JPH0458142A

JPH0458142A - 耐発火性試験方法及び装置

Info

Publication number: JPH0458142A
Application number: JP16897990A
Authority: JP
Inventors: Tadashi Katsui; 忠士勝井; Katsuhiko Nakada; 克彦中田
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1990-06-27
Filing date: 1990-06-27
Publication date: 1992-02-25

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔概要〕例えば電子機器のカバー等に多用されている合成樹脂製
の成形品の耐発火性を試験する方法及び装置に関し、耐発火性試験対象物の耐発火性を電子機器内で実際に起
こりつる状況で試験可能とすることを目的とし、耐発火性試験対象物を予熱する工程と、上記予熱工程に
より予熱された上記試験対象物に火炎を照射する工程と
より構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は例えば電子機器のカバー等に多用されている合
成樹脂製の成形品の耐発火性を試験する方法及び装置に
関する。

電子機器のカバー等には、合成樹脂成形品が多用されて
いる。例えば第７図に示すように、合成樹脂成形品であ
るカバ一部材１は、抵抗素子２゜コンデンサ３等が実装
されているプリント回路基板４のすぐ上側に配設されて
いる。

電子機器が故障を起こし、抵抗素子２に過剰電流が流れ
ることがある。この場合、抵抗素子２は徐々に加熱され
、場合によっては遂に炎を発生することもありうる。

そこで、上記のカバ一部材１については、耐発火性につ
いて試験を行ない、安全性を確認する必要がある。

この耐発火性試験は、熱をより実際に近い状態で加えて
行うことが望ましい。

〔従来の技術〕

従来は第８図に示すように、カバ一部材１を支柱１０．
１１により支持し、バーナ１２を使用し、火炎１３をカ
バ一部材１に５秒程度あてることにより行っていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記の電子機器における異常時の実際の状況は、加熱し
た抵抗素子２によりカバ一部材１が予熱され、この状況
において、発火した抵抗素子２の火炎が当たる状態とな
る。

しかし、上記従来の試験方法では、カバ一部材ｌを予熱
せず、カバ一部材ｌに最初から火炎を当てる方法である
ため、電子機器において実際に起こりつる加熱の状態と
は、相当に異なっており、カバ一部材１の耐発火性を正
しく評価することができなかった。

本発明は、発火性試験対象物の耐発火性を電子機器内で
実際に起こりうる状況で試験可能とした耐発火性試験方
法及び装置を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、耐発火性試験対象物を予熱する工程と、上記
予熱工程により予熱された上記試験対象物に火炎を照射
する工程とよりなる構成としたものである。

〔作用〕

火炎照射工程の前に予熱工程を設けることにより、耐発
火性試験対象物は、まず、予熱され、予熱されている状
態で火炎を照射される。

〔実施例〕

第１図は本発明の一実施例の耐発火性試験方法を示す。

２０は予熱工程であり、まず試験対象物であるカバ一部
材をこれに炎を当てずに所定時間Ｔ。

（例えば数時間）加熱する。

これにより、カバ一部材は、第２図中、ＪＩＩｒで示す
ように、予熱される。

２１は予熱工程２０に続く火炎照射工程であり、予熱さ
れているカバ一部材に炎を所定時間Ｔ、前照射る。

これにより、カバ一部材は、第２図中、線■で示すよう
に、上記の時間Ｔ、更に急激に加熱される。

カバ一部材を上記のように加熱したときの途中の状況及
び加熱後の状況（熱による変形又は発火等）から、カバ
一部材の耐発火性を評価する。

カバ一部材はまず予熱され、その後に火炎を照射される
ものであるため、電子機器の異常発熱時におけると同じ
状態で加熱されることになり、カバ一部材の耐発火性は
従来の試験方法による場合に比べてより正しく評価され
る。

次に本発明の一実施例の耐発火性試験装置３０について
、第３図乃至第６図を参照して説明する。

各図中、３１は径がｄｌの円柱形状の発熱体であり、セ
ラミック製の円柱体３２にニクロム線３３を螺旋状に巻
き付けた構造である。

発熱体３１の両端より、ロッド状の電源供給端子３４．
３５が突出している。

ニクロム線３３の両端は、上記端子３４．３５に巻き付
けてスポット溶接されている。

この発熱体３１は、端子３４．３５を、支柱３６．３７
により支持されて、５水平に支持されている。

端子３４．３５は、可変電源３８と電気的に接続されて
いる。

３９は発熱体３１と略同径のガイド部材であり、長い端
子３５が中心を貫通した状態で端子３５に固定されてお
り、発熱体３１に隣接してこの発熱体３１と同軸的に配
されている。

４０は火炎発生体であり、内径が上記径ｄ１より多少大
きいｄｌ＋外径かｄ３．長さが１の円筒体であり、ガイ
ド部材３９に第６図に示すように遊嵌して支持されてい
る。

また、火炎発生体４０には、多数の通気孔４１が径方向
に形成しである。

また、火炎発生体４０は可燃物であるエポキシ樹脂製で
ある。

４５はプランジャソレノイドであり、これか励磁される
と、押し棒４６が矢印Ｘ１方向に押し出され、火炎発生
体４０を押してこれを移動させる。

５０〜５３はカバ一部材支柱であり、上記発熱体３Ｉの
周囲の四方に立設しである。

被試験物であるカバ一部材ｌは、支柱５０〜５３により
支持されて、発熱体３１より上方に寸法Ｈの高さに、発
熱体３１を覆って配設される。

次に、上記構成の耐発火性試験装置３０の動作について
説明する。

まず、第３図、第５図に示すように、火炎発生体４０を
ガイド部材３９に支持させて位置Ｐｌにセットし、カバ
一部材１を発熱体３１の上方を覆って配設する。

この状態で、可変電源３８によりニクロム線３３に所定
の電流を流し、発熱体３１を所定の熱量で発熱させる。

これにより、カバ一部材ｌが第２図中線工で示すように
予熱される。

予熱を開始してから時間Ｔ、を経過した時点で、プラン
ジャソレノイド４５が励磁される。

プランジャソレノイド４５が励磁されると、押し棒４６
が矢印Ｘ１方向に突き出し、火炎発生体４０を押し、火
炎発生体４０はガイド部材３９により支持案内されつつ
矢印Ｘ１方向に移動して、第３図及び第４図中二点鎖線
で示す位置Ｐ２に到り、発熱体３１と嵌合してこれを包
み込む状態となる。

火炎発生体４０が位置Ｐ、に移動されると、火炎発生体
４０は発熱体３１により加熱され、直ちに発火して燃焼
し、第６図に示すように、火炎６０が上記カバ一部材ｌ
に照射される。

火炎発生体４０には、多数の通気孔４１が形成してあり
、空気か第５図中矢印６１て示すように、各通気孔４１
を通して中心側にとり込まれる。これにより、火炎発生
体４０は瞬時に着火されて完全に燃焼される。

以上により試験が終了する。

このときのカバ一部材１の状況（熱変形を起こしたり、
更には発火したりする）から、カバ一部材１の耐発火性
が評価される。

上記の試験装置３０によれば、以下に述べるように、予
熱時の発熱量及び火炎のエネルギを可変することが出来
る。

■　予熱時の発熱量の可変について。

可変電源３８の出力電圧を上げると、発熱体３１の発熱
量が増え、カバ一部材ｌは第２図中線Ｉｂで示すように
予熱される。

逆に可変電源３８の出力電圧を下げると、発熱体３１の
発熱量が減り、カバ一部材ｌは第２図中線Ｉｂで示すよ
うに予熱される。

■　火炎のエネルギの可変について。

火炎発生体４０として、径ｄｉ、長さｌが種々異なり、
サイズの異なるものを幾種類か用意する。

小さいサイズの火炎発生体を使用すると、火炎のエネル
ギは小さくなり、カバ一部材１は、第２図中線Ｉｒａで
示すように加熱される。

大きいサイズの火炎発生体を使用すると、火炎のエネル
ギは大きくなり、カバ一部材ｌは、第２図中線■ｂで示
すように加熱される。

このように、予熱時の発熱量及び火炎のエネルギを適宜
室めることにより、電子機器内において発生する異常加
熱と極めて似た状況を作り出すことが出来、カバ一部材
ｌの耐発火性をより正しく評価することが出来る。

また、火炎発生体４０の形状は、円筒形状に限らず、例
えば断面が角状、楕円形状のものでもよい。

また、試験対象物は、合成樹脂製の部品に限らない。

また、上記高さＨを変えて試験を行うことにより、カバ
一部材１が電子機器内で安全に配置できる安全圏を求め
ることもでき、これを電子機器設計のときのデータとし
て使用することにより、より安全な電子機器を設計する
ことが出来る。

〔発明の効果〕

以上説明した様に、本発明の請求項１の発明によれば、
耐発火性試験対象物をまず予熱し、予熱された状態の耐
発火性試験対象物に火炎を照射するため、耐発火性試験
対象物を、電子機器内で実際に生ずる異常加熱と近い状
態で加熱することか出来、従って、電子機器に組込まれ
る部品の耐発火性をより正しく評価することが出来る。

請求項２の発明によれば、耐発火性試験対象物を最初に
予熱し、この後に火炎を照射する順序で試験を行うこと
が出来る。

請求項３の発明によれば、予熱時の温度を、耐発火性試
験対象物が組込まれる電子機器内で生ずる異常加熱によ
る温度とすることが出来、実際に近い状態で予熱出来る
。

請求項４の発明によれば、火炎発生体を完全燃焼させる
ことが出来る。

請求項５の発明によれば、火炎のエネルギを、耐発火性
試験対象物が組込まれる電子機器内で発生する火炎のエ
ネルギとすることが出来、実際に近い状態で火炎を照射
出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の耐発火性試験方法を説明す
る図、第２図は本発明の耐発火性試験方法における加熱の仕方
を説明する図、第３図は本発明の一実施例の耐発火性試験装置を示す図
、第４図は第３図中、要部を取り出して示す平面図、第５図は第４図中、■−■線に沿う火炎発生体の断面図
、第６図は第３図の試験装置の立面図、第７図は電子機器におけるカバ一部材と電子回路との配
置の１例を示す図、第８図は従来の耐発火性試験方法の１例を示す図である
。図において、２０は予熱工程、２１は火炎照射工程、３０は耐発火性試験装置、３１は円柱状発熱体、３２はセラミック円柱体、３３はニクロム線、３４．３５は電源供給端子、３６．３７は支柱、３８は可変電源、３９はガイド部材、４０は火炎発生体、４１は通気孔、４５よプランジ中ソレノイド、４６は押し棒、５０〜５３はカバ一部材支柱、６０は火炎、１は空気の流れを示す矢印を示す。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）耐発火性試験対象物（１）を予熱する工程（２０
）と、上記予熱工程により予熱された上記試験対象物に火炎（
６０）を照射する工程（２１）とよりなることを特徴と
する耐発火性試験方法。
（２）耐発火性試験対象物の下方に水平に配され、該試
験対象物を予熱する略円柱状の発熱体（３１）と、該発熱体より離れた部位（Ｐ＿１）に支持されている、
筒形状であり、可燃物製の火炎発生体（４０）と、該火炎発生体を上記発熱体を覆う部位に移動させる機構
（４５、４６）とよりなり、上記発熱体が発熱して上記試験対象物を予熱し、この後
に上記移動機構が動作して上記火炎発生体が上記発熱体
を覆う部位（Ｐ＿２）に移動され、燃焼して火炎（６０
）を発生し、該火炎を上記試験対象物に照射する構成と
したことを特徴とする耐発火性試験装置。
（３）上記発熱体（３１）は、ニクロム線（３３）と、
これに電流を加える可変電源（３８）とよりなることを
特徴とする請求項２記載の耐発火性試験装置。
（４）上記火炎発生体（４０）は、多数の通気孔（４１
）を有することを特徴とする請求項２記載の耐発火性試
験装置。
（５）上記火炎発生体（４０）は、サイズの異なる複数
種類のものから選択可能であることを特徴とする請求項
２記載の耐発火性試験装置。