JPH04503656A - 硬質マトリックス中の3―v半導体 - Google Patents

硬質マトリックス中の3―v半導体

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JPH04503656A JP2504036A JP50403690A JPH04503656A JP H04503656 A JPH04503656 A JP H04503656A JP 2504036 A JP2504036 A JP 2504036A JP 50403690 A JP50403690 A JP 50403690A JP H04503656 A JPH04503656 A JP H04503656A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 硬質マトリックス中のIII−V半導体発明の分野 本発明はIII−V半導体/ガラスおよびIII−V半導体/ガラス/ポリマー 製品に関する。
発明の背景 +11−V半導体は周期律表の111族の少なくとも1つの元素と周期律表のV 族の少なくとも1つの他の元素とを含む化合物である。
固体電子デバイスに応用される III−V半導体を調製するには、いくつかの 方法が知られている。例えば、多くのIII−V半導体半導体は、最初は、高温 、高圧で元素を直接的に結合させることにより調製された。他の方法が発展し、 より純粋な生成物を供給し、かつ初期の方法に関連する危険性を避けるようにな った。化学気相成長(CVD)または有機金属化学気相成長(MOCVD)が、 揮発性のIII族およびV族の化合物を含有するガス流に基板を接触させること により、加熱された基板上に半導体を堆積させるために用いられてきた。
半導体のバルクの性質は、ダイオードやトランジスタのような半導体の応用にお いて利用される性質である。しかし、最近になって、多くのタイプの小粒子半導 体(I−Vl、1l−Vl、 III−H)が、興味ある、そして潜在的に有用 な電子効果および非線形光学効果を表すことが示されている。これらの小粒子半 導体を組み込んだ最も有望な材料は、硬質のガラス、ポリマーまたはガラス/ポ リマーのマトリックス中に埋め込まれた半導体粒子を含んでいる。
硬質マトリックス中に小粒子半導体を調製するために、いくつかの方法が用いら れている。1つの方法では、通常のガラスの標準的な添加剤にCd、SおよびS eを加えて、標準的な溶融処理により、CdSまたはCd S XS e l− 、ガラスのカットオフフィルターを調製する。このタイプのガラスは、Xに関し ていくつかの値を有する長波長バス光学フィルターとして市販品を得ることがで きる。これらのガラスでは、非線形光学効果が報告されている。しかし、これら のガラスを調製するために用いられる高温および強い酸化条件は、この技術をI II−V半導体組成物に使用することを不可能にする。
マーラー(Mihler、I+o+go+ic Chui、、 Vol、27.  Numbtr3、+988、pp、 435−436)は、追加的な調製方法 を開示している。その方法は、ミクロエマルジョン中での複分解、高い表面積の シリカ上での気体一固体反応、パーフルオロカーボンスルホン酸膜のチャンネル 内部での合成、およびポリマーフィルム内部での半導体粒子の生成を含んでいる 。特に、エチレン−15%メタクリル酸共重合体(E−MAA)は、良好な機械 的および光学的性質を備え、ナノメータサイズの半導体粒子に高い動力学的安定 性を与えることが示された。
ラシャら(Rxih et轟!、、 Chcmtcxl Ph7tics Le llc++。
Vol、143. No、3. 1988. pH,305−307)は、半導 体の水性コロイド分散液をテトラメトキシシラン(TM01)と混合し、NH4 OHの添加によりシリコンアルコキシドの重合を促進し、得られたゲルを数か月 間にわたって乾燥することにより、コロイド状の半導体からなる量子化された粒 子を透明なシリケートガラス中に組み込む方法を開示している。彼らはまた、最 初に金属イオンを組み込み、次に当初の体積の約2分の1まで乾燥した後、気体 のH8またはH2Seを経由して粒子を沈殿させるために、十分なアニオンを添 加することにより、コロイド状ガラスを調製する方法も開示している。
ロイら(Mo7 ei gl、)は、[化学によるよりよいセラミ・ソクスJ  (”Bejfet Cs+xiics Through Chemist+7  ” 、 Male+1sls Res、 Soc、 57ip、、 Mo1.  32. Ed、 J、 C,B11nked、 D、 E。
C1erk、 D、 R,旧rich、 Elsevier、 1984)にお いて、テトラエトキシシラン/エタノール溶液を重金属イオンの水溶液と混合す ることにより、CdSおよびAgX (X=CL Br。
■)をゾル−ゲルモノリス(mono I i lh)へ包含させることを開示 している。
シランスキーら(Kucx7nski ef sl、、1. Ph7(Chea 、。
Vol、 89. 1985. IIp、 2720−2722) ハ、清浄化 サレタ多孔質ガラスをCdCl2溶液中に浸し、真空中で乾燥し、充填された試 料をナトリウムスルフィド溶液中に浸漬することにより、多孔質バイコール(登 録商標)ガラス中でCdSを調製することを開示している。
残念なことに、これらの方法のいずれも、III−V半導体/ガラス、または1 II−V半導体/ガラス/ポリマーの組成物の調製に応用することはできない。
その理由は、 III−V半導体はいずれも、例えばII−Vl半導体よりも調 製することがより困難であり、かつIII−V半導体は水溶液中で分解するため である。このような複合材は、他の小粒子半導体複合材により示されるのに類似 する、興味ある、かつ有用な電子効果および非線形光学効果を表すことが期待さ れているため、好ましい。ガラスまたはガラスおよびポリマーからなる硬質マト リックス中へIII−V半導体粒子の埋め込めば、l1l−■粒子の凝集をも防 止するであろう。
縮退四波混合、光双安定および位相共役のような半導体の非線形光学特性が報告 されている(Rusjxgi el !+、、 OpticsLellerg、  Vol、 9. No、 8 (1984)) oルスタギらは、混合半導体 であるCd5X5e1.、Xがドープされたボロシリケートガラス中での可視光 線の縮退四波混合を測定するための実験的な配置を記述している。
本発明の目的は、硬質マトリックス中での微小なIII−V半導体の、化学的、 機械的に安定な分散を提供することにある。適当に製造された材料は、バルクの l1l−V半導体よりも速い光学的非線形性を持っているはずである。III− V半導体クラスターのサイズおよび濃度を制御することにより、波長調整も簡便 に達成できる。本発明の更なる目的は、三次非線形光学効果を発生するための方 法を提供することにある。
発明の概要 本発明は、実質的に、そのボアがl1l−V半導体を含有する多孔質ガラスマト リックスと、必要に応じてポリマーとからなる製品を提供する。本発明は、また 、前記製品をコヒーレントな光源で照射することからなる、三次非線形光学効果 を発生させる方法を提供する。
発明の詳細な説明 好適な多孔質ガラスは、大きな(10〜500オンダストローム)、互いに結合 したボアとチャンネル(これらは必要に応じて、容易に置換可能な有機および無 機化合物、例えば有機溶媒、水、または無機塩で満たされていてもよい)を有す るアモルファスなマトリックス材料である。バイコール(CorningGl■ s Works、Corning、 N、Y、)は、好適な多孔質ガラスである 。バイコールガラスは、熱処理されたボロシリケートガラスから、酸で浸出して シリカの少ないドメインを除去することにより得られる、多孔質シリケートガラ スである。
好適な多孔質ガラスは、前駆体材料を加水分解し、それに引き続いて、得られた ゲルを乾燥することによっても、調製することかできる。ゾル命ゲルから得られ たガラスのポアサイズは、溶媒の選択、および加水分解条件のpHによって制御 できる。好適なガラス前駆体は、金属化エステルまたは金属アルコキシドM ( OR) (n−3,4,M−9i、AI。
R”” CIC+ oのアルキル)を含む。好ましい前駆体は、テトラメチルま たはテトラエチルオルトシリケート、チタニウム テトライソプロポキシド、チ タニウム テトラ−t−ブトキシド、チタニウム テトラエトキシド、およびア ルミニウム トリーS−ブトキシドを含む。好適な単純ガラスは、SiOGeO 2、Y2O3、およびZ ’r O2を含む。好2ゝ 適な多成分ガラス、例えばSiO−BaO1S t 02−B OSiO−B  O−Na 01sto2−2 3ゝ 2 2 3 2 Na 01A1203−ZrO2、TiO2−ZrO2、Z r O−S i  O2、およびPbO−La203−ZrO2−T i O2は、公知の方法によ っても調製できる。好ましいガラスは、S iO2である。
ここで用いられて、「半導体材料」という表現は、バルクにおいて絶縁体および 金属のそれに対して中間的な電気伝導性、または約0.2〜4ボルトの間のバン ドギャップエネルギーを有する材料をいう。本発明の製品に好適に用いられる+ 11−V半導体材料は、この分野においてよく知られている。
好マシくハ、 m−v半導体材料1t、P−3、A s−3,5b−3か”らな る群より選択される少なくとも1種のアニオンと組み3+ 合わせた、Ga およびIn3+からなるカチオンの群より選択される。最も好 ましくは、l1l−V半導体材料はGaAs。
GaP、InAsおよびInPからなる群より選択される。
この半導体材料は、上で挙げられた2種以上のカチオンから誘導される混合物ま たは固溶体を含んでいてもよい。ガラス/半導体またはガラス/半導体/ポリマ ーの複合材中のIII−V半導体の濃度は、半導体のガラスに対する割合で0. 1〜10重量%の範囲である。
多孔質ガラス中の半導体粒子のバンドギャップエネルギーは、粒子のサイズに依 存することが見出されている。この粒子サイズは、多孔質ガラス中のポアサイズ 、およびIII−V半導体/ガラス複合材をアニーリングする時間と温度により 制御できる。一般的に、ボアの小さいガラスを使用し、短く低温でアニーリング することにより、小粒子の形成が有利になる。好ましくは、 目1〜V半導体材 料は、約50nm以下、最も好ましくは約20nm以下の径を有する。本発明の 製品は、最小の光散乱を示し、光学フィルターとして、および三次非線形光学効 果を発生するために有用である。
本発明のガラス/ III−V半導体製品は、新規で有用な電子効果および非線 形光学効果を有するが、もろくなりやすく、大気中の水または極性有機溶媒によ って悪影響を受け、加工および研磨が困難である。これらの理由により、ポリマ ー/ガラス/ III−V半導体製品が好ましい。これらの好ましい製品は機械 的に丈夫であり、化学劣化に対してより耐性があり、標準的な光学ガラスと同様 に加工および研磨できる。このような製品においては、ボイドを満たすポリマー は、好適なモノマー(モノマーは拡散または毛管作用により多孔質ガラスに吸着 されている)の重合により得られる。好適なモノマーは、半導体が充填されたガ ラスにクラックを生じさせたり、溶解したり、目1−V半導体粒子と反応するこ となく、拡散してボイド空間を満たすほど小さくなければならない。
好ましくは、好適な七ツマ−の重合は、好適な開始剤の使用、または熱、放射線 、光、または電子ビームによるモノマーが充填されたガラスの処理によって制御 可能でなければならない。好適なモノマーは、メタクリレート;アクリレート; スチレン;酢酸ビニル;アクリ口ニトリル:メタクリレートリル;cH−c ( X) 2という式(ここで、Xは独立にC1またはF)をもつハロゲン化ビニリ デン;CH−C(R)C(R)−CH2という式(ここで、各々のRは独立にC I””C10のアルキル、CIまたはF)をもつ置換ブタジェン; CH−CH CoN (R) 2という式(ここで、各々のRは独立にHまたはC1〜C1o のアルキル)をもつアクリルアミド誘導体; CH−C(CH)CON (R) 2という式(ここで、各々のRは独立にHま たは01〜C10のアルキル)をもつメタクリルアミド誘導体;およびこれらの 混合物である。メタクリレートエステルおよびスチレンが好ましい。本発明にお いて有用なメタクリレートは” ! ””CI2アルコールとメタクリル酸との 分枝アルキルまたはn−アルキルエステル、例えばメチルおよびエチルメタクリ レートを含む。メチルメタクリレートが最も好ましい。
どのような公知の等級のアゾ重合開始剤でも、モノマー混合物に溶解性を有し、 III−V半導体と反応したり III−V半導体を溶解したすせず、重合温度 で適当な半減期を有していれば、好適である。ここで用いられている「適当な半 減期」とは、約1〜4時間のハーフライフである。このような開始剤の代表例は (これらに限定されるわけではないカリ、アゾクメン、2,2″−アゾビス(イ ソブチロニトリル)、2゜2′−アゾビス(2−メチル)ブタンニトリル、およ び2−(t−ブチルアゾ)−2−シアノプロパンである。適当な半減期を有する 、他の溶解性の非アゾ開始剤(なかでもベンゾイルパーオキシドおよびラウロイ ルパーオキシドを含む)も使用することができる。
ガラス/ III−V半導体を溶融した有機材料に部分的に浸漬して、ガラスの ボア中へ吸い上げる(wick)ことにより、ガラス/ III−V半導体のボ イド空間を適当な大きさを有する高融点の不活性有機材料で満たすこともできる 。こうしても、加工および研磨できる機械的に丈夫な製品を供給することができ る。しかし、ポリマーが充填された複合材よりも、熱的に不安定になり、かつ溶 媒による浸出に対する耐性が低くなるであろう。
本発明のガラス/ III−V半導体製品は、多孔質ガラスのボアの内部でII I族アルキル種をV放水素化物と反応させることにより調製される。その後、こ の組成物を加熱して揮発分を除去する。ガラス/ III−V半導体/ポリマー 製品は、ガラス/ III−V半導体組成物を、モノマーおよび開始剤の溶液中 に、ガラスのボアが満たされその後モノマーが重合されるまで設置することによ り調製される。
本発明のガラス/ III−V半導体/ポリマー製品は、通常のシリケートガラ スと同等の機械的性質を有する。これらは切断し、加工し、その後標準的なセラ ミック湿式研磨法により研磨できる。これらの製品の光学的性質は、標準的な光 学ガラスのそれに匹敵する。これらは大気中の湿分またはほとんどの極性または 非極性有機溶媒に影響されない。しかし、埋め込まれたポリマーを溶解すること が知られている溶媒に長時間さらすと、いくらかポリマーの浸出が起こるであろ う。
同様に、強塩基にさらすと、シリケートガラス製品がら、いくらかのガラスが浸 出するがもじれない。これらは、埋め込1 まれたポリマーの分解点まで、熱的 に安定である。
本発明の製品は、レーザーのQスイッチまたはモードロックとして使用すること ができる、いわゆる可飽和アブソーバ−である。さらに、本発明の製品は、光ス イッチング、光論理、光コンピユーテイングおよび画像処理のような、位相共役 および光双安定を基にした応用に使用できる。例えば、[位相共役の応用J ( ’Applicxlion 010plicxl PhttzConiugxl iom ” 、D、 M、Peppsr、 5cienlific^IeNC1 n。
1Jnusr119B&、 pP、74−83))および「光双安定;光による 先参照せよ。
本発明は、以下の実施例によりさらに説明される。これらの実施例において、部 および%は全で重量であり、温度は摂氏である。実施例における粒子サイズは、 X線回折パターンの線の広がりにより決定された。いくつかの例では、バンドギ ャップエネルギーの測定から、最大粒子サイズが評価された。バルクの材料より 大きいバンドギャップエネルギーの値が観測されれば、バルク半導体のエキシト ンの径よりも小さい径を有する粒子の存在を示している。
実施例 市販のバイコールガラスを酸素を流しながら500℃までか焼して、全ての吸着 された有機種を除去し、その後室温で真空引きする。液体N2と高真空条件(<  10−3To r r)を用いたトラップツートラップ蒸留により、トリアル キルガリウムまたはトリアルキルインジウム種をガラスに吸着させる。充填され たガラスを静的な高圧中で室温まで暖め、全多孔質網目にわたって有機金属成分 を平衡させる。平衡後、過剰のトリアルキルガリウムまたはトリアルキルインジ ウムを除去してもよいが、これは必ずしも必要ではない。過剰のホスフィン(P H3)またはアルシン(A s H3)を反応容器(300Tor r)中に導 入し、容器を200〜400℃まで1時間加熱する。III−V半導体が生成す るにつれ、ガラスは色が変化し、容器内でガス圧力が発生する。高真空下で揮発 分を除去し、不活性雰囲気中で半導体が充填されたガラスを採取する。
代替的に、ガラス/半導体製品はバイコール多孔質ガラスの代りにゾル・ゲルか ら得られる多孔質ガラスを用いることにより調製することもできる。多孔質シリ ケートガラスを調製するためには、例えばテトラアルキルオルトシリケート(0 ,1モル)をメタノール(0,75m1)および/またはホルムアミド(0,2 5m1)で希釈し、必要に応じて酸化し、バイアル中のゲルへ注ぐ。メタノール /ホルムアミドを使用すると、より大きなボアを有するガラスをもたらすが、乾 燥時間もかなり増加し、酸化(例えば硝酸による)は最終的なガラスのポアサイ ズを減少させる。バイアルはどのような不活性な材料(例えば、ガラス、ポリエ チレン、ポリスチレン)からなるものでもよい。しかし、ゾルのガラスはガラス バイアルにくっつき、収縮するときにこなごなになるので、ポリマーまたはポリ マーでコートされたバイアルが好ましい。
バイアルに栓をして、約60℃で約8時間、または堅い透明なゲルが得られるま で加熱する。バイアルの栓をはずし、バイアル中で空気を流しながら約60℃で 約24時間、または当初の体積の約1/2に収縮するまでゲルを乾燥する。部分 的に乾燥されたゲルをバイアルから取り出し、ゆっくりとした勾配加熱処理で完 全に乾燥する。この処理では、酸素または空気を急速に流しながら(200cc /分) 、450〜500℃まで24〜48時間ゲルを加熱する。
ガラス/ III−V半導体/PMMA製品の調製半導体のクラスターを保護し 、分散を維持するために、利用できる残つた全てのボイド体積をポリマーで満た すことにより、ガラスの多孔質部分を取り除く。この処理は、不活性雰囲気中で ガラス/ III−V半導体製品を1重量%VAZO−64(デュポン社登録商 標)を含有するメチルメタクリレ−) (MMA)中に部分的に浸漬し、モノマ ーを吸い上げて(“wick up”)、ガラスのボアを完全に満たすことによ りなされる。充填されたガラスをMMA/VAZOから取り出し、不活性雰囲気 中で約60℃まで約8時間加熱し、ガラスの全ボアにわたってMMAを重合させ てPMMA (ポリメチルメタクリレート)を生成させる。当業者であれば明ら かであるように、他のモノマーを使用すると、異なる開始剤または重合条件を使 用することが要求されるであろう。
緻密なガラス/半導体/PMMA製品は、残存する多孔質部分がない通常のシリ カガラス片であるかのように、切断して研磨できる。
複合材の非線形光学特性 材料は、その材料の屈折率nが光の強度!に依存し、であるならば、三次の非線 形性を有するといわれる。ここで、noは非常に低い光強度での屈折率、n2は 非線形性の太きさの尺度となる非線形屈折係数である。n2に関して通常使用さ れる単位は、MKS単位系でcm2/kWである。
三次の非線形性を特徴づけるためにしばしば用いられる他のパラメータは、χ( 3)であり、通常cgs単位系でesuで表される。n とχ(3)の両者は、 次の式を通して関係づけられる(「光双安定性;光による光の制御」 (“Qp jicxlBislabili17+ Controlling light  viht light ” 、 B、 M。
Gibbs、 AcadCmie Pu5s、 New Yolk、 1987 )参照)。
物質の三次の非線形性は、さらに共振性(ntoaul)と非共振性(mow− toon++t)とに分類される。共振性とは、レーザの波長が物質の吸収帯と 重なる、すなわち物質が光を吸収することを意味し、非共振性とはそうではない ことを意味する。共振性の非線形性の場合には、物質の吸収係数αはレーザ強度 に依存し、 α −C0+ α21 (4) または Δα −α2x (5) となる。ここで、C0は非常に低い光強度での吸収係数、C2は非線形性の大き さfの尺度となる非線形吸収係数を表す。ΔαとΔnとの両者は、クレーマーズ ークロニッヒ(Krx■crs−Kronig)の関係を通して関係づけられる 。
ここで、Cは光の速度、hはブランク定数、Eは光の周波数、Pはコーリー(C 1eh7)の第1積分値である。
実験的に、ΔαまたはΔnを測定でき、式(1)〜(7)を得ることができる。
非共振性の非線形性の場合には、n2またはχ(3)のみで非線形性の大きさを 特徴づけるのに十分であるが、共振性の非線形性の場合には追加的なパラメータ α0が必要となる。これは、非線形性がレーザ波長での物質の吸収係数に依存し 、また制限されるためである。したがって、共振性の非線形性の場合には、α2 /α0”2/α0、χ /α。が、非線形性を評価するために使用される正確な パラメータである。以下に述べるポンブープローブ法によりΔαを測定し、非線 形性をα2/α0またはΔα/α0として表現することにより、非線形性を特徴 づけることができる。
物質が大きなn2またはC2をもっているならば、光双安定および位相共役(縮 退四波混合)のような多くの三次の非線形光学現象が現れる。位相共役実験(以 下の部分で述べられる)は、本発明の物質のいくつかについて実施されている。
位相共役されたビームとプローブビームとの強度の比として定義される位相共役 効率も、非線形性の尺度となる。位相共役効率は、n2およびC2の寄与分を有 し、に比例する。ここで、λはレーザ波長、■はポンプビームの強度である。位 相共役効率は、光学機構の幾何学的構成、レーザビームの空間的な性質、および 試料の光学的な性質に依存する。したがって、位相共役効率は、物質の固有の非 線形性を比較するための、良好な普遍的なパラメータではない。
レーザにより誘導された吸収変化 入射レーザパワーの関数としての試料の透過率の変化!1は、ボンブープローブ 法を用いて、吸収変化により測定される。レーザにより誘導された透過率変化は 、光学的非線形性の大きさと速度の尺度となる。その結果は、Δ0D10D。
と表現され、ここでODは−1o g (I + / I g )で定義される 低出力光学密度であり、ΔODは誘導された光学密度の変化である。
評価のために調製された試料は、図1に図示されているものに対応する光学的な 配置を用いて、色素レーザにより照射された。図1に示されるように、10/9 0ビームスプリッタ−1(BSl)は色素レーザパルスを2つの部分に分割する 。1つの部分1、すなわち強いポンプビームは、連続的に、ミラー(Ml)、減 衰器および他のミラー(M4)へ向けられる。他のビーム、すなわち弱いプロー ブビームは、フィルター(F)を通過した後、50150ビームスプリッタ−2 (B S 2)へ向けられる。BS2からの信号の一部は、ミラー (M2)へ 向けられ、このミラーはBS2を通して検出器へ信号を送り返し、参照信号を与 える。BS2からのプローブビームの他の部分は、ミラー(M3)へ向けられる 。
(M4からの)ポンプビームおよび(M3からの)プローブビームは試料へ向け られ、試料において空間的かつ一時的に重なる。試料を透過したプローブビーム の強度1.は信号検出器により測定され、レーザ強度の変動を補正するために、 ボックスカー積分器により参照検出器からの信号の強度で割り算される。ΔOD の出力依存性は、透過したビームの強度の変化を、ポンプビームの関数として測 定することにより得られた。ここで、ポンプビームの強度は減衰器により調整さ れている。
前記の方法に従って実施された測定の結果は、表2に示されている。
縮退四波混合 評価のために調製された試料は、図2に図示されたものに対応する光学的な配置 を用いて、色素レーザによって照射された。図2に図示されているように、10 /90ビームスプリツタ1 (BSI)は、色素レーザパルスを2つの部分に分 割する。1つの部分、すなわちBSIからの弱い信号は、50150ビームスプ リツタ(B S 2)へ向けられ、BS2は参照ビームを参照検出器(DR)へ 、またプローブビーム(1’)をミラー(Ml)へ送る。BSIからの信号の他 の部分は50150ビームスプリツタ(B S 2)へ向けられる。
このビームの一部、すなわち前方ポンプビーム(I、)は、減衰器およびミラー (M2)へ向けられる。このビームの他の部分、すなわち後方ポンプビーム(I 、)は、遅延(delB)を通過した後、ミラー(M3)へ向けられる。(M2 およびM3からの)前方および後方のポンプビームならびに(Mlからの)プロ ーブビームは試料へ向けられ、そこで空間的かつ一時的に重なる。位相共役され たビーム(1)は、I。
にならってBS2までの経路を元に戻り、Dsによって検出される。■ の大き さは、試料の光学的非線形性の尺度となる。I は、レーザ強度の変動を補正す るために、参照検出器からの信号で割り算される。非線形性の出力依存性は、■ 、の強度を減衰器で調整することにより評価される。非線形性の時間依存性は、 遅延線により■、の到着時間を調整することにより評価される。
これらの実験において評価される試料に関しては、非線形性に対する支配的な寄 与は、レーザにより誘導された吸収脱色(+bsorplion bmehiB )および付随する屈折率の変化によるものであろう。ボンブープローブ実験は、 試料の吸収変化の尺度となり、付随する屈折率の変化は、クレーマーズークロニ ッヒ分析により得ることができる。DFWM実験は、吸収変化および屈折率変化 の両者からの寄与の尺度になる。ボンブープローブ実験で大きな吸収変化が観察 されることは、DFWM実験で強い位相共役された信号が観察されることと関連 づけることができる。
実施例1 一片のバイコールガラス(1/2インチ×1/2インチ×1/4インチ、コーニ ングガラス社、7930 ポーラスバイコールガラス 70+21ボア)を、酸 素を流しながら500℃までか焼して、水を除去し、有機物をトラップした。
その後、このクリーンなガラスを高真空まで真空引きし、液体窒素を用いたトラ ップツートラップ蒸留により、トリエチルインジウムをこの上に蒸留した。過剰 のトリエチルインジウムを逆蒸留して除去し、室温、15分間、静的な真空中で 多孔質ガラスを平衡にさせた。その後、充填されたガラスを300To r r のP H3ガスにさらし、ホスフィン雰囲気中で250℃まで1時間にわたって 加熱した。約200℃において、圧力が上昇し始めた。このことは、所望の反応 が開始し、エタン、エチレンおよび水素が発生したことを示している。試料は2 50℃で30分間保持された。この間、ガラスの色は黄色から濃い赤/黒色へ変 化した。ガラスを真空引きし、室温まで冷却し、不活性雰囲気のグローブボック ス中にいれ、メチルメタクリレート(MMA)にVazo−64を溶解した1% 溶液で充填した。完全に飽和したガラスを堅く栓をしたバイアル中に入れ、グロ ーブボックスから取り出し、真空中で一晩にわたって60℃に加熱して、緻密な ガラス/半導体/ポリマー複合材を得た。この材料は、85オングストロームの 粒径を有する結晶質1nPのX線パターンを示す。
実施例2−5 実施例1において記述した処理を用いて、表1にまとめられているように、他の ガラス/ III−V半導体/PMMA製品を調製した。はとんどの場合に、ガ ラスの着色は、非常に均一であるように見える。全ての場合に、100オンダス トローム以下の粒径を有する所望の半導体のX線パターンが観察されている。
a、500℃でSb+H2からその場で得られた。
実施例6−9 テトラメチルオルトシリケート(15mL)、メタノール(12,5mL) 、 ホルムアミド(12,5mL) 、硝酸(2mL) 、および水(18mL)を 混合することにより、以下のようにして多孔質のゾル−ゲルガラスを調製した。
得られた混合物(pH約4.5)を、ポリエチレン製のバイアル中に1/4イン チの深さまで注いだ。バイアルを堅くキャップし、−晩60℃で加熱した。その 間にゾルがゲル化した。
過剰の液体を捨て、60℃で空気を流しながら24時間ゲルを乾燥した。その間 にゲルは当初の体積の約1/2まで収縮した。空気を流しながら、温度に室温か ら500℃まで勾配をつけて48時間にわたって、最終的な乾燥/か焼を行った 。
得られた堅い透明な板は非常に多孔質であり、極性液体にさらすともろい。
この多孔質ガラスをバイコールの代わりに用いて、実施例1で記述された処理を 繰り返し、InP(実施例6)、InAs(実施例7)、GaP(実施例8)ま たはGaAs(実施例9)を含有するガラス/半導体/PMMA製品を調製した 。これらの材料のX線回折パターンは、所望の半導体に期待される領域に極端に 広く、弱い特性を示した。このことは非常に小さい粒径(25オングストローム 以下)を示している。これらの板の色は、通常は一様ではなく、表面の1mm以 内に集中している。これは、おそらく多孔質ガラスの小さなポアサイズの表れで あり、このことは反応中にボアを封鎖し、板の内部を密閉してさらに反応させな い。
表2には選択されたガラス/ IIIゝ二V半導体/ポリマー製品の共振性のχ (3)特性がまとめられている。一般的に、これらの例の非線形性は、検討され た波長において参照材料であるCdSxSe1−x ドープトガラスよりも一桁 小さい。
CdS工S e 1−8は、この分野で知られている最も良好なχ(3)材料で ある。
625 nm Ojlmj −9,3%625 nm Ojlmj + 5.5 %図 1 BS2:50150ビームスブリ・ツタ にMl−4: ミラー F:フィルター 図 2 Ds :(M号検出器 BS:ビームスジ1ルツクDR:参照検出器 Ml−M 3:ミラ−国際調査報告

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.実質的に、そのポアがIII−V半導体を有する多孔質ガラスマトリックス と、必要に応じてポリマーとからなる製品。 2.III−V半導体材料が、Ga3+およびIn3+からなる群より選択され る少なくとも1種のカチオン、P−3、As−3、Sb−3からなる群より選択 される少なくとも1種のアニオンとの組み合わせからなる請求項1の製品。 3.III−V半導体材料が、GaAs、GaP、InAsおよびInPからな る群より選択される請求項2の製品。 4.III−V半導体材料が、約0・1〜約10パーセントという半導体のガラ スに対する重量比を与えるために使用されている請求項3の製品。 5.ガラスが、酸により浸出してシリカの少ないドメインを除去した、熱処理さ れたボロシリケートガラスである請求項1の製品。 6.ガラスが、SiO2、GeO2、Y2O3、およびZrO2からなる群より 選択される請求項1の製品7.ガラスが、SiO2である請求項6の製品。 8.ガラスが、SiO2−BaO、SiO2−B2O3、SiO2−B2O3− Na2O、SiO2−Na2O、A12O3−ZrO2、TiO2−ZrO2、 ZrO2−SiO2、およびPbO−La2O3−ZrO2−TiO2からなる 群より選択される請求項1の製品。 9.請求項1の製品と、コヒーレントな電磁波源とを具備した、三次の非線形光 学効果を発生させる装置。
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5110505A (en) * 1989-02-24 1992-05-05 E. I. Du Pont De Nemours And Company Small-particle semiconductors in rigid matrices
JPH04131805A (ja) * 1990-09-25 1992-05-06 Sumitomo Electric Ind Ltd 石英系光導波路及びその製造方法
US5348687A (en) * 1993-11-26 1994-09-20 Mobil Oil Corp. M41S materials having nonlinear optical properties
US5406407A (en) * 1994-03-04 1995-04-11 Nec Research Institute Inc. Third order room temperature nonlinear optical switches
US5993701A (en) * 1996-11-27 1999-11-30 Industrial Science & Technology Third-order nonlinear optical material and method for production thereof
US8134175B2 (en) * 2005-01-11 2012-03-13 Massachusetts Institute Of Technology Nanocrystals including III-V semiconductors
WO2007103310A2 (en) 2006-03-07 2007-09-13 Qd Vision, Inc. An article including semiconductor nanocrystals
US8718437B2 (en) 2006-03-07 2014-05-06 Qd Vision, Inc. Compositions, optical component, system including an optical component, devices, and other products
US9874674B2 (en) 2006-03-07 2018-01-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Compositions, optical component, system including an optical component, devices, and other products
WO2008063652A1 (en) * 2006-11-21 2008-05-29 Qd Vision, Inc. Blue emitting semiconductor nanocrystals and compositions and devices including same
WO2008063653A1 (en) 2006-11-21 2008-05-29 Qd Vision, Inc. Semiconductor nanocrystals and compositions and devices including same
WO2008063658A2 (en) * 2006-11-21 2008-05-29 Qd Vision, Inc. Semiconductor nanocrystals and compositions and devices including same
US8836212B2 (en) 2007-01-11 2014-09-16 Qd Vision, Inc. Light emissive printed article printed with quantum dot ink
US9525148B2 (en) 2008-04-03 2016-12-20 Qd Vision, Inc. Device including quantum dots
KR101995371B1 (ko) 2008-04-03 2019-07-02 삼성 리서치 아메리카 인코포레이티드 양자점들을 포함하는 발광 소자
WO2009137053A1 (en) 2008-05-06 2009-11-12 Qd Vision, Inc. Optical components, systems including an optical component, and devices
JP2011524064A (ja) 2008-05-06 2011-08-25 キユーデイー・ビジヨン・インコーポレーテツド 量子閉じ込め半導体ナノ粒子を含有する固体照明装置
US9207385B2 (en) 2008-05-06 2015-12-08 Qd Vision, Inc. Lighting systems and devices including same
CN105428991B (zh) * 2015-12-16 2019-06-28 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种固体锁模激光器吸收器件的制备方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55127561A (en) * 1979-03-26 1980-10-02 Canon Inc Image forming member for electrophotography
JPS58123544A (ja) * 1982-01-19 1983-07-22 Ricoh Co Ltd 電子写真用感光体
JPS59181357A (ja) * 1983-03-31 1984-10-15 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 光導電材料
US4658087A (en) * 1984-07-23 1987-04-14 Corning Glass Works Photoelectrodes for photoelectrochemical cell devices
US4737429A (en) * 1986-06-26 1988-04-12 Xerox Corporation Layered amorphous silicon imaging members
US4816183A (en) * 1986-08-21 1989-03-28 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Composite photosensitive material
US5110505A (en) * 1989-02-24 1992-05-05 E. I. Du Pont De Nemours And Company Small-particle semiconductors in rigid matrices

Also Published As

Publication number Publication date
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EP0460060A1 (en) 1991-12-11
CN1045570A (zh) 1990-09-26

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