JPH0452667Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0452667Y2 JPH0452667Y2 JP15603486U JP15603486U JPH0452667Y2 JP H0452667 Y2 JPH0452667 Y2 JP H0452667Y2 JP 15603486 U JP15603486 U JP 15603486U JP 15603486 U JP15603486 U JP 15603486U JP H0452667 Y2 JPH0452667 Y2 JP H0452667Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vibration
- pallet
- test
- equipment
- workpiece
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 59
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 15
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 8
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- APTZNLHMIGJTEW-UHFFFAOYSA-N pyraflufen-ethyl Chemical compound C1=C(Cl)C(OCC(=O)OCC)=CC(C=2C(=C(OC(F)F)N(C)N=2)Cl)=C1F APTZNLHMIGJTEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
「考案の目的」
(産業上の利用分野)
本考案は、電子機器の製造工程において加熱状
態及び振動状態で電子機器の機構部の動作試験を
するための装置に係り、特に車載用電子機器等の
ように高温や振動を伴なう環境で使用される電子
機器の動作試験に最適な試験装置に関するもので
ある。
態及び振動状態で電子機器の機構部の動作試験を
するための装置に係り、特に車載用電子機器等の
ように高温や振動を伴なう環境で使用される電子
機器の動作試験に最適な試験装置に関するもので
ある。
(従来の技術)
電子機器の製造工程においては機器本体に組み
込まれた機構部が所定の動作をするか否かの動作
試験をするが、特に車載用機器等においては車内
の高温化を想定して、高温下でしかも振動を伴な
う環境下で所定の動作をするかどうかを試験する
必要がある。
込まれた機構部が所定の動作をするか否かの動作
試験をするが、特に車載用機器等においては車内
の高温化を想定して、高温下でしかも振動を伴な
う環境下で所定の動作をするかどうかを試験する
必要がある。
従来は、電子機器を加熱する加熱装置と加振装
置がそれぞれ独立して配置されており、加熱装置
で加熱した機器を加振装置で振動させた後に一連
の動作試験をしていた。
置がそれぞれ独立して配置されており、加熱装置
で加熱した機器を加振装置で振動させた後に一連
の動作試験をしていた。
(考案が解決しようとする問題点)
ところが従来のように加熱装置と加振装置が独
立していて製造ラインに対してオフライン的に配
置されていると設置面のスペース効率が悪く、し
かも機器の搬送に無駄な工数がかかる欠点があつ
た。
立していて製造ラインに対してオフライン的に配
置されていると設置面のスペース効率が悪く、し
かも機器の搬送に無駄な工数がかかる欠点があつ
た。
また、従来のものでは振動を与えた後に操作部
の動作試験をしているが、実際の車載機器では走
行中の振動下における機器の性能が問題となるも
のであり、このため、従来のように加振と動作試
験とを格別に行なつたのでは正確な性能判定をす
ることができない欠点があつた。
の動作試験をしているが、実際の車載機器では走
行中の振動下における機器の性能が問題となるも
のであり、このため、従来のように加振と動作試
験とを格別に行なつたのでは正確な性能判定をす
ることができない欠点があつた。
我々は上記した従来の欠点を解消するために、
パレツトに搭載固定された機器を加熱部で加熱す
ると共にこの加温された状態の機器を振動させな
がらこの状態で動作試験をすることができるよう
にした動作試験装置を別に提案したが、本考案の
目的はこのような動作試験システムに組み込んで
最適な振動装置を提供することにある。
パレツトに搭載固定された機器を加熱部で加熱す
ると共にこの加温された状態の機器を振動させな
がらこの状態で動作試験をすることができるよう
にした動作試験装置を別に提案したが、本考案の
目的はこのような動作試験システムに組み込んで
最適な振動装置を提供することにある。
即ち、従来のように単に機器を振動させた後に
動作試験をする場合には振動装置自体も任意のも
のでよいが、上記したような自動試験システムに
おいては機器がパレツトに搭載固定されているこ
と及びこれを試験部における所定位置にセツトす
る必要があること等からこのようなワークを適確
に振動させるための振動装置が要求されるのであ
る。
動作試験をする場合には振動装置自体も任意のも
のでよいが、上記したような自動試験システムに
おいては機器がパレツトに搭載固定されているこ
と及びこれを試験部における所定位置にセツトす
る必要があること等からこのようなワークを適確
に振動させるための振動装置が要求されるのであ
る。
「考案の構成」
(問題点を解決するための手段)
本考案に係る機器動作試験用の振動装置は、機
器の動作試験をするに際してパレツトに搭載固定
された機器をパレツトごと振動させるための振動
装置であつて、パレツトが収容されると共に底面
側に切欠窓を備えたワークセツテイングボツクス
と、該ワークセツテイングボツクスの下方に配置
された回転軸と、該回転軸に固定された加振用リ
ングと、該加振用リングに植設した加振ピン等の
突出部とを具備し、該突出部で上記切欠窓から露
呈するパレツトの底面を叩打するように構成した
ものである。
器の動作試験をするに際してパレツトに搭載固定
された機器をパレツトごと振動させるための振動
装置であつて、パレツトが収容されると共に底面
側に切欠窓を備えたワークセツテイングボツクス
と、該ワークセツテイングボツクスの下方に配置
された回転軸と、該回転軸に固定された加振用リ
ングと、該加振用リングに植設した加振ピン等の
突出部とを具備し、該突出部で上記切欠窓から露
呈するパレツトの底面を叩打するように構成した
ものである。
(作用)
動作試験すべき機器はパレツトに搭載固定され
ているが、このワークはワークセツテイングボツ
クスに収容されて所定位置にセツトされる。ワー
クセツテイングボツクスの底面側には切欠窓が設
けられており、ここからパレツトの底面が露呈し
ている。回転軸の回転によりこれに固定されてい
る加振用リングが回転すると該加振用リングに植
設された加振ピン等の突出部により上記パレツト
の底面を叩打し、これによつてワーク(パレツト
及び機器)が上下に振動する。
ているが、このワークはワークセツテイングボツ
クスに収容されて所定位置にセツトされる。ワー
クセツテイングボツクスの底面側には切欠窓が設
けられており、ここからパレツトの底面が露呈し
ている。回転軸の回転によりこれに固定されてい
る加振用リングが回転すると該加振用リングに植
設された加振ピン等の突出部により上記パレツト
の底面を叩打し、これによつてワーク(パレツト
及び機器)が上下に振動する。
この振動モードは回転軸の回転速度や加振用リ
ングの突出部の高さを調節することによつて可変
することができる。
ングの突出部の高さを調節することによつて可変
することができる。
(実施例)
本考案に係る機器動作試験用の振動装置の実施
例を図面に基づいて説明するが、第1図乃至第1
2図は車載用カセツトテーププレーヤ(以下機器
セツトという)の動作試験をするための装置であ
り、第1図は全体構成の概略を示す斜視図、第2
図はパレツトの斜視図、第3図は機器セツトをパ
レツトに搭載固定した状態を概略的を示す正面
図、第4図は加熱部内の搬送路を示す側面図、第
5図は振動試験ユニツトを示す斜視図、第6図は
試験用カセツトハーフのローデイング機構を示す
斜視図、第7図は試験用カセツトハーフの挟持機
構を示す略図、第8図は操作用アタツチメント及
び信号コネクターのセツテイング機構を示す斜視
図、第9図は操作用アタツチメントの接続又は切
離し機構を示す側面図、第10図は振動発生装置
とパレツトの関係を示す断面図、第11図は試験
済機器セツトをパレツトごと押し上げて取り出し
易くするためのパレツト押上げ機構を示す側面
図、第12図は試験操作部の動作のフローチヤー
トである。
例を図面に基づいて説明するが、第1図乃至第1
2図は車載用カセツトテーププレーヤ(以下機器
セツトという)の動作試験をするための装置であ
り、第1図は全体構成の概略を示す斜視図、第2
図はパレツトの斜視図、第3図は機器セツトをパ
レツトに搭載固定した状態を概略的を示す正面
図、第4図は加熱部内の搬送路を示す側面図、第
5図は振動試験ユニツトを示す斜視図、第6図は
試験用カセツトハーフのローデイング機構を示す
斜視図、第7図は試験用カセツトハーフの挟持機
構を示す略図、第8図は操作用アタツチメント及
び信号コネクターのセツテイング機構を示す斜視
図、第9図は操作用アタツチメントの接続又は切
離し機構を示す側面図、第10図は振動発生装置
とパレツトの関係を示す断面図、第11図は試験
済機器セツトをパレツトごと押し上げて取り出し
易くするためのパレツト押上げ機構を示す側面
図、第12図は試験操作部の動作のフローチヤー
トである。
本考案の機器動作試験用の振動装置は、パレツ
ト10に搭載固定された機器セツトSは搬入部2
を介して加熱部1に送り込まれて機器セツトS全
体が加熱されると共に加熱された機器セツトは昇
降装置3によつて上昇して搬出部4を介してテー
ブル17上に載置され、これを振動試験ユニツト
5に供給することにより試験用カセツトハーフを
ローデイング機構6によつて自動的に装填すると
共に振動装置7によつてパレツトごと振動させ、
その振動条件下で機器セツトの各操作部を試験操
作部8で自動的に試験操作するように構成したも
のであり、試験終了後はパレツト押上げ機構9に
よつて押し上げることにより取り出し易くし、取
り出された機器セツトは本ラインに流されるよう
になつている。
ト10に搭載固定された機器セツトSは搬入部2
を介して加熱部1に送り込まれて機器セツトS全
体が加熱されると共に加熱された機器セツトは昇
降装置3によつて上昇して搬出部4を介してテー
ブル17上に載置され、これを振動試験ユニツト
5に供給することにより試験用カセツトハーフを
ローデイング機構6によつて自動的に装填すると
共に振動装置7によつてパレツトごと振動させ、
その振動条件下で機器セツトの各操作部を試験操
作部8で自動的に試験操作するように構成したも
のであり、試験終了後はパレツト押上げ機構9に
よつて押し上げることにより取り出し易くし、取
り出された機器セツトは本ラインに流されるよう
になつている。
上記構成を詳説すると、パレツト10の両サイ
ドには固定金具101が設けられていて搭載され
た機器セツトSを両側から固定する。この固定金
具は搭載されるべき各種の機器セツトの幅に対応
できるようにその間隔を調整することができるよ
うに構成されており、機器セツトの背面側をパレ
ツト10に設けた板バネ状のガイドプレート10
7に当接すると共に機器セツトの前面側をパレツ
トの基準プレート107aに係合して位置決め
し、位置決めされた機器セツトSは固定金具10
1によつて固定された後、必要であれば更に締付
けバンド等により安定的に固定される。パレツト
10にはコネクテイングボツクス102が配置さ
れていてこれに内部コネクタ103と外部コネク
タ104が配置され、内部コネクタ103は機器
セツトSに接続される。
ドには固定金具101が設けられていて搭載され
た機器セツトSを両側から固定する。この固定金
具は搭載されるべき各種の機器セツトの幅に対応
できるようにその間隔を調整することができるよ
うに構成されており、機器セツトの背面側をパレ
ツト10に設けた板バネ状のガイドプレート10
7に当接すると共に機器セツトの前面側をパレツ
トの基準プレート107aに係合して位置決め
し、位置決めされた機器セツトSは固定金具10
1によつて固定された後、必要であれば更に締付
けバンド等により安定的に固定される。パレツト
10にはコネクテイングボツクス102が配置さ
れていてこれに内部コネクタ103と外部コネク
タ104が配置され、内部コネクタ103は機器
セツトSに接続される。
なお、内部コネクタ103は各種機器セツトに
対応できるように複数種配置されており、外部コ
ネクタ104は共通コネクタとなつている。この
ようにしてパレツト10に機器セツトSを搭載固
定したワークWはコンベヤによる本ライン108
から送致されてくるが、本ライン108の側方に
は上記加熱部1が設置されており、これにワーク
Wを搬入するためのベルトコンベヤによる搬入部
2が本ライン108から分岐して配置されてい
る。
対応できるように複数種配置されており、外部コ
ネクタ104は共通コネクタとなつている。この
ようにしてパレツト10に機器セツトSを搭載固
定したワークWはコンベヤによる本ライン108
から送致されてくるが、本ライン108の側方に
は上記加熱部1が設置されており、これにワーク
Wを搬入するためのベルトコンベヤによる搬入部
2が本ライン108から分岐して配置されてい
る。
加熱部1は常時設定温度に保たれた恒温槽11
内にローラコンベヤライン12を雷電型に配置す
ることによつて構成されていて機器セツトSを効
率よく収容できると共に機器セツト内部が所定の
温度に上昇するまで停留するようになつている。
即ち、搬入部2から供給されたワークWは第一段
のローラコンベヤライン12の傾斜によつて自動
走行して端部に至り、端部に設けられた開閉部1
3が下方向に開くことにより次段のローラコンベ
ヤライン12に供給され、これを繰返すことによ
つて順次槽底部に停留する。この槽内部には作業
ピツチタイムにより数十台のワークWが加温され
ている。加温されたワークWは槽底部の左下から
排出され、昇降装置3によつて持ち上げられる。
昇降装置3はガイド支柱15の上下にギヤが配置
されると共にこれに懸架されたチエーンによつて
ワーク載置台16が昇降するようになつており、
ワークWはこのワーク載置台16に載置されて上
昇し、搬出部4に供給されてテーブル17上に載
置される。なお、14は検査結果等を表示するよ
うに加熱部1の上部に配置された表示パネル、1
8はテーブル17の前面側に配置された操作パネ
ルである。
内にローラコンベヤライン12を雷電型に配置す
ることによつて構成されていて機器セツトSを効
率よく収容できると共に機器セツト内部が所定の
温度に上昇するまで停留するようになつている。
即ち、搬入部2から供給されたワークWは第一段
のローラコンベヤライン12の傾斜によつて自動
走行して端部に至り、端部に設けられた開閉部1
3が下方向に開くことにより次段のローラコンベ
ヤライン12に供給され、これを繰返すことによ
つて順次槽底部に停留する。この槽内部には作業
ピツチタイムにより数十台のワークWが加温され
ている。加温されたワークWは槽底部の左下から
排出され、昇降装置3によつて持ち上げられる。
昇降装置3はガイド支柱15の上下にギヤが配置
されると共にこれに懸架されたチエーンによつて
ワーク載置台16が昇降するようになつており、
ワークWはこのワーク載置台16に載置されて上
昇し、搬出部4に供給されてテーブル17上に載
置される。なお、14は検査結果等を表示するよ
うに加熱部1の上部に配置された表示パネル、1
8はテーブル17の前面側に配置された操作パネ
ルである。
振動試験ユニツト5は実施例では4台のワーク
Wを同時に検査できるように4ユニツトが配置さ
れているが、この構成は第5図に示されており、
フレーム21の前面側一側部には上記ローデイン
グ機構6が配置されると共に前面側下部には上記
パレツト押上げ機構9が配置されている。このフ
レーム21の両サイドには支柱23が立設される
と共にこれにアツパーフレーム24が固定され、
これに上記試験操作部8が配置されている。ま
た、フレーム21の後部一側部には支持支柱25
が立設されており、これに信号コネクターの接続
機構30が取り付けられている。このフレーム2
1にはワークセツテイングボツクス40が配置さ
れていてワークWはこれに収容されるが、移動用
シリンダー26で押されることによりフレーム2
1の上面側に設けたガイドバー22に沿つてスラ
イドする。ワークセツテイングボツクス40の底
面には切欠窓41が穿設されており、ワークセツ
テイングボツクス40がフレーム21の手前側に
あるときにはこの切欠窓41にパレツト押上げ機
構9が対応し、ワークセツテイングボツクス40
がスライドしてフレーム21の奥側にあるときに
は後に説明する振動装置7がこの切欠窓41に対
応するようになつている。
Wを同時に検査できるように4ユニツトが配置さ
れているが、この構成は第5図に示されており、
フレーム21の前面側一側部には上記ローデイン
グ機構6が配置されると共に前面側下部には上記
パレツト押上げ機構9が配置されている。このフ
レーム21の両サイドには支柱23が立設される
と共にこれにアツパーフレーム24が固定され、
これに上記試験操作部8が配置されている。ま
た、フレーム21の後部一側部には支持支柱25
が立設されており、これに信号コネクターの接続
機構30が取り付けられている。このフレーム2
1にはワークセツテイングボツクス40が配置さ
れていてワークWはこれに収容されるが、移動用
シリンダー26で押されることによりフレーム2
1の上面側に設けたガイドバー22に沿つてスラ
イドする。ワークセツテイングボツクス40の底
面には切欠窓41が穿設されており、ワークセツ
テイングボツクス40がフレーム21の手前側に
あるときにはこの切欠窓41にパレツト押上げ機
構9が対応し、ワークセツテイングボツクス40
がスライドしてフレーム21の奥側にあるときに
は後に説明する振動装置7がこの切欠窓41に対
応するようになつている。
上記ローデイング機構6は、支持アーム部60
がスライドシリンダー61によつてフレーム21
に沿つてスライドでき、しかもロータリー62に
よつて支持アーム部60が倒れるようになつてお
り、この支持アーム部60の先端側に設けたハー
フチヤツクアーム63,64は、その後端側63
a,64aをチヤツク用シリンダー65によつて
相対的に開閉すると先端側の挟持部63b,64
bが開閉して試験用のカセツトハーフCを挟持す
るように構成されている。実施例ではハーフチヤ
ツクアーム64が上記支持アーム部先端の取付ヘ
ツド部60aに固定され、第7図で明示するよう
にハーフチヤツクアーム63が矢示F方向にスラ
イドできるようになつていてスプリング161で
先端挟持部63b,64bが常時閉じる方向に付
勢されている。また、上記ハーフチヤツクアーム
の後端側63a,64aには両者の間にチヤツク
用シリンダー65のヘツド65aが侵入し易いよ
うにしたガイドローラ63c,64cがそれぞれ
配置されている。
がスライドシリンダー61によつてフレーム21
に沿つてスライドでき、しかもロータリー62に
よつて支持アーム部60が倒れるようになつてお
り、この支持アーム部60の先端側に設けたハー
フチヤツクアーム63,64は、その後端側63
a,64aをチヤツク用シリンダー65によつて
相対的に開閉すると先端側の挟持部63b,64
bが開閉して試験用のカセツトハーフCを挟持す
るように構成されている。実施例ではハーフチヤ
ツクアーム64が上記支持アーム部先端の取付ヘ
ツド部60aに固定され、第7図で明示するよう
にハーフチヤツクアーム63が矢示F方向にスラ
イドできるようになつていてスプリング161で
先端挟持部63b,64bが常時閉じる方向に付
勢されている。また、上記ハーフチヤツクアーム
の後端側63a,64aには両者の間にチヤツク
用シリンダー65のヘツド65aが侵入し易いよ
うにしたガイドローラ63c,64cがそれぞれ
配置されている。
支持アーム部60は当初は起立状態にあり、カ
セツトハーフCはハーフチヤツクアーム先端の挟
持部63b,64bで挟持されており、第6図に
示すように支持アーム部60が倒れてワークWの
カセツト装填口SCにカセツトハーフCが対応す
ると全体がスライドして該装填口SCにカセツト
ハーフCを挿入セツトし、このときチヤツク用シ
リンダー65が動作してハーフチヤツクアーム6
3,64を開いてカセツトハーフCを離し、支持
アーム部60はスライド復帰して起立し、元位置
に復帰するようになつている。
セツトハーフCはハーフチヤツクアーム先端の挟
持部63b,64bで挟持されており、第6図に
示すように支持アーム部60が倒れてワークWの
カセツト装填口SCにカセツトハーフCが対応す
ると全体がスライドして該装填口SCにカセツト
ハーフCを挿入セツトし、このときチヤツク用シ
リンダー65が動作してハーフチヤツクアーム6
3,64を開いてカセツトハーフCを離し、支持
アーム部60はスライド復帰して起立し、元位置
に復帰するようになつている。
振動装置7は加振用モータMで回転する回転軸
70に加振用リング71が固定されると共にこれ
に突出部が設けられる。実施例では加振ピン72
が突設されており、この加振ピン72が上記切欠
窓41からパレツト10の底面に設けた叩打鉄板
106を叩くことによりワークW全体を振動させ
るようにしたものである。なお、この加振用リン
グ71自体を偏心カムにしてもよいこと勿論であ
る。
70に加振用リング71が固定されると共にこれ
に突出部が設けられる。実施例では加振ピン72
が突設されており、この加振ピン72が上記切欠
窓41からパレツト10の底面に設けた叩打鉄板
106を叩くことによりワークW全体を振動させ
るようにしたものである。なお、この加振用リン
グ71自体を偏心カムにしてもよいこと勿論であ
る。
接続機構30はコネクターセツテイング用シリ
ンダー31によつて昇降するようになつており、
雌型コネクタ33と信号用雄型コネクタ32とを
有していて雌型コネクタ33で雄型コネクタ32
をチヤツクするようになつていて、降下すること
により信号コードを備えた雄型コネクタ32がチ
ヤツクレス用シリンダー34によつて分離して上
記外部コネクタ104に接続されると共に雌型コ
ネクタ33が上昇して接続が完了するようになつ
ている。試験終了後は接続機構30が降下して雌
型コネクタ33で雄型コネクタ32をチヤツクし
て外部コネクタ104から引き抜き、これを保持
して上昇する。
ンダー31によつて昇降するようになつており、
雌型コネクタ33と信号用雄型コネクタ32とを
有していて雌型コネクタ33で雄型コネクタ32
をチヤツクするようになつていて、降下すること
により信号コードを備えた雄型コネクタ32がチ
ヤツクレス用シリンダー34によつて分離して上
記外部コネクタ104に接続されると共に雌型コ
ネクタ33が上昇して接続が完了するようになつ
ている。試験終了後は接続機構30が降下して雌
型コネクタ33で雄型コネクタ32をチヤツクし
て外部コネクタ104から引き抜き、これを保持
して上昇する。
試験操作部8は次のように構成されている。ス
テー81がアツパーフレーム24に固定されたス
ライドガイド83を貫通するガイドバー82によ
つて昇降自在に配置され、アタツチメントセツテ
イングシリンダー84により昇降する。このステ
ー81の下方には上部チヤツク部85で保持され
るアタツチメントパネル80が配置されており、
チヤツクレス用シリンダー86によりチヤツクが
解除されるとアタツチメントパネル80は分離さ
れるようになつている。上部チヤツク部85はブ
ツシユ85a内に中心方向に集中するように配置
されたチヤツキングボール85bがアタツチメン
トパネル80に突設されたチヤツキングピン80
aに係合することによりチヤツクされるように構
成され、チヤツクレス用シリンダー86の解除ピ
ン86aがチヤツキングピン80aを押すことに
よりチヤツクが解除される。アタツチメントパネ
ル80には下部チヤツク部89が配置されてお
り、アタツチメントパネルが降下するとパレツト
10に突設されたキヤツチングピン105に係合
して固定されるようになつている。その構成は上
記上部チヤツク部85と同様であるが、キヤツチ
ングピン105への係合力は上記チヤツキングピ
ン85aへの係合力よりも弱くなつている。
テー81がアツパーフレーム24に固定されたス
ライドガイド83を貫通するガイドバー82によ
つて昇降自在に配置され、アタツチメントセツテ
イングシリンダー84により昇降する。このステ
ー81の下方には上部チヤツク部85で保持され
るアタツチメントパネル80が配置されており、
チヤツクレス用シリンダー86によりチヤツクが
解除されるとアタツチメントパネル80は分離さ
れるようになつている。上部チヤツク部85はブ
ツシユ85a内に中心方向に集中するように配置
されたチヤツキングボール85bがアタツチメン
トパネル80に突設されたチヤツキングピン80
aに係合することによりチヤツクされるように構
成され、チヤツクレス用シリンダー86の解除ピ
ン86aがチヤツキングピン80aを押すことに
よりチヤツクが解除される。アタツチメントパネ
ル80には下部チヤツク部89が配置されてお
り、アタツチメントパネルが降下するとパレツト
10に突設されたキヤツチングピン105に係合
して固定されるようになつている。その構成は上
記上部チヤツク部85と同様であるが、キヤツチ
ングピン105への係合力は上記チヤツキングピ
ン85aへの係合力よりも弱くなつている。
アタツチメントパネル80には機器セツトSの
各操作部を操作するための複数の操作シリンダー
87が配置されており、第8図に示すように、ス
テー81が降下するとアタツチメントパネル80
がパレツト10上に位置決めされると共に上部チ
ヤツク部85によるチヤツクが解除されてアタツ
チメントパネル80がパレツト10上にセツトさ
れ、操作シリンダー87で動作する操作ピンが機
器セツトSの各操作部を操作するようになつてい
る。88はハーフポジシヨン検出センサーであ
る。
各操作部を操作するための複数の操作シリンダー
87が配置されており、第8図に示すように、ス
テー81が降下するとアタツチメントパネル80
がパレツト10上に位置決めされると共に上部チ
ヤツク部85によるチヤツクが解除されてアタツ
チメントパネル80がパレツト10上にセツトさ
れ、操作シリンダー87で動作する操作ピンが機
器セツトSの各操作部を操作するようになつてい
る。88はハーフポジシヨン検出センサーであ
る。
パレツト押上げ機構9は第11図に示すよう
に、支点92を中心として回転する押上げリンク
91の一端部を押上げ用シリンダー90で押すこ
とにより押上げリンク91の他端部に配置したロ
ーラ93が切欠窓41から突出し、これによつて
パレツト10の一端側を押し上げてワークセツテ
イングボツクス40からワークWを取り出し易く
したものである。
に、支点92を中心として回転する押上げリンク
91の一端部を押上げ用シリンダー90で押すこ
とにより押上げリンク91の他端部に配置したロ
ーラ93が切欠窓41から突出し、これによつて
パレツト10の一端側を押し上げてワークセツテ
イングボツクス40からワークWを取り出し易く
したものである。
次に動作例を説明すると、本ライン108から
送致されてくるワークWを搬入部2のスタート位
置STに載置すると搬入部2から加熱部1内へ搬
入され、所定温度まで加温される。加温されたワ
ークWは加熱部1の左下側から排出され、昇降装
置3により持ち上げられて搬出部4を介してテー
ブル17上に並べられる。ここでワークWを振動
試験ユニツト5の各ワークセツテイングボツクス
40に収容すると共に操作パネル18のスタート
スイツチを押す。
送致されてくるワークWを搬入部2のスタート位
置STに載置すると搬入部2から加熱部1内へ搬
入され、所定温度まで加温される。加温されたワ
ークWは加熱部1の左下側から排出され、昇降装
置3により持ち上げられて搬出部4を介してテー
ブル17上に並べられる。ここでワークWを振動
試験ユニツト5の各ワークセツテイングボツクス
40に収容すると共に操作パネル18のスタート
スイツチを押す。
振動試験ユニツト5での動作は第12図のフロ
ーチヤートに具体的に示されており、ローデイン
グ機構6においては、ハーフチヤツクアーム6
3,64で試験用カセツトハーフCを挟持してお
り、支持アーム部60が90°倒れると共にハーフ
ローデイング用スライドシンリンダー61により
前進するとカセツトハーフCを機器セツトSのカ
セツト装填口SCに挿入し、カセツトハーフCを
離したのちに後退して元位置に復帰する。次いで
移動用シリンダー26が前進してワークセツテイ
ングボツクス40を振動検査機構側に送る。
ーチヤートに具体的に示されており、ローデイン
グ機構6においては、ハーフチヤツクアーム6
3,64で試験用カセツトハーフCを挟持してお
り、支持アーム部60が90°倒れると共にハーフ
ローデイング用スライドシンリンダー61により
前進するとカセツトハーフCを機器セツトSのカ
セツト装填口SCに挿入し、カセツトハーフCを
離したのちに後退して元位置に復帰する。次いで
移動用シリンダー26が前進してワークセツテイ
ングボツクス40を振動検査機構側に送る。
試験操作部8においては、ワークWが所定位置
にあることが確認されるとアタツチメントパネル
80が降下してパレツト10上にセツトされ、ス
テー81はアタツチメントパネル80をパレツト
上に残した状態で上昇する。一方、接続機構30
はコネクターセツテイング用シリンダー31によ
つて降下して信号用の雄型コネクタ32をパレツ
ト上の外部コネクタ104に接続し、雄型コネク
タ32を残した状態で上昇する。これによつて機
器セツトSには電源が接続されると共に試験用カ
セツトハーフCが自動ローデイングされ、所定の
信号ラインが接続されると共に操作シリンダー8
7により各動作試験項目の試験が開始される。
にあることが確認されるとアタツチメントパネル
80が降下してパレツト10上にセツトされ、ス
テー81はアタツチメントパネル80をパレツト
上に残した状態で上昇する。一方、接続機構30
はコネクターセツテイング用シリンダー31によ
つて降下して信号用の雄型コネクタ32をパレツ
ト上の外部コネクタ104に接続し、雄型コネク
タ32を残した状態で上昇する。これによつて機
器セツトSには電源が接続されると共に試験用カ
セツトハーフCが自動ローデイングされ、所定の
信号ラインが接続されると共に操作シリンダー8
7により各動作試験項目の試験が開始される。
振動装置7においては加振用モターMの回転に
より加振用リング71が回転し、加振ピン72が
パレツト10底面の叩打鉄板106を叩くことに
よりワーク全体を振動させ、この振動状態で上記
動作試験が行なわれる。動作試験中にいずれかの
操作部にエラーがあると表示パネル14に表示さ
れる。
より加振用リング71が回転し、加振ピン72が
パレツト10底面の叩打鉄板106を叩くことに
よりワーク全体を振動させ、この振動状態で上記
動作試験が行なわれる。動作試験中にいずれかの
操作部にエラーがあると表示パネル14に表示さ
れる。
動作試験が終了すると、加振用モータMが停止
すると共に機器セツトSからカセツトハーフが排
出され、チヤツクレス用シリンダー86及び34
がオフとなつた状態でステー81及び接続機構3
0が降下してアタツチメントパネル80を持ち上
げると共に雄型コネクタ32を引き上げ、移動用
シリンダー26が後退してワークセツテイングボ
ツクス40が引き寄せられる。この状態でハーフ
ローデイングスライドシリンダー61が前進する
と共にロータリー62が90°回転してカセツトハ
ーフCを取り出し、元位置に復帰する。
すると共に機器セツトSからカセツトハーフが排
出され、チヤツクレス用シリンダー86及び34
がオフとなつた状態でステー81及び接続機構3
0が降下してアタツチメントパネル80を持ち上
げると共に雄型コネクタ32を引き上げ、移動用
シリンダー26が後退してワークセツテイングボ
ツクス40が引き寄せられる。この状態でハーフ
ローデイングスライドシリンダー61が前進する
と共にロータリー62が90°回転してカセツトハ
ーフCを取り出し、元位置に復帰する。
次いで押上げ用シリンダー90が動作してワー
クWの一端部が押し上げられるからワークを取り
出して本ライン108に載せて次の工程に送致さ
れる。
クWの一端部が押し上げられるからワークを取り
出して本ライン108に載せて次の工程に送致さ
れる。
なお、機器セツトの機種の切換えに対しては、
パレツト10のガイドプレート107を移動調整
し、カセツトハーフのローデイング位置の位置合
せをすると共に機種専用のアタツチメントパネル
80を用意しておいてこれを交換することにより
簡単に対応することができる。振動装置7におけ
る振動モードの変更も、モータの回転数、加振ピ
ンの数、そのピンの長さを可変することにより簡
単に行なうことができる。
パレツト10のガイドプレート107を移動調整
し、カセツトハーフのローデイング位置の位置合
せをすると共に機種専用のアタツチメントパネル
80を用意しておいてこれを交換することにより
簡単に対応することができる。振動装置7におけ
る振動モードの変更も、モータの回転数、加振ピ
ンの数、そのピンの長さを可変することにより簡
単に行なうことができる。
また、上記した装置の変形的使用例としては、
例えば、搬入部2、加熱部1、搬出部3を取り外
せば加熱部1及び振動試験ユニツト5をそれぞれ
専用機として使用することもでき、また、簡易振
動試験装置として上記振動試験ユニツト5を単体
で使用し、上記アタツチメントパネル80におけ
る操作シリンダー87のシリンダー操作を手動に
よるリモートコントロール操作することにより制
御部の簡易化を図ることもできる。
例えば、搬入部2、加熱部1、搬出部3を取り外
せば加熱部1及び振動試験ユニツト5をそれぞれ
専用機として使用することもでき、また、簡易振
動試験装置として上記振動試験ユニツト5を単体
で使用し、上記アタツチメントパネル80におけ
る操作シリンダー87のシリンダー操作を手動に
よるリモートコントロール操作することにより制
御部の簡易化を図ることもできる。
「考案の効果」
本考案に係る機器動作試験用の振動装置によれ
ば、パレツトに搭載固定された機器はワークセツ
テイングボツクスに収容されるが、このボツクス
が所定位置にセツトされた状態で指令信号で加振
用モータを回転させると回転軸の回転によつて加
振用リングが回転し、該加振用リングに設けた突
出部が偏心回転するからワークセツテイングボツ
クスの底面側に設けた切欠窓を介してパレツトの
底面を叩打し、ワークを適確に振動させることが
できる。
ば、パレツトに搭載固定された機器はワークセツ
テイングボツクスに収容されるが、このボツクス
が所定位置にセツトされた状態で指令信号で加振
用モータを回転させると回転軸の回転によつて加
振用リングが回転し、該加振用リングに設けた突
出部が偏心回転するからワークセツテイングボツ
クスの底面側に設けた切欠窓を介してパレツトの
底面を叩打し、ワークを適確に振動させることが
できる。
また、振動モードは加振用モータの回転速度や
突出部の高さを調節することにより簡単に可変す
ることができ、車載機器における自動車の実際の
悪路走行状態より更に厳しい振動条件を設定する
こともできる等、この種機器動作試験用の振動装
置として最適である。
突出部の高さを調節することにより簡単に可変す
ることができ、車載機器における自動車の実際の
悪路走行状態より更に厳しい振動条件を設定する
こともできる等、この種機器動作試験用の振動装
置として最適である。
第1図乃至第12図は本考案に係る機器動作試
験用の振動装置を機器自動動作試験装置に組み込
んだ例を示し、第1図は動作試験装置の全体構成
を示す概略斜視図、第2図はパレツトの斜視図、
第3図は機器セツトをパレツトに搭載固定した状
態を概略的に示す正面図、第4図は加熱部内の搬
送路を示す側面図、第5図は振動試験ユニツトを
示す斜視図、第6図は試験用カセツトハーフのロ
ーデイング機構を示す斜視図、第7図は試験用カ
セツトハーフの挟持機構を示す略図、第8図は操
作用アタツチメント及び信号コネクターのセツテ
イング機構を示す斜視図、第9図は操作用アタツ
チメントの接続又は切離し機構を示す側面図、第
10図は振動発生装置とパレツトの関係を示す断
面図、第11図は試験済機器セツトをパレツトご
と押し上げて取り出し易くするためのパレツト押
上げ機構を示す側面図、第12図は試験操作部の
動作のフローチヤートである。 40……ワークセツテイングボツクス、41…
…切欠窓、5……振動試験ユニツト、7……振動
装置、M……加振用モータ、70……回転軸、7
1……加振用リング、72……加振ピン、8……
試験操作部、10……パレツト、106……叩打
鉄板、S……機器セツト、W……ワーク。
験用の振動装置を機器自動動作試験装置に組み込
んだ例を示し、第1図は動作試験装置の全体構成
を示す概略斜視図、第2図はパレツトの斜視図、
第3図は機器セツトをパレツトに搭載固定した状
態を概略的に示す正面図、第4図は加熱部内の搬
送路を示す側面図、第5図は振動試験ユニツトを
示す斜視図、第6図は試験用カセツトハーフのロ
ーデイング機構を示す斜視図、第7図は試験用カ
セツトハーフの挟持機構を示す略図、第8図は操
作用アタツチメント及び信号コネクターのセツテ
イング機構を示す斜視図、第9図は操作用アタツ
チメントの接続又は切離し機構を示す側面図、第
10図は振動発生装置とパレツトの関係を示す断
面図、第11図は試験済機器セツトをパレツトご
と押し上げて取り出し易くするためのパレツト押
上げ機構を示す側面図、第12図は試験操作部の
動作のフローチヤートである。 40……ワークセツテイングボツクス、41…
…切欠窓、5……振動試験ユニツト、7……振動
装置、M……加振用モータ、70……回転軸、7
1……加振用リング、72……加振ピン、8……
試験操作部、10……パレツト、106……叩打
鉄板、S……機器セツト、W……ワーク。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 機器の動作試験をするに際してパレツトに搭載
固定された機器をパレツトごと振動させるための
振動装置であつて、 パレツトが収容されると共に底面側に切欠窓を
備えたワークセツテイングボツクスと、該ワーク
セツテイングボツクスの下方に配置された回転軸
と、該回転軸に固定された加振用リングと、該加
振用リングに設けた突出部とを具備し、該突出部
で上記切欠窓から露呈するパレツトの底面を叩打
するように構成したことを特徴とする振動装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15603486U JPH0452667Y2 (ja) | 1986-10-14 | 1986-10-14 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15603486U JPH0452667Y2 (ja) | 1986-10-14 | 1986-10-14 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6362773U JPS6362773U (ja) | 1988-04-25 |
JPH0452667Y2 true JPH0452667Y2 (ja) | 1992-12-10 |
Family
ID=31077275
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15603486U Expired JPH0452667Y2 (ja) | 1986-10-14 | 1986-10-14 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0452667Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-10-14 JP JP15603486U patent/JPH0452667Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6362773U (ja) | 1988-04-25 |
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