JPH0438284Y2 - - Google Patents
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- JPH0438284Y2 JPH0438284Y2 JP1985063426U JP6342685U JPH0438284Y2 JP H0438284 Y2 JPH0438284 Y2 JP H0438284Y2 JP 1985063426 U JP1985063426 U JP 1985063426U JP 6342685 U JP6342685 U JP 6342685U JP H0438284 Y2 JPH0438284 Y2 JP H0438284Y2
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Description
【考案の詳細な説明】
＜技術分野＞
本考案は水中の不純物除去機能を有する浄水装
置の水質検知センサーに関するものである。
置の水質検知センサーに関するものである。
＜従来技術＞
第５図は従来水質検知センサーの一例の構成を
示す断面図である。
示す断面図である。
一般に上水道は、殺菌消毒が成されており、そ
の衛生的見地から供給末端に於いて遊離残留塩素
0.1ppm以上保持されることが定められているが
実際はもつと多量に存在している。特に季節的に
夏期は水質が悪くなる為、更に多量に存在し、そ
の塩素臭のため飲料時に不快感を与える結果とな
つていた。そこで近年、この塩素臭を含んだ水道
水中の不純物を除去することを目的とした活性炭
ろ過方式や製氷式等の浄水装置が市販されている
が使用者側では該浄水装置により、どの程度水が
浄化されているかが不明確であつた。特に活性炭
ろ過方式では活性炭に寿命があり、定期的な交換
が必要であるが、この交換時期の判断は使用者の
勘にたよつているのが現状である。
の衛生的見地から供給末端に於いて遊離残留塩素
0.1ppm以上保持されることが定められているが
実際はもつと多量に存在している。特に季節的に
夏期は水質が悪くなる為、更に多量に存在し、そ
の塩素臭のため飲料時に不快感を与える結果とな
つていた。そこで近年、この塩素臭を含んだ水道
水中の不純物を除去することを目的とした活性炭
ろ過方式や製氷式等の浄水装置が市販されている
が使用者側では該浄水装置により、どの程度水が
浄化されているかが不明確であつた。特に活性炭
ろ過方式では活性炭に寿命があり、定期的な交換
が必要であるが、この交換時期の判断は使用者の
勘にたよつているのが現状である。
そこで、第５図に示すような遊離残留塩素検知
器のついた浄水装置が考案されている。
器のついた浄水装置が考案されている。
１は上部開口に開閉自在な蓋２を着脱自在に設
け、内部中空状の本体とした浄水装置である。上
記浄水装置１の底面側部にはバルブ３を介して結
水口５へＬ字状の給水管４を連通させている。
又、底面中央部には、浄水装置１内部に着脱自在
に装着されるカートリツジ槽７から清浄化された
後の浄水を取り出す略Ｓ字状の吐出管６を挿通す
る接続口８を設けており、上記カートリツジ槽７
の底面には上記吐出管６の一端を接続する接続部
９を設けている。
け、内部中空状の本体とした浄水装置である。上
記浄水装置１の底面側部にはバルブ３を介して結
水口５へＬ字状の給水管４を連通させている。
又、底面中央部には、浄水装置１内部に着脱自在
に装着されるカートリツジ槽７から清浄化された
後の浄水を取り出す略Ｓ字状の吐出管６を挿通す
る接続口８を設けており、上記カートリツジ槽７
の底面には上記吐出管６の一端を接続する接続部
９を設けている。
上記カートリツジ槽７の内部には、上部に鉄錆
等の粒子をろ過する整流層１０を、下部に粒状活
性炭等のろ過層１１を積層状に設けており、水道
水中の不純物及び塩素を取り除くようになつてい
る。
等の粒子をろ過する整流層１０を、下部に粒状活
性炭等のろ過層１１を積層状に設けており、水道
水中の不純物及び塩素を取り除くようになつてい
る。
而して、ろ過層１１の活性炭が飽和吸着量に達
すると、カートリツジ槽７を浄水装置１より取り
出して、ろ過層１１を取り換えるか若しくは再生
するようになつている。このカートリツジ槽７の
交換時期の判断は、吐出管６の内部に設けた遊離
残留塩素検出手段１２にして、浄化された水道水
の遊離残留塩素濃度を計測するものである。
すると、カートリツジ槽７を浄水装置１より取り
出して、ろ過層１１を取り換えるか若しくは再生
するようになつている。このカートリツジ槽７の
交換時期の判断は、吐出管６の内部に設けた遊離
残留塩素検出手段１２にして、浄化された水道水
の遊離残留塩素濃度を計測するものである。
この遊離残留塩素検出手段１２は、２種類の異
なる金属（例えば銅と金、銅と白金、銅と炭素）
を電極１３，１３として、吐出管６を流れる浄化
水を電解液としガルバニ電池を構成するものであ
る。このガルバニ電池と成す電極１３，１３間に
発生する電圧或いは電流を検出し、上記電圧或い
は電流を残留塩素濃度に対応した値に変換し、間
接的に遊離残留塩素濃度を計測するものである。
なる金属（例えば銅と金、銅と白金、銅と炭素）
を電極１３，１３として、吐出管６を流れる浄化
水を電解液としガルバニ電池を構成するものであ
る。このガルバニ電池と成す電極１３，１３間に
発生する電圧或いは電流を検出し、上記電圧或い
は電流を残留塩素濃度に対応した値に変換し、間
接的に遊離残留塩素濃度を計測するものである。
例えば、正極に金、負極に銅を選ぶと、正極で
はCl2＋2e-ｅ−2Cl-の反応を生じ、負極では
Cu2+＋2e-Cuとなり、全体ではCl2＋Cu2Cl-
＋Cu2+の反応を生じるガルバニ電池が構成され
る。而して、残留塩素濃度に対応した電圧或いは
電流を両電極１３，１３より、電流計或いは電圧
計（図示せず）に接続し、該電流計或いは電圧計
が指示する値を、残留塩素濃度に変換し読み取る
ものである。
はCl2＋2e-ｅ−2Cl-の反応を生じ、負極では
Cu2+＋2e-Cuとなり、全体ではCl2＋Cu2Cl-
＋Cu2+の反応を生じるガルバニ電池が構成され
る。而して、残留塩素濃度に対応した電圧或いは
電流を両電極１３，１３より、電流計或いは電圧
計（図示せず）に接続し、該電流計或いは電圧計
が指示する値を、残留塩素濃度に変換し読み取る
ものである。
しかし、上記構成の遊離残留塩素検出手段１２
では下記に説明する欠点が生じた。
では下記に説明する欠点が生じた。
遊離残留塩素検出手段１２である電極１３を、
例えば金2.7cm2、銅2.7cm2の電極とした場合、両電
極間距離を２mm離した時、残留塩素0.1ppm濃度
では、６℃水温で13uAの電流を指示し、28℃水
温では29uAの電流が流れた。又、28℃水温で両
電極間距離を５mmとした時は、9uAの電流を指示
した。
例えば金2.7cm2、銅2.7cm2の電極とした場合、両電
極間距離を２mm離した時、残留塩素0.1ppm濃度
では、６℃水温で13uAの電流を指示し、28℃水
温では29uAの電流が流れた。又、28℃水温で両
電極間距離を５mmとした時は、9uAの電流を指示
した。
以上の結果から、両電極を固定した場合の遊離
残留塩素検出手段１２では、吐出管６を挿通する
水流量が一定でも水温が変化すると、両電極間に
発生する電圧、電流の指示値が変化し、主たる目
的である浄水装置１内のカートリツジ槽７の適節
な交換時期を把握することが出来ず、結果、浄水
装置１本体の使用状態を正確に知ることが出来な
い等の問題を有していた。
残留塩素検出手段１２では、吐出管６を挿通する
水流量が一定でも水温が変化すると、両電極間に
発生する電圧、電流の指示値が変化し、主たる目
的である浄水装置１内のカートリツジ槽７の適節
な交換時期を把握することが出来ず、結果、浄水
装置１本体の使用状態を正確に知ることが出来な
い等の問題を有していた。
＜目的＞
本考案は、先の欠点を無くす為、成されたもの
で、水温の変化による残留塩素量の誤差を補正す
る浄水装置を提供する。
で、水温の変化による残留塩素量の誤差を補正す
る浄水装置を提供する。
＜実施例＞
第１図は、本考案浄水装置の概略要部断面図で
ある。
ある。
第２図は、第１図における動作状態の一例の概
略要部断面図である。
略要部断面図である。
第１図、第２図は、それぞれ残留塩素検知手段
の拡大図であつて、吐出管６の一部分を示してい
る。１３，１３は異種金属により構成される電極
であり、１４は一方の電極１３の一端に取りつけ
た圧縮形状のバイアスばねにして、該電極１３を
他方の電極１３と平行となすよう上記電極１３の
他端には、形状記憶合金ばね１５を取りつけてい
る。
の拡大図であつて、吐出管６の一部分を示してい
る。１３，１３は異種金属により構成される電極
であり、１４は一方の電極１３の一端に取りつけ
た圧縮形状のバイアスばねにして、該電極１３を
他方の電極１３と平行となすよう上記電極１３の
他端には、形状記憶合金ばね１５を取りつけてい
る。
上記形状記憶合金ばね１５は、その名のとおり
形状記憶特性を有するものであるが、その性質
は、Ti−Ni，Cu−Al−Ni，Cu−Al−Zn合金等
の形状記憶合金を記憶させたい形状に固定し、類
百度の高温熱処理を行うことによつて得られる。
この熱処理後のこれらの金属はある温度（変態
点）を境に、高温状態では非常に硬く低温状態で
は柔らかい。そして変態点以下の温度状態である
程度変形した上記金属を変態点よりも若干高い温
度に加熱するだけで元の形状即ち熱処理時の形状
に回復する。この形状記憶特性を利用する際重要
である変態点は合金の組成、熱処理温度、加工条
件等で設定操作できるものである。
形状記憶特性を有するものであるが、その性質
は、Ti−Ni，Cu−Al−Ni，Cu−Al−Zn合金等
の形状記憶合金を記憶させたい形状に固定し、類
百度の高温熱処理を行うことによつて得られる。
この熱処理後のこれらの金属はある温度（変態
点）を境に、高温状態では非常に硬く低温状態で
は柔らかい。そして変態点以下の温度状態である
程度変形した上記金属を変態点よりも若干高い温
度に加熱するだけで元の形状即ち熱処理時の形状
に回復する。この形状記憶特性を利用する際重要
である変態点は合金の組成、熱処理温度、加工条
件等で設定操作できるものである。
而して、低温時には形状記憶合金ばね１５は低
温の柔かい状態にあるのでバイアスばね１４の力
により、両電極１３，１３間はＬ離なれている
が、高温時には形状記憶合金ばね１５が縮退し、
電極１３を引張り両電極１３，１３間はＬ＋△Ｌ
となり、温度上昇に共う電圧、電流の上昇を水温
上昇と共に電極１３，１３間の距離を離すことに
より自動的に補正するものである。
温の柔かい状態にあるのでバイアスばね１４の力
により、両電極１３，１３間はＬ離なれている
が、高温時には形状記憶合金ばね１５が縮退し、
電極１３を引張り両電極１３，１３間はＬ＋△Ｌ
となり、温度上昇に共う電圧、電流の上昇を水温
上昇と共に電極１３，１３間の距離を離すことに
より自動的に補正するものである。
又、他の実施例として、第３図、第４図に示す
ような例が挙げられる。第３図ａ，ｂは、一方の
電極１３の上端に形状記憶合金ばね１５の一端を
取り付け、他端を電極１３取り付け面に取り付け
たもので、水温の上昇とともに形状記憶合金ばね
１５が縮退し、両電極１３，１３間の距離を広げ
るものである。
ような例が挙げられる。第３図ａ，ｂは、一方の
電極１３の上端に形状記憶合金ばね１５の一端を
取り付け、他端を電極１３取り付け面に取り付け
たもので、水温の上昇とともに形状記憶合金ばね
１５が縮退し、両電極１３，１３間の距離を広げ
るものである。
第４図ａ，ｂ，ｃは、残留塩素検知濃度の可動
温度範囲を広くする為の一例であり、各々特性の
違う形状記憶合金１６，１７の一端を各々電極１
３，１３の上端に取り付け、他端を電極１３取り
付け面に取り付けたもので、低温時には両電極１
６，１７の弾性力により両電極１３，１３間の距
離はＬだけ離れる。而して、温度が例えば60℃に
上がれば形状記憶合金ばね１６が縮退し、電極１
３が傾き電極間距離が広がる。更に温度が例えば
80℃に上がると、他方の形状記憶合金ばね１７が
縮退し、電極１３が傾き電極間距離は更に広が
る。この為、第３図ａ，ｂの実施例に比して、温
度補正範囲が広くなるので、必然的に可動温度範
囲を広くすることが出来る。
温度範囲を広くする為の一例であり、各々特性の
違う形状記憶合金１６，１７の一端を各々電極１
３，１３の上端に取り付け、他端を電極１３取り
付け面に取り付けたもので、低温時には両電極１
６，１７の弾性力により両電極１３，１３間の距
離はＬだけ離れる。而して、温度が例えば60℃に
上がれば形状記憶合金ばね１６が縮退し、電極１
３が傾き電極間距離が広がる。更に温度が例えば
80℃に上がると、他方の形状記憶合金ばね１７が
縮退し、電極１３が傾き電極間距離は更に広が
る。この為、第３図ａ，ｂの実施例に比して、温
度補正範囲が広くなるので、必然的に可動温度範
囲を広くすることが出来る。
結果、上記いずれの実施例においても浄化水の
水温が変化しても、残留塩素濃度を指示する電
圧、電流値は常に一定値に保たれ正確な残留塩素
濃度を検知することが出来る。
水温が変化しても、残留塩素濃度を指示する電
圧、電流値は常に一定値に保たれ正確な残留塩素
濃度を検知することが出来る。
＜効果＞
本考案によれば、浄水装置における浄水後の残
留塩素濃度を正確に検知する事ができる。
留塩素濃度を正確に検知する事ができる。
第１図：本考案浄水装置の概略要部断面図。第
２図：第１図における動作状態の一例の概略要部
断面図。第３図ａ，ｂ：本考案他実施例の概略要
部断面図。第４図ａ，ｂ，ｃ：本考案実施例の概
略要部断面図。第５図：従来水質検知センサーの
一例の構成を示す断面図。 符号、１……浄水装置、２……蓋、３……バル
ブ、４……給水管、５……給水口、６……吐出
管、７……カートリツジ槽、８……接続口、９…
…接続部、１０……整流層、１１……ろ過層、１
２……遊離残留塩素検出手段、１３……電極、１
４……バイアスばね、１５，１６，１７……形状
記憶合金ばね。
２図：第１図における動作状態の一例の概略要部
断面図。第３図ａ，ｂ：本考案他実施例の概略要
部断面図。第４図ａ，ｂ，ｃ：本考案実施例の概
略要部断面図。第５図：従来水質検知センサーの
一例の構成を示す断面図。 符号、１……浄水装置、２……蓋、３……バル
ブ、４……給水管、５……給水口、６……吐出
管、７……カートリツジ槽、８……接続口、９…
…接続部、１０……整流層、１１……ろ過層、１
２……遊離残留塩素検出手段、１３……電極、１
４……バイアスばね、１５，１６，１７……形状
記憶合金ばね。
Claims (1)
- 浄水装置の吐出通路内に、異種金属から成る一
対の電極板を設けてガルバニ電池となし、この一
対の電極板の一方あるいは両方に当該電極板間の
間隔を、水温に応じて調節する形状記憶合金から
成る調節手段を設けたことを特徴とする残留塩素
検知センサー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985063426U JPH0438284Y2 (ja) | 1985-04-27 | 1985-04-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985063426U JPH0438284Y2 (ja) | 1985-04-27 | 1985-04-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61178462U JPS61178462U (ja) | 1986-11-07 |
| JPH0438284Y2 true JPH0438284Y2 (ja) | 1992-09-08 |
Family
ID=30593559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985063426U Expired JPH0438284Y2 (ja) | 1985-04-27 | 1985-04-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0438284Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3447158B2 (ja) * | 1995-09-05 | 2003-09-16 | 株式会社クボタ | 電極型センサー |
| MX2008013202A (es) | 2006-04-12 | 2009-01-09 | James Hardie Int Finance Bv | Elemento de construcción de refozado y sellado en superficies. |
| JP5181352B2 (ja) * | 2009-02-05 | 2013-04-10 | 株式会社ユニフィードエンジニアリング | 残留遊離塩素濃度の測定方法及び装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54131340A (en) * | 1978-03-31 | 1979-10-12 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | Water treatment device |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6032601Y2 (ja) * | 1979-10-09 | 1985-09-28 | モルエンジニアリング株式会社 | 携帯用残留塩素計 |
-
1985
- 1985-04-27 JP JP1985063426U patent/JPH0438284Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54131340A (en) * | 1978-03-31 | 1979-10-12 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | Water treatment device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61178462U (ja) | 1986-11-07 |
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