JPH0442555A - Pickup apparatus for chip-shaped part and pickup method - Google Patents

Pickup apparatus for chip-shaped part and pickup method

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JPH0442555A
JPH0442555A JP2151278A JP15127890A JPH0442555A JP H0442555 A JPH0442555 A JP H0442555A JP 2151278 A JP2151278 A JP 2151278A JP 15127890 A JP15127890 A JP 15127890A JP H0442555 A JPH0442555 A JP H0442555A
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JP
Japan
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chip
adhesive
semiconductor chip
tape
sticking
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Application number
JP2151278A
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Japanese (ja)
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Katsunori Nishiguchi
勝規 西口
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To reduce frequency in generation of fault of chip-shaped parts at the time of pickup operation by lowering adhesive force by irradiating, with an energy beam, the region where the angled portions of chip-shaped parts are fixed with adhesive force, and sticking upward a plurality of areas spaced apart in the length more than the specified distance on the diagonal line of the square bottom surface with a sticking means which collides with an adhesive tape from the opposite side of the adhesive surface. CONSTITUTION:A sticking pin 3d is arranged at the position spaced apart by 5% or more of the diagonal line of the bottom surface from the angled area of a semiconductor chip 2 fixed in the region irradiated by the ultraviolet ray and is in contact from the rear side of an expand tape 1. Only the angled part of each semiconductor chip 2 is irradiated with the ultraviolet ray from a ultraviolet ray source 6. After irradiation of the ultraviolet ray, a mask 7 is removed and the semiconductor chip 2 is sticked upward by a sticking means having the sticking pins 3a to 3d. At the time of sticking operation, since a semiconductor chip 2 is sticked up at a plurality of points with the sticking pins 3a to 3d, stress generated by the sticking operation is not concentrated to the one point and is dispersed. Thereby frequency of generation of defects such as crack and missing in the semiconductor chip 2 may be reduced.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、エキスバンドテープ等の粘着テープに粘着固
定されている半導体チップ等のチップ状部品を、該粘着
テープから1つずつ引き剥がしてピックアップする装置
及び方法に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention provides a method for peeling off chip-shaped components such as semiconductor chips that are adhesively fixed to an adhesive tape such as an expandable tape one by one from the adhesive tape. The present invention relates to a device and method for picking up.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体装置やハイブリッドIC等の製造工程においては
、エキスバンドテープ等の粘着テープ上に粘着固定され
ている半導体チップ等のチップ状部品を粘着テープから
引き剥がしてピックアップし、これを所定の基板上にダ
イボンディングしたり、所定のトレイに収納したりする
ことが行われている。そして、粘着テープからチップ状
部品が剥がれ易くするため、粘着テープの裏側(チップ
状部品が固定されていない側)から突き上げビンにより
チ・yブ状部品を突き上げ、粘着テープの剥離を促進す
ることが行われている。
In the manufacturing process of semiconductor devices, hybrid ICs, etc., chip-shaped components such as semiconductor chips that are adhesively fixed on adhesive tape such as expandable tape are peeled off from the adhesive tape, picked up, and placed on a predetermined substrate. Die bonding and storage in a predetermined tray are performed. Then, in order to make it easier for the chip-shaped component to peel off from the adhesive tape, the chip-shaped component is pushed up from the back side of the adhesive tape (the side to which the chip-shaped component is not fixed) using a push-up bottle to facilitate the peeling of the adhesive tape. is being carried out.

ところが、上述のようにして粘着テープ上からピックア
ップされるチップ状部品、特に近年の大規模な集積回路
装置は大形化し偏平化している。
However, chip-shaped components picked up from adhesive tapes as described above, especially recent large-scale integrated circuit devices, have become larger and flatter.

このため、チップ状部品の突き上げの際に、チップ状部
品に過大な応力が加わるようになり、割れや欠は等の不
良がチップ状部品に発生する頻度が増大した。かかる事
情から、突き上げビンを複数にしてチップ状部品の各隅
部をそれぞれ突き上げ、突き上げ時にチップ状部品に生
ずる応力の集中を防止して、チップ状部品の不良発生頻
度を低減することが提案された。更に、複数の突き上げ
ビンのうちの1本をチップ状部品の中央寄りに偏倚させ
ることにより、粘着テープの剥離を促進させ、ピックア
ップの際にチップ状部品に不良が発生する頻度を低減す
ることが提案されている(例えば、実願昭62−562
63号参照)。
For this reason, excessive stress is applied to the chip-shaped component when the chip-shaped component is pushed up, and the frequency with which defects such as cracks and chips occur in the chip-shaped component increases. Under these circumstances, it has been proposed to use a plurality of push-up bins to push up each corner of the chip-like component, thereby preventing the concentration of stress that occurs in the chip-like component during push-up, and thereby reducing the frequency of defects in the chip-like component. Ta. Furthermore, by biasing one of the plurality of push-up bins toward the center of the chip-shaped component, it is possible to promote peeling of the adhesive tape and reduce the frequency of defects occurring in the chip-shaped component during pickup. proposed (for example, Jitsugan 1986-562)
(See No. 63).

また、粘着テープの中には、紫外線等のエネルギー線が
照射されることにより、その粘着力が低下するものが知
られている。したがって、チップ状部品を粘着テープの
上からピックアップする際にチップ状部品に生じる不良
を低減するには、ピックアップ前に粘着テープに紫外線
等のエネルギー線を照射しておくことが望ましい。
Moreover, some adhesive tapes are known to have their adhesive strength reduced by being irradiated with energy rays such as ultraviolet rays. Therefore, in order to reduce defects that occur in chip-shaped parts when they are picked up from above the adhesive tape, it is desirable to irradiate the adhesive tape with energy rays such as ultraviolet rays before picking up the chip-shaped parts.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、粘着テープの粘着力を弱めるため、その
全面に紫外線等のエネルギー線を照射した場合には、粘
着テープ全体の粘着力が低下してしまう。このため、−
のチップ状部品をピックアップ中にその他のチップ状部
品の固定位置がずれてしまったり、粘着テープから剥が
れ落ちてしまったりする不都合があった。また、粘着テ
ープ上に粘着固定されているチップ状部品のうち、一部
をピックアップし、残りのチップ状部品は粘着テープ上
に粘着固定したまま保存しようとすると、その保存中に
なんらかの外力を受け、チップ状部品の固定位置がずれ
てしまったり、あるいは、粘着テープからチップ状部品
が剥がれ落ちてしまうなどの不都合があり、チップ状部
品の再保存に適していなかった。
However, when the entire surface of the adhesive tape is irradiated with energy rays such as ultraviolet rays in order to weaken the adhesive strength of the adhesive tape, the adhesive strength of the entire adhesive tape decreases. For this reason, −
While picking up one chip-like part, other chip-like parts may be displaced from their fixing positions or may come off from the adhesive tape. In addition, if you pick up a part of the chip-like parts that are adhesively fixed on the adhesive tape and try to store the remaining chip-like parts with the remaining chip-like parts adhesively fixed on the adhesive tape, some external force may be applied during storage. However, there are inconveniences such as the fixed position of the chip-shaped component being shifted or the chip-shaped component peeling off from the adhesive tape, and it is not suitable for re-storing the chip-shaped component.

そこで、上述の事情に鑑み、本発明はピックアップの際
のチップ状部品の不良発生頻度を低減すると共に、粘着
テープ上に残されたチップ状部品を強い粘着力をもって
粘着固定したまま再保存することを可能にすることを目
的としている。
Therefore, in view of the above-mentioned circumstances, the present invention aims to reduce the frequency of occurrence of defects in chip-shaped parts during pickup, and to re-save chip-shaped parts left on the adhesive tape while adhesively fixed with strong adhesive force. The purpose is to make it possible.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上述の目的を達成するため、本発明においては、粘着テ
ープの粘着面のうち、チップ状部品の角部が粘着固定さ
れている部分に紫外線等のエネルギー線を照射してその
部分の粘着力を低下させると共に、エネルギー線が照射
された部分に固定されているチップ状部品の角から、そ
の方形底面の対角線長の5%以上離れた複数箇所にて粘
着面と反対側から粘着テープに当接する突き上げ手段に
よりチップ状部品を突き上げることとしている。
In order to achieve the above-mentioned object, in the present invention, energy rays such as ultraviolet rays are irradiated to the adhesive surface of the adhesive tape, where the corners of the chip-shaped parts are adhesively fixed, to increase the adhesive strength of that area. At the same time, from the corner of the chip-like component fixed to the area irradiated with the energy beam, it comes into contact with the adhesive tape from the side opposite to the adhesive surface at multiple locations that are 5% or more away from the diagonal length of the rectangular bottom surface. The chip-shaped component is pushed up by the pushing up means.

〔作用〕[Effect]

このようにすることにより、チップ状部品の突き上げ時
にチップ状部品に生ずる応力の集中が防止され、突き上
げに伴うチップ状部品の不良発生頻度が低減される。ま
た、紫外線が照射され粘着力が低下している部分に固定
されているチップ状部品の負から粘着テープの剥離が起
こり、これをきっかけに、粘着テープがチップ状部品の
底面全体から円滑に剥離される。
By doing so, concentration of stress generated in the chip-shaped component when the chip-shaped component is pushed up is prevented, and the frequency of occurrence of defects in the chip-shaped component due to pushing up is reduced. In addition, the adhesive tape peels off from the negative part of the chip-shaped component fixed to the part where the adhesive strength has decreased due to UV irradiation, and this causes the adhesive tape to peel off smoothly from the entire bottom surface of the chip-shaped component. be done.

〔実施例〕 以下、本発明の実施例について第1図〜第3図を参照し
つつ、説明する。
[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3.

第1図は、本発明が適用された半導体チ・ノブのピック
アップ装置の特徴部分を概略的に示している。このピッ
クアップ装置は、エキスバンドテープ1の粘着面に粘着
固定されている複数の半導体チップ2を、1つずつエキ
スバンドテープ1の裏側(半導体チップ2が粘着固定さ
れていない側)から突き上げる。突き上げビン3a〜3
dを備えた突き上げ手段と、突き上げられた半導体チッ
プ2をエキスバンドテープ1の表側から1つずつ吸着保
持してエキスバンドテープ1から引き剥がすコレット5
と、エキスバンドテープ1の裏側からこれに対して紫外
線を照射する紫外線源6と、紫外線源6とエキスバンド
テープ1との相互間に配置され、所定部分だけが紫外線
を透過するマスク7とを備えている。エキスバンドテー
プ1の表側には紫外線が照射されると粘着力が低下する
粘着材が塗布されており、エキスバンドテープ1は紫外
線を透過する伸縮性の樹脂等により形成されている。し
たがって、エキスバンドテープ1に裏側から紫外線を照
射すれば、紫外線が照射された部分の粘着力が低下する
。マスク7は、エキスバンドテープ1に固定されている
各半導体チップ2の角部に対応する部分のみが紫外線を
透過するように、その部分に透孔7aが穿設されて形成
されるか、あるいは、その部分だけが紫外線透過性の材
料で形成されている。したがって、このマスク7を間に
して紫外線源6からエキスバンドテープ1に対して紫外
線が照射されると、エキスバンドテープ1の各半導体チ
ップ2が固定されている部分のうち、各半導体チップ2
の角部が固定されている部分の粘着力だけが低下するよ
うになっている。すなわち、この実施例では、各半導体
チップ20角部が固定されている部分だけに限定して紫
外線を照射する紫外線照射手段が、このマスク7と紫外
線源6とから構成されているのである。
FIG. 1 schematically shows the characteristic parts of a semiconductor chi-knob pickup device to which the present invention is applied. This pickup device pushes up a plurality of semiconductor chips 2 adhesively fixed to the adhesive surface of the expandable tape 1 one by one from the back side of the expandable tape 1 (the side where the semiconductor chips 2 are not adhesively fixed). Push-up bottle 3a~3
d, and a collet 5 for sucking and holding the pushed up semiconductor chips 2 one by one from the front side of the expand band tape 1 and peeling them off from the expand band tape 1.
, an ultraviolet source 6 that irradiates ultraviolet rays from the back side of the expandable tape 1, and a mask 7 that is placed between the ultraviolet source 6 and the expandable tape 1 and that transmits the ultraviolet rays only in a predetermined portion. We are prepared. An adhesive material whose adhesive strength decreases when irradiated with ultraviolet rays is applied to the front side of the expanded tape 1, and the expanded tape 1 is made of a stretchable resin or the like that transmits ultraviolet rays. Therefore, if the extended tape 1 is irradiated with ultraviolet rays from the back side, the adhesive strength of the portion irradiated with ultraviolet rays will be reduced. The mask 7 is formed with a through hole 7a perforated in such a portion so that only the portion corresponding to the corner of each semiconductor chip 2 fixed to the expandable tape 1 transmits ultraviolet rays, or , only that part is made of UV-transparent material. Therefore, when the ultraviolet rays are irradiated from the ultraviolet ray source 6 to the extract band tape 1 with this mask 7 in between, each semiconductor chip 2 of the portion of the extract band tape 1 where each semiconductor chip 2 is fixed is
The adhesive force is reduced only in the areas where the corners of the tape are fixed. That is, in this embodiment, the mask 7 and the ultraviolet source 6 constitute an ultraviolet irradiation means that irradiates ultraviolet rays only to the portions where the corners of each semiconductor chip 20 are fixed.

半導体チップ2をエキスバンドテープ1の裏側から突き
上げる突き上げ手段は、上述したように4本の突き上げ
ピン38〜3dを備えている。これら突き上げビンの配
置は、紫外線が照射されて粘着力が低下している部分に
固定されている半導体チップ2の角から、半導体チップ
2の方形底面の対角線長の5%以上離れた4箇所にてエ
キスバンドテープ1の裏側に当接し、半導体チップ2を
突き上げるようになっている。第2図に突き上げピン3
a〜3dの配置を、半導体チップ2の底面との関係にお
いて、拡大して示す。なお、図中、ハツチングを施した
部分が紫外線の照射された部分である。図示したように
、この実施例においては、4本の突き上げビン38〜3
dのうち、突き上げピン3a〜3Cは紫外線が照射され
ていない部分に固定されている半導体チップ2の角部に
エキスバンドテープ1の裏側から当接する位置に配置さ
れ、突き上げピン3dは紫外線が照射された部分に固定
されている半導体チップ2の角から、その底面の対角線
長の5%以上離れた位置(半導体チップ2の中央寄りの
位置)にてエキスバンドテープ1の裏側から当接する位
置に配置されている。
The push-up means for pushing up the semiconductor chip 2 from the back side of the expanded tape 1 includes the four push-up pins 38 to 3d as described above. These push-up bottles are placed at four locations at least 5% of the diagonal length of the rectangular bottom of the semiconductor chip 2 from the corner of the semiconductor chip 2 fixed to the part where the adhesive strength has decreased due to irradiation with ultraviolet rays. It comes into contact with the back side of the expandable tape 1 and pushes up the semiconductor chip 2. Figure 2 shows push-up pin 3.
The arrangement of a to 3d is shown enlarged in relation to the bottom surface of the semiconductor chip 2. Note that in the figure, the hatched area is the area irradiated with ultraviolet light. As shown, in this embodiment, there are four push-up bins 38-3.
Among the push-up pins 3a to 3C of the push-up pins 3a to 3C are placed in positions where they come into contact from the back side of the expandable tape 1 to the corners of the semiconductor chip 2, which are fixed in areas not irradiated with ultraviolet rays, and the push-up pins 3d are irradiated with ultraviolet rays. from the corner of the semiconductor chip 2 that is fixed to the part where the tape comes into contact with the back side of the expandable tape 1 at a position that is 5% or more away from the diagonal length of the bottom surface (a position near the center of the semiconductor chip 2). It is located.

次に、上述したピックアップ装置により、エキスバンド
テープ上の半導体チップがどのようにしてピックアップ
されるかについて説明する。
Next, a description will be given of how the semiconductor chip on the extended tape is picked up by the pickup device described above.

まず、複数の半導体チップ2が粘着固定されているエキ
スバンドテープ1がピックアップ装置にセットされると
、半導体チップ2の配置に対応させてマスク7が位置決
めされる。そして、紫外線源6から紫外線が各半導体チ
ップ2の角部だけに照射される。紫外線照射後、マスク
7が除去され、突き上げピン3a〜3dを有する突き上
げ手段により半導体チップ2が突き上げられる。この突
き上げの際、半導体チップ2は複数の突き上げビン\ 3a〜3dにより、複数箇所にて突き上げられるので、
突き上げにより生ずる応力が1カ所に集中せず、分散さ
れるようになり、割れや欠は等の不良が半導体チップ2
に発生する頻度が低減されている。そして、半導体チッ
プ2が突き上げられると、紫外線が照射された部分は粘
着力が低下しているので、そこに固定されている半導体
チップ2の角の部分からエキスバンドテープ1の剥離が
起こる。この半導体チップ2の角からその対角線長の5
%以内には突き上げビンが存在しないので、エキスバン
ドテープ1はその角の部分から剥離し始め、その角の部
分から少なくともその対角線長の5%の半径領域以内の
エキスバンドテープ1が剥離する。この様子を第3図に
示す。そして、この半導体チップ2の上方に位置決めさ
れたコレット5により、突き上げられた半導体チップ2
が吸着保持され、コレット5が上昇することによって半
導体チップ2はエキスバンドテープ1から引き剥がされ
ピックアップされる。なお、このとき、半導体チップ2
が粘着固定されている粘着領域の外周部の一部(この実
施例では、紫外線が照射された領域に固定されている半
導体チップ2の角の部分)が剥離すると、その部分の剥
離をきっかけに、粘着領域全体の粘着力が低下していな
くても、粘着領域全体に剥離が円滑に進行する。したが
って、大型で偏平化した半導体チップであっても、コレ
ット5の真空吸着力を高めることなく、容易に半導体チ
ップをエキスバンドテープから引き剥がしてピックアッ
プすることができるのである。
First, when the expandable tape 1 to which a plurality of semiconductor chips 2 are adhesively fixed is set in a pickup device, the mask 7 is positioned in accordance with the arrangement of the semiconductor chips 2. The ultraviolet light source 6 irradiates only the corners of each semiconductor chip 2 with ultraviolet light. After the ultraviolet irradiation, the mask 7 is removed, and the semiconductor chip 2 is pushed up by a pushing up means having push up pins 3a to 3d. During this push-up, the semiconductor chip 2 is pushed up at multiple locations by the push-up bins \3a to 3d.
Stress caused by push-up is no longer concentrated in one place, but is now dispersed, causing defects such as cracks and chips to occur on the semiconductor chip 2.
The frequency with which this occurs has been reduced. Then, when the semiconductor chip 2 is pushed up, the adhesive strength of the part irradiated with ultraviolet rays has decreased, so that the expandable tape 1 is peeled off from the corner part of the semiconductor chip 2 fixed there. 5 of the diagonal length from the corner of this semiconductor chip 2
Since there is no push-up bottle within 5%, the expandable tape 1 starts to peel off from the corner, and the expandable tape 1 within a radius area of at least 5% of the diagonal length from the corner starts to peel off. This situation is shown in FIG. The semiconductor chip 2 is pushed up by the collet 5 positioned above the semiconductor chip 2.
is held by suction, and as the collet 5 rises, the semiconductor chip 2 is peeled off from the expanded tape 1 and picked up. Note that at this time, the semiconductor chip 2
When a part of the outer periphery of the adhesive area to which is adhesively fixed (in this example, the corner part of the semiconductor chip 2 which is fixed to the area irradiated with ultraviolet rays) peels off, the peeling of that part triggers Even if the adhesive strength of the entire adhesive area is not reduced, peeling progresses smoothly over the entire adhesive area. Therefore, even if the semiconductor chip is large and flat, the semiconductor chip can be easily peeled off from the expanded tape and picked up without increasing the vacuum suction force of the collet 5.

また、エキスバンドテープ1上に粘着固定されている半
導体チップ2のうち、一部をピックアップし、残りの半
導体チップ2はエキスバンドテープ1上に粘着固定した
まま保存しようとする場合であっても、紫外線の照射領
域が限定されており、半導体チップ2が固定されている
粘着領域全体の粘着力が低下しているわけではないので
、エキスバンドテープ1上に残された半導体チップ2を
強い粘着力をもって粘着固定したまま再保存することが
可能である。
Furthermore, even if a part of the semiconductor chips 2 adhesively fixed on the expandable tape 1 is picked up and the remaining semiconductor chips 2 are to be stored while being adhesively fixed on the expandable tape 1, Since the area irradiated with ultraviolet rays is limited and the adhesive strength of the entire adhesive area where the semiconductor chip 2 is fixed is not reduced, the semiconductor chip 2 left on the expandable tape 1 is attached with a strong adhesive. It is possible to re-save it while it is firmly fixed with adhesive.

ところで、上述した紫外線の照射自体は、紫外線源6か
ら出射される紫外線を集光して、これをライトガイド等
により導き、各半導体チップ2の角部に対して紫外線の
スポット光を各半導体チップ毎に順に照射することとし
てもよい。しかし、上述の実施例のように、各半導体チ
ップ2の角部が固定されている部分に対して、マスク7
を用いて紫外線照射を一括して行ってしまえば、その後
は、突き上げ手段による突き上げ工程とコレットによる
ピックアップ工程の2工程だけで半導体チップをピック
アップすることができるので、1回のピックアップ動作
当たりの所要時間(タクトタイム)の短縮が可能である
By the way, the above-mentioned ultraviolet ray irradiation itself involves condensing the ultraviolet rays emitted from the ultraviolet source 6 and guiding the ultraviolet rays by a light guide or the like to direct a spot light of the ultraviolet rays to the corner of each semiconductor chip 2. It is also possible to irradiate each time sequentially. However, as in the above-described embodiment, the mask 7
Once UV irradiation is performed all at once using a push-up device, the semiconductor chips can be picked up in just two steps: the push-up process using the push-up means and the pick-up process using the collet. It is possible to shorten the time (takt time).

次に、本発明を51角の半導体チップのピックアップに
適用した実験結果について説明する。
Next, the results of an experiment in which the present invention was applied to picking up a 51-square semiconductor chip will be described.

半導体チップの粘着固定力が紫外線照射前では約300
gであり、半導体チップの角部が固定されている部分に
紫外線を照射した後の粘着固定力は250gであった。
The adhesive fixing force of semiconductor chips is about 300 before UV irradiation.
g, and the adhesive fixing force after irradiating ultraviolet rays to the portion where the corner of the semiconductor chip was fixed was 250 g.

この場合に、上述したピックアップを行゛ったところ、
突き上げ時に生じる半導体チップの割れ等の不良の発生
頻度は、粘着領域全面に紫外線を照射し粘着力を100
gまで低下させる従来の場合と遜色ながった。また、紫
外線が照射され、粘着力が低下させられる部分が限定さ
れているため、エキスバンドテープ1上に残された半導
体チップ2を再保存に十分な粘着力をもって再保存する
ことができた。
In this case, when I performed the pickup mentioned above,
The frequency of defects such as cracks in semiconductor chips that occur during push-up can be reduced by irradiating the entire adhesive area with ultraviolet rays and increasing the adhesive strength by 100%.
This was comparable to the conventional case in which the temperature was lowered to g. In addition, since the portion where the adhesive strength is reduced by irradiation with ultraviolet rays is limited, the semiconductor chip 2 left on the expanded tape 1 could be re-preserved with sufficient adhesive strength for re-preservation.

なお、本発明は上述した実施例に限られず、種々の変形
が可能である。
Note that the present invention is not limited to the embodiments described above, and various modifications are possible.

例えば、上述の実施例では、エキスバンドテープ1上に
粘着固定されている半導体チップ1のピックアップに本
発明を適用した例を示しているが、これに限られること
なく、エキスバンドテープ等の粘着テープに粘着固定さ
れているチップコンデンサーやチップ抵抗等のチップ状
部品のピックアップにも本発明は適用可能である。
For example, in the above-mentioned embodiment, an example is shown in which the present invention is applied to the pickup of a semiconductor chip 1 that is adhesively fixed on an expanded band tape 1, but the present invention is not limited to this, and the adhesive The present invention is also applicable to picking up chip-shaped components such as chip capacitors and chip resistors that are adhesively fixed to tape.

また、上述した実施例においては、エネルギー線として
紫外線を用いているが、エキスバンドテープ等の粘着テ
ープに用いられる粘着材に応じてその粘着力を効率良く
低下させることができるエネルギー線用いることか好ま
しく、例えば、赤外線の照射により粘着力か効率良く低
下する粘着材が塗布されている粘着テープに対しては、
赤外線をエネルギー線として用いることが好ましい。
Furthermore, in the above-mentioned embodiments, ultraviolet rays are used as the energy rays, but depending on the adhesive material used in the adhesive tape such as expanded tape, it is also possible to use energy rays that can efficiently reduce the adhesive strength of the adhesive tape. Preferably, for example, for an adhesive tape coated with an adhesive whose adhesive strength is efficiently reduced by irradiation with infrared rays,
It is preferable to use infrared rays as the energy beam.

更に、突き上げ手段については、上述した実施例では、
4本の突き上げピンを有した構成となっているが、必ず
しも突き上げピンを備えている必要もなく、エキスバン
ドテープ等の粘着テープに当接する部分が平坦なもので
もよい。この場合でも、微視的に見て複数箇所にて粘着
テープに当接するということができる。但し、この場合
には紫外線が照射される部分に固定されている半導体チ
ップの角からその対角線長の5%の半径領域内に突き上
げ手段が当接しないように、その部分を切り欠く等の措
置を講じておく必要がある。
Furthermore, regarding the pushing up means, in the above-mentioned embodiments,
Although the configuration has four push-up pins, the push-up pins do not necessarily need to be provided, and the portion that contacts the adhesive tape such as the expandable tape may be flat. Even in this case, it can be said that the adhesive tape contacts the adhesive tape at a plurality of locations when viewed microscopically. However, in this case, measures such as cutting out the part to prevent the push-up means from coming into contact within a radius of 5% of the diagonal length from the corner of the semiconductor chip fixed to the part to be irradiated with ultraviolet rays should be taken. It is necessary to take the following steps.

〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明によれば、チップ状部品の
突き上げ時にチップ状部品に生ずる応力の集中が防止さ
れ、突き上げに伴うチップ状部品の割れ等の不良発生頻
度が低減され、歩留まりが向上する。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, concentration of stress that occurs in chip-shaped parts when pushing up the chip-shaped parts is prevented, and the frequency of occurrence of defects such as cracks in the chip-shaped parts due to pushing up is reduced. yield is improved.

また、紫外線が照射され粘着力が低下している部分に固
定されているチップ状部品の角から粘着テープの剥離が
起こり、これをきっかけに、粘着テープがチップ状部品
の底面全体から円滑に剥離される。したがって、チップ
状部品が粘着固定されている粘着領域全体の粘着力を低
下させなくとも円滑なピックアップが可能であり、紫外
線を一括照射した場合であっても、粘着テープ上に残さ
れたチップ状部品を強い粘着力をもって粘着テープ上に
固定したまま再保存することが可能である。
In addition, the adhesive tape peels off from the corner of the chip-shaped component fixed to the part where the adhesive strength has decreased due to UV irradiation, and this causes the adhesive tape to peel off smoothly from the entire bottom surface of the chip-shaped component. be done. Therefore, it is possible to pick up chips smoothly without reducing the adhesive strength of the entire adhesive area where chip-shaped parts are adhesively fixed, and even when UV rays are irradiated all at once, the chip-shaped parts left on the adhesive tape can be picked up easily. It is possible to re-store parts while fixing them on adhesive tape with strong adhesive force.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明が適用されるピックアップ装置の特徴部
分を概略的に示した図、第2図は突き上げピンの配置を
半導体チップ底面と関係付けて示した図、第3図は半導
体チップの角の部分からエキスバンドテープの剥離が起
こる様子を示した図である。 1・・・エキスバンドテープ、2・・・半導体チップ、
3a、3b、3c、3d・・・突き上げピン、5・・・
コレット、6・・・紫外線源、7・・・マスク。
FIG. 1 is a diagram schematically showing the characteristic parts of a pickup device to which the present invention is applied, FIG. 2 is a diagram showing the arrangement of push-up pins in relation to the bottom surface of a semiconductor chip, and FIG. FIG. 3 is a diagram showing how the stretch tape peels off from the corner portion. 1... Exband tape, 2... Semiconductor chip,
3a, 3b, 3c, 3d... push-up pin, 5...
Collet, 6...UV source, 7...Mask.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、エネルギー線の照射により粘着力が低下する粘着テ
ープの粘着面に方形底面にて粘着固定された複数のチッ
プ状部品を、コレットにより保持し粘着テープから引き
剥がしてピックアップする装置であって、 前記粘着面の各チップ状部品が粘着固定されている部分
のうち、各チップ状部品の角部が固定されている部分に
エネルギー線を照射する手段と、エネルギー線が照射さ
れた部分に固定されているチップ状部品の角から前記方
形底面の対角線長の5%以上離れた複数箇所にて前記粘
着面と反対側から前記粘着テープに当接して前記チップ
状部品を突き上げる突き上げ手段とを備えたことを特徴
とするチップ状部品のピックアップ装置。 2、エネルギー線の照射により粘着力が低下する粘着テ
ープの粘着面に方形底面にて粘着固定された複数のチッ
プ状部品を、1つずつコレットにより保持し粘着テープ
から引き剥がしてピックアップする方法であって、 前記粘着面の各チップ状部品が粘着固定されている部分
のうち、各チップ状部品の角部が固定されている部分に
エネルギー線を照射する工程と、エネルギー線が照射さ
れた部分に固定されているチップ状部品の角から前記方
形底面の対角線長の5%以上離れた複数箇所にて前記粘
着面と反対側から前記粘着テープに当接して前記チップ
状部品を突き上げる工程とを備えていることを特徴とす
るチップ状部品のピックアップ方法。
[Claims] 1. A collet holds a plurality of chip-shaped parts adhesively fixed to the adhesive surface of an adhesive tape with a rectangular bottom surface whose adhesive strength decreases by irradiation with energy rays, and the components are peeled off from the adhesive tape and picked up. The device comprises a means for irradiating an energy beam onto a portion of the adhesive surface to which a corner of each chip-like component is fixed, out of a portion of the adhesive surface to which each chip-like component is adhesively fixed; from the corner of the chip-like part fixed to the part where the chip-like part is attached, and pushes up the chip-like part by coming into contact with the adhesive tape from the side opposite to the adhesive surface at multiple locations separated by 5% or more of the diagonal length of the rectangular bottom surface. A pick-up device for chip-shaped parts, comprising a push-up means. 2. A method in which a plurality of chip-shaped parts, whose adhesive strength decreases due to irradiation with energy rays, are adhesively fixed to the adhesive surface of the adhesive tape at the rectangular bottom surface, are held one by one by a collet, and are picked up by being peeled off from the adhesive tape. a step of irradiating an energy beam to a portion of the adhesive surface where each chip-like component is adhesively fixed, a portion where a corner of each chip-like component is fixed; and a step of irradiating the portion irradiated with the energy beam. a step of pushing up the chip-like component by abutting against the adhesive tape from the opposite side to the adhesive surface at multiple locations spaced apart by 5% or more of the diagonal length of the rectangular bottom from the corner of the chip-like component fixed to the corner of the chip-like component; A method for picking up chip-like parts, characterized by comprising:
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