JPH0448560Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0448560Y2 JPH0448560Y2 JP1984103836U JP10383684U JPH0448560Y2 JP H0448560 Y2 JPH0448560 Y2 JP H0448560Y2 JP 1984103836 U JP1984103836 U JP 1984103836U JP 10383684 U JP10383684 U JP 10383684U JP H0448560 Y2 JPH0448560 Y2 JP H0448560Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- rays
- shielding plate
- cylinder
- window
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 claims description 3
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
Ｘ線分析装置等において、例えば回転対陰極Ｘ
線管あるいは粒子加速機等によつて得られる極め
て強力な一次Ｘ線源を用いることにより、微弱な
回折Ｘ線あるいは螢光Ｘ線の検出を行うことがで
きる。しかし同時にＸ線通路における窓材等によ
つて発生する散乱Ｘ線も増大して、SN比は改善
されないために、線源を増強しただけでは充分な
効果が得られない。従つて本考案は検出しようと
するＸ線あるいは試料に入射する一次Ｘ線の通路
に配置して散乱Ｘ線を有効に吸収し、SN比を向
上することのできる誘導筒を提供しようとするも
のである。
線管あるいは粒子加速機等によつて得られる極め
て強力な一次Ｘ線源を用いることにより、微弱な
回折Ｘ線あるいは螢光Ｘ線の検出を行うことがで
きる。しかし同時にＸ線通路における窓材等によ
つて発生する散乱Ｘ線も増大して、SN比は改善
されないために、線源を増強しただけでは充分な
効果が得られない。従つて本考案は検出しようと
するＸ線あるいは試料に入射する一次Ｘ線の通路
に配置して散乱Ｘ線を有効に吸収し、SN比を向
上することのできる誘導筒を提供しようとするも
のである。
本考案のＸ線誘導筒は、その両端にＸ線透過材
で塞いだＸ線ビームの入射窓と放出窓とを設ける
ことにより、内部を排気して真空あるいは所定の
ガスを封入した状態で使用することができる。か
つその筒体の内側に軸と直角な複数個のＸ線遮蔽
板を摺動自在に配置して、この遮蔽板にそれぞれ
適宜の大きさ形状のＸ線通過孔を形成したもので
ある。従ってＸ線通路の気体分子によるＸ線の散
乱等を軽減することができる。かつ遮蔽板をそれ
ぞれ適当な位置に配置することにより、軸に対し
て大きな角度を持つた散乱Ｘ線あるいはその散乱
線が筒体の内面等に入射して発生する二次散乱線
等が遮蔽板の周縁部で遮られて前記放出窓に達し
ないもので、このため散乱線が減少してSN比が
極めて高くなる。
で塞いだＸ線ビームの入射窓と放出窓とを設ける
ことにより、内部を排気して真空あるいは所定の
ガスを封入した状態で使用することができる。か
つその筒体の内側に軸と直角な複数個のＸ線遮蔽
板を摺動自在に配置して、この遮蔽板にそれぞれ
適宜の大きさ形状のＸ線通過孔を形成したもので
ある。従ってＸ線通路の気体分子によるＸ線の散
乱等を軽減することができる。かつ遮蔽板をそれ
ぞれ適当な位置に配置することにより、軸に対し
て大きな角度を持つた散乱Ｘ線あるいはその散乱
線が筒体の内面等に入射して発生する二次散乱線
等が遮蔽板の周縁部で遮られて前記放出窓に達し
ないもので、このため散乱線が減少してSN比が
極めて高くなる。
第１図は本考案実施例のＸ線入射窓に薄板状の
多結晶回折試料１を対設し、放出窓に回折Ｘ線検
出器２に対設した状態の側面図、第２図は第１図
の装置の拡大縦断面図、第３図は第２図のＡ−Ａ
断面図、である。すなわち本考案のＸ線誘導筒は
直線状の筒体３の両端に例えばベリリウム、ある
いは合成樹脂のようなＸ線通過材の薄板で密閉し
たＸ線入射窓４と放出窓５とを形成し、かつ例え
ば上記筒体３の側面に排気口６を設けてある。ま
た筒体３の内側には軸と直角に配置した複数個の
Ｘ線遮蔽板７，７……を摺動自在に嵌合して、各
遮蔽板にそれぞれ適宜の形状大きさのＸ線通過孔
８，８……、例えば図のように入射窓４に近い遮
蔽板ほど径の小さい円孔、を形成してある。なお
前記入射窓４は隣接する遮蔽板の孔と同等または
それ以下の大きさであり、放出窓５はこれに隣接
する遮蔽板の孔と同等またはそれより多少大きく
形成されている。前記排気口６は、これを可撓管
９で排気ポンプに、あるいは切換弁を介して排気
ポンプと適宜のガス源とに連結して、Ｘ線の減衰
を軽減する。更にＸ線検出器２は例えば円板状筒
体の前面を遮光板１０で覆つてその背面の中心に
Ｘ線ビームストツパ１１を設け、更にその背後に
Ｘ線フイルム１２を配置したフイルムカセツトで
ある。また第４図ａ，ｂ，ｃは前記Ｘ線遮蔽板７
の他の形状例を示した縦断面図で、このように遮
蔽板７はその断面形状を任意に選定し得ると共に
Ｘ線通過孔８の形状も、円形に限ることなく矩形
あるいは帯状の細隙等とすることができる。
多結晶回折試料１を対設し、放出窓に回折Ｘ線検
出器２に対設した状態の側面図、第２図は第１図
の装置の拡大縦断面図、第３図は第２図のＡ−Ａ
断面図、である。すなわち本考案のＸ線誘導筒は
直線状の筒体３の両端に例えばベリリウム、ある
いは合成樹脂のようなＸ線通過材の薄板で密閉し
たＸ線入射窓４と放出窓５とを形成し、かつ例え
ば上記筒体３の側面に排気口６を設けてある。ま
た筒体３の内側には軸と直角に配置した複数個の
Ｘ線遮蔽板７，７……を摺動自在に嵌合して、各
遮蔽板にそれぞれ適宜の形状大きさのＸ線通過孔
８，８……、例えば図のように入射窓４に近い遮
蔽板ほど径の小さい円孔、を形成してある。なお
前記入射窓４は隣接する遮蔽板の孔と同等または
それ以下の大きさであり、放出窓５はこれに隣接
する遮蔽板の孔と同等またはそれより多少大きく
形成されている。前記排気口６は、これを可撓管
９で排気ポンプに、あるいは切換弁を介して排気
ポンプと適宜のガス源とに連結して、Ｘ線の減衰
を軽減する。更にＸ線検出器２は例えば円板状筒
体の前面を遮光板１０で覆つてその背面の中心に
Ｘ線ビームストツパ１１を設け、更にその背後に
Ｘ線フイルム１２を配置したフイルムカセツトで
ある。また第４図ａ，ｂ，ｃは前記Ｘ線遮蔽板７
の他の形状例を示した縦断面図で、このように遮
蔽板７はその断面形状を任意に選定し得ると共に
Ｘ線通過孔８の形状も、円形に限ることなく矩形
あるいは帯状の細隙等とすることができる。
上記装置において試料１の中心へ第１図のよう
に細いＸ線ビームｐを入射させると、その試料か
ら第２図のように円錐状の回折Ｘ線ｑ，ｒ，……
が発生する。試料１を透過して直進するＸ線ｐお
よび上記回折Ｘ線ｑ，ｒ，……が窓４を通つて本
考案の誘導筒に入射し、更に窓５から検出器２に
入射して、上記回折Ｘ線ｑ，ｒ……はフイルム１
２上に円形の像を形成する直進ビームｐはストツ
パ１１で遮断される。従つてフイルム１２を現像
することによつて回折線の状況を知ることができ
る。このような場合に試料１から発生して窓４を
通り筒体３内に入射した散乱Ｘ線は、その大部分
が上記筒体の軸線に対して大きい角度を有するた
めに遮蔽板７で遮られる。かつ遮蔽板７あるいは
筒体３の内面にＸ線が入射して発生した二次散乱
線は遮蔽板７の数を多くして、その相互間隔を小
さくすることにより、これをほぼ完全に吸収して
検出器２に入射することを防止し得る。従つて試
料１と検出器２との間に本考案の誘導筒を配置す
ることにより、検出器に入射する散乱線が著しく
減少して、SN比の高い高精度の測定、観測を行
い得る作用効果がある。
に細いＸ線ビームｐを入射させると、その試料か
ら第２図のように円錐状の回折Ｘ線ｑ，ｒ，……
が発生する。試料１を透過して直進するＸ線ｐお
よび上記回折Ｘ線ｑ，ｒ，……が窓４を通つて本
考案の誘導筒に入射し、更に窓５から検出器２に
入射して、上記回折Ｘ線ｑ，ｒ……はフイルム１
２上に円形の像を形成する直進ビームｐはストツ
パ１１で遮断される。従つてフイルム１２を現像
することによつて回折線の状況を知ることができ
る。このような場合に試料１から発生して窓４を
通り筒体３内に入射した散乱Ｘ線は、その大部分
が上記筒体の軸線に対して大きい角度を有するた
めに遮蔽板７で遮られる。かつ遮蔽板７あるいは
筒体３の内面にＸ線が入射して発生した二次散乱
線は遮蔽板７の数を多くして、その相互間隔を小
さくすることにより、これをほぼ完全に吸収して
検出器２に入射することを防止し得る。従つて試
料１と検出器２との間に本考案の誘導筒を配置す
ることにより、検出器に入射する散乱線が著しく
減少して、SN比の高い高精度の測定、観測を行
い得る作用効果がある。
第１図は本考案実施例の両端にＸ線回折試料お
よびＸ線検出器を配置した状態における側面図、
第２図は第１図の装置の拡大縦断面図、第３図は
第２図のＡ−Ａ断面図、第４図は第２図における
遮蔽板７の断面形状の他の例を示した図である。 なお図において、１は試料、２はＸ線検出器、
３は筒体、４はＸ線入射窓、５はＸ線放出窓、６
は排気口、７はＸ線遮蔽板、８は孔、９は可撓
管、１０は遮光板、１１はＸ線ビームのストツ
パ、１２はＸ線フイルムである。
よびＸ線検出器を配置した状態における側面図、
第２図は第１図の装置の拡大縦断面図、第３図は
第２図のＡ−Ａ断面図、第４図は第２図における
遮蔽板７の断面形状の他の例を示した図である。 なお図において、１は試料、２はＸ線検出器、
３は筒体、４はＸ線入射窓、５はＸ線放出窓、６
は排気口、７はＸ線遮蔽板、８は孔、９は可撓
管、１０は遮光板、１１はＸ線ビームのストツ
パ、１２はＸ線フイルムである。
Claims (1)
- 直線状筒体の両端にＸ線透過材の薄板で密閉し
たＸ線入射窓と放出窓とを形成し、かつ適宜の位
置に排気口を設けると共に上記筒体の内側に軸と
直角な複数個のＸ線遮蔽板を設けて、上記遮蔽板
にそれぞれ適宜の形状大きさのＸ線通過孔を形成
したＸ線誘導筒。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10383684U JPS6119752U (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | Ｘ線誘導筒 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10383684U JPS6119752U (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | Ｘ線誘導筒 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6119752U JPS6119752U (ja) | 1986-02-05 |
| JPH0448560Y2 true JPH0448560Y2 (ja) | 1992-11-16 |
Family
ID=30663206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10383684U Granted JPS6119752U (ja) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | Ｘ線誘導筒 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6119752U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2959344B1 (fr) * | 2010-04-26 | 2013-03-22 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif optique pour analyser un echantillon par diffusion d'un faisceau de rayon x, dispositif de collimation et collimateur associes |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57150000A (en) * | 1981-02-09 | 1982-09-16 | Battelle Development Corp | Device of putting x-ray at object |
-
1984
- 1984-07-11 JP JP10383684U patent/JPS6119752U/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57150000A (en) * | 1981-02-09 | 1982-09-16 | Battelle Development Corp | Device of putting x-ray at object |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6119752U (ja) | 1986-02-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4090080A (en) | Imaging | |
| CA1053385A (en) | Positron imaging device with plural coincidence channels and graded radiation absorption | |
| US5175434A (en) | Compton scatter camera | |
| US7646850B2 (en) | Wide-field, coherent scatter imaging for radiography using a divergent beam | |
| US4291228A (en) | Detector shape and arrangement for positron annihilation imaging device | |
| JP3260459B2 (ja) | 弾性的散乱ｘ線量のパルス伝送スペクトルを測定する装置 | |
| US4821304A (en) | Detection methods and apparatus for non-destructive inspection of materials with radiation | |
| JPH0634712Y2 (ja) | Ｘ線検出装置 | |
| US4856041A (en) | X-ray detector system | |
| JPH0390900A (ja) | 中性子ラジオグラフィー装置 | |
| US7164143B2 (en) | PET and SPECT systems with attenuation correction | |
| SU1045094A1 (ru) | Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа вещества | |
| JPH0448560Y2 (ja) | ||
| JP3519208B2 (ja) | 真空チャンバを備えたｘ線小角散乱装置 | |
| JPH01152390A (ja) | 高速中性子検出器 | |
| Beck et al. | The ACRH brain scanning system | |
| KR20210083862A (ko) | 엑스선 촬영용 그리드의 서브 조립용 지그 | |
| US3612875A (en) | Mossbauer spectrometer | |
| Siegbahn et al. | An Electron Pair Spectrometer of Lens Type for Hard Gamma‐Radiation | |
| US3889125A (en) | Radiation shield for x-ray fluorescence analytical device | |
| JP2001264272A (ja) | 陽電子消滅γ線測定方法および装置 | |
| Glaister | A flat beam collimator for radioisotope scanning of the lung | |
| US7247854B2 (en) | Limiting device for electromagnetic radiation, notably in an analysis device | |
| Jean-Marie | A source of monoenergetic electrons of 0.5 to 3.5 MeV for scintillation counter studies | |
| JP3004137B2 (ja) | 放射線検出装置 |