JPH0440935A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents

眼屈折力測定装置

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JPH0440935A
JPH0440935A JP2150180A JP15018090A JPH0440935A JP H0440935 A JPH0440935 A JP H0440935A JP 2150180 A JP2150180 A JP 2150180A JP 15018090 A JP15018090 A JP 15018090A JP H0440935 A JPH0440935 A JP H0440935A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は眼屈折力測定装置で視機能、特に眼位異常も同
時に測定可能とした眼屈折力測定装置に関するものであ
る。
[従来の技術j 従来、眼屈折力測定装置として、被検眼眼底に光源像を
投影し、被検眼m像に於ける被検眼眼底からの反射光束
の光量分布より被検眼の眼屈折力を測定する装置が知ら
れている。
一方、眼科測定には被検眼の斜視、斜位その他視機能等
の眼位異常を測定するが、斯かる視機能測定、特に眼位
異常を測定するには眼屈折力測定装置とは別の装置で行
っていた。
5発明が解決しようとする課題] 従って、装置が2台必要となり、設備する為の費用が高
価となっていた。又、眼屈折力の測定、視機能測定、特
に眼位異常測定と2度に亘って測定を行うことになり、
測定が煩雑となると共に時間が掛り被検者の負担が大き
かっなと言う問題があった6 本発明は、前記した眼屈折力測定装置に於いては眼底に
投影する光源像の角膜反射により輝点像が形成され、瞳
像と共に輝点か得られることに着目し、この輝点像と瞳
中心の位置検出を利用し、被検眼の眼屈折力測定と視機
能測定、特に眼位異常測定を同一の装置で而も同時に測
定し得る様にしたものである。
[課題を解決するための手段] 本発明は、被検眼眼底に光源像を投影する為の投影系と
、被検眼眼底からの反射光束を被検眼瞳と略共役位置に
配置した受光素子上に導く為の受光系と、受光素子上に
形成された両眼の被検眼瞳像の光量分布により被検眼の
眼屈折力を測定する眼屈折力測定装置に於いて、左右の
被検眼それぞれに対して絵柄の異なる注視目標を設け、
被検眼角膜により反射された光束により形成される輝点
位置と前記被検眼瞳像の中心とのずれ量を検出し被検眼
の眼位異常を測定し得る様構成したこと特徴とするもの
である。
口作  用] 左右の被検眼それぞれが絵柄の異なる注視目標を注視す
ることで、被検者に斜位かあれば、測定状態で斜位の状
態が現れる。又、輝点の位置は被検眼の略視線方向を示
すものと考えられるから、予め定めた瞳中心、或は測定
の過程で求められる瞳中心と前記輝点の位置を比較する
ことで被検眼の眼位異常が測定できる。
特に自覚的に十分な反応ができない幼児でも興味ある注
視目標を提示することにより、他覚的に斜位等の測定か
可能となる。
[実 施 例] 以下図面を参照しつつ本発明の一実施例を説明する。
本実施例は、測定光学系15と注視目標系23とを有し
ており、該測定光学系15と注視目標系23は左右の被
検眼それぞれに対して設けられる。
先ず測定光学系15について説明する。
第1図に於いて、1は光源像を被検眼3の眼底7に投影
する為の投影系であり、2は眼底7により反射された光
束10を受光する為の受光系であり、投影系1及び受光
系2は被検眼3に対向して配置される。
前記投影系1は、赤外光を出射する光源4及び光源4か
らの光束11を被検眼3に向けて反射させる為の第1ハ
ーフミラ−5から成り、該投影系1は光源4からの光束
11を瞳孔6を通して眼底7上に光:a4の像を形成す
る様に投影するもので、被検眼3の眼屈折力か基準デイ
オプター値(基準屈折力)の場合に眼底7上に光源4の
像か合焦されるように光源4と被検眼3との距離か設定
されている。
前記受光系2は、対物レンズ8及び受光素子9から成り
、眼底7からの光束10は第1ハーフミラ−5を透過し
て受光素子9上に導かれる。
該受光素子9は、赤外光に感度かあるエリアCOD、或
は撮像管であり、受光素子9の受光面9aは対物レンズ
8に関して被検眼3の瞳孔6と共役位置に配置される。
尚、投影系1、受光系2のいずれも赤外光にて構成して
いるか、赤外光以外での構成でも可能なことはいうまで
もない。
前記受光系2の光路内には、第1ハーフミラ−5に関し
て光源4と共役な位置に対物レンズ8の光軸0を境界と
して光束10の片側を遮光する為のエッチ状の遮光部材
12を配置する。
又、前記受光素子9には演算器13か接続され、該演算
器13は受光素子9の受光状態、光量分布よりデイオプ
ター値を演算し、その結果を表示器14に出力する様に
なっている。
次に、注視目標系23について説明する6該注視目標系
23は第2図にも示される様に、注視目標24と該注視
目標24からの光束28を被検眼眼底7に向けて投光結
像させるレンズ25と、該レンズ25からの光束28を
投影系1の光軸に向かって反射させる為のミラー26と
、測定機の光軸上に配置され、且被検眼3とハーフミラ
−5との間に設けられ、該光束28の光軸を測定機の光
軸と合致させ眼底7に投光させる例えば可視光反射で赤
外光透過のミラー27から成っている。
通常の測定では、上記注視目標系23は左右眼共通で1
個のものでし良いか、前記した様に、眼位の異常を測定
する場合には注視目標系23についても左右の被検眼3
L、3Rに対してそれぞれ設けられる。この場合構成を
簡単とする為、前記ミラー26.27は両注視目標系に
掛渡る幅広の形状として共用しても良い。
尚、以下の説明中、構成要素を左右被検眼に対応させる
場合は符号に、し、又はRを添えて説明する。
前記注視目標としては、第3図(^)に示す様に左右同
一の絵、模様を描いたもの24aL、24aRと第4図
(A)に示す様に左右異なった絵、模様を描いたもの2
4bl、24bRの2種類を用意し、且注視目標24a
L、24aR,24bL、24bRは交換可能とする。
次に上記構成の眼屈折力測定装置に於ける眼屈折力測定
は下記の如く行われる。
先ず、眼屈折力の測定は被検者に左右両眼3[3Rでそ
れぞれ同一の絵柄(図は樹木を示す)の注視目標24a
L 、 24aRを注視させる。注視目標が同一の絵柄
であった場合、左右両眼31.3Rで視た絵柄は合致さ
せようとするのて左右両眼3[,3Rの光軸は測定光軸
と略一致する。而して測定は、被検眼3の光軸を固定し
た状態で行われる。
この場合は、1組の注視目標24或は注視目標系23で
あっても良いことは勿論である。
第5図(^)に示す櫟に、被検眼3のデイオプター値か
基準デイオプター値に比べて負のデイオプター値の場合
には、光源4の像は眼底7の前方で結像され、この光束
により照明された眼底7上の内、光軸上の1点で反射さ
れた光束10を考えると、この光束10は遮光部材12
の前方、即ち被検眼311IIで集光され、対物レンズ
8により受光素子9上に投影される光束の上半分(斜線
部分)か遮光される。
一方5第5図(B)に示す様に、被検眼のデイ第1ター
値か基準デイオプター値の場合には、光束10は遮光部
材12上に集光されるもので、光束10は遮光部材12
によって遮られない。
又、第5図(C)に示す櫟に、被検眼3のデイオプター
値か基準デイオプター値より正の場合には、光源4の像
は眼底7の後方て結像するように投影され、前述と同様
に眼底7で反射された光束10は遮光部材12の後方、
即ち受光素子9側で集光され、受光素子9上に投影され
る光束10は第5図(A)とは逆の部分の光束(図中で
は上半分)が遮光される。
而して、受光面9aに投影される光束は基準デイオプタ
ー値に対して被検眼3のデイオプター値の大小、正負に
よって光量分布状態か変化し、この光量分布状態を基に
デイオプター値が求められる。
受光素子9はこの受光面9aに形成される光束の光量分
布を検出する為のものであり、前記演算器13は受光素
子9からの信号を基に、受光面9a上に形成される光束
の光量分布を検出し、基準となるデイオプター値に対し
被検眼の眼屈折力か正か負かを判断すると共にその絶対
値を演算し、演算結果を表示器14に出力し、表示器1
4は求められた結果を表示する。
尚、上記実施例では光束分離手段としてハーフミラ−を
使用したが、ビームスプリンター信光プリズム等種々の
光束分離手段を用いることは勿論である。又、赤外光は
ハーフミラ−とし、可視光は反射のミラーであっても良
い。
又、第6図(^)〜(E)に於いて、受光面9aに形成
される光束の光量分布状態を説明する6尚、第6図(^
)〜(E)に於いて説明を簡略化する為、光源4の光軸
と受光系の光軸とを合致させ且遮光部材12と対物レン
ズ8とを一致させているにの為、光源4と対物レンズ8
とは同一位置で重ね合わせて示しており、遮光部材12
は省略して示している。
第6図(A)〜([)は被検眼の屈折力りが基準屈折力
り。に対し負の場合を示しており、以下の説明は眼底か
らの反射光束は全て対物レンズ8によって受光面9a上
に投影されるものとする。
光源4と被検眼瞳孔6との距離をQに設定しこの光源の
像か眼底に合焦する被検眼の屈折力を基準屈折力り。と
すると である。
第6図FA)は被検眼の屈折力がD (<Do )の場
合の、光軸に対し直角方向にLの長さを有するスリット
状の光源4の軸上の一点S。からの投影光束を示すもの
で、点S0の像は一旦、So′に結像され、被検眼眼底
7には、ぼけた像として投影される。D、−Dが大きく
なるに従い投影される領域7aは広くなる。
第6図(B)は受光系2、及び、被検眼眼底7からの反
射光束の状態を示すものである。
第6図(B)に示す様に、被検眼眼底7上の投影領域の
端部の点り、からの光束を考えると、この点の像I−9
′は被検眼瞳孔からΩ′の距離の位置に結像され、この
光束は対物レンズ8を介して被検眼瞳孔6と共役位置に
配置した受光素子9上に投影される。尚、このΩ′と被
検眼の屈折力りの関係式は下記の通りである。
一方、この眼底上の一点から発した光束のエッチ上ての
広がり幅Δは被検眼の瞳径をUとすると、第6図(B)
から明らかな様に、Ω−Q′ △=ux       ・・・(3) Ω゛ であり、第(1)式、第(2)式より u (−−1) D。
△D =ux       ・・・(4) D。
となり、被検眼3の屈折力りと基準屈折力り。
どの差が大になるに従い遮光部材12上の広がりは大き
くなる。
次に、受光素子9上での光束の広かりについて述べる。
受光素子9は、被検眼3の屈折力に関係なく常に、対物
レンズ8に間して被検眼瞳孔と共役に配置されており、
被検眼瞳孔6の径をU、対物レンズ8の倍率をβとする
と、受光素子9上ではβUの径の領域(被検眼の屈折力
に影響を受けない)に光束が投影される。
又、光軸に対して前記り訛対称な点T、からの光束も同
様に被検眼瞳孔6から9゛の位置に像I。′を結像した
後、受光素子9上の同じ領域βUに投影される6光源4
を点光源として、遮光部材12が無いものとした時、こ
れら眼底7からの各点1.、・・・■o、・・・Iゎ、
からの光束の積分が受光素子9上の光量分布を決めるも
のである。
ここで、受光素子9上での光量分布について考察するた
め、受光素子9上の光束投影位置の端部位置P−−すな
わち、光軸を中心とした座この位置に入射する光束は第
6図(C)での斜線Aの範囲の光束に限られることとな
る。又、同様に、光軸に対して、前記のP−1位置と対
称な位置Pイに入射する光束を考えると斜MA”範囲の
光束に限られることになる。してみると−被検眼瞳孔6
からQの距離(光tx4と共役位置)の位置に光軸の一
方の光束A′を遮断する工・yチ状の遮光部材12を配
置すると受光素子9上のP−3の位置に入射する光束は
遮光部材72により遮断されず、このP−、の位置か・
り上方の位置にいくに従って光束は徐々に遮光され、中
心P。
位置で光束の半分か遮光され、P3の位置になると全て
の光束が遮断されることとなるものである。従って、エ
ッチ状の遮光部材12により受光素子9上には上方に行
くにしたがって暗くなり、P。の点で光量がOとなる一
定#斜の光量分布となるものである。
以上の第6図(A)〜(C)では、光源4の光軸上の一
点から発する光束のみを示したが、光源4の端部の一点
S−,,(光源の大きさをLとする第6図(D)に示す
ようになる。この点Sつがらの光束は、第6図(1))
に示す被検眼眼底7上の11点から19点の領域に投影
され、この■−4点、17点からの反射光は、前述と同
様に被検眼瞳孔6から2′の距離の位置でI、  、I
の像を結像した後、受光素子9上のβUの径の領域に投
影さtLるものである。ここで、光源4の端部の点S−
イから発する光束のうち、受光素子9上の光束投影の端
部位置P−,に入射する光束は第6図fD)のBの斜線
領域の光束となるものである。
又、前記S−の点と対称な光源4の一点S。
からの光束を考え、そのうち受光素子9上のP−4の点
に入射する光束を考えると第6図([)のCの斜線領域
の光束となる。この様に、光源4がある大きさを有する
らのとして考えた場合、受光素子9上の一点の光量は、
光源4の各点からの光束の総和として考えなければなら
ない。
第7図(A)は、この考え方に基づき、受光素子9上の
P−1の位置に入射する各光束を重ね合わせて示したも
のであり、光源上のS−1の位置から発する光束のうち
P−1,の位置に入射する光束はBの領域であり(第6
図(D)参照)、光源上での位置か上方に行くにしたが
ってその光束も上方に移動し、軸上の光源位置Soでは
Aの領域の光束となり(第6図[C)参照)、光源上で
のS、の位置ではCの領域の光束となる(第6図([)
参照)。従って、受光素子9上のP−。
の点での光量は、これらの光束の総和として考えられる
ここで、被検眼瞳孔6からΩの距離の位置に遮光部材1
2を配置した時の受光素子9上の点P−1の光量を示す
模式図を第7図(B)に示す。
第7図(B)は光源上の位置か変化するにしたがって遮
光部材12により光束がどの櫟に遮光されるかを示すも
のである。第7図(B)の横軸は光源上の座標位置、縮
軸は光量を示すものであり、光源上での各点からの光束
を考えると、座標位の光束は遮光部材12により遮光さ
れず、座標位置の0点を過ぎると徐々に遮光され、Δ(
前述の光束の広がり)の位置で全ての光束が遮断される
事になるものである。ここで遮光されない場合の光源上
の各点からの光量をkとして光源上での各点からの光量
の寄与を示したものが第7図(B)であり、斜線部の面
積か受光素子上のP−3の点の光量値に対応するもので
ある。この面積値Tは下記のようになる。
同様にして、受光素子上での他の点についても考察する
。第8図(A)は受光素子上での中心点P0に入射する
光束を第7図(^)と同様に示したものであり、光源上
のS−1の点からの光束の内P。の点に入射する光束は
B。の斜線領域、光源上の中心S。の点からはA。の斜
線領域、光源上のS、の点からの光束はC6の斜線領域
の光束となるものであり、受光素子9の中心に入射する
光量は第8図(B)の斜線領域の面積Toに対応するこ
とになる。すなわち、光源の各点からの受光素子の中心
点に入射する光束をの光束か遮断されることになり、こ
の面積値を前述と同様に計算すると下記値になる。
同様にして、受光素子上での点P、に入射する光束の状
態、及びこの点での光量値を第9塁(A)、第9図(B
)に示す。第9図(A)に於いて、光源上のS−〇の点
からの光束の内P、の点に入射する光束はB”の斜線領
域、光源上の中心Soの点からはA”の斜線領域、光源
上のS。
の点からの光束はC″の斜線領域の光束として示す。こ
の場合には、第9図(B)に示す様に、光源の各点から
受光素子のPカの点に入射する光束を考えると、光源上
のm−の位置から−Δの位置までは光束は遮光されず、
−Δ位置を過き゛ると徐々に光束か遮られ、Oの位置で
全ての光束か遮断されることになり、この面積値を計算
すると下記値になる。
To =−k<L−Δ)・・・(7) これらの式(5) 、(6) 、 (7,1の結果から
れがる楳に、受光素子9上の光量値は下方から上方にい
くにしたかって、光量値は徐々に低くなるものであり、
その受光素子上での光量分布を図示すると第9図に示す
ように直線的に変化する。
前述の説明に於いては、眼底の一点がら発する光束を考
えた場合の遮光部材12上での広がり幅Δが光源の大き
さLの−より小さな場合を想つ 定して説明を行ったものである。
L 然し乍らΔ〉−の場合、即ち基準デイオプタ−値り。に
対する被検眼のデイオプター値の偏差ΔDが所定量以上
の場合には、第13図に示すような直線変化は示さない
、これを第7図ないし第9図にしたかって説明を行う。
前述のよし うにΔ〉−の場合には、第7図(B)、第9図(B)、
第9図(B)はそれぞれ第14図、第15図、第16図
、に示す様になり、この光量変化は第10図に示す様な
直線変化を示さないことになる。
次に、第5図CB)で示す被検眼の屈折力か基準値であ
る場合、第5図(C)で示す被検眼の屈折力が基準値よ
り正の場合も、前記したと同様に受光素子9上の光量分
布を考察することができ、その場合被検眼の屈折力が基
準値である場合は、第11図に示す如く、均一分布、被
検眼の屈折力が正の場合は第12図で示す様に第10図
で示したものと逆な分布状態となる。
上記した光量分布の傾斜がデイオプター値(屈折力)を
そして、傾斜の方向がデイオプター値の正負を表わす。
以下第14図を参照して説明する。
前記した光束の広がりΔ、即ちボケ量Δは、前記(4)
式より、 よって(8)式より 而して、(10)式は基準デイオプター値り。に対する
被検眼のデイオプター値の偏差ΔDと従って、瞳孔径U
が分れば、この瞳孔径Uと光のデイオプター値を求める
ことが可能となる。
上述の如く、眼底から反射される光束の光量分布から被
検眼のデイオプター値の偏差ΔDを求めることかでき、
更にデイオプター値りは下記式によって求められる。
D=D、+ΔD   −、−(71) 尚、上述した光量分布は模式的に表わしており、実際に
は第17図fA)で示す眼球の各部分に対応した光量の
分布の変化(第17図(B)参照、第17図(8)で示
す光量分布は基準デイオプター値での光量分布を示して
いる〉、即ち角膜の反射により形成される輝点19での
光量の突出ρであるとか、瞳孔6を外れた虹彩20部分
での光量の落込みσ等かある。
次に、斜位測定について説明する。
前記した櫟に両眼に対し、それぞれ同一の絵柄の注視目
標24aL、24aRを使用した場合或は。
共通の1つの注視目標の場合、被検者は絵柄を合致させ
ようとするので(第3図FB)参照)、斜位であっても
両波検眼の光軸は測定光軸に略一致している。
この状態で片方の眼が一致していない、即ちすれている
様な場合は、通常は斜視かあるとされ、これについては
、特願平1−86107号で説明されている。
尚、第3図(C)は受光素子上の画像を示している。
斜位の測定を行う場合、左右で絵柄の異なる注視目標2
4bL、24bR(図では一方が烏で他方が鳥篭を示し
ている)に交換する。又、操作スイッチ(図示しない〉
等により、自動的に切換える。
左右の絵柄か異なる場合には、斜位がある場合は、斜位
の状態が現れる。
第4図iB)は被検者が感知する注視目標の絵柄であり
、第4図fc)はその時の受光素子9上の画像を示して
いる。
被検眼の視線が正面を向いている時は、被検眼の視線と
測定光軸が略一致している時であり、輝点19は瞳孔6
の略中心にあり、被検眼の視線が測定光軸とすれている
時には輝点19も瞳孔6の中心からすれる。而して、瞳
孔6の中心と輝点19との位置関係を見ることで視線方
向を特定することができる。
ここで、第18図(A) 、(B)により、視線方向と
輝点19との関係を説明する。
第18図(^)(B)中、■は眼球の旋回点を示す。
第18図(A)は被検眼3の視線方向と光軸Oの方向と
が合致している状態を示しており、光束11が角膜21
で反射することにより光源の虚像19が光軸O上に結ば
れ、これか前記した輝点である1次に、第18図(B)
の如く被検眼3か旋回点■を中心にθたけ旋回すると、
被検眼3の視線O′と光軸0とはやはりθの角度なけす
れることになる。この時、角膜21で反射する光束によ
って結ばれる虚像19′は光軸0に対してe、瞳孔6の
中心に対してe′すれる。
従って、輝点(虚@)19か瞳孔6の略中心にあるか否
かを検出すれは、被検眼の視線O′の方向と測定光学系
の光軸Oの方向とが合致しているか否かを検出すること
ができる。
次に、斜視或は斜位は、両眼の光軸が同方向に向いてい
ないものであり、斜視或は斜位の測定は両眼についてそ
れぞれ瞳孔6の中心に対する輝点19の位置を検出すれ
ば被検者か斜視或は斜位であるか否かが分る。而して、
瞳孔6の中心は被検者に同一の絵柄の注視目標を固視さ
せた場合の輝点の位置であり、注視目標を変更させる前
後の輝点の位置の差を求めることで斜位の方向度合を検
出することかできる。斜位の度合については輝点19と
瞳孔6の中心とのずれ量e′を両眼について求め、この
すれ量の差を求めればよい。
以下、具体的に説明する。
第19図は本発明の一実施例の概略を示すブロック図で
ある。図中、15は前記した眼屈折力測定装置の測定光
学系、9は受光素子、13は演算器、14は表示器、1
6は受光素子9の映像及び演算処理部の結果を記憶する
フレームメモリ、17は演算処理部、18はフレームメ
モリ16、演算−処理部17の同期指令、シーゲンス指
令を行う制御部である。
以下、第20図〜第24図を参照して該実施例を説明す
る。
尚、前記第13図の光量分布よりデイオプター値の偏差
ΔDを求める場合に、輝点の影響がないものとしている
。輝点は、測定結果に影響を及ぼすので、測定に際して
は輝点の影響を除去するのが好ましい。
以下は、輝点の影響を除去することも併せて説明する。
先ず被検眼者の、両眼を含む範囲を受光素子9によって
撮像し、この映像をフレームメモリ16に取込み記憶す
る。又、必要回数分のデータを取込む様にすることら可
能である。又、この映像は両眼がそれぞれ所定のエリア
例えば右眼が(X、;Y、)に含まれる様に撮像されて
いる。第21図(B)は(X、;Y、)のエリアを拡大
したものである。
前記フレームメモリ16のエリア(X、;Y、)部分の
光量最大な点即ち電位か最大な点を調べる。
エリア(X、;Y、)での電位最大な点が求めちれれば
、これが輝点19であり、該輝点のフレームメモリ16
中のビットの位置がら輝点19の位置が求められる。
輝点19か求められると、第22図fB)の如く該輝点
を中心とする輝点近傍の検知エリア(XS;Ys)が設
定される。エッチと平行なX方向の走査線で検知エリア
(Xs ;Ys )の境界線と交差する点a点、b点の
光量を求め、このa点、b点を直線で近似する。このa
点、b点を結んだ直線が前記検知エリア(X5 ;Ys
 )でのX方向の走査線に於ける輝点19の影響を除去
した光量分布を示すものである(第22図(C)参照、
尚図中δで示す光量分布は瞳孔部分をX方向に走査して
得られる光量分布曲線を示す)。
而してa点、b点間の近似直線の式は L= + (Lb−L、)/X、)XX−’−L。
・・・(12)となる。
ここで、エッチと平行な方向に走査することとしたのは
、エッチと平行な方向では光束の状態が対称てあり、理
想的には輝点部分を除き光量分布は均一と考えられるの
で、直線で近似した場合の誤差も少ないからである。
斯かる走査を検知エリア(X、;Ys )全域に亘って
行い、検知エリア(Xs ; Ys )について輝点1
9の影響を除去した修正値を求める。
前記フレームメモリ16の検知エリア(X8:YS )
部分についての記憶値を前記修正値に置換し、この修正
値に置換したものを新たに修正映像としてフレームメモ
リ16に記憶する。
次に、検知エリアを瞳を充分に含む(X2;Y2)に拡
大しく第23図(B))、前記修正映像について該検知
エリア(X2;Y2)をY方向(前記エッチと直角な方
向)に走査して、走査した線上での光量分布を求める。
このY方向の走査線、特に輝点19を通る走査線での光
量分布γ(第23図(C))が前記第13図で示した光
量分布に相当し、ティオプター値算出の基となるもので
ある。
尚、光量分布γより傾斜を求めるについては、種々考え
られるが、例えは第24図に示す如く、最小二乗近似に
より直線を求め、この直線の傾きを求める等が挙げられ
る。
次に瞳孔径U及びその中心位置を求める。
第17図(A)(B)(C)にも示した様に、瞳孔部分
を外れ虹彩部分になると光量か急激に低下する(第23
図(C))、従って、光量分布γの変化率を求めると瞳
孔6と虹彩部分20の境界点m、nで値が突出する。こ
の境界点m、nの座標位置を前記フレームメモリから読
みとり、演算処理部17で演算すれば瞳孔径U及び瞳孔
の中心位置を求めることかできる6 尚、瞳孔の境界点m=nを求める場合、前記遮光部材1
2のエッチの位置如何に拘らず求めることかできるが、
エッチと平行な方向の走査線での光量分布より境界点m
、nを求める様にすれば、エッチ或は瞼の影響か少ない
ので、好都合である。
上記輝点19の位置を注視目標24aと24bとを交換
する前後で求め、求めた2つの輝点19の位置を演算処
理部17で比較して前記すれ量e′を求める。
このずれ量e′は両眼についてそれぞれ算出し、両眼に
ついてのすれJle R,e Lを比較する6両眼につ
いてのずれ量e  R−eが共にOか同じであれば正常
、e   −eτか所定量を越えるものであれば斜位で
あり、この斜位の度合はτの大きさによって判定できる
又、斜位方向については、少なくと′もいずれか一方の
ずれ量e′か0又は所定の値以下である時に被検眼3か
正面を向いていると判定する。
而して、前記τの値、視線方向の判定の結果は、前記表
示部14で表示され、検者は斜位であるか否か、又斜位
の程度、ずれ量e′の方向を確認することができると共
に、視線方向の確認も行える。
以上述べた様に、検者は表示部14のτの表示て被検者
の斜視或は斜位測定を行えると共に表示部14の視線方
向の判定表示を確認しつつ測定を行うことで、測定した
時期か適正であったかどうかも直に判断できる。
又、表示器14には、カラー表示できるものを使用し、
演算結果等の表示をカラーで表示することも可能である
この場合、例えばエラー等の異常があった場合に他の表
示と違った色の表示にすれば、注目し易く、判別か行い
易くなる。又、表示の項目の種類によって色を変えるこ
とにより、区分けし易くなり、見間違え等が少なくなる
受光素子9そのものもカラ一対応のものを使用し、被検
眼像を表示器14で、カラー表示することか可能である
ことは勿論である。
上記説明では、注視目標として左右同一の絵柄のものと
、左右絵柄の異なるものとを用意したが、被検者か測定
装置に対して正しい姿勢、位置をとると瞳の中心は略決
定されるので、瞳の中心の値を固定値として演算器13
の方へ入力しておき、該固定値と左右絵柄の異なった場
合の注視目標で得られた輝点の位置とを比較する様にし
、左右同一の絵柄の注視目標を省略してもよい。
尚、第17図fB)に見られる様に虹彩20の境界部で
も著しい光量変化があり、この光量変化の位置を求める
ことで、虹彩20の径、中心位置が求められる。
又、瞼か虹彩20、或は瞳孔6にかかつている場合、瞼
の影響を受けにくいX方向の複数の走査線上の光量分布
から虹彩20、瞳孔6の境界位置を求め、求められた点
より円(楕円)を演算し、演算により虹彩、筺孔の径、
中心位置を求め、得られた中心位置と輝点とのずれ量を
求める様にしてもよい。
尚、簡略的・他覚的に斜位の有無・大小を知る為には、
本方法とは別に片方の被検眼を覆う十分な大きさの赤外
光透過・可視光不透過(反射)の部材を各々の被検眼の
眼前付近に配置し、交互に被検眼と測定器の光軸の間に
出入れし、両方の被検眼の各々を覆った時と注視目標を
見た時の輝点と瞳孔の位置関係を調べることによっても
可能である。
又、前記測定光学系15は左右被検眼に対して1つとし
ても良い。
この場合、測定光学系15については、左右眼を1つの
受光素子9で検知しようとすると、人間の左右眼が一定
距離離れている為、受光素子9への投影倍率か限られて
しまう。
この為に、例えば投影系1は共通にして受光系2のエツ
ジ状の遮光部材12と対物レンズ8を共用し、受光素子
9までの間を第25図の如く途中で分けて、別々に観察
する様にし、拡大レンズ30.31により倍率を上げて
1つの受光素子に第26図(^)又は第26図(B)の
様に両眼の拡大部分を投影すれは、拡大した像で演算を
行うことか可能となる。この様にして測定すれば、被検
眼の状態も見易くなり、更にはより精度の良い測定か可
能となる(図では遮光部材は省略しである)。
勿論、投影系1も別々に設けることも可能であるし、受
光系2・受光素子9の各々を別にすることもいずれかを
共用することも可能である。
更には受光素子9は別々で画面表示、或は処理系を共通
にすることも可能である(図示せず)。
又、前記注視目標系23の注視目標24、或はレンズ2
5、或はその両方を被検者の屈折度に合わせ移動できる
様になっていても良いし、更に被検者の遠点より遠くに
ある様に雲霧をかけても良いことは勿論である6又、注
視目標24は例えば5mの距離に置いておいても良いし
、雌株内部に置いても良い。5mの距離に注視目標24
を置いた時には、レンズ25を省略し、注視目標24を
動かしても良い、又、ミラー27は赤外光反射で可視光
反射の構成となる裸にしても良い。
更に、該注視目標系23に手動i構をつけ、最初は被検
者の屈折度より十分遠点に注視目標を置き、被検者かは
っきり見える所まで注視目標24或はレンズ25を動か
してはっきり見えた所で検者が測定ボタンを押しても良
いし、被検者が測定ボタンを押しても良い(測定ボタン
は図示せず)。
その時、直ぐに測定を行っても良いし、測定ボタンを押
した時に注視目標24、或はレンズ25を一定量自動的
に被検者の遠点より更にプラス側に動かしてから測定す
る様にしても良い。
この場合、測定ボタンを押した時、前測定として例えば
1経線のみの概略測定を行い、その結果から注視目標の
移動量を決め、移動後測定を行っても良い。
被検者の遠点での屈折力を測定した後、注視目標24を
眼前の有限距離になる様、注視目標24或はレンズ25
を動かすか、或は別の注視目標を用意し、切替えて眼前
の任意の近用距離を置くことにより、近用状態での屈折
力・輻軽状態等の測定も両眼同時に測定可能となる。
有限距離注視目標を被検者に提示する場合。
第27図の櫟にミラー27を省略し、被検眼3と本器2
9の間に直接注視目標24を置く様にしても良いが、そ
の場合測定光束かけられてしまい、測定に支障が生じ、
測定光軸からすらす必要が出てくる。
その為、少なくとも赤外透過或は赤外光透過・可視光不
透過(反射)の部材を用意し、この部材に測定の妨げに
ならない範囲で文字、或は絵等の指標を印刷或は貼付け
して注視目標24を構成し、該注視目標24を被検者に
提示すれば測定光軸上に指標を提示しても光束かけられ
ること無く測定することが可能となる。又、被検者に注
視目標24を持ってもらい、見易い位置に置いてその後
ろから測定することか可能となる。
又、該注視目標24を光軸に沿って自動的に動かす様に
しても良い、この時、注視目標24を測定光の反射か入
らない範囲で光軸に対し傾けると良い。
老視等、近くを見る場合は、眼鏡或は眼鏡枠を掛は少し
下向きで物を見ることが多い。この場合、第28図の様
に少なくとも赤外透過、或は赤外光透過・可視光不透過
(反射〉の部材からなる注視目標24の後に反射ミラー
32を置き、その反射を利用して測定すれば測定可能と
なり、輻軽角たけでなく運用時の輝点と近用時の輝点を
比較すtしば、近用装用眼鏡の光学中心も測定可能とな
る。
次に、乱視を求める場合、少なくとも3経線方向の眼屈
折力が得られれば良いことは周知である。従来は例えば
3経線に沿った光源とそれぞれに直行する方向でのエツ
ジ状稜線を用意し、光源を順次点灯して2次元受光素子
上で、各々の経線でのデータを検出していた(例えば特
願平1−86105号)。
尚、別の方法として、複数の測定経線或は1経線でもそ
れぞれに対応するエツジ状稜線に対して直行する方向の
1次元受光素子で構成しても良いことは勿論である。
斯かる構成に於いて、第29図に示す如く、遮光部材1
2をドーナッツ状に形成し、エツジは円縁の円形とし光
!R4は円形エツジの接線と直行する櫟に配置し、1次
元受光素子9は円形エツジの接線と直行する櫟に配置す
る。即ち、光源4と1次元受光素子9の方向は対応して
配置される。この様な配置にすれば、遮光部材12と光
源4或は1次元受光素子9との関係は、中心位置合わせ
のみで傾きを気にする必要かなくなる。
又、測定をするとき光源4と受光素子9を2つのモータ
33,34により同期させて回転させることにより、又
1つのモータにより光源4、受光素子9を回転させるこ
とにより、乱視測定たけでなく、任意経線でのデータ取
込みは勿論、任意経線での必要数のデータを取込むこと
かできる。データを取ったときの経線の角度とデータと
を記憶して、演算を行い必要により表示すれば良い。こ
の様にすれば、1次元受光素子を1つで乱視をも測定す
ることが可能になる。又、2次元受光素子を使用すれば
受光素子は回転しないでも良い。
以上の様に、左右眼同時に測定が可能であり、更に上記
の様に、輝点と瞳孔或は虹彩との位置検出から、種々の
視機能測定が可能となる。
[発明の効果j 以上述べた如く本発明によれば、眼屈折力の測定と視機
能測定特に眼位異常の測定を同一装置で行え、而も両測
定を該装置に於ける受光素子上に結像された映像を基に
測定するので、眼屈折力の測定と視機能測定特に眼位異
常の測定とを同一の光学系で共用でき構造が複雑となる
ことかなく、更に両測定を平行して同時期に行えるので
測定時間を大幅に短縮し得、操作性の向上と被検者の負
担を軽減することかできるという優れた効果を発揮する
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明が実線される眼屈折力測定装置の基本概
略図、第2図は注視目標系の平面概念図、第3図(A)
、第4図(^)はそれぞれ注視目標の絵柄を示す図、第
3図(B)、第4図fB)はそれぞれ被検者の感知する
絵柄の状態を示す図、第3図(C)、第4図(C)はそ
れぞれ受光素子上の画像を示す図、第5図fA)(B)
(C)は被検眼のデイオプター値の相違による光束の状
態の相違を示す説明図、第6図(A)(B) (C)(
D) (E)は受光及び被検眼眼底からの反射光束の状
態を示す説明図、第7図(A)、第8図(A)、第9図
(A)は受光素子に到達する光源各点の反射光束の状態
を示す説明図、第7図(B)、第8図(B)、第9図(
B)は遮光部材によって遮られた場合の各光束の光量変
化を示す説明図、第10図、第11図、第12図はデイ
オプター値に対応した受光面での光量分布状態を示す説
明図、第13図は光量分布状態よりデイオプター値を求
める場合の説明図、第14図、第15図、第16図は遮
光部材上での広がり幅Δが光源の1/2の大きさより大
きな場合の遮光部材によって遮光された場合の各光束の
光量変化を示す説明図、第17図(A)は被検眼の説明
図、第17図fB)は被検眼に対応する光量分布を示す
線図、第17図(C)は光量分布の変化率を示す線図、
第18図(A)(B)は光軸と視線及び輝点の関係を示
す説明図、第19図は本発明の一実施例を示すブロック
図、第20図は該実施例に於けるフローチャート、第2
1図FA)は前記眼屈折力測定装置の撮像画面の図、第
21図FB)は被検眼部分を拡大した図、第22図(八
)は第21図(8)と同様被検眼部分の拡大図、第22
図fB)は輝点を含む範囲を示す図、第22図(C)は
輝点を通過するエッチに対して平行な走査線の光量分布
図、第23図(^)は第21図(B)と同様被検眼部分
の拡大図、第23図fB)は瞳孔を含む走査領域を示す
図、第23図(C)はエッチに対して直角方向の走査線
の光量分布を示す図、第24図は光量分布より傾斜を近
似により求める場合を示す説明図、第25図は1つの測
定光学系により両眼の測定を行う様にした測定光学系の
概念図、第26図(A)、第26図(B)は該測定光学
系に於ける受光素子上の画像を示す図、第27図は本発
明の他の実施例を示す説明図、第28図は同前他の実施
例を示す説明図、第29図は同前他の実施例を示す説明
図、第30図は該他の実施例に於ける遮光部材と光源の
関係を示す説明図である4 1は投影系、2は受光系、3は被検眼、4は光源、5は
ハーフミラ−18は対物レンズ、9は受光素子、13は
演算器、14は表示器、16はフレームメモリ、17は
演算処理部、18は制御部、23は注視目標系、24.
24a、24b、24aL、24aR,24bL24b
Rは注視目標を示す。 特  許  出  願  人 株式会社ドブコン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1)被検眼眼底に光源像を投影する為の投影系と、被検
    眼眼底からの反射光束を被検眼瞳と略共役位置に配置し
    た受光素子上に導く為の受光系と、受光素子上に形成さ
    れた両眼の被検眼瞳像の光量分布により被検眼の眼屈折
    力を測定する眼屈折力測定装置に於いて、左右の被検眼
    それぞれに対して絵柄の異なる注視目標を設け、被検眼
    角膜により反射された光束により形成される輝点位置と
    前記被検眼瞳像の中心とのずれ量を検出し被検眼の眼位
    異常を測定し得る様構成したこと特徴とする眼屈折力測
    定装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0678879A (ja) * 1992-08-31 1994-03-22 Nidek Co Ltd 眼科装置
JPH11225966A (ja) * 1998-02-19 1999-08-24 Topcon Corp 眼科測定装置
JP2004166903A (ja) * 2002-11-19 2004-06-17 Topcon Corp 検眼装置
JP2007125260A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Nidek Co Ltd 眼科装置
WO2012046763A1 (ja) * 2010-10-05 2012-04-12 パナソニック株式会社 眼位ずれ計測装置
JP2016536105A (ja) * 2013-11-07 2016-11-24 オハイオ・ステート・イノヴェーション・ファウンデーション 眼位の自動化された検出
JP2017099532A (ja) * 2015-11-30 2017-06-08 株式会社トプコン 眼科検査装置
JP2018110726A (ja) * 2017-01-12 2018-07-19 株式会社ニデック 自覚式検眼装置及び自覚式検眼プログラム

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7216980B2 (en) 2001-02-09 2007-05-15 Kabushiki Kaisha Topcon Eye characteristic measuring apparatus

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0678879A (ja) * 1992-08-31 1994-03-22 Nidek Co Ltd 眼科装置
JPH11225966A (ja) * 1998-02-19 1999-08-24 Topcon Corp 眼科測定装置
JP2004166903A (ja) * 2002-11-19 2004-06-17 Topcon Corp 検眼装置
JP2007125260A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Nidek Co Ltd 眼科装置
WO2012046763A1 (ja) * 2010-10-05 2012-04-12 パナソニック株式会社 眼位ずれ計測装置
JP2012095997A (ja) * 2010-10-05 2012-05-24 Panasonic Corp 眼位ずれ計測装置
JP2016536105A (ja) * 2013-11-07 2016-11-24 オハイオ・ステート・イノヴェーション・ファウンデーション 眼位の自動化された検出
JP2020018875A (ja) * 2013-11-07 2020-02-06 オハイオ・ステート・イノヴェーション・ファウンデーション 眼位の自動化された検出
US10575727B2 (en) 2013-11-07 2020-03-03 Ohio State Innovation Foundation Automated detection of eye alignment
JP2017099532A (ja) * 2015-11-30 2017-06-08 株式会社トプコン 眼科検査装置
JP2018110726A (ja) * 2017-01-12 2018-07-19 株式会社ニデック 自覚式検眼装置及び自覚式検眼プログラム
US11330978B2 (en) 2017-01-12 2022-05-17 Nidek Co., Ltd. Subjective optometry apparatus, subjective optometry method, and recording medium storing subjective optometry program

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