密窓13で規定される平面内にあつて該装
置を囲むように配置されてプラズマを閉じ込める
磁界を供給し、 第2群コイル12はイオン抽出装置14を囲む
ように配置されて第1群コイルに関して逆磁界を
生じる電流を供給され、 イオン源中心軸上において両群コイル11,1
2により供給される磁界の磁束密度は第1群コイ
ルの位置におけるサイクロトロン共鳴による磁界
の最大値よりも大きい最大値を持ち、かつ、イオ
ン抽出装置14の位置において最小値に減少し、
両群コイル11,12の中間においてサイクロト
ロン共鳴に対応する磁界の磁束密度Brを経由す
ることを特徴とする、 電子サイクロトロン共鳴イオン源。 2 イオン抽出装置14の下流には第3群コイル
15が取り付けられ、該第3群コイルは、第1群
コイルと同符号の電流を供給され、かつイオン抽
出装置14により抽出されたイオン・ビームを圧
縮するために、イオン抽出装置の位置において、
第2群コイルにより作られる磁界よりも強い磁界
を作ることを特徴とする、第1項記載のイオン
源。 3 前記プラズマ閉じ込め用磁界配位が、さらに
複数個の永久磁石によつて構成される多極磁界配
位を含むことを特徴とする、第1項記載のイオン
源。 4 前記サイクロトロン共鳴に対応する磁界が、
超高周波電力注入装置8と本イオン源の空洞9と
の接合点の数cm下流の距離において到達されるこ
とを特徴とする、第1項記載のイオン源。 5 前記ガスまたは蒸気の注入17が、イオン抽
出装置近くの上流側で行われることを特徴とす
る、第1項記載のイオン源。 6 前記イオン抽出装置が、単一の電極で構成さ
れることを特徴とする、第1項記載のイオン源。 7 前記プラズマ生成用ガスが重水素であり、か
つ前記イオン抽出装置14の位置における磁界の
磁束密度が約数10-2テスラであることを特徴とす
る、第1項記載のイオン源。 8 前記超高周波電力注入装置が、複数個の超高
周波電力注入器から構成され、各注入器は1群の
コイルに取り囲まれ、該コイルは各注入器の気密
窓により規定される平面内にあることを特徴とす
る、第1項記載のイオン源。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8308401 | 1983-05-20 | ||
FR8308401A FR2546358B1 (fr) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | Source d'ions a resonance cyclotronique des electrons |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6041735A JPS6041735A (ja) | 1985-03-05 |
JPH046060B2 true JPH046060B2 (ja) | 1992-02-04 |
Family
ID=9289043
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59100341A Granted JPS6041735A (ja) | 1983-05-20 | 1984-05-18 | 電子サイクロトロン共鳴イオン源 |
Country Status (6)
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---|---|
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EP (1) | EP0127523B1 (ja) |
JP (1) | JPS6041735A (ja) |
CA (1) | CA1232375A (ja) |
DE (1) | DE3473377D1 (ja) |
FR (1) | FR2546358B1 (ja) |
Families Citing this family (22)
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FR2580427B1 (fr) * | 1985-04-11 | 1987-05-15 | Commissariat Energie Atomique | Source d'ions negatifs a resonance cyclotronique des electrons |
US4778561A (en) * | 1987-10-30 | 1988-10-18 | Veeco Instruments, Inc. | Electron cyclotron resonance plasma source |
DE3834984A1 (de) * | 1988-10-14 | 1990-04-19 | Leybold Ag | Einrichtung zur erzeugung von elektrisch geladenen und/oder ungeladenen teilchen |
DE3903322A1 (de) * | 1989-02-04 | 1990-08-16 | Nmi Naturwissenschaftl U Mediz | Verfahren zur erzeugung von ionen |
JPH0618108B2 (ja) * | 1989-12-07 | 1994-03-09 | 雄一 坂本 | 電子サイクロトロン型イオン源 |
GB9009319D0 (en) * | 1990-04-25 | 1990-06-20 | Secr Defence | Gaseous radical source |
US5208512A (en) * | 1990-10-16 | 1993-05-04 | International Business Machines Corporation | Scanned electron cyclotron resonance plasma source |
DK0585229T3 (da) * | 1991-05-21 | 1995-12-27 | Materials Research Corp | Blødætsningsmodul til clusterværktøj og tilhørende ECR-plasmagenerator |
DE4200235C1 (ja) * | 1992-01-08 | 1993-05-06 | Hoffmeister, Helmut, Dr., 4400 Muenster, De | |
US6441569B1 (en) | 1998-12-09 | 2002-08-27 | Edward F. Janzow | Particle accelerator for inducing contained particle collisions |
FR2795906B1 (fr) * | 1999-07-01 | 2001-08-17 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de depot par plasma a la resonance cyclotron electronique de couches de tissus de nonofibres de carbone et couches de tissus ainsi obtenus |
DE19933762C2 (de) * | 1999-07-19 | 2002-10-17 | Juergen Andrae | Gepulste magnetische Öffnung von Elektronen-Zyklotron-Resonanz-Jonenquellen zur Erzeugung kurzer, stromstarker Pulse hoch geladener Ionen oder von Elektronen |
FR2815954B1 (fr) * | 2000-10-27 | 2003-02-21 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de depot par plasma a la resonance cyclotron electronique de nanotubes de carbone monoparois et nanotubes ainsi obtenus |
AU2002232395A1 (en) * | 2000-11-03 | 2002-05-15 | Tokyo Electron Limited | Hall effect ion source at high current density |
DE10058326C1 (de) * | 2000-11-24 | 2002-06-13 | Astrium Gmbh | Induktiv gekoppelte Hochfrequenz-Elektronenquelle mit reduziertem Leistungsbedarf durch elektrostatischen Einschluss von Elektronen |
US6876154B2 (en) * | 2002-04-24 | 2005-04-05 | Trikon Holdings Limited | Plasma processing apparatus |
US6812647B2 (en) * | 2003-04-03 | 2004-11-02 | Wayne D. Cornelius | Plasma generator useful for ion beam generation |
US7742167B2 (en) * | 2005-06-17 | 2010-06-22 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Optical emission device with boost device |
US8006939B2 (en) | 2006-11-22 | 2011-08-30 | Lockheed Martin Corporation | Over-wing traveling-wave axial flow plasma accelerator |
US7870720B2 (en) * | 2006-11-29 | 2011-01-18 | Lockheed Martin Corporation | Inlet electromagnetic flow control |
EP3905300A3 (en) | 2009-05-15 | 2022-02-23 | Alpha Source, Inc. | Ecr particle beam source apparatus |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1020224A (en) * | 1962-01-22 | 1966-02-16 | Hitachi Ltd | Improvements relating to an electron cyclotron resonance ultra-violet lamp |
US3418206A (en) * | 1963-04-29 | 1968-12-24 | Boeing Co | Particle accelerator |
FR2147497A5 (ja) * | 1971-07-29 | 1973-03-09 | Commissariat Energie Atomique | |
US4045677A (en) * | 1976-06-11 | 1977-08-30 | Cornell Research Foundation, Inc. | Intense ion beam generator |
US4393333A (en) * | 1979-12-10 | 1983-07-12 | Hitachi, Ltd. | Microwave plasma ion source |
FR2475798A1 (fr) * | 1980-02-13 | 1981-08-14 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de production d'ions lourds fortement charges et une application mettant en oeuvre le procede |
JPS5947421B2 (ja) * | 1980-03-24 | 1984-11-19 | 株式会社日立製作所 | マイクロ波イオン源 |
JPS5779621A (en) * | 1980-11-05 | 1982-05-18 | Mitsubishi Electric Corp | Plasma processing device |
-
1983
- 1983-05-20 FR FR8308401A patent/FR2546358B1/fr not_active Expired
-
1984
- 1984-05-15 CA CA000454349A patent/CA1232375A/en not_active Expired
- 1984-05-17 EP EP84401014A patent/EP0127523B1/fr not_active Expired
- 1984-05-17 DE DE8484401014T patent/DE3473377D1/de not_active Expired
- 1984-05-18 JP JP59100341A patent/JPS6041735A/ja active Granted
- 1984-05-18 US US06/611,625 patent/US4638216A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3473377D1 (en) | 1988-09-15 |
EP0127523A1 (fr) | 1984-12-05 |
JPS6041735A (ja) | 1985-03-05 |
FR2546358B1 (fr) | 1985-07-05 |
FR2546358A1 (fr) | 1984-11-23 |
US4638216A (en) | 1987-01-20 |
EP0127523B1 (fr) | 1988-08-10 |
CA1232375A (en) | 1988-02-02 |
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