JPH044995Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH044995Y2 JPH044995Y2 JP1985134686U JP13468685U JPH044995Y2 JP H044995 Y2 JPH044995 Y2 JP H044995Y2 JP 1985134686 U JP1985134686 U JP 1985134686U JP 13468685 U JP13468685 U JP 13468685U JP H044995 Y2 JPH044995 Y2 JP H044995Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- holder
- fixing surface
- fixing
- sample holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 8
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本考案は、主としてX線回折装置のゴニオメー
タ中心に試料を位置決め固定するための試料固定
機構に関する。
タ中心に試料を位置決め固定するための試料固定
機構に関する。
(ロ) 従来技術とその問題点
一般に、X線回折装置では試料をゴニオメータ
の回転中心に配置し、X線管球から放射されるX
線を試料に照射し、試料から回折反射されたX線
を検出器で検出する。
の回転中心に配置し、X線管球から放射されるX
線を試料に照射し、試料から回折反射されたX線
を検出器で検出する。
ところで、X線回折装置では固体試料の他、粉
末試料がよく用いられる。このような粉末試料を
上記のごとくゴニオメータの回転中心に位置決め
固定する場合、従来は、第6図に示すように、ア
ルミニユームなどでできた試料板aに形成された
窓穴bに粉末試料cを充填し、この試料板aをゴ
ニオメータの試料台に差し込んで取り付けること
が通常行なわれている。しかしながら、この方法
では、試料が微小量しかない場合には窓穴bへ試
料を充填することが難しく分柝ができない。窓穴
の面積を小さくしかつ有底のものにすれば微小試
料でも充填できるが、このような試料板を作成す
るには加工に手間がかかる。また、粉末試料を容
器に充填したような場合には、X線が充分に照射
されるように位置決めすることが難しくなる。
末試料がよく用いられる。このような粉末試料を
上記のごとくゴニオメータの回転中心に位置決め
固定する場合、従来は、第6図に示すように、ア
ルミニユームなどでできた試料板aに形成された
窓穴bに粉末試料cを充填し、この試料板aをゴ
ニオメータの試料台に差し込んで取り付けること
が通常行なわれている。しかしながら、この方法
では、試料が微小量しかない場合には窓穴bへ試
料を充填することが難しく分柝ができない。窓穴
の面積を小さくしかつ有底のものにすれば微小試
料でも充填できるが、このような試料板を作成す
るには加工に手間がかかる。また、粉末試料を容
器に充填したような場合には、X線が充分に照射
されるように位置決めすることが難しくなる。
本考案は、従来の係る難点を解消し、微少量の
粉末試料でもゴニオメータ回転中心に精度良く位
置決め固定できるようにし、しかも位置決め固定
するための試料ホルダの加工等が簡単にできるよ
うにすることを目的とする。
粉末試料でもゴニオメータ回転中心に精度良く位
置決め固定できるようにし、しかも位置決め固定
するための試料ホルダの加工等が簡単にできるよ
うにすることを目的とする。
(ハ) 問題点を解決するための手段
本考案は、上記の目的を達成するために、次の
ような構成をとる。
ような構成をとる。
本考案のX線回折装置用試料固定機構構は、粉
末状の試料が充填される試料充填用穴が端面に形
成された円柱形の試料ホルダと、この試料ホルダ
の周面をV溝部分で受けるVブロツクと、ゴニオ
メータの回転軸に固定され、かつ該回転軸の中心
に沿う試料固定面およびこの試料固定面に対し直
交するVブロツクの固定面からなる切欠部を有す
る試料台と、前記試料ホルダの試料充填用穴があ
る端面を前記試料台の試料固定面に圧接させる押
し付け機構とを備え、かつ、前記試料固定面に
は、試料ホルダの試料充填用穴を露出するX線透
過窓が設けられていることに特徴を有するもので
ある。
末状の試料が充填される試料充填用穴が端面に形
成された円柱形の試料ホルダと、この試料ホルダ
の周面をV溝部分で受けるVブロツクと、ゴニオ
メータの回転軸に固定され、かつ該回転軸の中心
に沿う試料固定面およびこの試料固定面に対し直
交するVブロツクの固定面からなる切欠部を有す
る試料台と、前記試料ホルダの試料充填用穴があ
る端面を前記試料台の試料固定面に圧接させる押
し付け機構とを備え、かつ、前記試料固定面に
は、試料ホルダの試料充填用穴を露出するX線透
過窓が設けられていることに特徴を有するもので
ある。
(ニ) 第1図は本考案の実施例に係るX線回折装置
用試料固定機構の正面図、第2図は同機構を一部
省略して示す斜視図である。この実施例のX線回
折装置用試料固定機構1は、ゴニオメータの回転
軸2に固定された円柱状の試料台4を備える。こ
の試料台4は、上部を一部切り欠いて回転軸中心
o上に位置する試料固定面4a、これに直交する
ブロツク固定面4bおよび立壁4cがそれぞれ形
成され、立壁4c中央部にX線透過窓4dが設け
られている。そして、第3図および第4図に示す
ように、試料台4のブロツク固定面4b上にVブ
ロツク6がボルト8で固定されている。このVブ
ロツク6は、V字型に形成された試料ホルダ載置
用の傾斜面6aとボルト固定用溝6bとを備え
る。また、試料ホルダ10は、第5図に示すよう
に、全体が円柱状を成しかつその中心軸に沿つて
有底の試料充填用穴12が形成されている。そし
て、試料ホルダ10の外径D0は試料充填用穴1
2がX線透過窓4dの中心に一致するように設定
され、また、試料充填用穴12はこれに充填され
る試料14の量に応じて所定の内径dと深さlに
設定されている。なお、試料充填用穴12は貫通
したものであつてもよい。
用試料固定機構の正面図、第2図は同機構を一部
省略して示す斜視図である。この実施例のX線回
折装置用試料固定機構1は、ゴニオメータの回転
軸2に固定された円柱状の試料台4を備える。こ
の試料台4は、上部を一部切り欠いて回転軸中心
o上に位置する試料固定面4a、これに直交する
ブロツク固定面4bおよび立壁4cがそれぞれ形
成され、立壁4c中央部にX線透過窓4dが設け
られている。そして、第3図および第4図に示す
ように、試料台4のブロツク固定面4b上にVブ
ロツク6がボルト8で固定されている。このVブ
ロツク6は、V字型に形成された試料ホルダ載置
用の傾斜面6aとボルト固定用溝6bとを備え
る。また、試料ホルダ10は、第5図に示すよう
に、全体が円柱状を成しかつその中心軸に沿つて
有底の試料充填用穴12が形成されている。そし
て、試料ホルダ10の外径D0は試料充填用穴1
2がX線透過窓4dの中心に一致するように設定
され、また、試料充填用穴12はこれに充填され
る試料14の量に応じて所定の内径dと深さlに
設定されている。なお、試料充填用穴12は貫通
したものであつてもよい。
16は試料台4に固定されたアーム19に取り
付けられた押し付け機構であつて、この押し付け
機構16は内部に設けられたバネによつてピン1
8が試料ホルダ10の一端に当接して試料ホルダ
10を試料固定面4aに圧接する。
付けられた押し付け機構であつて、この押し付け
機構16は内部に設けられたバネによつてピン1
8が試料ホルダ10の一端に当接して試料ホルダ
10を試料固定面4aに圧接する。
測定に際しては試料14を試料ホルダ10の試
料充填用穴12に充填した後、この試料ホルダ1
0をVブロツク6の傾斜面6a上に載置する。そ
して、押し付け機構16のピン18で試料ホルダ
10を押圧する。すると、試料ホルダ10が試料
固定面4aに密着し、試料14がX線透過窓4d
内に位置決め固定されることになる。
料充填用穴12に充填した後、この試料ホルダ1
0をVブロツク6の傾斜面6a上に載置する。そ
して、押し付け機構16のピン18で試料ホルダ
10を押圧する。すると、試料ホルダ10が試料
固定面4aに密着し、試料14がX線透過窓4d
内に位置決め固定されることになる。
このように、試料台4に取り付けられたVブロ
ツク6に対して円柱形の試料ホルダ10を載置す
るだけで、試料ホルダ10を左右方向に位置決め
でき、また、Vブロツク6上において試料ホルダ
10の端面を試料台4の試料固定面4aに圧接さ
せるだけで、試料ホルダ10を前後方向に位置決
めできるようになつている。これにより、試料ホ
ルダ10に保持される試料14が、試料台4にお
けるX線照射位置に精度良く位置決め配置される
ことになつて、結局、試料14の分柝を高精度に
行えるようになる。
ツク6に対して円柱形の試料ホルダ10を載置す
るだけで、試料ホルダ10を左右方向に位置決め
でき、また、Vブロツク6上において試料ホルダ
10の端面を試料台4の試料固定面4aに圧接さ
せるだけで、試料ホルダ10を前後方向に位置決
めできるようになつている。これにより、試料ホ
ルダ10に保持される試料14が、試料台4にお
けるX線照射位置に精度良く位置決め配置される
ことになつて、結局、試料14の分柝を高精度に
行えるようになる。
(ホ) 効果
以上のように本考案によれば、Vブロツクを用
いて円柱形の試料ホルダを試料台上の左右方向に
位置決めするとともに、Vブロツク上の試料ホル
ダを試料台の試料固定面に対して押し付け機構で
圧接させることにより試料ホルダを試料台上の前
後方向に位置決めするようにしたから、微少量の
粉末試料でもゴニオメータ回転中心に精度良く位
置決め固定することができる。また、試料ホルダ
の製作も簡単である等の優れた効果が発揮され
る。
いて円柱形の試料ホルダを試料台上の左右方向に
位置決めするとともに、Vブロツク上の試料ホル
ダを試料台の試料固定面に対して押し付け機構で
圧接させることにより試料ホルダを試料台上の前
後方向に位置決めするようにしたから、微少量の
粉末試料でもゴニオメータ回転中心に精度良く位
置決め固定することができる。また、試料ホルダ
の製作も簡単である等の優れた効果が発揮され
る。
第1図ないし第5図は本考案の実施例を示すも
ので、第1図はX線回折装置用試料固定機構の正
面図、第2図は同機構を一部省略して示す斜視
図、第3図はVブロツクの試料台への取り付け状
態を示す断面図、第4図はVブロツクの斜視図、
第5図は試料ホルダの斜視図、第6図は従来使用
されている試料板の斜視図である。 1……X線回折装置用試料固定機構、2……ゴ
ニオメータの回転軸、4……試料台、6……Vブ
ロツク、10……試料ホルダ、12……試料充填
用穴。
ので、第1図はX線回折装置用試料固定機構の正
面図、第2図は同機構を一部省略して示す斜視
図、第3図はVブロツクの試料台への取り付け状
態を示す断面図、第4図はVブロツクの斜視図、
第5図は試料ホルダの斜視図、第6図は従来使用
されている試料板の斜視図である。 1……X線回折装置用試料固定機構、2……ゴ
ニオメータの回転軸、4……試料台、6……Vブ
ロツク、10……試料ホルダ、12……試料充填
用穴。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 粉末状の試料14が充填される試料充填用穴1
2が端面に形成された円柱形の試料ホルダ10
と、 この試料ホルダ10の周面をV溝部分で受ける
Vブロツク6と、 ゴニオメータの回転軸2に固定され、かつ該回
転軸2の中心Oに沿う試料固定面4aおよびこの
試料固定面4aに対し直交するVブロツク6の固
定面4bからなる切欠部を有する試料台4と、 前記試料ホルダ10の試料充填用穴12がある
端面を前記試料台4の試料固定面4aに圧接させ
る押し付け機構16とを備え、 かつ、前記試料固定面4aには、試料ホルダ1
0の試料充填用穴12を露出するX線透過窓4d
が設けられていることを特徴とするX線回折装置
用試料固定機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985134686U JPH044995Y2 (ja) | 1985-09-02 | 1985-09-02 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985134686U JPH044995Y2 (ja) | 1985-09-02 | 1985-09-02 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6242061U JPS6242061U (ja) | 1987-03-13 |
JPH044995Y2 true JPH044995Y2 (ja) | 1992-02-13 |
Family
ID=31036156
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1985134686U Expired JPH044995Y2 (ja) | 1985-09-02 | 1985-09-02 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH044995Y2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5236626U (ja) * | 1975-09-04 | 1977-03-15 |
-
1985
- 1985-09-02 JP JP1985134686U patent/JPH044995Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5236626U (ja) * | 1975-09-04 | 1977-03-15 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6242061U (ja) | 1987-03-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3953172A (en) | Method and apparatus for assaying liquid materials | |
WO1993017792A3 (en) | Automated miniature centrifuge | |
US4303339A (en) | Graphite tube assembly | |
US5390230A (en) | Controlled atmosphere, variable volume sample holder for x-ray diffractomer | |
JPS57211001A (en) | Measuring device for inside diameter | |
DE19732174A1 (de) | Neigungsmesser | |
JPH044995Y2 (ja) | ||
AU7884998A (en) | Spectrophotometric analysis | |
JP5456057B2 (ja) | リング内に部品を平らに取り付ける装置及び方法 | |
US3588507A (en) | Beta backscatter thickness measuring apparatus for apertures in printed circuit boards and the like | |
US3591808A (en) | Device for diagnosis with radioactive isotopes | |
JPH082604Y2 (ja) | 特性x線検出装置 | |
JPH07294400A (ja) | X線回折装置の試料保持装置 | |
US3519824A (en) | Guide for probe assembly of portable radiation backscatter measuring instrument | |
US3421000A (en) | Workpiece support and mask assemblies for radiation backscatter measuring instruments | |
US3883745A (en) | Combined holder and adapter for liquid scintillation counters | |
JP2549048Y2 (ja) | X線分析用の試料ホルダ | |
US2527758A (en) | Die gauge | |
US3504178A (en) | Method for determining crystall-ographic orientation | |
JPH0138521Y2 (ja) | ||
JP7484551B2 (ja) | 試料容器ホルダ | |
JP7188288B2 (ja) | 濾紙受け台 | |
FR2587805A1 (fr) | Procede et dispositif de determination de la texture cristallographique d'un materiau polycristallin | |
JP7135582B2 (ja) | キャピラリホルダおよびx線回折測定方法 | |
JPS6234283Y2 (ja) |