JPH0448028B2 - - Google Patents

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JPH0448028B2
JPH0448028B2 JP59169434A JP16943484A JPH0448028B2 JP H0448028 B2 JPH0448028 B2 JP H0448028B2 JP 59169434 A JP59169434 A JP 59169434A JP 16943484 A JP16943484 A JP 16943484A JP H0448028 B2 JPH0448028 B2 JP H0448028B2
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JP
Japan
Prior art keywords
gate
imaging
region
cells
imaging device
Prior art date
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JP59169434A
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English (en)
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JPS6147663A (ja
Inventor
Hideki Muto
Mitsuru Ikeda
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication of JPS6147663A publication Critical patent/JPS6147663A/ja
Publication of JPH0448028B2 publication Critical patent/JPH0448028B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は固体撮像デバイス、とくに絶縁ゲート
型電界効果トランジスタ(IGFET(MOS))、接
合型電界効果トランジスタ(JFET)などのゲー
ト蓄積型固体撮像デバイスに関する。
背景技術 たとえばフオトダイオード構造の撮像セルが1
次元または2次元に配列された撮像セルアレイを
有する固体撮像デバイスは、その光電変換効率す
なわち入射光に対する光キヤリア発生感度をいか
に向上させるかが重要な課題のひとつである。そ
のため従来は、各撮像セルの入射光に対する光学
的な開口率を向上させたり、入射光の損失を低減
させる様々な方法がとられてきた。
たとえば、シリコン基板上に各画素ごとにpn
接合フオトダイオードが形成され、そのカソード
またはアノードが、光キヤリアの読出しゲート回
路を構成するIGFETのゲート電極に接続されて
いる固体撮像デバイスがある。入射光によりフオ
トダイオード領域で発生した光キヤリアは、その
pn接合付近に一時的に蓄積され、IGFETによつ
て入射光に応じた信号電流として出力される。
しかしこの構成では、1画素のpn接合発光領
域ごとに1つの読出しゲート回路が形成され、1
画素当りの素子の物理的占有面積が大きくなつて
しまう。したがつて、撮像デバイスとして十分な
開口率が得られず、したがつて光電変換効率が低
く、また画像の解像度も低いという欠点があつ
た。
目 的 本発明はこのような従来技術の欠点を解消し、
光学開口率が高いゲート蓄積型固体撮像デバイス
を提供することを目的とする。
発明の開示 本発明によれば、入射光に応じた光キヤリアを
発生する光キヤリア発生手段と、発生した光キヤ
リアを蓄積するゲート領域及びこのゲート領域に
蓄積された光キヤリアに応じた信号を読み出すた
めのソース・ドレーン路を含む電界効果トランジ
スタとから構成される撮像セルを複数配列して成
るゲート蓄積型固体撮像デバイスにおいて、各撮
像セルは、1つの撮像セルに隣接する2つの撮像
セルに対して、そのうちの一方との間でソースを
共通に形成すると共に、他方との間でドレーンを
共通に形成するように接続されているものであ
る。
実施例の説明 次に添付図面を参照して本発明によるゲート蓄
積型固体撮像デバイスの実施例を詳細に説明す
る。
第1図を参照すると、本発明によるゲート蓄積
型固体撮像デバイスの実施例において、1つの画
素を形成する撮像セル10が光キヤリア発生蓄積
領域12と読出しゲート14とからなる。この撮
像セル10は隣接するものが2つずつ対になつて
いる。
たとえば同図左上の2つの撮像セル10を例に
とると、それら2つのセル10の読出しゲート1
4のドレーンが共通に水平行選択線16aに接続
され、光キヤリア発生蓄積領域12が共通にリセ
ツト線20に接続されている。またそれら2つの
セル10の読出しゲート14のソースは、それぞ
れの垂直列選択線18に接続され、垂直列選択線
18は、図示のようにそれぞれ隣接する他の撮像
セル10の読出しゲート14のソースと共通に接
続されている。
同図における上の水平行の中央の2つの撮像セ
ル10は、それら2つのセル10の読出しゲート
14のドレーンが共通に水平行選択線16bに接
続されている点で、左上の1対のセル10と相違
するにすぎない。
換言すれば、同図における最上の水平行におい
て、最左の2つの撮像セル10が1対となるよう
な組合せで読出し回路14のドレーンが共通に接
続され、最左から2番目と3番目の2つの撮像セ
ル10が1対となるような組合せで読出し回路1
4のソースが共通に接続されている。
このようにして多数の撮像セル10が水平方向
に同様にして配列されて撮像セル10の水平行が
構成され、この水平行が垂直方向に多数配列され
て、全体として本実施例におけるゲート蓄積型固
体撮像デバイスの撮像セルアレイ22が形成され
ている。
水平行選択線16aおよび16bは、1対とな
つてそれぞれ読出しゲート回路24aおよび24
bのソース・ドレーン路に接続され、それらのゲ
ートが垂直シフトレジスタ26の各段に接続され
ている。ゲート回路24aおよび24bのソー
ス・ドレーン路は、それぞれ抵抗32aおよび3
2bを通して正の直流電源34にプルアツプされ
ている。抵抗32aおよび32bの一端が各撮像
セル10の蓄積キヤリアに応じた信号の読出し出
力端子を構成している。また選択線16aおよび
16bはそれぞれ、抵抗36aおよび36bを通
して接地されている。
同様にして、垂直列選択線18は読出しゲート
回路28のソース・ドレーン路に接続され、それ
らのゲートが水平シフトレジスタ30の各段に接
続されている。またゲート回路28のソース・ド
レーン路は、抵抗38を通して共通に接地されて
いる。
リセツト線20は、水平行単位で共通にゲート
回路40のソース・ドレーン路に接続され、また
抵抗42を通して接地されている。ゲート回路4
0のソース・ドレーン路は共通に正の電源46に
接続され、またそれらのゲートはリセツト用シフ
トレジスタ44の各段に接続されている。
撮像セルアレイ10に光が照射され、垂直シフ
トレジスタ26が水平行を順次走査し、選択され
た水平行において水平シフトレジスタ30が垂直
列を順次走査して、ラスタ走査によつて順次画像
信号が各撮像セルから読み出される。
たとえば垂直シフトレジスタ26の同図におけ
る最上段が駆動され、それに対応する1対の水平
行選択線16aおよび16bが付勢されたとす
る。この状態で水平シフトレジスタ30の同図に
おける左から2番目の段が駆動され、それに対応
する垂直列選択線18が付勢されると、その垂直
選択線18に対応する1対の撮像セル10につい
てのみ、その蓄積領域12に蓄積された光キヤリ
アの読出しが行なわれる。
すなわち左から2番目の撮像セル10の蓄積領
域12に蓄積された光キヤリアに応じた電流が電
源34、抵抗32a、ゲート回路24a、および
選択線16aを通つてその読出しゲート回路14
に流れ、これは選択線18および読出しゲート回
路28を通つて抵抗38に流れる。したがつて、
その蓄積キヤリアに応じた電圧が出力端子48a
に出力される。その際、同じ垂直列選択線18に
接続されている左から3番目の撮像セル10の蓄
積領域12に蓄積された光キヤリアに応じた電流
は、電源34、抵抗32b、ゲート回路24b、
および選択線16bを通つてその読出しゲート回
路14に流れ、これは同じ選択線18および読出
しゲート回路28を通つて抵抗38に流れる。し
たがつて、その蓄積キヤリアに応じた電圧が出力
端子48bに出力される。
次に、水平シフトレジスタ30が歩進して同じ
水平行の左から3番目の選択線18が付勢される
と、それに対応する1対のセル10の蓄積領域1
2の蓄積キヤリアに応じた電圧が出力端子48a
および48bにそれぞれ出力される。こうして1
水平行の撮像セル10について順次読出しが行な
われると、次の水平行が選択され、同様にして順
次ラスタ走査にて蓄積キヤリアの読出しが行なわ
れる。
各撮像セル10に蓄積されたキヤリアの初期状
態へのリセツトは、読出しの終了した水平行ごと
にリセツト用シフトレジスタ44の歩進によつて
行なわれる。これによつて、シフトレジスタ40
の1つの段によつて駆動されたゲート回路40が
導通すると、電源46と抵抗42できまる所定の
レベルに蓄積領域12が設定される。
このような回路構成の固体撮像デバイスが積層
型IGFET構造のデバイスとして実現された撮像
セルアレイ22の実施例が平面図にて第2図に示
され、その一点鎖線A−A,B−BおよびC−C
の断面がそれぞれ第3図ないし第5図に示されて
いる。
撮像セル10は本実施例では、p型シリコン基
板100の一方の主面に2つのn領域102およ
び104が形成されている。一方のn領域102
は、たとえばアルミニウムなどのコンタクト11
0を介して垂直列選択線18に接続されている。
このコンタクト110は第2図ではX印で示され
ている。また、他方のn領域104は多結晶シリ
コンなどの水平行選択線16に接続されている。
基板100の主面には、たとえば酸化シリコン
または窒化シリコンなどの絶縁層106および1
08が形成され、その上に非晶質シリコン層11
2が形成されている。非晶質シリコン層112の
上にリセツト線20が形成されている。このリセ
ツト線20は、たとえばITOなどの透明電極材料
で形成するのが有利である。
これらによつて、n領域102をソースとし、
n領域104をドレーンとし、多結晶シリコン電
極層124をゲート電極とする読出しゲート回路
14が構成される。ゲート領域124の上方の非
晶質シリコン層112と絶縁層108との界面付
近には、アルミニウム電極層116が形成され、
これは導電体114によつて領域12と接続され
ている。
非晶質シリコン層112は、入射光に応じて光
キヤリアを発生する感光領域として機能する。こ
こで発生した光キヤリアは、電極層116および
114を通つてゲート領域124に蓄積される。
これが前述の光キヤリア蓄積領域12に相当す
る。この蓄積キヤリアに応じて読出しゲート回路
14にチヤネルが形成され、前述のような読出し
電流がソース102とドレーン104の間に流れ
ることになる。
1つの撮像セル10は、酸化シリコンなどの絶
縁層120およびその下のp+領域122によつ
て他のセルと素子分離され、このようなセル10
が2次元状に基板100の主面に配列され、撮像
セルアレイ22が形成されている。
第6図には、本発明による固体撮像デバイスが
接合型FET(JFET)構造のデバイスとして実現
された撮像アレイ22の実施例が平面図にて示さ
れ、その一点鎖線D−DおよびE−Eの断面がそ
れぞれ第7図および第8図に示されている。
この実施例によれば、p型シリコン基板200
の一方の主面に1本の水平行の撮像セル10に対
応してn−層202が形成され、その中にp領域
204、ならびに2種類のn+領域206および
208が形成されている。p領域204の上に
は、たとえばSiNなどの誘電絶縁膜210が形成
され、その上をリセツト線20が走行している。
リセツト線20は、たとえばITOなどの透明電極
材料で形成するのが有利である。なお、第6図で
は、図の複雑化を避けるため、リセツト線の図示
を省略している。
一方のn+領域206は、たとえばアルミニウ
ムなどの垂直列選択線18に接続されている。ま
た、他方のn+領域104は多結晶シリコンなど
の水平行選択線16aまたは16bに接続されて
いる。
この実施例では、第6図からわかるように、
W,G,RおよびBの順序で色画素が水平方向に
配列され、垂直方向にはこれらが2画素分ずれて
配列されている。したがつて、同図に示すよう
に、1対の垂直列選択線すなわち読出し線16a
および16bにはW信号とG信号が、他の1対の
垂直行選択線すなわち読出し線16aおよび16
bにはR信号とB信号がそれぞれ読み出される。
この接合型FET構造の実施例においては、p
型領域204とn−領域202の間に形成される
pn接合に入射光によつて光キヤリアが発生し、
蓄積される。この領域が前述の光キヤリア発生、
蓄積領域12として機能する。領域12に蓄積さ
れた光キヤリアは、p型基板200とともにその
電界によつて空乏層を形成し、一方のn+領域2
06から他方のn+領域208の方向にn-層20
2を流れる電子流をピンチオフさせる、ないしは
これを制御する機能を果す。これによつて前述の
読出しゲート回路14を構成している。
第9図は本発明によるゲート蓄積型固体撮像デ
バイスの他の実施例を示す回路図であり、第1図
と実質的に同じ部分には同一の符号を付して説明
を省略する。この実施例においては、各撮像セル
10が水平行選択線16にゲート領域が、垂直列
選択線18にソース及びドレーンが各々接続され
ている点、該水平行選択線及びリセツト線が1本
の水平行選択線16(リセツト線20)で構成さ
れ、それぞれゲート回路24,40に接続されて
いる点、及びゲート回路28a及び28bが共通
に水平シフトレジスタ30によつて駆動され、一
方のゲート回路(例えば28a)のソース・ドレ
ーン路が撮像セルのソースに、他方のゲート回路
(例えば28b)のソース・ドレーン路が撮像セ
ルのドレーンにそれぞれ接続されている点で第1
図に示した実施例と異なる。
以上の実施例からわかるように、光キヤリア蓄
積領域12に蓄積された光キヤリアは、2画素分
の撮像セル10が対になつて共通のソースまたは
ドレーンを通して選択的に読み出される。したが
つて、1画素当りの素子の占有面積が相対的に小
さく、撮像デバイスとして十分な開口率が得られ
る。したがつて光電変換効率、および画像の解像
度が高い。
本発明によるゲート蓄積型固体撮像デバイスを
2次元撮像セルアレイに適用した実施例について
説明したが、本発明は、1次元撮像セルアレイに
も有利に適用されることは言うまでもない。
効 果 このように本発明によるゲート蓄積型固体撮像
デバイスは、光キヤリア蓄積領域に蓄積された光
キヤリアが2画素分の対の撮像セルに共通のソー
スまたはドレーンを通して読み出される構造をと
つている。したがつて、光学開口率が高い。換言
すれば、画素が微細化されたゲート蓄積型固体撮
像デバイスが実現される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるゲート蓄積型固体撮像デ
バイスの実施例を示す回路図、第2図は、本発明
による固体撮像デバイスが積層型IGFET構造の
デバイスとして実現された撮像セルアレイの実施
例を示す平面図、第3図ないし第5図は、第2図
における一点鎖線A−A,B−BおよびC−Cの
断面をそれぞれ示す断面図、第6図は、本発明に
よる固体撮像デバイスが接合型FET構造のデバ
イスとして実現された撮像セルアレイの実施例を
示す第2図と同様の平面図、第7図および第8図
は、第6図における一点鎖線D−DおよびE−E
の断面をそれぞれ示す第3図ないし第5図と同様
の断面図、第9図は本発明によるゲート蓄積型固
体撮像デバイスの他の実施例を示す回路図であ
る。 主要部分の符号の説明、10……撮像セル、1
2……光キヤリア蓄積領域、14……読出しゲー
ト回路、16……水平行選択線、18……垂直列
選択線、20……リセツト線、22……撮像セル
アレイ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 入射光に応じた光キヤリアを発生する光キヤ
    リア発生手段と、 発生した光キヤリアを蓄積するゲート領域及び
    該ゲート領域に蓄積された光キヤリアに応じた信
    号を読み出すためのソース・ドレーン路を含む電
    界効果トランジスタとから構成される撮像セルを
    複数配列して成るゲート蓄積型固体撮像デバイス
    において、 各撮像セルは、1つの撮像セルに隣接する2つ
    の撮像セルに対して、そのうちの一方との間でソ
    ースを共通に形成すると共に、他方との間でドレ
    ーンを共通に形成するように該撮像セルを駆動す
    るシフトレジスタに接続されていることを特徴と
    するゲート蓄積型固体撮像デバイス。 2 特許請求の範囲第1項記載の固体撮像デバイ
    スにおいて、前記電界効果トランジスタは、絶縁
    ゲート型電界効果トランジスタであることを特徴
    とするゲート蓄積型固体撮像デバイス。 3 特許請求の範囲第1項記載の固体撮像デバイ
    スにおいて、前記電界効果トランジスタは、接合
    型電界効果トランジスタであることを特徴とする
    ゲート蓄積型固体撮像デバイス。
JP59169434A 1984-08-15 1984-08-15 ゲ−ト蓄積型固体撮像デバイス Granted JPS6147663A (ja)

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