JPH0443821Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0443821Y2
JPH0443821Y2 JP3852286U JP3852286U JPH0443821Y2 JP H0443821 Y2 JPH0443821 Y2 JP H0443821Y2 JP 3852286 U JP3852286 U JP 3852286U JP 3852286 U JP3852286 U JP 3852286U JP H0443821 Y2 JPH0443821 Y2 JP H0443821Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductor
signal
cylindrical
held
center conductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP3852286U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS62150666U (en
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP3852286U priority Critical patent/JPH0443821Y2/ja
Publication of JPS62150666U publication Critical patent/JPS62150666U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0443821Y2 publication Critical patent/JPH0443821Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、端子接続構造に係り、特に回路試験
装置において、高い周波数の信号を伝達すること
ができ、且つデジタル信号とアナログ信号とが併
存する場合に両信号系間の干渉を排除することが
できる端子接続構造に係る。
[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to a terminal connection structure, and is particularly applicable to circuit testing equipment, which is capable of transmitting high frequency signals and where digital signals and analog signals coexist. The invention relates to a terminal connection structure that can eliminate interference between both signal systems when

〔従来技術及びその問題点〕[Prior art and its problems]

半導体試験装置などの回路試験装置において、
測定器と被測定物とを接続する場合、多数の端子
を接続する複合プローブが必要である。
In circuit test equipment such as semiconductor test equipment,
When connecting a measuring device and an object to be measured, a composite probe that connects many terminals is required.

従来では、第3図に示すものが一般に使用され
ていた。即ち、プローブ装置31は、絶縁体から
成るハウジング32と該ハウジングに保持された
コンパクトプローブ33とを備えている。ところ
が、プローブ装置31では、周波数の高いアナロ
グ信号や、繰り返しレートの高い矩形波、あるい
は立ち上がりの速いパルス信号等のデジタル信号
を伝達する場合、コンパクトプローブ31がイン
ダクタンスとして働き、また入出力回路とのイン
ピーダンスの不整合による反射波が生ずるため、
波形歪みが大きいしいう欠点があつた。また、上
記の従来例においては、通常2本一対のコンタク
トプローブを用いて信号を伝達していので、それ
だけ多くのコンタクトプローブが必要であるため
高コストになり、ハウジングが大型化するという
欠点があつた。
Conventionally, the one shown in FIG. 3 has been generally used. That is, the probe device 31 includes a housing 32 made of an insulator and a compact probe 33 held in the housing. However, in the probe device 31, when transmitting a digital signal such as a high frequency analog signal, a rectangular wave with a high repetition rate, or a pulse signal with a fast rise, the compact probe 31 acts as an inductance, and also causes interference with the input/output circuit. Reflected waves occur due to impedance mismatch, so
The drawback was that the waveform distortion was large. In addition, in the conventional example described above, signals are usually transmitted using a pair of contact probes, which has the drawbacks of high cost and a large housing due to the need for a correspondingly large number of contact probes. Ta.

信号線の同軸構造の要求に対しては、第4図に
示すような、同軸コンタクトプローブ41が知ら
れている。即ち、同軸コンタクトプローブ41
は、最も外側の筒状体42に出入自在に収容され
突出方向に付勢されるプランジヤとして、ピン4
3と、筒状体44との2つを備えたものである。
ピン43と筒状体42及び44とは、互いに絶縁
され、それぞれ同軸線の中心導体、外部導体とし
て働く。しかし、同軸コンタクトプローブ41
は、構造が比較的複雑であるため製造コストが高
いという欠点があつた。
A coaxial contact probe 41 as shown in FIG. 4 is known to meet the requirements for a coaxial structure of signal lines. That is, the coaxial contact probe 41
The pin 4 serves as a plunger that is housed in the outermost cylindrical body 42 so as to be able to move in and out and is biased in the projecting direction.
3 and a cylindrical body 44.
The pin 43 and the cylindrical bodies 42 and 44 are insulated from each other and serve as the center conductor and outer conductor of the coaxial line, respectively. However, the coaxial contact probe 41
had the disadvantage of high manufacturing costs due to its relatively complex structure.

上記した従来技術に対して、本願と同一の出願
人の出願に係る実願昭61−11294に開示されたプ
ローブ装置のように、即ち第5図に示すプローブ
装置51のように、ハウジングリング52を金属
から形成し、該ハウジングリングに設けた複数の
穴内に誘電体53を介してコンタクトプローブ5
4を装着し、ハウジングリング52をコンタクト
プローブ54に対する共通のグラウンドとして用
いる方法が考えられる。測定器及び被測定回路の
グランドとハウジングリング52とは、金属製の
弾性部材等によつて接続する。これによれば、ハ
ウジングリング52とコンタクトプローブ54と
の間に同軸構造が形成されるので、特性インピー
ダンスを測定器の入出力インピーダンスと容易に
一致させることができ、周波数の高い信号を正確
に伝達することができる。しかも、コンタクトプ
ローブの使用数を減少させることができ、構造が
簡単なので極めて安価に製造することができる。
In contrast to the above-mentioned prior art, as in the probe device disclosed in U.S. Pat. is made of metal, and contact probes 5 are inserted into a plurality of holes provided in the housing ring via a dielectric material 53.
4 and use the housing ring 52 as a common ground for the contact probe 54. The ground of the measuring device and the circuit to be measured and the housing ring 52 are connected by a metal elastic member or the like. According to this, since a coaxial structure is formed between the housing ring 52 and the contact probe 54, the characteristic impedance can be easily matched with the input/output impedance of the measuring instrument, and high frequency signals can be accurately transmitted. can do. Moreover, the number of contact probes used can be reduced, and the structure is simple, so it can be manufactured at extremely low cost.

ところが、プローブ装置51において、デジタ
ル信号とアナログ信号とが共存する場合に、問題
が生ずる。周知の如く、アナログ信号は、デジタ
ル信号と比較して、伝達の精度が要求される。
However, a problem occurs when digital signals and analog signals coexist in the probe device 51. As is well known, analog signals require higher transmission accuracy than digital signals.

例えば、被測定回路に対して、デジタル信号を
入力し、該被測定回路から出力されるアナログ信
号を測定する場合、プローブ装置51を用いる
と、ハウジング52において、共通インピーダン
スを生じる。ハウジング52は、わずかな抵抗を
有するので、該ハウジング52を流れる電流によ
つて、電位が生じ、この影響により信号の干渉が
起きる。
For example, when a digital signal is input to a circuit under test and an analog signal output from the circuit under test is measured, a common impedance is generated in the housing 52 when the probe device 51 is used. Since the housing 52 has a small resistance, the current flowing through the housing 52 creates an electrical potential, the effect of which is to cause signal interference.

デジタル信号のみの伝達であれば通常は問題が
起きることは少ないが、特に高精度の測定が要求
されるアナログ信号伝送の場合には、プローブ装
置51を使用して測定を行うのは不可能となる。
Normally, problems do not occur if only digital signals are transmitted, but in the case of analog signal transmission, which requires particularly high-precision measurements, it may be impossible to perform measurements using the probe device 51. Become.

これに対して、導電性ハウジングを絶縁体によ
つて絶縁された複数の部分に分割する方法も考え
られる。しかし、導電性ハウジングの加工コスト
がかかり、また多分割するには加工が難しく、現
実の実施は極めて困難であつた。
On the other hand, it is also possible to consider a method in which the conductive housing is divided into a plurality of parts insulated by insulators. However, the manufacturing cost of the conductive housing is high, and it is difficult to process it into multiple pieces, making it extremely difficult to actually implement it.

〔考案が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention attempts to solve]

本考案は、上記した従来技術の問題点を解決す
るためになされたものであつて、その目的とする
ところは、複数の円筒状の穴を備えた導電性ハウ
ジングと、該穴の中に絶縁体を介して保持された
中心導体とから成り、グランドを共通とする同軸
線路を形成することによつて、構成を簡易化しな
がら、インピーダンスマツチングを行い、高周波
特性を良好にすることである。
The present invention was made in order to solve the problems of the prior art described above, and its purpose is to provide a conductive housing with a plurality of cylindrical holes, and an insulating housing in the holes. By forming a coaxial line consisting of a central conductor held through a body and having a common ground, impedance matching is performed while simplifying the configuration and improving high frequency characteristics.

また本考案の主たる目的は、前記信号通路をデ
ジタル信号の伝送路とし、穴の中に絶縁体を介し
て保持された筒状体を導電性ハウジングから浮遊
したグランドとし、更にその中に絶縁体を介して
中心導体を保持して第2の同軸線路を形成し、ア
ナログ信号の伝達路とすることにより、デジタ
ル・アナログの両信号が併存する場合の両信号系
間の干渉を排除することである。
The main purpose of the present invention is to use the signal path as a digital signal transmission path, to make the cylindrical body held in the hole through an insulator a ground floating from the conductive housing, and to make the cylindrical body held in the hole through an insulator a ground floating from the conductive housing. By holding the center conductor through the cable to form a second coaxial line and using it as a transmission path for analog signals, it is possible to eliminate interference between both signal systems when both digital and analog signals coexist. be.

また他の目的は、導電性ハウジングから浮遊し
らグランドを、導電性ハウジングの備えた複数の
穴の中に選択的に設けることにより、アナログ信
号の接続端子の位置を任意に定めることを可能に
することである。
Another object is to selectively provide floating grounds from the conductive housing in a plurality of holes provided in the conductive housing, thereby making it possible to arbitrarily determine the position of the analog signal connection terminal. That's true.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

要するに本考案は、複数の円筒状の穴を備えた
導電性ハウジングと前記穴内に誘電体を介して保
持された中心導体とから成る同軸線路を第1の信
号通路とし、前記穴内に誘電体を介して保持され
た筒状導体と該筒状導体に誘電体を介して保持さ
れた中心導体とから成る同軸線路を第2の信号通
路とすることを特徴とするものである。
In short, the present invention uses a coaxial line consisting of a conductive housing having a plurality of cylindrical holes and a center conductor held in the holes via a dielectric as the first signal path, and a dielectric in the holes. The second signal path is a coaxial line consisting of a cylindrical conductor held through the cylindrical conductor and a center conductor held by the cylindrical conductor through a dielectric.

〔本考案の実施例〕[Example of the present invention]

以下、本考案を図面に示す、実施例に基づいて
説明する。第1図に示すように、本考案に係る端
子接続構造1は、複数の円筒状の穴11を有する
導電性ハウジングの一例たる金属リング2を備え
ている。穴11内には誘電体(絶縁体)12を介
して中心導体3が保持されており、金属リング2
と中心導体3とからなる同軸線路が第1の信号通
路8を形成する。
Hereinafter, the present invention will be explained based on embodiments shown in the drawings. As shown in FIG. 1, a terminal connection structure 1 according to the present invention includes a metal ring 2, which is an example of a conductive housing, and has a plurality of cylindrical holes 11. A center conductor 3 is held in the hole 11 via a dielectric (insulator) 12, and a metal ring 2
A coaxial line consisting of the center conductor 3 and the center conductor 3 forms the first signal path 8.

また、複数の穴11の一部のものには誘電体
(絶縁体)13を介して筒状導体4が保持され、
さらに筒状導体4内には誘電体(絶縁体)15を
介して中心導体6が保持されている。このような
構成により、中心導体6と筒状導体4とからなる
同軸線路が第2の信号通路9を形成する。
Further, a cylindrical conductor 4 is held in some of the plurality of holes 11 via a dielectric (insulator) 13,
Furthermore, a center conductor 6 is held within the cylindrical conductor 4 with a dielectric (insulator) 15 interposed therebetween. With this configuration, the coaxial line made up of the center conductor 6 and the cylindrical conductor 4 forms the second signal path 9.

被測定回路21に対してデジタル信号を入力
し、該入力に対応して被測定回路21が出力する
アナログ信号を測定する場合、第1図に示すよう
に接続する。即ち、デジタル信号源22及び被測
定回路21のデジタル側入力端子は、各々その一
端22a,21aが中心導体3を介して接続さ
れ、他端22b,21bは共に金属リング2に接
地される。一方、被測定回路21のアナログ側出
力端子とアナログ測定器23とは、各々その一端
21c,23cが中心導体6を介して、他端21
d,23dが筒状導体4を介して接続される。
When inputting a digital signal to the circuit under test 21 and measuring an analog signal output by the circuit under test 21 in response to the input, connections are made as shown in FIG. That is, one ends 22a and 21a of the digital input terminals of the digital signal source 22 and the circuit under test 21 are connected via the center conductor 3, and the other ends 22b and 21b are both grounded to the metal ring 2. On the other hand, the analog side output terminal of the circuit under test 21 and the analog measuring instrument 23 have one end 21c, 23c connected to the other end 21c, 23c through the center conductor 6, respectively.
d and 23d are connected via the cylindrical conductor 4.

なお、通常中心導体3,6には、コンタクトプ
ローブを使用する。一方、導電性ハウジング2に
対する接地、及び筒状導体4に対する接続には、
導電性の弾性部材、例えばシールドガスケツトと
して市販されている金属ばね部材、或いはコンタ
クトプローブ等を使用することができる。
Note that contact probes are normally used for the center conductors 3 and 6. On the other hand, for grounding the conductive housing 2 and connecting to the cylindrical conductor 4,
A conductive elastic member such as a metal spring member commercially available as a shield gasket or a contact probe can be used.

また、筒状導体4に対する電気的接続にコンタ
クトプローブを使用する場合には、筒状導体4に
埋設、固着等の方法によつて取り付けてもよく、
筒状導体4に当接すべく配置してもよい。
Further, when using a contact probe for electrical connection to the cylindrical conductor 4, it may be attached to the cylindrical conductor 4 by embedding, fixing, etc.
It may be arranged so as to be in contact with the cylindrical conductor 4.

本考案は、上記のように構成されており、以
下、その作用について説明する。
The present invention is constructed as described above, and its operation will be explained below.

デジタル信号源22から発生したデジタル信号
は、中心導体3を介して被測定回路21の端子2
1aに入力され、金属リング2に接地される。こ
のとき、金属リング2は当然若干の抵抗分を有す
るので、デジタル信号による電流によつて金属リ
ング2には電位が発生する。
The digital signal generated from the digital signal source 22 is transmitted to the terminal 2 of the circuit under test 21 via the center conductor 3.
1a and grounded to the metal ring 2. At this time, since the metal ring 2 naturally has some resistance, a potential is generated in the metal ring 2 by the current generated by the digital signal.

したがつて、中心導体3と金属リング2とを含
む信号通路8は、金属リング2が共通インピーダ
ンスとなつているので、互いに干渉をおよびぼ
す。しかし、デジタル信号の場合には、比較的雑
音による影響を受けにくいので、他のデジタル信
号通路がこの干渉を受けても測定への影響は少な
い。ところが仮に、デジタル信号入力に対応して
被測定回路から出力されたアナログ信号の伝達
に、同様の信号通路8を用いると、クロストーク
の影響が直接測定結果にあらわれる。
Therefore, the signal path 8 including the center conductor 3 and the metal ring 2 interferes with each other because the metal ring 2 has a common impedance. However, in the case of digital signals, they are relatively less susceptible to noise, so even if other digital signal paths experience this interference, the measurement is not affected much. However, if a similar signal path 8 is used to transmit an analog signal output from the circuit under test in response to a digital signal input, the influence of crosstalk will directly appear in the measurement results.

本考案によれば、アナログ信号は金属リング2
のグランドから絶縁された同軸構造の第2の信号
通路9で伝達されるので、デジタル信号によるア
ナログ信号に対する干渉が排除される。
According to the present invention, the analog signal is transmitted through the metal ring 2.
Since the signal is transmitted through the second signal path 9, which has a coaxial structure and is insulated from the ground of the digital signal, interference of the digital signal with the analog signal is eliminated.

上記のような測定のアプリケーシヨンにおいて
は、アナログ信号の接続端子数よりもデジタル信
号の接続端子数の方が多い場合が大部分である。
従つて、必要なアナログ信号の端子数だけ信号通
路9を穴11に設けることができるようにすれば
よい。
In the above measurement applications, the number of connection terminals for digital signals is often greater than the number of connection terminals for analog signals.
Therefore, it is only necessary to provide as many signal passages 9 in the hole 11 as the number of analog signal terminals required.

なお、上記実施例において、金属リング2を共
通のグランドとする第1の信号通路8は、デジタ
ル信号を伝達し、金属リング2から浮遊した第2
の信号通路9はアナログ信号を伝達するものとし
て説明したが、これに限定されるものではない。
つまり、伝達の精度か要求されない信号、即ち共
通インピーダンスによる相互干渉の影響が問題に
ならない程度の信号と、該信号に比較して高精度
の伝達が要求される信号若しくは該信号による干
渉を受け易い信号とが併存する場合に、適用し得
るものである。
In the above embodiment, the first signal path 8 with the metal ring 2 as a common ground transmits a digital signal, and the second signal path floating from the metal ring 2 transmits a digital signal.
Although the signal path 9 has been described as transmitting an analog signal, it is not limited thereto.
In other words, there are signals that do not require transmission accuracy, i.e., signals for which mutual interference due to common impedance is not a problem, and signals that require high-precision transmission or are susceptible to interference due to such signals. This can be applied when signals coexist.

さらに、上記実施例において、筒状導体4は絶
縁体13によつて穴11内に保持され、中心導体
6は絶縁体15によつて筒状導体4内に保持され
ているものとして説明したが、中心導体6は必ず
しも誘電体15によつて機械的に保持される必要
はなく、たとえば、誘電体に空気を用い、他に適
当な支持構造を設けてもよい。また、筒状導体
は、本明細書に記載された作用・効果を奏する範
囲において、種々の形成が考えられることは言う
までもない。
Furthermore, in the above embodiments, the cylindrical conductor 4 is held within the hole 11 by the insulator 13, and the center conductor 6 is held within the cylindrical conductor 4 by the insulator 15. However, the center conductor 6 does not necessarily need to be mechanically supported by the dielectric 15; for example, air may be used as the dielectric and other suitable support structures may be provided. Furthermore, it goes without saying that the cylindrical conductor can be formed in various ways within the scope of achieving the functions and effects described in this specification.

〔効果」 本考案は、上記のように構成され作用するもの
であるから、複数の円筒状の穴を備えた導電性ハ
ウジングと、該穴の中に絶縁体を介して保持され
た中心導体とから成り、グランドを共通とする同
軸線路が形成されているので、構成が簡易化され
コスト低下が可能となり、且つインピーダンスマ
ツチングが行われ、高周波特性が良好になるとい
う効果が得られる。
[Effects] Since the present invention is constructed and operates as described above, it includes a conductive housing provided with a plurality of cylindrical holes, a central conductor held in the holes via an insulator, Since a coaxial line with a common ground is formed, the configuration is simplified and costs can be reduced, impedance matching is performed, and high frequency characteristics are improved.

また本考案の主たる効果として、導電性ハウジ
ングを共通のグランドとする信号通路をデジタル
信号の伝送路とし、穴の中に絶縁体を介して保持
された筒状体を導電性ハウジングから浮遊したグ
ランドとし、更にその中に絶縁体を介して中心導
体を保持して第2の同軸線路を形成し、アナログ
信号の伝達路としているので、デジタル、アナロ
グの信号が併存する場合の両信号系間の干渉を排
除することができる効果が得られる。
In addition, as a main effect of the present invention, the signal path with the conductive housing as a common ground is used as a digital signal transmission path, and the cylindrical body held in the hole with an insulator interposed is connected to the ground suspended from the conductive housing. A second coaxial line is formed by holding the center conductor through an insulator, and it is used as a transmission path for analog signals, so when digital and analog signals coexist, it is possible to The effect of eliminating interference can be obtained.

また、導電性ハウジングから浮遊したグランド
を、導電性ハウジングの備えた複数の穴の中に設
けているので、アナログ信号の接続端子の位置が
任意に選択できると言う効果がえられる。
Furthermore, since the ground floating from the conductive housing is provided in the plurality of holes provided in the conductive housing, the position of the analog signal connection terminal can be arbitrarily selected.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図及び第2図は本考案の実施例に係り、第
1図は本考案の要部斜視図、第2図は本考案の要
部断面図及び電気回路図、第3図及び第4図は従
来例に係り、第3図はプローブ装置の斜視図、第
4図は同軸コンタクトプローブの側面図、第5図
は本願と同一出願人の考案に係るプローブ装置の
要部斜視図である。 1……端子接続構造、2……導電性ハウジング
の一例たる金属リング、3,4……中心導体、6
……筒状導体、8……第1の信号通路、9……第
2の信号通路、11……穴、12,13,15…
…絶縁体(誘電体)、である。
Figures 1 and 2 relate to embodiments of the present invention; Figure 1 is a perspective view of the main parts of the invention, Figure 2 is a sectional view and electric circuit diagram of the main parts of the invention, and Figures 3 and 4 are The figures relate to conventional examples; FIG. 3 is a perspective view of a probe device, FIG. 4 is a side view of a coaxial contact probe, and FIG. 5 is a perspective view of essential parts of a probe device invented by the same applicant as the present application. . DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Terminal connection structure, 2... Metal ring which is an example of a conductive housing, 3, 4... Center conductor, 6
... Cylindrical conductor, 8 ... First signal path, 9 ... Second signal path, 11 ... Hole, 12, 13, 15...
...It is an insulator (dielectric).

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 複数の円筒状の穴を備えた導電性ハウジングと
前記穴内に誘電体を介して保持された中心導体と
から成る同軸線路を第1の信号通路とし、前記穴
内に誘電体を介して保持された筒状導体と該筒状
導体内に誘電体を介して保持された中心導体とか
ら成る同軸線路を第2の信号通路とすることを特
徴とする端子接続構造。
The first signal path is a coaxial line consisting of a conductive housing having a plurality of cylindrical holes and a center conductor held in the holes through a dielectric, and the center conductor is held in the holes through a dielectric. A terminal connection structure characterized in that a coaxial line consisting of a cylindrical conductor and a center conductor held within the cylindrical conductor via a dielectric is used as a second signal path.
JP3852286U 1986-03-17 1986-03-17 Expired JPH0443821Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3852286U JPH0443821Y2 (en) 1986-03-17 1986-03-17

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3852286U JPH0443821Y2 (en) 1986-03-17 1986-03-17

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62150666U JPS62150666U (en) 1987-09-24
JPH0443821Y2 true JPH0443821Y2 (en) 1992-10-15

Family

ID=30850850

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3852286U Expired JPH0443821Y2 (en) 1986-03-17 1986-03-17

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0443821Y2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62150666U (en) 1987-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950006472A (en) Probe card, coaxial probe beam for probe card and manufacturing method thereof
KR100855208B1 (en) High performance tester interface module
JP3172690B2 (en) Connection device between measuring device and test lead
JPS5932740B2 (en) Coaxial array space converter
US5382173A (en) Electrical connector
JPS6337465B2 (en)
US4952869A (en) Dual purpose probe for simultaneous voltage and current sampling
US3743925A (en) Adapter for terminating multiconductor signal transmission cable
US5825190A (en) Method and apparatus for measuring a transfer impedance of shielded devices and common mode currents in shieldings
JPH0443821Y2 (en)
JPH0727005B2 (en) Inspection equipment
US7053750B2 (en) Voltage probe systems having improved bandwidth capability
JPS62106379A (en) Magnetic field measuring probe
JPH08146046A (en) Non-contact type voltage probe apparatus
JPS623385B2 (en)
KR100227283B1 (en) Probe card for high frequency
US10884045B2 (en) Test arrangement and test method
JPH0541413Y2 (en)
JPH0637337Y2 (en) Probe device
JPH0835987A (en) Probe
JPH02208572A (en) High frequency probe
TWI785933B (en) measuring unit
JPS6221064A (en) Spring-contact type probe
JPS62179125A (en) Probe card with interface circuit
JPS63280430A (en) Probe card