JPH0456178A - 超電導材料パターンの形成方法 - Google Patents
超電導材料パターンの形成方法Info
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- JPH0456178A JPH0456178A JP2163134A JP16313490A JPH0456178A JP H0456178 A JPH0456178 A JP H0456178A JP 2163134 A JP2163134 A JP 2163134A JP 16313490 A JP16313490 A JP 16313490A JP H0456178 A JPH0456178 A JP H0456178A
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Landscapes
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、超電導材料パターンの形成方法に関する。本
発明は、超電導材料を所望のパターン状〔発明の概要〕 本発明は、透明基体の第1の主面に形成した被加工膜パ
ターンをマスクにして、基体の第2の主面から光照射し
、第1の主面の被加工膜パターンの開口に該当する位置
にのみ超電導材料源ガスにより選択的に超電導材料部を
形成して、従来はパターン形成し難かった超電導材料を
容易にバターニング加工することを可能ならしめたもの
である。
発明は、超電導材料を所望のパターン状〔発明の概要〕 本発明は、透明基体の第1の主面に形成した被加工膜パ
ターンをマスクにして、基体の第2の主面から光照射し
、第1の主面の被加工膜パターンの開口に該当する位置
にのみ超電導材料源ガスにより選択的に超電導材料部を
形成して、従来はパターン形成し難かった超電導材料を
容易にバターニング加工することを可能ならしめたもの
である。
超電導材料は、極低温において電気抵抗値がゼロ、また
はそれに近い極低抵抗値を示すものであるが、最近、か
なりの高温下でもこのような超電導の性質を示す物質、
いわゆる高温超電導材料が開発され、実用化の可能性が
大きくなり、注目を浴びている。
はそれに近い極低抵抗値を示すものであるが、最近、か
なりの高温下でもこのような超電導の性質を示す物質、
いわゆる高温超電導材料が開発され、実用化の可能性が
大きくなり、注目を浴びている。
特に近年になって、高温超電導材料として、セラミック
の層状ペロブスカイト構造を有するものが発見されて以
来、これは盛んに研究されるようになっている。これら
材料は一般には、YSZ(イツトリウム安定化ジルコニ
ア)や、Mg0(酸化マグネシウム)等の基板上に膜形
成されて用いられる。これらの基板材料は、代表的なこ
の種の超電導材料であるYBCO系の酸化物超電導材料
と格子定数がマツチングするからである。超電導材料は
、このような基板上に、一般に、スノマ7タ法、電子ビ
ーム蒸着法、CVD法などで成膜後、活性化アニール(
成膜と同時に行うときもある)を施して、膜形成される
。(もちろん)N)レフの材料は、通常、プレスして焼
成し、形成される)。
の層状ペロブスカイト構造を有するものが発見されて以
来、これは盛んに研究されるようになっている。これら
材料は一般には、YSZ(イツトリウム安定化ジルコニ
ア)や、Mg0(酸化マグネシウム)等の基板上に膜形
成されて用いられる。これらの基板材料は、代表的なこ
の種の超電導材料であるYBCO系の酸化物超電導材料
と格子定数がマツチングするからである。超電導材料は
、このような基板上に、一般に、スノマ7タ法、電子ビ
ーム蒸着法、CVD法などで成膜後、活性化アニール(
成膜と同時に行うときもある)を施して、膜形成される
。(もちろん)N)レフの材料は、通常、プレスして焼
成し、形成される)。
しかしながら、これら超電導材料は、パターン形成が困
難であるという問題を有する。超電導材料には、適当な
エツチング手段がないからである。
難であるという問題を有する。超電導材料には、適当な
エツチング手段がないからである。
よって、これらの材料を、例えば微細な回路の配線材料
として使用するのは困難である。従来、超電導材料によ
り微細な配線パターンを形成する方法としては、リフト
オフによる方法や、いったん成膜したあとにイオン打ち
込みを行う方法などの提案がなされている。しかしこれ
らの方法はそれぞれすくれた特徴を有するが、反面欠点
も有している。例えばリフトオフ法は、ダストが発生す
るし、イオン打ち込みは、制御が難しい等の欠点がある
。また両者ともに、直接超電導材料を加工するので、微
妙な特性が変化する可能性もあり得る。
として使用するのは困難である。従来、超電導材料によ
り微細な配線パターンを形成する方法としては、リフト
オフによる方法や、いったん成膜したあとにイオン打ち
込みを行う方法などの提案がなされている。しかしこれ
らの方法はそれぞれすくれた特徴を有するが、反面欠点
も有している。例えばリフトオフ法は、ダストが発生す
るし、イオン打ち込みは、制御が難しい等の欠点がある
。また両者ともに、直接超電導材料を加工するので、微
妙な特性が変化する可能性もあり得る。
更に、特殊な形状のパターニング、例えば、ジョゼフィ
ン素子のゲートに使用するようないわゆるマツシュルー
ム型のパターンは、形成が非常に困難である。
ン素子のゲートに使用するようないわゆるマツシュルー
ム型のパターンは、形成が非常に困難である。
(超電導体薄膜の形成技術については、特開平1−28
6916号公報や、寺嶋他「高温超伝導体超薄膜」応用
物理図−5,591〜、 (1990)に関連技術の記
載がある)。
6916号公報や、寺嶋他「高温超伝導体超薄膜」応用
物理図−5,591〜、 (1990)に関連技術の記
載がある)。
本発明は、上述した従来技術の問題点を解決して、容易
に制御性良く超電導材料をパターニングでき、よって正
確なパターニングが可能であり、特性変化のおそれもな
く、またマンシュルーム型等の形状にもパターニングす
ることができる超電導材料パターンの形成方法を提供す
ることを目的とする。
に制御性良く超電導材料をパターニングでき、よって正
確なパターニングが可能であり、特性変化のおそれもな
く、またマンシュルーム型等の形状にもパターニングす
ることができる超電導材料パターンの形成方法を提供す
ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段]
本発明の超電導材料パターンの形成方法は、透明基体の
第1の主面に不透明材料により被加工膜を形成し、該被
加工膜をパターニングして開口を形成し、基体の第2の
主面から光照射して、上記被加工膜パターンをマスクと
し、該パターンの上記開口にのみ光をあてることによっ
て該開口に超電導材料源ガス(いわゆるガスソース)に
より超電導材料部を選択的に形成して超電導材料パター
ンを形成する構成とすることによって、上記目的を達成
したものである。
第1の主面に不透明材料により被加工膜を形成し、該被
加工膜をパターニングして開口を形成し、基体の第2の
主面から光照射して、上記被加工膜パターンをマスクと
し、該パターンの上記開口にのみ光をあてることによっ
て該開口に超電導材料源ガス(いわゆるガスソース)に
より超電導材料部を選択的に形成して超電導材料パター
ンを形成する構成とすることによって、上記目的を達成
したものである。
本発明において、「透明基板」であるとは、光照射して
超電導材料部を形成するときに用いる光について、これ
を該超電導材料の形成を可能とする程度に透過する透明
性を有する基板であることをいう。「不透明材料」の「
不透明Jも同様であり、上記光について、これを超電導
材料の形成が起きないように遮断する程度に不透明であ
ることをいう。「被加工膜」とは、上記意味での不透明
なパターンを形成して、これにより超電導材料パターン
を形成するために用いる膜であって、本発明においては
超電導材料それ自体ではなく、この不透明材料を加工し
てパターン形状を決めるところから、これを「被加工膜
」と称するものである。
超電導材料部を形成するときに用いる光について、これ
を該超電導材料の形成を可能とする程度に透過する透明
性を有する基板であることをいう。「不透明材料」の「
不透明Jも同様であり、上記光について、これを超電導
材料の形成が起きないように遮断する程度に不透明であ
ることをいう。「被加工膜」とは、上記意味での不透明
なパターンを形成して、これにより超電導材料パターン
を形成するために用いる膜であって、本発明においては
超電導材料それ自体ではなく、この不透明材料を加工し
てパターン形状を決めるところから、これを「被加工膜
」と称するものである。
本発明において、第1の主面とは、超電導材料パターン
を形成すべき側の面(表面)であり、第2の主面とはそ
れと反対側の面(裏面)である。
を形成すべき側の面(表面)であり、第2の主面とはそ
れと反対側の面(裏面)である。
本発明においてパターンを形成すべき超電導材料として
は、ガスを用いて光により形成可能なものであれば任意
である。
は、ガスを用いて光により形成可能なものであれば任意
である。
代表的には、Y、La、Nd、Pm、Sm。
Eu、Er、Gd、Tb、Dy、Ho、Tm。
Yb、Luのいずれかと、Ba及びCuを構成元素とす
る酸化物超電導材料を挙げることができる。
る酸化物超電導材料を挙げることができる。
この場合、超電導材料源ガスとしては、上記元素のヘキ
サフルオロアセチルアセトネート錯体や、THF、DM
F、2,2.6.6−テトラメチル−3,5ヘプタネオ
シアネートとの結合体、及び酸化性のガスとしての0□
、Os 、NzO等を用いることができる。
サフルオロアセチルアセトネート錯体や、THF、DM
F、2,2.6.6−テトラメチル−3,5ヘプタネオ
シアネートとの結合体、及び酸化性のガスとしての0□
、Os 、NzO等を用いることができる。
このような超電導材料としては、代表的には、例えば、
La (Sr) Cu −0系、YBazCt13o
7−x等のYBCO系のものなどがある。
La (Sr) Cu −0系、YBazCt13o
7−x等のYBCO系のものなどがある。
本発明の構成について、後記詳述する本発明の一実施例
を示す第1図の例示を用いて説明すると、次のとおりで
ある。
を示す第1図の例示を用いて説明すると、次のとおりで
ある。
即ち、本発明の超電導材料パターンの形成方法は、第1
図に例示するように、透明基体1の第1の主面1aに不
透明材料により被加工膜2を形成しく第1図(a))、
該被加工膜2をパターニングして開口3を形成しく第1
図(b))、基体の第2の主面1bから光照射(光をP
で示す)して、上記被加工膜パターン2aをマスクとし
、該パターン2aの上記開口3にのみ光をあてることに
よって該開口3に超電導材料源ガスGにより超電導材料
部4を選択的に形成して超電導材料パターンを形成して
(第1図(c))、超電導材料パターンを得る(第1図
(d))ものである。
図に例示するように、透明基体1の第1の主面1aに不
透明材料により被加工膜2を形成しく第1図(a))、
該被加工膜2をパターニングして開口3を形成しく第1
図(b))、基体の第2の主面1bから光照射(光をP
で示す)して、上記被加工膜パターン2aをマスクとし
、該パターン2aの上記開口3にのみ光をあてることに
よって該開口3に超電導材料源ガスGにより超電導材料
部4を選択的に形成して超電導材料パターンを形成して
(第1図(c))、超電導材料パターンを得る(第1図
(d))ものである。
本発明において、基体1は照射光Pに対して透明である
ことを要するが、かかる基体lとしては、高圧水銀灯な
どから発せられるg線、i線、e線、h線などを透過す
るものが好ましい。照射光Pとして高圧水銀灯による紫
外光を用いて、好まし〈実施できる。基体1として石英
を使用すれば、KrFエキシマレーザ光も透過するので
、これを照射光Pとして用いることもできる。また基体
1は、この上に超電導材料を形成するので、形成すべき
超電導材料の格子定数となるべく近いものであることが
好ましい。好ましく用いることができる基体材料として
は、MgOやYSZ、また5rTiOa (100)
(これはペロブスカイト構造をもち、YBCOとの格
子の一致性が良い)を挙げることができる。YSZとし
ては具体的には、例えば、同和工業■製のYSZ基板で
あるPCZRl−15SO5などを用いることができる
。紫外線の透過率を考慮して、透過性の高い石英などを
選んだ場合は、被加工膜2を形成する前に、バッファ層
を設ける必要がある場合がある。石英と、その上に形成
する超電導材料とが格子定数が合わず、成膜しないこと
があるからである。その場合下地基体と超電導材料とを
接合させるためのバッファ層としては、例えばMgOの
スパッタ膜などを用いることができる。
ことを要するが、かかる基体lとしては、高圧水銀灯な
どから発せられるg線、i線、e線、h線などを透過す
るものが好ましい。照射光Pとして高圧水銀灯による紫
外光を用いて、好まし〈実施できる。基体1として石英
を使用すれば、KrFエキシマレーザ光も透過するので
、これを照射光Pとして用いることもできる。また基体
1は、この上に超電導材料を形成するので、形成すべき
超電導材料の格子定数となるべく近いものであることが
好ましい。好ましく用いることができる基体材料として
は、MgOやYSZ、また5rTiOa (100)
(これはペロブスカイト構造をもち、YBCOとの格
子の一致性が良い)を挙げることができる。YSZとし
ては具体的には、例えば、同和工業■製のYSZ基板で
あるPCZRl−15SO5などを用いることができる
。紫外線の透過率を考慮して、透過性の高い石英などを
選んだ場合は、被加工膜2を形成する前に、バッファ層
を設ける必要がある場合がある。石英と、その上に形成
する超電導材料とが格子定数が合わず、成膜しないこと
があるからである。その場合下地基体と超電導材料とを
接合させるためのバッファ層としては、例えばMgOの
スパッタ膜などを用いることができる。
基体1上に形成する被加工膜2の材料は、照射光P(例
えば紫外線)に対して不透明でなければならない。また
、なるべく簡単に加工できるものが好ましい。各種金属
膜が好適なものの代表として挙げられるが、特にこれに
限定されるものではない。被加工膜2は、通常、CVD
、スパッタ法、蒸着法などで形成することができる。
えば紫外線)に対して不透明でなければならない。また
、なるべく簡単に加工できるものが好ましい。各種金属
膜が好適なものの代表として挙げられるが、特にこれに
限定されるものではない。被加工膜2は、通常、CVD
、スパッタ法、蒸着法などで形成することができる。
被加工膜2のパターニングは、任意の手段によることが
できる。例えば、被加工膜2の上にレジストを回転塗布
し、これによりパターニングを行うことができる。この
場合使用するレジストは、光でパターニングするならフ
ォトレジストを用い、EB’(電子線)でパターニング
するならEBレジストを用いればよい。勿論、レジスト
を用いずに、被加工膜2を加工するのでもよい。例えば
イオンビームによる直接加工を行うのでもよい。また、
先にレジストをパターン形成しておいて、被加工膜2を
蒸着してからリフトオフする手段を用いてもよい。いず
れにしてもレジストパターン等を利用して、次にドライ
もしくはウェットエツチングにより、配線等を形成すべ
きパターンの開口3を形成する。
できる。例えば、被加工膜2の上にレジストを回転塗布
し、これによりパターニングを行うことができる。この
場合使用するレジストは、光でパターニングするならフ
ォトレジストを用い、EB’(電子線)でパターニング
するならEBレジストを用いればよい。勿論、レジスト
を用いずに、被加工膜2を加工するのでもよい。例えば
イオンビームによる直接加工を行うのでもよい。また、
先にレジストをパターン形成しておいて、被加工膜2を
蒸着してからリフトオフする手段を用いてもよい。いず
れにしてもレジストパターン等を利用して、次にドライ
もしくはウェットエツチングにより、配線等を形成すべ
きパターンの開口3を形成する。
開口3が形成された被加工膜パターン2aを有する基体
1について、光照射により超電導材料部を形成するが、
これは光CVD装置を用いることができる。
1について、光照射により超電導材料部を形成するが、
これは光CVD装置を用いることができる。
例えば、上記基体1を光CVD装置にセットし、第2の
主面1bである下側面(パターンの裏側)から光Pを照
射しながら、超電導材料源となるガスを用いて、光CV
Dを行う。例えば、超電導材料として、YBCOを用い
る場合は、例えば配位子を有する金属錯体を使用するこ
とができる。例えば、銅やイツトリウムやバリウムのヘ
キサフルオロアセチルアセトネート錯体などを好ましく
使用できる。この時基体1を加熱する必要があるときも
ある。場合によっては、成分比が適切でない場合など、
活性化アニールを成膜後に行うこともある。
主面1bである下側面(パターンの裏側)から光Pを照
射しながら、超電導材料源となるガスを用いて、光CV
Dを行う。例えば、超電導材料として、YBCOを用い
る場合は、例えば配位子を有する金属錯体を使用するこ
とができる。例えば、銅やイツトリウムやバリウムのヘ
キサフルオロアセチルアセトネート錯体などを好ましく
使用できる。この時基体1を加熱する必要があるときも
ある。場合によっては、成分比が適切でない場合など、
活性化アニールを成膜後に行うこともある。
超電導材料部4を形成した後、一般に被加工膜パターン
2aは除去するが、除去しなくてもよい。
2aは除去するが、除去しなくてもよい。
例えば、被加工膜2が電気伝導性のないものの場合は、
除去は不要である。(但し、このようなもので紫外線等
を通さないものは、一般には少ない)。
除去は不要である。(但し、このようなもので紫外線等
を通さないものは、一般には少ない)。
被加工膜2を除去する方法は、特に指定はないが、形成
された超電導部4から成るパターンの特性を損なうよう
なものであってはならない。従って、一般に、ウェット
エツチングが好ましい。このあと、必要な場合には、ア
ニールを施すこともあってよい。
された超電導部4から成るパターンの特性を損なうよう
なものであってはならない。従って、一般に、ウェット
エツチングが好ましい。このあと、必要な場合には、ア
ニールを施すこともあってよい。
上記方法で形成した超電導材料パターン(例えば配線パ
ターン)について、これが超電導パターンとして適正に
形成されているか否かを調べるには、液体窒素温度に冷
却し、四端子法などで、抵抗値を測定すればよい。
ターン)について、これが超電導パターンとして適正に
形成されているか否かを調べるには、液体窒素温度に冷
却し、四端子法などで、抵抗値を測定すればよい。
上述のように、本発明の超電導パターンの形成方法によ
れば、加工性の良好な材料により被加工膜2を形成して
これを制御性良くパターニングし、この良好な形状の被
加工膜パターン2aの開口3を利用してここに超電導材
料部4を形成してパターン形成するので、制御性良く正
確に超電導材料パターンを形成できる。パターニング加
工は超電導材料について行うのでなく、被加工膜2につ
いて行うので、容易かつ良好に加工ができ、その上、超
電導材料自体を加工するのではないので、微妙な特性変
化のおそれもない。また、後記する実施例−2をもつ−
で例証する如く、マツシュルーム型の超電導材料パター
ンも容易に形成でき、ジョゼフィン素子の作製の場合な
どに有利である。
れば、加工性の良好な材料により被加工膜2を形成して
これを制御性良くパターニングし、この良好な形状の被
加工膜パターン2aの開口3を利用してここに超電導材
料部4を形成してパターン形成するので、制御性良く正
確に超電導材料パターンを形成できる。パターニング加
工は超電導材料について行うのでなく、被加工膜2につ
いて行うので、容易かつ良好に加工ができ、その上、超
電導材料自体を加工するのではないので、微妙な特性変
化のおそれもない。また、後記する実施例−2をもつ−
で例証する如く、マツシュルーム型の超電導材料パター
ンも容易に形成でき、ジョゼフィン素子の作製の場合な
どに有利である。
以下本発明の実施例について、図面を参照して説明する
。但し当然のことではあるが、本発明は以下の実施例に
より限定されるものではない。
。但し当然のことではあるが、本発明は以下の実施例に
より限定されるものではない。
実施例−1
本実施例は、半導体装置等の電子材料に微細なパターン
で超電導材料パターンを形成して、これを配線として用
いる場合に、本発明を適用したものである。
で超電導材料パターンを形成して、これを配線として用
いる場合に、本発明を適用したものである。
本実施例の工程を、第1図(a)〜(ci)に示す。
本実施例では、透明基体lとして、UV光に対して透明
なチタン酸ストロンチウム基板を用いた。
なチタン酸ストロンチウム基板を用いた。
(その他、酸化マグネシウムMgO基板でも、全く同様
に実施できる)。
に実施できる)。
本実施例では、透明基体1上に、アルミニウム膜を形成
し、これを被加工膜2とした(第1図(a)参照)。被
加工膜2のパターニングは、本例では次のように行った
。即ち、被加工膜2の上に、EBレジスト(ここでは東
し■製のEBR−9を使用)を膜形成し、120°Cで
1分間ベータして、レジスト層を得た。これをEB露光
装置で描画後、現像し、開口を有するレジストパターン
を得、これをマスクにしてアルミニウムから成る被加工
膜2をエツチングし、被加工膜2に開口3を形成して、
第1図(b)の構造を得た。なお、可能であれば、レジ
ストのパターニングと被加工膜のパターニングを連続し
て行ってもよい。
し、これを被加工膜2とした(第1図(a)参照)。被
加工膜2のパターニングは、本例では次のように行った
。即ち、被加工膜2の上に、EBレジスト(ここでは東
し■製のEBR−9を使用)を膜形成し、120°Cで
1分間ベータして、レジスト層を得た。これをEB露光
装置で描画後、現像し、開口を有するレジストパターン
を得、これをマスクにしてアルミニウムから成る被加工
膜2をエツチングし、被加工膜2に開口3を形成して、
第1図(b)の構造を得た。なお、可能であれば、レジ
ストのパターニングと被加工膜のパターニングを連続し
て行ってもよい。
第1図(b)に示す構造の、基体l上に開口3を有する
被加工膜パターン2aを有して成る試料を、光CVD装
置にセットし、第2の主面1b側(裏面側)、即ち図の
下側がら紫外光(エキシマレーザ光でもよい)を照射し
ながら、ガスソースとして、イツトリウムヘキサフロロ
アセチルアセトネート、銅(II)ヘキサフロロアセチ
ルアセトネート、バリウムヘキサフロロアセチルアセト
ネートを流して、超電導部4を成膜して形成した。
被加工膜パターン2aを有して成る試料を、光CVD装
置にセットし、第2の主面1b側(裏面側)、即ち図の
下側がら紫外光(エキシマレーザ光でもよい)を照射し
ながら、ガスソースとして、イツトリウムヘキサフロロ
アセチルアセトネート、銅(II)ヘキサフロロアセチ
ルアセトネート、バリウムヘキサフロロアセチルアセト
ネートを流して、超電導部4を成膜して形成した。
これにより第1図(c)の構造を得た。
その後、被加工膜パターン2aであるアルミニウムをエ
ンチングで除去し、800°Cで1時間、酸素雰囲気中
でアニールした。これにより、第1図(d)の構造を得
た。
ンチングで除去し、800°Cで1時間、酸素雰囲気中
でアニールした。これにより、第1図(d)の構造を得
た。
本実施例において、得られた上記超電導材料部4から成
る超電導パターンの性能を調べるため、これを液体窒素
温度まで冷却し、四端子法にて抵抗値を測定したところ
、ゼロとなった。
る超電導パターンの性能を調べるため、これを液体窒素
温度まで冷却し、四端子法にて抵抗値を測定したところ
、ゼロとなった。
実施例−2
本実施例は、第1図(a)(b)までは実施例1と同じ
工程を経、その後、実施例−1と同様にして超電導材料
部4を形成する際、第2図(C)に示すように、開口3
を埋め、更にその上に開口3からはみ出すように超電導
材料部4を形成して、これをマツシュルーム型になるよ
うにした。被加工膜パターン2aを除去すると、第2図
(D)に示すように、マツシュルーム型のパターンであ
る超電導材料部4が得られる。
工程を経、その後、実施例−1と同様にして超電導材料
部4を形成する際、第2図(C)に示すように、開口3
を埋め、更にその上に開口3からはみ出すように超電導
材料部4を形成して、これをマツシュルーム型になるよ
うにした。被加工膜パターン2aを除去すると、第2図
(D)に示すように、マツシュルーム型のパターンであ
る超電導材料部4が得られる。
これは、ジョゼフィントランジスタのゲートとして好適
に使用できる構造である。
に使用できる構造である。
上述の如く、本発明の超電導材料パターンの形成方法は
、容易に制御性良く超電導材料をパターニングでき、よ
って正確なパターニングが可能であり、特性変化のおそ
れもなく、またマ・ンシュルーム型等の形状にもパター
ニング可能とするもので、きわめて有利と言うことがで
きる。
、容易に制御性良く超電導材料をパターニングでき、よ
って正確なパターニングが可能であり、特性変化のおそ
れもなく、またマ・ンシュルーム型等の形状にもパター
ニング可能とするもので、きわめて有利と言うことがで
きる。
第1図(a)〜(d)は実施例−1の工程図、第2図(
C)(D)は実施例−2の工程図である。 ■・・・基体、1a・・・第1の主面、1b・・・第2
の主面、2・・・被加工膜、3・・・開口、4・・・超
電導材料部。
C)(D)は実施例−2の工程図である。 ■・・・基体、1a・・・第1の主面、1b・・・第2
の主面、2・・・被加工膜、3・・・開口、4・・・超
電導材料部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、透明基体の第1の主面に不透明材料により被加工膜
を形成し、 該被加工膜をパターニングして開口を形成し、基体の第
2の主面から光照射して、上記被加工膜パターンをマス
クとし、該パターンの上記開口にのみ光をあてることに
よって該開口に超電導材料源ガスにより超電導材料部を
選択的に形成して超電導材料パターンを形成する超電導
材料パターンの形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02163134A JP3106481B2 (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | 超電導材料パターンの形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02163134A JP3106481B2 (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | 超電導材料パターンの形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0456178A true JPH0456178A (ja) | 1992-02-24 |
JP3106481B2 JP3106481B2 (ja) | 2000-11-06 |
Family
ID=15767845
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02163134A Expired - Fee Related JP3106481B2 (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | 超電導材料パターンの形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3106481B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
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---|---|---|---|---|
KR101323243B1 (ko) * | 2011-11-28 | 2013-11-06 | 한국전기연구원 | 초전도 선재의 제조방법 |
KR102118379B1 (ko) * | 2019-07-03 | 2020-06-03 | 최용식 | 골프티 |
KR102154774B1 (ko) * | 2019-07-03 | 2020-09-10 | 최용식 | 골프티 |
KR102118348B1 (ko) | 2019-11-01 | 2020-06-03 | 최용식 | 골프티 |
KR102118351B1 (ko) | 2020-01-08 | 2020-06-26 | 최용식 | 골프티 제조 방법 |
-
1990
- 1990-06-21 JP JP02163134A patent/JP3106481B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP3106481B2 (ja) | 2000-11-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |