JPH04364476A - Voltage confirmation circuit - Google Patents
Voltage confirmation circuitInfo
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- JPH04364476A JPH04364476A JP16756091A JP16756091A JPH04364476A JP H04364476 A JPH04364476 A JP H04364476A JP 16756091 A JP16756091 A JP 16756091A JP 16756091 A JP16756091 A JP 16756091A JP H04364476 A JPH04364476 A JP H04364476A
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Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】この発明は、例えば直流低電圧電
源の電圧発生の有無又は電気回路の電源部の結線の良否
等を確認する場合に使用して好適な電圧確認回路に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a voltage checking circuit suitable for use in checking, for example, whether or not a DC low voltage power supply is generating voltage or whether the wiring of a power supply section of an electric circuit is good or not.
【0002】0002
【従来の技術】従来、直流電圧電源から電圧が発生して
いるか否か、又は目的とする箇所まで電源が供給されて
いるかどうか等を確認するためには、テスタ、マルチメ
ータあるいはオシロスコープ等の電圧測定器が使用され
ていた。[Prior Art] Conventionally, in order to check whether voltage is being generated from a DC voltage power supply or whether power is being supplied to the target point, a voltage tester, multimeter, oscilloscope, etc. measuring device was used.
【0003】しかしながら、使用される電源の数が多い
場合に、これらの電源の状態を同時に確認しようとする
と、そのような電圧測定器を必要なチャンネル数だけ用
意しなければならず、スペース的及び費用的に不利であ
るばかりでなく、それぞれの電圧値を読み取って判断し
なければならないので、確認に時間を要する不都合があ
った。However, if a large number of power supplies are used and the status of these power supplies is to be checked at the same time, it is necessary to prepare as many voltage measuring instruments as the required number of channels, which takes up space and energy. This method is not only disadvantageous in terms of cost, but also requires time to confirm since each voltage value must be read and determined.
【0004】これに対して、出力電圧が所定の範囲に入
っているかどうかを判断するための電圧確認回路として
、図10に示すようなコンパレータを用いた回路も使用
されていた。On the other hand, a circuit using a comparator as shown in FIG. 10 has also been used as a voltage checking circuit for determining whether the output voltage is within a predetermined range.
【0005】この図10において、3及び4は、第1及
び第2のコンパレータを構成するオペアンプで、これら
はこの例では1チップICで構成されている。そして、
1及び2は入力端子で、これら入力端子1と入力端子2
との間に確認対象とする電圧Eが供給される。入力端子
1は接地され、入力端子2は第1のコンパレータ3の一
方の入力端子及び第2のコンパレータ4の他方の入力端
子に接続されている。In FIG. 10, reference numerals 3 and 4 indicate operational amplifiers that constitute the first and second comparators, which in this example are constructed of one-chip IC. and,
1 and 2 are input terminals, these input terminal 1 and input terminal 2
A voltage E to be checked is supplied between the two. The input terminal 1 is grounded, and the input terminal 2 is connected to one input terminal of the first comparator 3 and the other input terminal of the second comparator 4.
【0006】また、直流電圧Vccが供給される電源端
子5と接地間に、直列に抵抗器R1、R2及びR3が接
続され、抵抗器R1とR2との接続点がコンパレータ4
の一方の入力端子に接続され、抵抗器R2と抵抗器R3
との接続点がコンパレータ3の他方の入力端子に接続さ
れている。Further, resistors R1, R2 and R3 are connected in series between the power supply terminal 5 to which the DC voltage Vcc is supplied and the ground, and the connection point between the resistors R1 and R2 is connected to the comparator 4.
is connected to one input terminal of resistor R2 and resistor R3.
The connection point between the two terminals is connected to the other input terminal of the comparator 3.
【0007】そして、コンパレータ3及び4の出力がオ
アゲート6の入力端子に供給され、このオアゲート6の
出力端子と電源端子5との間に抵抗器R4とLED(発
光ダイオード)7とが直列に接続されている。抵抗器R
1〜R3の抵抗値をそれぞれR1〜R3で表すと、電圧
EがVcc・R3/(R1+R2+R3) <E<Vc
c・(R2+R3)/(R1+R2+R3)の範囲内に
あるときには、コンパレータ3及び4の出力が共にロー
レベル“0”となる。したがって、オアゲート6の出力
も“0”となるため、LED7が点灯する。
一方、電圧Eがその範囲から外れると、コンパレータ3
又は4の一方の出力がハイレベル“1”となり、オアゲ
ート6の出力も“1”となるため、そのLED7は消灯
する。即ち、そのLED7が点灯しているか否かによっ
て、その電圧Eが所定の範囲内に存在するか否かを確認
することができる。The outputs of the comparators 3 and 4 are supplied to the input terminal of an OR gate 6, and a resistor R4 and an LED (light emitting diode) 7 are connected in series between the output terminal of the OR gate 6 and the power supply terminal 5. has been done. Resistor R
When the resistance values of 1 to R3 are represented by R1 to R3, respectively, the voltage E is Vcc・R3/(R1+R2+R3) <E<Vc
When it is within the range of c·(R2+R3)/(R1+R2+R3), the outputs of comparators 3 and 4 both become low level "0". Therefore, since the output of the OR gate 6 also becomes "0", the LED 7 lights up. On the other hand, if voltage E is out of that range, comparator 3
Alternatively, one output of the gate 4 becomes high level "1", and the output of the OR gate 6 also becomes "1", so that the LED 7 is turned off. That is, depending on whether the LED 7 is lit, it can be confirmed whether the voltage E is within a predetermined range.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図10
の例の確認回路でもまだ部品点数が多く、回路を動作さ
せるための電源が必要であるため、確認する電源のチャ
ンネル数が多い場合には比較的広いスペースを要すると
共に、確認回路のコストが高い不都合がある。[Problem to be solved by the invention] However, FIG.
The verification circuit in the example still has a large number of parts and requires a power supply to operate the circuit, so if there are many channels of power supply to be verified, a relatively large space is required and the cost of the verification circuit is high. There is an inconvenience.
【0009】この発明は、以上の点にかんがみ、少ない
部品点数で、かつ、専用の電源を使用することなく、入
力電圧の大きさの程度を確認できる電圧確認回路を提供
することを目的とする。In view of the above points, it is an object of the present invention to provide a voltage checking circuit that can check the magnitude of input voltage with a small number of parts and without using a dedicated power supply. .
【0010】0010
【課題を解決するための手段】この発明による電圧確認
回路は、例えば図1に示すように、ゲート−ソース間電
圧が一定になるように接続された接合形FET(電界効
果トランジスタ)(10)と、発光ダイオード(9)と
を直列接続し、この直列回路を2個の端子(8,11)
の間に接続し、これら2個の端子間に被検電圧Eを印加
する。[Means for Solving the Problems] A voltage checking circuit according to the present invention, as shown in FIG. and a light emitting diode (9) are connected in series, and this series circuit is connected to two terminals (8, 11).
A test voltage E is applied between these two terminals.
【0011】また、例えば図4に示すように、ゲート−
ソース間電圧が一定になるように接続された接合形FE
T(15)と発光ダイオード(16)との直列回路に対
して、さらに直列にツェナーダイオード(17)を接続
するようにしてもよい。Furthermore, as shown in FIG.
Junction type FE connected so that the source-to-source voltage is constant
A Zener diode (17) may be further connected in series to the series circuit of the T (15) and the light emitting diode (16).
【0012】また、この発明においては、さらに、例え
ば図4に示すように、接合形FETと発光ダイオードと
ツェナーダイオードとを直列に接続して形成した確認回
路を複数個、2個の端子(8,11)間に接続し、これ
ら2個の端子に被検電圧Eを印加するようにすることも
できる。Furthermore, in the present invention, as shown in FIG. , 11) and apply the voltage E to be tested to these two terminals.
【0013】[0013]
【作用】上記の構成のこの発明によれば、例えば図1の
例の場合、被検電圧EがFET(15)のオン電圧と発
光ダイオード(9)のオン電圧の和を超えると、その発
光ダイオード(9)が発光を開始するので、簡単な構成
で、しかも専用の電源を使用することなく、被検電圧E
のおおまかな範囲を確認することができる。[Operation] According to the present invention having the above configuration, for example in the case of the example shown in FIG. Since the diode (9) starts emitting light, the test voltage E can be easily adjusted without using a dedicated power supply.
You can check the approximate range of
【0014】また、ゲート−ソース間電圧が一定になる
ように接続された接合形FETは定電流素子となるため
、その被検電圧Eが大きくなっても、その発光ダイオー
ド(9)に流れる電流は所定の程度以上には大きくなら
ない。したがって、その被検電圧Eの発生源に対して大
きな影響を与えることがない。[0014] Furthermore, since a junction FET connected so that the voltage between the gate and source is constant becomes a constant current element, even if the voltage E to be tested becomes large, the current flowing through the light emitting diode (9) does not increase beyond a predetermined degree. Therefore, there is no significant influence on the source of the voltage E to be tested.
【0015】また、接合形FET(15)及び発光ダイ
オード(16)に対して、さらに直列にツェナーダイオ
ード(17)を接続した場合には、被検電圧Eが、FE
T(15)のオン電圧と発光ダイオード(16)のオン
電圧とツェナーダイオード(17)のツェナー電圧との
和を超えたときに、発光ダイオード(16)が発光を開
始する。この場合には、ツェナーダイオード(17)の
ツェナー電圧を変えることにより、発光ダイオード(1
6)の発光開始電圧を任意に設定することができる。Furthermore, when a Zener diode (17) is further connected in series with the junction FET (15) and the light emitting diode (16), the voltage to be tested E is
When the sum of the on-voltage of T(15), the on-voltage of the light-emitting diode (16), and the Zener voltage of the Zener diode (17) is exceeded, the light-emitting diode (16) starts emitting light. In this case, by changing the Zener voltage of the Zener diode (17), the light emitting diode (1
6) The light emission starting voltage can be set arbitrarily.
【0016】さらに、端子8及び11間に複数の確認回
路を設けた場合、各確認回路の発光ダイオードの発光開
始電圧は、FETのオン電圧と、発光ダイオードのオン
電圧と、ツェナーダイオードのツェナー電圧との和にほ
ぼ等しいものであるが、この発光開始電圧を各確認回路
で異なるようにすることにより、各確認回路の発光ダイ
オードの発光開始電圧を異ならせることができる。これ
により、被検電圧Eが所定の電圧範囲内に存在するか否
かを確認することができる。Furthermore, when a plurality of confirmation circuits are provided between terminals 8 and 11, the light emission starting voltage of the light emitting diode of each confirmation circuit is determined by the ON voltage of the FET, the ON voltage of the light emitting diode, and the Zener voltage of the Zener diode. However, by making this light emission start voltage different for each confirmation circuit, the light emission start voltage of the light emitting diode of each confirmation circuit can be made different. Thereby, it can be confirmed whether or not the voltage to be tested E is within a predetermined voltage range.
【0017】[0017]
【実施例】以下、この発明による電圧確認回路の実施例
につき図1〜図9を参照して説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of a voltage confirmation circuit according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 9.
【0018】図1は、この発明の実施例の基本ユニット
を示しており、接合形FET10とLED9との直列回
路が、被検電圧の入力端子8及び11間に接続されて構
成されている。すなわち、この例の基本ユニットは、一
方の入力端子8にLED9のカソードが接続され、この
LED9のアノードにNチャンネルの接合形FET10
のソースが接続され、この接合形FET10のドレイン
が他方の入力端子11に接続される。FIG. 1 shows a basic unit of an embodiment of the present invention, in which a series circuit of a junction FET 10 and an LED 9 is connected between input terminals 8 and 11 of the voltage to be tested. That is, in the basic unit of this example, the cathode of the LED 9 is connected to one input terminal 8, and the anode of the LED 9 is connected to the N-channel junction FET 10.
The source of this junction FET 10 is connected to the other input terminal 11, and the drain of this junction FET 10 is connected to the other input terminal 11.
【0019】この例では、接合形FET10のゲートと
ソースとは短絡接続されてゲート−ソース間電圧VGS
=0とされ、一定とされている。そして、入力端子8と
入力端子11との間に確認対象とする入力電圧Eが印加
される。In this example, the gate and source of the junction FET 10 are short-circuited and the gate-source voltage VGS
= 0, and is constant. Then, an input voltage E to be checked is applied between the input terminal 8 and the input terminal 11.
【0020】一般に、図2(A)に示すように、FET
のドレイン−ソース電圧VDSを横軸、ドレイン電流I
D を縦軸にとると、ゲート−ソース間電圧VGSが変
化するにつれて電圧VDS−電流ID の特性は、特性
曲線12A、12B、12C、‥‥のように変化する。
即ち、ゲート−ソース間電圧VGSを一定にすることに
より、FETは定電流素子として動作する。本例では、
ゲートとソースとを短絡接続してゲート−ソース間電圧
VGSを零にした場合の定電流特性、即ち特性曲線12
Cで表される定電流特性を使用する。Generally, as shown in FIG. 2(A), FET
The horizontal axis is the drain-source voltage VDS, and the drain current I
When D is taken as the vertical axis, as the gate-source voltage VGS changes, the voltage VDS-current ID characteristics change as shown in characteristic curves 12A, 12B, 12C, . . . . That is, by keeping the gate-source voltage VGS constant, the FET operates as a constant current element. In this example,
Constant current characteristics when the gate and source are short-circuited and the gate-source voltage VGS is zero, that is, characteristic curve 12
A constant current characteristic represented by C is used.
【0021】また、図2(B)に示すように、LEDへ
の印加電圧Vを横軸、これに流れる電流Iを縦軸にとる
と、LEDの電圧−電流特性はツェナーダイオードのよ
うに急峻な立ち上がりを持った特性曲線で表すことがで
きる。そして、その急峻な立ち上がりの電圧から、LE
Dは発光を開始する。Furthermore, as shown in FIG. 2(B), if the voltage V applied to the LED is plotted on the horizontal axis and the current I flowing through it is plotted on the vertical axis, the voltage-current characteristic of the LED is steep like that of a Zener diode. It can be expressed as a characteristic curve with a sharp rise. And from that steep rising voltage, LE
D starts emitting light.
【0022】この例の基本ユニットは、図2(A)の曲
線12Cの特性を有する接合形FET10と、図2(B
)の特性を有するLED9とを直列接続して構成された
ものであるので、基本ユニットの電圧−電流特性は、図
2Cの特性曲線で示すようになる。すなわち、基本ユニ
ットの入力電圧E及び電流Iを、それぞれ図2(C)の
横軸及び縦軸にとると、入力電圧Eが、FET10のオ
ン電圧とLED9のオン電圧との和VTまで上がると、
電流Iが流れ始めてLED9が点灯し始め、さらに入力
電圧Eが高くなると、電流Iは接合形FET10の定電
流で一定電流になり、LED9の明るさは、その定電流
に応じた一定の明るさになる。The basic unit of this example includes a junction type FET 10 having the characteristics shown by the curve 12C in FIG.
), the voltage-current characteristics of the basic unit are as shown by the characteristic curve in FIG. 2C. That is, if the input voltage E and current I of the basic unit are plotted on the horizontal and vertical axes of FIG. ,
When the current I starts to flow and the LED 9 starts to light up, and the input voltage E increases further, the current I becomes a constant current due to the constant current of the junction FET 10, and the brightness of the LED 9 becomes a constant brightness according to the constant current. become.
【0023】この場合、電流Iが立ち上がってから定電
流に達するまでの入力電圧Eの変化領域VRはLED9
の明るさが変わる領域であり、通常、LEDが明るく一
定に点灯した状態で電圧確認するので、この変化領域V
Rが小さい程、入力電圧Eに対する検出感度が良いとい
うことになる。In this case, the change range VR of the input voltage E from when the current I rises until it reaches a constant current is the LED 9
This is the area where the brightness of
The smaller R is, the better the detection sensitivity to the input voltage E is.
【0024】以上のようにして、LED9が点灯するか
否かにより、入力電圧EがLED9のオン電圧程度より
も高いか低いかを確認することができる。そして、この
例の構成によれば、使用する部品はLED9及び接合形
FET10のみであり、構成がきわめて簡単で小型であ
ると共に、専用の電源を必要としない利点がある。また
、接合形FET10により流れる電流が制限されている
ので、その入力電圧Eが高くなっても大きな電流が流れ
ることがない利点がある。As described above, it is possible to confirm whether the input voltage E is higher or lower than the ON voltage of the LED 9, depending on whether the LED 9 lights up or not. According to the configuration of this example, only the LED 9 and the junction FET 10 are used, and the configuration is extremely simple and compact, and has the advantage of not requiring a dedicated power source. Further, since the current flowing through the junction FET 10 is limited, there is an advantage that a large current will not flow even if the input voltage E becomes high.
【0025】この場合、LED9の明るさは接合形FE
T10で制限された電流で決まる。したがって、LED
9をより明るく点灯させるためには、ゲート−ソース間
電圧VGSが零のときのドレイン電流ID の値IDS
S が大きなFETを使用するか、又は複数個のFET
を並列に接続するようにすれば良い。In this case, the brightness of the LED 9 is the same as that of the junction type FE.
It is determined by the current limited by T10. Therefore, the LED
9 more brightly, the drain current ID value IDS when the gate-source voltage VGS is zero
Use a FET with large S or multiple FETs
should be connected in parallel.
【0026】また、入力電圧Eに対する検出感度を高め
るためには、図2(C)の変化幅VRをできるだけ小さ
くすることが望ましく、一方、LEDを発光させるため
の電流はある程度大きくすることが望ましい。しかし、
前記変化幅VRが小さく、かつ、ゲート−ソース間電圧
VGSが零のときのドレイン電流であるIDSS が大
きいFETは容易には入手することができない。Furthermore, in order to increase the detection sensitivity with respect to the input voltage E, it is desirable to make the variation width VR in FIG. . but,
An FET with a small variation width VR and a large drain current IDSS when the gate-source voltage VGS is zero cannot be easily obtained.
【0027】例えば図3(A)を参照して一般的なFE
Tの特性を説明するに、ドレイン電流IDSS がID
SS1〜IDSS3と高くなるにつれて、それぞれ特性
曲線13A〜13Cで示すように、立ち上がりの変化幅
はVR1〜VR3と広くなり感度が悪くなる傾向がある
。For example, with reference to FIG. 3(A), a general FE
To explain the characteristics of T, the drain current IDSS is
As the values increase from SS1 to IDSS3, as shown by characteristic curves 13A to 13C, the width of change in the rise becomes wider from VR1 to VR3, and the sensitivity tends to deteriorate.
【0028】その感度を良くして、かつ、電流IDSS
を高くするためには、その電流IDSS の小さいF
ETを複数個並列に接続すればよい。具体的に、電流I
DSS が小さい1個のFETのドレイン−ソース間電
圧VDSとドレイン電流ID との特性が、図3(B)
の特性曲線14Aで表されるものとすると、そのFET
を2個〜4個並列に接続した場合の全体の特性は、それ
ぞれ特性曲線14B〜14Dで表すことができる。この
図3(B)より明かなように、FETを複数個並列に接
続することにより、立ち上がりの変化幅は小さく維持し
たままで、ドレイン電流IDSS を実質的に任意に大
きくすることができる。[0028] Improving the sensitivity and reducing the current IDSS
In order to increase the current IDSS, a small F
A plurality of ETs may be connected in parallel. Specifically, the current I
The characteristics of drain-source voltage VDS and drain current ID of one FET with small DSS are shown in Figure 3(B).
If the characteristic curve 14A of the FET is
The overall characteristics when two to four of them are connected in parallel can be represented by characteristic curves 14B to 14D, respectively. As is clear from FIG. 3B, by connecting a plurality of FETs in parallel, the drain current IDSS can be substantially arbitrarily increased while the variation width of the rise is kept small.
【0029】ところで、LEDのオン電圧は一般に1.
5V〜2V程度であり、図1の構成では確認対象とする
電圧がLED9のオン電圧にのみ左右されてしまい、被
検電圧の範囲が限定されてしまう。また、上述の図1の
例の基本ユニットは、入力電圧Eが或る電圧以上である
か否かをLEDの点灯により確認するものであるが、そ
の入力電圧Eが或る範囲に存在するか否かを確認するこ
とができない。By the way, the on-voltage of an LED is generally 1.
It is about 5V to 2V, and in the configuration of FIG. 1, the voltage to be checked depends only on the ON voltage of the LED 9, and the range of the voltage to be tested is limited. Furthermore, the basic unit in the example shown in FIG. 1 above confirms whether the input voltage E is above a certain voltage by lighting an LED, but it is also possible to check whether the input voltage E is within a certain range or not. It is not possible to confirm whether or not.
【0030】この発明では、後述する実施例に示すよう
に、LEDにツェナーダイオードを接続し、そのツェナ
ー電圧を選定することにより、LEDの発光開始電圧を
任意に設定できるようにして、前者の問題を解決するよ
うにしている。[0030] In this invention, as shown in the embodiment described later, by connecting a Zener diode to the LED and selecting its Zener voltage, the light emission start voltage of the LED can be arbitrarily set, thereby solving the former problem. I'm trying to solve it.
【0031】また、後者の問題は、LEDの発光開始電
圧を異ならせた複数の基本ユニットを用いることにより
解決している。The latter problem is solved by using a plurality of basic units in which the LEDs have different light emission start voltages.
【0032】図4は、上記の2つの問題を共に解決した
実施例である。この例は、基本ユニットを確認回路とし
て2個使用する場合の例である。この図4においては、
ゲートとソースとが短絡接続されたNチャンネルの接合
形FET15のゲートが入力端子11に接続され、FE
T15のソースが緑色で発光する緑色LED16のアノ
ードに接続され、この緑色LED15のカソードがツェ
ナーダイオード17のカソードに接続され、このツェナ
ーダイオード17のアノードが入力端子8に接続される
。そして、FET15、緑色LED16及びツェナーダ
イオード17の直列回路により第1の確認回路が形成さ
れる。FIG. 4 shows an embodiment in which both of the above two problems are solved. This example is an example in which two basic units are used as confirmation circuits. In this Figure 4,
The gate of an N-channel junction FET 15 whose gate and source are short-circuited is connected to the input terminal 11, and the FE
The source of T15 is connected to the anode of a green LED 16 that emits green light, the cathode of this green LED 15 is connected to the cathode of a Zener diode 17, and the anode of this Zener diode 17 is connected to the input terminal 8. A first confirmation circuit is formed by a series circuit of the FET 15, the green LED 16, and the Zener diode 17.
【0033】また、第1の確認回路と並列に、入力端子
11及び8間に、第1の確認回路と同様に構成された、
接合型FET18と、赤色で発光する赤色LED19と
、ツェナーダイオード20の直列回路空なる第2の確認
回路が接続される。そして、入力端子8と入力端子11
との間に確認対象とされる入力電圧Eが印加される。
この場合、ツェナーダイオード17のツェナー電圧Vz
1よりもツェナーダイオード20のツェナー電圧Vz2
の方が大きくなるようにツェナー電圧の選定がなされて
いる。Further, in parallel with the first confirmation circuit, between the input terminals 11 and 8, a circuit configured similarly to the first confirmation circuit is provided.
A second confirmation circuit consisting of a series circuit of the junction FET 18, a red LED 19 that emits red light, and a Zener diode 20 is connected. And input terminal 8 and input terminal 11
An input voltage E to be checked is applied between. In this case, the Zener voltage Vz of the Zener diode 17
Zener voltage Vz2 of Zener diode 20 than 1
The Zener voltage is selected so that .
【0034】図5を参照して図4例の動作を説明する。
入力電圧Eを上昇させてゆくと、入力電圧Eが電圧E1
に達したところで、緑色LED16が発光し、さらに入
力電圧Eが電圧E2に達したとことで、赤色LED19
が発光するようになる。The operation of the example shown in FIG. 4 will be explained with reference to FIG. As the input voltage E increases, the input voltage E becomes the voltage E1.
When the input voltage E reaches the voltage E2, the green LED 16 lights up, and the red LED 19 lights up when the input voltage E reaches the voltage E2.
starts to emit light.
【0035】電圧E1は、FET15のオン電圧と、緑
色LED16のオン電圧と、ツェナーダイオード17の
ツェナー電圧Vz1との和にほぼ等しく、電圧E2はF
ET18のオン電圧と、赤色LED19のオン電圧と、
ツェナーダイオード20のツェナー電圧Vz2との和に
ほぼ等しい。The voltage E1 is approximately equal to the sum of the on-voltage of the FET 15, the on-voltage of the green LED 16, and the Zener voltage Vz1 of the Zener diode 17, and the voltage E2 is
The on voltage of ET18 and the on voltage of red LED19,
It is approximately equal to the sum of the Zener voltage Vz2 of the Zener diode 20.
【0036】このように、図4の例によれば、2個のL
ED16及び19が消灯しているときには、入力電圧E
が電圧E1より小さく、緑色LED16のみが点灯して
いるときには入力電圧Eが電圧E1と電圧E2との間に
あり、2個のLED16及び19が点灯しているときに
は入力電圧Eが電圧E2より大きいということが確認で
きる。In this way, according to the example of FIG.
When ED16 and 19 are off, the input voltage E
is smaller than the voltage E1, and when only the green LED 16 is lit, the input voltage E is between the voltages E1 and E2, and when the two LEDs 16 and 19 are lit, the input voltage E is greater than the voltage E2. This can be confirmed.
【0037】図4の実施例には種々の変形例が考えられ
る。例えば、図6(A)に示す変形例は、図4例におい
て赤色LED19のカソードを緑色LED16のアノー
ドに接続し、ツェナーダイオード20を取り外したもの
である。この例の場合には、FET15と、発光ダイオ
ード16と、ツェナーダイオード21とにより第1の確
認回路が形成され、また、FET18と、発光ダイオー
ド19及び16と、ツェナーダイオード21とにより第
2の確認回路が形成される。Various modifications can be made to the embodiment of FIG. 4. For example, in the modification shown in FIG. 6A, the cathode of the red LED 19 is connected to the anode of the green LED 16 in the example shown in FIG. 4, and the Zener diode 20 is removed. In this example, the FET 15, the light emitting diode 16, and the Zener diode 21 form a first verification circuit, and the FET 18, the light emitting diodes 19 and 16, and the Zener diode 21 form a second verification circuit. A circuit is formed.
【0038】したがって、図6(A)の例においては、
電圧E1は、FET15のオン電圧と、緑色LED16
のオン電圧と、ツェナーダイオード21のツェナー電圧
Vz3との和にほぼ等しく、電圧E2はFET18のオ
ン電圧と、赤色LED19のオン電圧と、緑色LED1
6のオン電圧と、ツェナーダイオード21のツェナー電
圧Vz3との和にほぼ等しい。Therefore, in the example of FIG. 6(A),
The voltage E1 is the ON voltage of the FET 15 and the green LED 16.
The voltage E2 is approximately equal to the sum of the on voltage of the FET 18, the on voltage of the red LED 19, and the Zener voltage Vz3 of the Zener diode 21, and the voltage E2 is equal to the sum of the on voltage of the FET 18, the on voltage of the red LED 19, and the Zener voltage Vz3 of the
6 and the Zener voltage Vz3 of the Zener diode 21.
【0039】また、図6(B)に示す変形例は、図4例
において赤色LED19のカソードをツェナーダイオー
ド22を介して緑色LED16のアノードに接続し、緑
色LED16のカソードをツェナーダイオード23を介
して入力端子8に接続するようにしたものである。この
例の場合には、FET15と、発光ダイオード16と、
ツェナーダイオード23とにより第1の確認回路が形成
され、また、FET18と、発光ダイオード19及び1
6と、ツェナーダイオード22及び23とにより第2の
確認回路が形成される。In addition, in the modification shown in FIG. 6B, the cathode of the red LED 19 is connected to the anode of the green LED 16 via the Zener diode 22 in the example shown in FIG. It is designed to be connected to the input terminal 8. In this example, the FET 15, the light emitting diode 16,
A first confirmation circuit is formed by the Zener diode 23, and the FET 18 and the light emitting diodes 19 and 1
6 and Zener diodes 22 and 23 form a second verification circuit.
【0040】したがって、図6(B)の例においては、
電圧E1は、FET15のオン電圧と、緑色LED16
のオン電圧と、ツェナーダイオード23のツェナー電圧
Vz4との和にほぼ等しく、電圧E2はFET18のオ
ン電圧と、赤色LED19のオン電圧と、ツェナーダイ
オード22のツェナー電圧Vz5と、緑色LED16の
オン電圧と、ツェナーダイオード23のツェナー電圧V
z4との和にほぼ等しい。Therefore, in the example of FIG. 6(B),
The voltage E1 is the ON voltage of the FET 15 and the green LED 16.
The voltage E2 is approximately equal to the sum of the on voltage of the FET 18, the on voltage of the red LED 19, the Zener voltage Vz5 of the Zener diode 22, and the on voltage of the green LED 16. , Zener voltage V of Zener diode 23
Almost equal to the sum with z4.
【0041】次に、この発明の第2実施例につき、図7
及び図8を参照して説明する。この例は、回路の電源電
圧が4区分の電圧の範囲の何れに存在するのかを確認す
る簡易テスタに、この発明を適用したものである。Next, regarding the second embodiment of the present invention, FIG.
This will be explained with reference to FIG. In this example, the present invention is applied to a simple tester for checking in which of four voltage ranges the power supply voltage of a circuit exists.
【0042】図7は、この例の簡易テスタの電圧確認回
路を示す。この図7において、入力端子11と入力端子
8との間には、前記の確認回路と同様に構成された3つ
の確認回路が並列に接続される。すなわち、ゲートとソ
ースとを短絡接続したNチャンネルの接合形FET24
A、LED25A及びツェナーダイオード26Aが直列
に接続されて第1の確認回路が形成され、その第1の確
認回路と並列に接合形FET24B、LED25B及び
ツェナーダイオード26Bを直列接続してなる第2の確
認回路が接続され、これらの確認回路と並列に接合形F
ET24C、LED25C及びツェナーダイオード26
Cを直列接続してなる第3の確認回路が接続される。そ
して、入力端子8と入力端子11との間に電源電圧とし
ての入力電圧Eが印加される。FIG. 7 shows a voltage confirmation circuit of the simple tester of this example. In FIG. 7, three confirmation circuits configured similarly to the above-described confirmation circuit are connected in parallel between input terminal 11 and input terminal 8. In other words, an N-channel junction FET 24 whose gate and source are short-circuited.
A. A first confirmation circuit is formed by connecting an LED 25A and a Zener diode 26A in series, and a second confirmation circuit is formed by connecting a junction FET 24B, an LED 25B, and a Zener diode 26B in series in parallel with the first confirmation circuit. The circuits are connected and the junction type F is connected in parallel with these checking circuits.
ET24C, LED25C and Zener diode 26
A third confirmation circuit formed by connecting C in series is connected. Then, an input voltage E as a power supply voltage is applied between the input terminal 8 and the input terminal 11.
【0043】この例において、電源電圧が例えば+5V
か、+12Vか、さらにこれより高いかを確認する簡易
テスタの場合を例にとって以下に説明する。In this example, the power supply voltage is, for example, +5V.
An example of a simple tester used to check whether the voltage is +12V, +12V, or higher will be explained below.
【0044】例えばFET24A〜24Cのオン電圧を
0.5V、LED25A〜25Cのオン電圧を1.8V
とし、ツェナーダイオード26A、26B及び26Cの
ツェナー電圧をそれぞれVza,Vzb,及びVzcと
したとき、マージンを0.5Vに設定したとして、本例
のツェナー電圧は次のように決定される。For example, the ON voltage of FETs 24A to 24C is 0.5V, and the ON voltage of LEDs 25A to 25C is 1.8V.
When the Zener voltages of the Zener diodes 26A, 26B, and 26C are respectively Vza, Vzb, and Vzc, and the margin is set to 0.5V, the Zener voltage in this example is determined as follows.
【0045】
Vza=5−(0.5+1.8)−0.5=2
.2[V] Vzb=12−(0.5+1.8)
−0.5=9.2[V] Vzc=13−(0.
5+1.8)−0.5=10.2[V]このように各ツ
ェナー電圧を設定すると、図8に示すように、入力電圧
Eが4.5Vの近傍であるE3に達すると、電流Iが増
加してLED25Aが点灯し、入力電圧Eが11.5V
の近傍であるE4に達すると、電流Iが増加してLED
25Bが点灯し、入力電圧Eが12.5Vの近傍である
E5に達すると、電流Iがさらに増加してLED25C
が点灯する。Vza=5-(0.5+1.8)-0.5=2
.. 2[V] Vzb=12-(0.5+1.8)
-0.5=9.2 [V] Vzc=13-(0.
5+1.8)-0.5=10.2[V] If each Zener voltage is set in this way, as shown in FIG. 8, when the input voltage E reaches E3, which is near 4.5V, the current I increases, LED25A lights up, and the input voltage E becomes 11.5V.
When reaching E4, which is near , the current I increases and the LED
When LED 25B lights up and the input voltage E reaches E5, which is around 12.5V, the current I increases further and LED 25C
lights up.
【0046】したがって、図7の簡易テスタによれば、
LED25A〜25Cの点灯の状態によって、入力電圧
Eが、0V〜+5V、+5V〜+11.5V、+11.
5V〜+12.5V,+12.5V以上、の4区分の何
れに存在するのかを容易に確認することができる。Therefore, according to the simple tester of FIG.
Depending on the lighting state of the LEDs 25A to 25C, the input voltage E changes from 0V to +5V, +5V to +11.5V, +11.
It is possible to easily confirm in which of the four categories, 5V to +12.5V, and +12.5V or more, the voltage exists.
【0047】次に、この発明の第3実施例を図9(A)
及び(B)を参照して説明する。本例は複数種類の電源
出力を同時に確認する電圧確認回路である。Next, a third embodiment of the present invention is shown in FIG. 9(A).
This will be explained with reference to and (B). This example is a voltage confirmation circuit that simultaneously confirms multiple types of power outputs.
【0048】図9(A)の例において、入力端子11に
それぞれゲートとソースとが短絡接続された接合形FE
T27及び28のドレインを接続し、一方のFET27
のソースを2個の緑色LED30及び31を介して入力
端子8に接続し、他方のFET28のソースを赤色LE
D29を介してその一方のFET27のソースに接続す
る。低電圧のツェナーダイオードは特性が良くないため
、入力端子8側の緑色LED31をツェナーダイオード
の代わりに使用している。入力端子8と11との間に入
力電圧Eを印加するのは上述の例と同じである。In the example of FIG. 9(A), a junction type FE whose gate and source are short-circuited to the input terminal 11 is connected.
Connect the drains of T27 and 28, and connect one FET27
The source of the FET 28 is connected to the input terminal 8 through the two green LEDs 30 and 31, and the source of the other FET 28 is connected to the red LED.
It is connected to the source of one of the FETs 27 via D29. Since a low voltage Zener diode does not have good characteristics, the green LED 31 on the input terminal 8 side is used in place of the Zener diode. Applying the input voltage E between the input terminals 8 and 11 is the same as in the above example.
【0049】また、図9(B)の例においては、FET
27のソースに接続された緑色LED30のカソードを
、それぞれツェナー電圧が5.1V程度のツェナーダイ
オード32及び33を介して入力端子8に接続する。
他の構成は図9(A)例と同一である。Furthermore, in the example of FIG. 9(B), the FET
The cathode of the green LED 30 connected to the source of the LED 27 is connected to the input terminal 8 via Zener diodes 32 and 33, each having a Zener voltage of about 5.1V. The other configurations are the same as the example in FIG. 9(A).
【0050】FETのオン電圧を0.5V、LEDのオ
ン電圧を1.8Vとすると、図9(A)の例の回路によ
れば、入力電圧Eが4.1V程度になると緑色LED3
0及び31が点灯し、入力電圧Eが5.9V程度になる
と赤色LED29が点灯する。同様に、図9(B)の回
路によれば、入力電圧Eが11.5V程度になると緑色
LED30が点灯し、入力電圧Eが14.3V程度にな
ると赤色LED29が点灯する。Assuming that the FET on-voltage is 0.5V and the LED on-voltage is 1.8V, according to the example circuit of FIG. 9(A), when the input voltage E becomes about 4.1V, the green LED3
0 and 31 are lit, and when the input voltage E reaches approximately 5.9V, the red LED 29 is lit. Similarly, according to the circuit shown in FIG. 9B, the green LED 30 lights up when the input voltage E reaches about 11.5V, and the red LED 29 lights up when the input voltage E reaches about 14.3V.
【0051】例えば図9(A)の回路を1個、図9(B
)の回路を入力端子の極性を変えて2個使用することに
より、+5V、+12V及び−12Vの3種類の電源電
圧の状態を簡単な構成の回路で且つ専用の電源を使用す
ることなく確認することができる。このような電圧確認
回路は、振動試験、たたき試験、絶縁・耐圧試験又はエ
ージング等の後の電源装置の状態を試験する場合のチェ
ッカーとして有効に使用することができる。For example, one circuit of FIG. 9(A) and one circuit of FIG. 9(B)
) By using two circuits with different polarities of the input terminals, the status of three types of power supply voltages, +5V, +12V, and -12V, can be checked with a simple circuit configuration and without using a dedicated power supply. be able to. Such a voltage checking circuit can be effectively used as a checker when testing the state of a power supply device after a vibration test, a knock test, an insulation/voltage test, or aging.
【0052】なお、以上の実施例において、FET、L
ED、ツェナーダイオードの接続の順序は任意であり、
ツェナーダイオードの代わりにスイッチングダイオード
又は通常のダイオード等を使用することもできる。[0052] In the above embodiment, the FET, L
The connection order of ED and Zener diode is arbitrary.
A switching diode or a normal diode or the like can also be used instead of the Zener diode.
【0053】また、上述の実施例では接合形FETとし
てNチャンネルのFETが使用されているが、Pチャン
ネルの接合形FETも同様に使用することができること
は明らかである。Furthermore, although an N-channel FET is used as the junction FET in the above embodiment, it is clear that a P-channel junction FET can be used as well.
【0054】[0054]
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
、少ない部品点数で、かつ、専用の電源を使用すること
なく入力電圧の大きさの程度を確認できる。As described above, according to the present invention, it is possible to check the magnitude of input voltage with a small number of parts and without using a dedicated power supply.
【0055】また、ツェナーダイオードをFETと発光
ダイオードに直列に接続した場合には、確認する入力電
圧の範囲を、そのツェナー電圧を選定することにより任
意に設定することができる。Furthermore, when a Zener diode is connected in series with the FET and the light emitting diode, the range of input voltage to be checked can be arbitrarily set by selecting the Zener voltage.
【0056】さらに、入力電圧を印加する端子間に複数
の確認回路を接続した場合には、これら各確認回路の発
光ダイオードの発光開始電圧を異ならせることによって
、入力電圧が所定の範囲内にあるか否かを容易に確認す
ることができる。Furthermore, when a plurality of confirmation circuits are connected between the terminals to which input voltage is applied, the light emission starting voltage of the light emitting diode of each of these confirmation circuits is made different to ensure that the input voltage is within a predetermined range. You can easily check whether or not.
【図1】この発明の実施例の基本ユニットを示す構成図
である。FIG. 1 is a configuration diagram showing a basic unit of an embodiment of the present invention.
【図2】図1の基本ユニットの特性を説明するための図
である。FIG. 2 is a diagram for explaining characteristics of the basic unit in FIG. 1;
【図3】この発明の改良例を説明するための特性図であ
る。FIG. 3 is a characteristic diagram for explaining an improved example of the present invention.
【図4】この発明による電圧確認回路の一実施例を示す
回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing an embodiment of a voltage confirmation circuit according to the present invention.
【図5】図4の例の特性を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing characteristics of the example of FIG. 4;
【図6】図4の例の変形例の回路図である。FIG. 6 is a circuit diagram of a modification of the example of FIG. 4;
【図7】この発明の他の実施例の回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram of another embodiment of the invention.
【図8】図7の例の特性を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing characteristics of the example of FIG. 7;
【図9】この発明の他の実施例の回路図である。FIG. 9 is a circuit diagram of another embodiment of the invention.
【図10】従来例の回路図である。FIG. 10 is a circuit diagram of a conventional example.
9 LED 10 接合形FET 15 接合形FET 16 緑色LED 17 ツェナーダイオード 18 接合形LED 19 赤色LED 20 ツェナーダイオード 9 LED 10 Junction type FET 15 Junction type FET 16 Green LED 17 Zener diode 18 Junction type LED 19 Red LED 20 Zener diode
Claims (4)
うに接続された接合形FETと、発光ダイオードとを直
列に接続し、これら接合形FETと発光ダイオードとの
直列回路の一端及び他端に被検電圧を印加し、前記発光
ダイオードにより前記被検電圧を確認するようにした電
圧確認回路。Claim 1: A junction FET connected so that the gate-source voltage is constant and a light emitting diode are connected in series, and one end and the other end of the series circuit of the junction FET and the light emitting diode are connected in series. A voltage confirmation circuit that applies a voltage to be tested and confirms the voltage to be tested using the light emitting diode.
に対して直列にツェナーダイオードを接続し、この直列
回路の両端間に被検電圧を印加するようにした請求項1
記載の電圧確認回路。2. A Zener diode is connected in series with the junction FET and the light emitting diode, and a voltage to be tested is applied across the series circuit.
Voltage confirmation circuit described.
うに接続された接合形FETと発光ダイオードとを直列
に接続して形成された確認回路を、複数個、2個の端子
の間にそれぞれ接続し、この2個の端子間に被検電圧を
印加し、前記複数の確認回路の発光ダイオードの点灯、
非点灯の状態により前記被検電圧を確認するようにした
電圧確認回路。3. A plurality of confirmation circuits each formed by connecting a junction FET and a light emitting diode in series, which are connected so that the gate-source voltage is constant, are connected between two terminals, respectively. and applying a voltage to be tested between these two terminals, lighting up the light emitting diodes of the plurality of confirmation circuits.
A voltage confirmation circuit configured to confirm the voltage to be tested depending on the non-lighting state.
T及び発光ダイオードに対して直列に接続されたツェナ
ーダイオードを含むことを特徴とする請求項3記載の電
圧確認回路。4. The plurality of confirmation circuits are connected to the junction type FE.
4. The voltage checking circuit according to claim 3, further comprising a Zener diode connected in series with the T and the light emitting diode.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16756091A JPH04364476A (en) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | Voltage confirmation circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16756091A JPH04364476A (en) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | Voltage confirmation circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04364476A true JPH04364476A (en) | 1992-12-16 |
Family
ID=15851994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16756091A Pending JPH04364476A (en) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | Voltage confirmation circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04364476A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6281686B1 (en) * | 1997-12-27 | 2001-08-28 | Arnold Hawkins, Sr. | Nonintrusive power and continuity testing tools |
JP2008026123A (en) * | 2006-07-20 | 2008-02-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor device |
JP2011521266A (en) * | 2008-05-23 | 2011-07-21 | フィッシャー コントロールズ インターナショナル エルエルシー | Optical isolator multi-voltage detection circuit |
-
1991
- 1991-06-12 JP JP16756091A patent/JPH04364476A/en active Pending
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