JPH04359856A - 放射線モニタ - Google Patents

放射線モニタ

Info

Publication number
JPH04359856A
JPH04359856A JP3133906A JP13390691A JPH04359856A JP H04359856 A JPH04359856 A JP H04359856A JP 3133906 A JP3133906 A JP 3133906A JP 13390691 A JP13390691 A JP 13390691A JP H04359856 A JPH04359856 A JP H04359856A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
space
monitor
electrode
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3133906A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2728986B2 (ja
Inventor
Hiroshi Kikuchi
宏 菊地
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3133906A priority Critical patent/JP2728986B2/ja
Priority to US07/894,637 priority patent/US5326976A/en
Publication of JPH04359856A publication Critical patent/JPH04359856A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2728986B2 publication Critical patent/JP2728986B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J47/00Tubes for determining the presence, intensity, density or energy of radiation or particles
    • H01J47/02Ionisation chambers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J47/00Tubes for determining the presence, intensity, density or energy of radiation or particles
    • H01J47/001Details
    • H01J47/002Vessels or containers

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、放射線治療装置や非
破壊検査用放射線機器などの放射線発生装置から発生す
る放射線の量を周囲の気温や気圧に影響されることなく
実時間でモニタすることのできる放射線モニタに関する
【0002】
【従来の技術】図6は医療用ライナックとして使用され
る放射線発生装置を示したものである。図において、符
号51は固定架台、52は回転架台で、回転架台52は
固定架台51に対してある仮想の回転軸を中心に回転す
るように設置され、符号53はその回転軸である。また
、符号54はアイソセンタと呼ばれる放射線治療の中心
点と考えられる仮想の点で、回転軸53と後述する放射
線中心軸21との交点である。
【0003】回転架台52の中には、放射線を発生させ
るための装置が内蔵されている。その詳細を説明すると
、符号55は電子を発生する電子銃、56は電子を高い
エネルギーに加速する加速管、57は加速された電子を
通過させるための内側が真空のビ−ムダクト、58は電
子を偏向させるための偏向電極石、59はその電子の軌
跡、そして、符号60は電子が衝突することによりX線
を発生する金属製のタ−ゲットである。なお、電子線治
療の場合、ターゲット60の位置にはタ−ゲット60の
代わりに電子を散乱させるスキャッタラが設置される。
【0004】符号61はターゲット60で発生するX線
の広がりを制限するプライマリコリメ−タ、62はタ−
ゲット60で発生したX線の広がりに対する強度分布を
平坦にするための平坦化フィルタで、電子線治療のため
符合60がスキャッタラの場合には、符号62が二次ス
キッタラとなる。符号63はX線または電子線の強度を
モニタするための放射線モニタで、本願発明の中心とな
るものである。
【0005】符号64および65は、X線の広がりを治
療対象の患部の大きさに応じて制限するコリメートブロ
ックで、図示するようにコリメートブロック64は、6
4a,64bのように1対のブロックで構成され、コリ
メートブロック65はコリメートブロック64とは直角
方向に位置しており、図示されていないが、コリメート
ブロック64と同様に1対のブロックから構成されてい
る。
【0006】ターゲット60から垂直方向に仮想の中心
軸を想定し、これを線束中心軸21と呼び、プライマリ
コリメータ61により制限された放射線の広がりが放射
線20である。また、符号66は患者用の治療台、67
は患者が横臥する天板、68は治療を受ける患者である
【0007】また、図7は放射線モニタ63の一例を示
す透過形平行平板チャンバであって、その断面図を示す
。図において、符号1は放射線によって気体が電離され
る電離空間、2は平行平板の一方を形成する電極で、薄
い金属あるいは金属を蒸着した薄いシ−トからなる高圧
電極、3は電離したイオン又は電子を収集する集電極で
、高電圧電極2と同様の材質からなる。また、符号4は
2つの電極2および3を支持し、かつ、絶縁するための
内側を円柱あるいは角柱形に打ち抜かれた枠体である。 そして、この電極2,3と枠体4とから閉鎖された電離
空間1が構成されている。
【0008】符号5は電極2および3を枠体4にそれぞ
れ固定するための固定金具、7はその固定用のビスであ
る。符合28は電極2および3を保護するための薄い金
属カバーで通常ア−ス電極、6は金属カバ−28と枠体
4で形成される空間を放射線モニタの外部の空間と気体
の出入りを遮断する場合に用いられるシ−ル材である。 符合8は外部の回路から高電圧を供給するための高電圧
用コネクタ、9は集電極3に保護されたイオン又は電子
を電離電流として取り出すための集電極用コネクタであ
る。
【0009】図8は、放射線モニタ63の他の実施例を
示す透過形平行平板チャンバであるが、図7の実施例と
異なって枠体4は電極2および3の外側にもリジットな
板として構成され、外部の気温・気圧によらず、電離空
間1の体積は変化しない。また、電離空間1は外部の気
体とは遮断されている。
【0010】図9は、放射線モニタ63の外部回路との
関連を説明した概略図である。図において、符号71は
高電圧電源、72は電離電源を電圧に変換する電流電圧
コンバ−タ、73は増幅器、74は放射線量を示す表示
器、75はモニタされた放射線量により医療用ライナッ
クの動作をフィ−ドバック制御するための制御系である
【0011】次に動作について説明する。図6において
放射線治療の場合、患者68はその患部がアイソセンタ
54に位置するように治療台66および天板67によっ
て設定される。一方、治療用の放射線は、電子銃55か
ら発した電子が加速管56により所定のエネルギ−にま
で加速され、真空のビ−ムダクト57を偏向電磁石58
により軌跡59のように偏向させられ、タ−ゲット60
に入射する。
【0012】その結果、タ−ゲット60からX線が発生
するが、このX線はプライマリコリメ−タ61により放
射線20に制御される。この放射線20は線束中心軸2
1に軸対称の強度分布を示しており、治療の都合上、放
射線20の強度分布を一様にするため、平坦化フィルタ
62によって平坦化される。治療計画上、電子線による
治療を行う場合には、タ−ゲット60の位置に電子線散
乱用のスキャッタラを設置し、平坦化フィルタ62の位
置に二次スキャッタラをおき、電子線の分布を放射線2
0の領域で一様にする。このようにして放射線20は患
者68の患部を照射するが、この際、患部の大きさによ
りコリメ−トブロック64および65の対のブロックに
より所定の領域に照射されるようにする。
【0013】また、電子線治療の場合には、さらにコリ
メ−トブロック65から患者側に電子線通過領域を制限
するアプリケ−タ( 図示せず)を用いることもある。 放射線20は患者68の体軸の周囲から照射できるよう
に上記放射線発生機構を回転台52に固定し、固定台5
1に対して回転軸53の周囲を回転架台52が回転する
ように構成されている。
【0014】以上のようにして放射線治療が行われるの
であるが、このとき患部68に対して放射線20がどの
程度照射されているか、照射に実時間でモニタしていな
ければならない。この放射線20の量を検出するのが放
射線モニタ63である。
【0015】図7は放射線モニタ63の一実施例を示し
ており、図において、高圧電極2と集電極3が対向して
置かれる、いわゆる透過形平行板チャンバを形成し、こ
の両電極2,3を枠体4中を各々の電極8および9と接
続され、金属カバー28は枠体4に固定金具5およびビ
ス7で固定され、電離空間1および金属カバー28とシ
ール材6により機密な空間を形成する。
【0016】放射線は気体中を通過する際気体を電離す
る。そこで、高圧電極2に電離したイオンおよび電子を
充分に電極に移動させるに足る高電圧を印加しておき、
集電極3は充分に小さいインピ−タンスを介してア−ス
に接続すれば、この両電極2,3間に電界が生じ、放射
線により電離されたイオンおよび電子は対極となる電極
に引き付けられる。集電極3はイオンまたは電子の何れ
かを保護し、電離電流として放射線量の値としてモニタ
することが可能となる。
【0017】この経緯は図9に示され、高電圧電源71
により高電圧用コネクタ8を介し、高圧電極2に高電圧
が印加される。集電極3は集電極用コネクタ9を介し、
電流電圧コンバ−タ72の低い入力インピ−タンスによ
りア−スに接続されており、電離電流は電流電圧コンバ
−タ72により電圧に変換され、増幅器73で所定の値
に増幅され、表示器74に放射線量を表示するとともに
制御系75の入力信号となる。このとき、電離電流と放
射線量との間には次のような関係がある。
【0018】
【数1】
【0019】ここで、iは電離電流、kは比例定数、D
は放射線の強度、Pは電離空間の気圧、Tは電離空間の
温度で絶対温度で表した数値、Vは電離されている領域
の体積である。
【0020】■式は電離電流が厳密に放射線強度を代表
しうるものであることを示しているが、同時に電離電流
は気圧や気温に影響されることを示している。そのため
、図7の如く気密の空間を構成することにより気圧・気
温の影響を少しでも避けようとしている。
【0021】また、図8はさらに厳密に気圧・気温の影
響を避ける工夫がされ、枠体4はセラミックのような固
くて軽い材質で構成し、内部にできる空間を気密とし、
この空間内に高圧電極2と集電極3を透過形平行平板の
チャンバを構成する様に配置される。
【0022】この場合、枠体4の外部の気圧・気温に関
わらず、内部の密封された空間の体積は変化しない。密
封された空間で体積の変化がない場合には、■式のP/
Tは一定となるので、事実上、この線量モニタは外部の
気圧・気温にかかわらず、電離電流は放射線量に比例し
た値となり得るのである。
【0023】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の放
射線モニタでは、図7の場合、金属カバ−28と枠体4
により構成される空間は気密であるが、電離空間1では
■式のVが変化しないため、PV/T  が一定になら
ず、したがって、外部の気圧・気温の影響を受け、また
、図8の場合には、セラミックなどの軽い物質に吸収さ
れる程度の低いX線の場合には、放射線モニタとして使
用可能であるが、電子線治療の場合には、放射線モニタ
自体での線量の吸収が無視できず、電子線治療ができな
いという課題があった。
【0024】この発明は、かかる課題を解決するために
提案されたもので、周囲の圧力および温度に影響されな
い電離電流を取り出すことができる等の放射線モニタを
提供することを目的とする。
【0025】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
る放射線モニタは、放射線の発生により電離電流が発生
する電離空間が、絶縁材よりなる枠体と、対向する高圧
電極と、集電極とから放射線が通過する全域に等しい寸
法に構成したものである。また、請求項2に係る放射線
モニタは、放射線の発生により電離電流が発生する電離
空間が、絶縁材からなる枠体と、対向する2枚の高圧電
極と、この高圧電極間に位置する集電極とで構成したも
のである。また、請求項3に係る放射線モニタは、放射
線の発生により電離電流が発生する電離空間の集電極を
複数分割して構成したものである。また、請求項4に係
る放射線モニタは、放射線の発生により電離電流が発生
する電離空間内の圧力を陽圧若しくは負圧になるように
構成したものである。
【0026】
【作用】請求項1に係る放射線モニタにおいては、電離
空間が絶縁材よりなる枠体と、対向する高圧電極と集電
極とから放射線が通過する全域に等しい寸法に構成され
ていることにより、電離空間内に略完全なボイルシャル
ルの法則が適用され、周囲の圧力および温度に影響され
ない電離電流を取り出すことができる。
【0027】また、請求項2に係る放射線モニタにおい
ては、集電極の両側に電離空間を構成したので、2倍の
電離電流を取り出すことができ、これにともなって、放
射線量の検出感度も約2倍になり測定精度が向上する。
【0028】また、請求項3に係る放射線モニタにおい
ては、集電極を複数分割形の集電極としたので、放射線
分布の異なった領域の電離電流を取り出すことができ、
放射線量の分布をより詳しくモニタすることができる。
【0029】また、請求項4に係る放射線モニタにおい
ては、電離空間内の圧力が陽圧若しくは負圧になってい
るので、周囲の温度や気圧によってX線や電子などの線
量モニタが変化しにくい。
【0030】
【実施例】図1aはこの発明による放射線モニタの縦断
面図、図1bは放射線モニタの平面図である。図におい
て、1は電離空間、2は高圧電極、3は集電極、4は枠
体、5は電極を枠体4に固定する固定金具、6は電離空
間を気密にするためのシール材、7はその固定ビス、8
は高電圧電極用のコネクタ、9は集電極用のコネクタ、
11は高電圧用リード線、12は集電極用リード線、1
3は高圧電極2とアースの間の沿面距離を長くするため
の溝、14は高圧電極2と集電極3との間の漏洩電流を
遮断するための保護用アース電極で、枠体4の外周に取
り付けられている。
【0031】また、符合20は線量モニタを通過する放
射線、21は線束中心軸である。図3においては、図1
a,1bと同様の構成であるが、3a,3bは絶縁性の
シートの上に線束中心軸に軸対称に金属が蒸着され、そ
れぞれ集電極となっており、9a,9bはそれぞれ集電
極3a,3bにより捕獲された電離電流を取り出すため
のコネクタである。
【0032】また、図5においては、22,23は上記
に示した放射線モニタを線束中心軸に沿って配置したも
ので、その組み合わせは目的により図1a,1bないし
図4のいずれの組み合わせでもよい。符合24ないし2
7は高電圧電極用および集電極用のケーブルである。符
合28は放射線モニタを外部から保護するための金属カ
バー、29は線量モニタ22,23および保護カバー2
8の固定枠である。
【0033】続いて、実施例の作用、動作について説明
する。図1bは放射線源からみた放射線モニタの平面図
であるが、高電圧電極2および集電極3は枠体4に固定
金具5を介して固定されており、シール材6により内部
の電離空間1は気密構造となっている。図1bの破線に
より示された内部がこの電離空間1である。これを図1
aで見ると枠体4の内部の電離空間1を構成する部分は
、プライマリコリメータ61により制限された放射線2
0の線錐に沿った構造としている。
【0034】高圧電極2と集電極3および枠体4により
構成された電離空間1は放射線20が発生すると電離空
間1内の全ての気体の分子が電離の対象となる。これを
図7と比較するとわかるように図7では、気密にされた
空間は電離空間1の他に放射線20の通過領域内で金属
カバー28と高圧電極2又は集電極3の間にある空間で
電離されても電離電流に寄与しない領域および放射線2
0の外側であって気密されている電離電流の生じない領
域の3つの領域がある。
【0035】気密にされた内部の空間では、■式のうち
、■式の関係が成立する( ボイルシャールの法則) 
。 すなわち、前述の■式に対し、
【0036】
【数2】
【0037】である。
【0038】図7の場合、Vは気密の空間であるので、
電離空間Vi、その他の空間をVeとすると■式は次の
ようになる。すなわち
【0039】
【数3】
【0040】一方、図7の気密空間内の電離空間1は気
密空間内の気圧・気温によらず一定である。すなわち、
【0041】
【数4】
【0042】の状態(気蜜空間内では、空間内の気体分
子・電離等は相互に平衡状態にあり偏圧を受けない)で
ある。したがって、■式を成立させるためにはVeがP
およびTに応じて変化し■式を保つのである。この結果
のViを■式にあてはめると
【0043】
【数5】
【0044】となり、これを■式に代入した場合の電離
電流は気圧・気温に依存する結果となる。
【0045】図1aよりこの電離空間1を鑑みると気蜜
空間がそのまま電離空間1に一致している。したがって
、この電離空間の体積をVsとすると■式は、
【004
6】
【数6】
【0047】となり、これを■式に代入すれば、電離電
流iは気圧・気温の影響を受けず、放射線量Dに比例し
た電離電流iを得ることができるのである。また、電離
空間内の気体の分子の総量を気圧・気温により変化させ
ないことがポイントである。この高圧電極2および集電
極3は、共に薄い金属又は金属を蒸着した絶縁シ−トに
より形成されているため、放射線がXである場合には勿
論、電子線等の粒子線に対しても適用でき、図8で生じ
た問題点も合わせて解消することができるのである。
【0048】ところで、電離空間1は外気に影響されな
いが、外側は外気の状態により影響を受ける。それは主
に、湿度である。湿度が高くなって来ると枠体4の外面
を電流が流れやすくなる状態が生じる、いわゆる沿面漏
洩電流である。高圧電極2と集電極3の間にこの漏洩電
流が流れると正しく放射線のモニタとならなくなる。そ
こで、両電極2及び3の間に保護用ア−ス電極14を枠
体4に接触させて取り付けておく。
【0049】これにより、高圧電極2からの沿面の電界
により生じる漏洩電流は、ア−スに流れ込み集電極3に
達しない構造とすることができる。さらに、枠体4に溝
13を掘ることにより高電極からア−ス電極14まで等
価的に沿面の距離を長くすることができるので、漏洩電
流を生じにくくすることができる。溝13は一本でなく
複数本あってもよい。
【0050】次に、図2について説明する。図2は図1
の応用例である。電離空間1を構成する2枚の電極は双
方ともに高圧電極2である。この気蜜空間内に集電極3
を保持させ、枠体4の内部をリ−ド線12を通し、シ−
ル材6により気密を伴って集電極用コネクタ9に接続す
る。勿論、高圧電極用コネクタ8からリ−ド線11によ
り2枚の高圧電極2に高電圧が供給される。
【0051】このようにすると集電極3の両側に電離空
間が形成されることになるので、図1aの場合よりも約
2倍の電離電流を得ることができる。したがって、放射
線量の検出感度が約2倍になり測定精度を向上させるこ
とができるのである。
【0052】さらに、図3の場合は、集電極を絶縁シ−
ト上に金属を蒸着したものを用いたもので、図に示すよ
うに蒸着面パタ−ンを用意して3a,3bの2つの電極
を構成する。これにより放射線分布の異なった領域の電
離電流を独立にコネクタ9a,9bを介して取り出すこ
とができる。
【0053】このそれぞれの電離電流を同時にモニタす
ることにより、放射線分布の均一化の程度がモニタする
ことができ、両者の差をフィ−ドバックして放射線発生
装置の動作状態を安定化制御するための信号として用い
ることができる。この分割電極間隔を十分小さくするこ
とにより、それぞれの電離空間に■式を近似的に成立さ
せることができるので、この場合にも気圧・気温の影響
を殆ど受けない放射線量の分布モニタとして使用するこ
とができる。
【0054】図3では集電極を3a,3bに分割したが
、線束中心軸2に対して軸対称に4分割する(線束中心
軸周囲に90°ずつ区切る)ことも可能であり、放射線
量の分布をより詳しくモニタすることができる。
【0055】図4はさらに、電離空間1を構成する気密
空間の気圧を通常使用する装置の雰囲気の気圧に対して
陽圧にする事を実施した例である。この事により電離空
間を構成する2枚の電極2,3は張力をもって張った状
態にあり、外部の気圧・気温が変化しても常に内部が陽
圧状態にしておく。このようにすると電極の形状は、や
やおわん形をして電離空間1の内部の電位分布が安定し
、放射線量モニタ値も安定する。
【0056】もし、気密空間の内外の気圧が通常使用状
態で略等しいと、気圧・気温の関係で気密空間の気圧の
外部の気圧に対する相対的圧力関係が陽圧になったり、
陰圧になったりするため、電極2,3がふくらんだり、
へこんだりする。このふくらみおよびへこみの境界状態
において、電極は完全に平面にならなくなるため、電離
空間内の電位分布が変形して安定な分布にならなくなり
、電離電流も不安定になる。したがって、図4のように
電離空間1を外部に対して陽圧にしておくと良いのであ
る。
【0057】図4は陽圧にした場合であるが、同様の目
的のためには電離空間を陰圧にしておいてもよい。但し
、電離電流は電離空間1に存在する気体分子の数量に比
例するので、多少とも電離電流量を多くするためには、
陽圧にしたほうが有利であろう。
【0058】図5は実際に放射線にモニタとして組み立
てた例を示す。放射線モニタ22,23を放射線20の
方向に沿って2つ並べ、固定枠29に固定し、さらに金
属カバ−28で外側を、たとえば、放射線モニタ22,
23の外部からの損傷に対する防護ができ、また、高圧
電極に人体や他の構成物が誤って触れるのを防止するこ
とができる。
【0059】図5では2個のモニタ22,23であるが
、これらは図1a,1b〜図4に示すもののいずれの組
み合わせでもよく、また、2個に限定するのではなく3
個以上を並べてもよい。これらにより放射線モニタ63
として医療用ライナックに用いることができる。
【0060】上記の実施例では、X線及び電子線を中心
に説明したが、その他の放射線、即ち、γ線、α線、透
過粒子線等においても同様の効果がある。また、放射線
発生装置は医療ライナックを例として説明したが、非破
壊検査用ライナックやマイクロトン、ベ−タ−トロンC
o 60照射装置、電子ばかりでなくその他の粒子加速
装置等、その他の放射線発生装置においても同様に効果
があり、また、放射線エネルギ−が1MeVに満たさな
い放射線照射装置においても同様な効果を奏する。
【0061】なお、シ−ル材6は一般には有機材料が多
いが、放射線による劣化が心配されるため、固定金具5
をフランジ構造にして気密を保つこともできる。
【0062】
【発明の効果】この発明は、以上説明したように構成さ
れているので、以下に記載されるような効果を奏する。
【0063】電離空間が絶縁材よりなる枠体と、対向す
る高圧電極と集電極とから放射線が通過する全域に等し
い寸法に構成されていることにより、電離空間内に略完
全なボイルシャルルの法則が適用され、周囲の圧力およ
び温度に影響されない電離電流を取り出すことができ、
気圧、気温の補正回路が不要となり、安価に製作される
という効果がある。
【0064】また、集電極の両側に電離空間が構成され
ているので、2倍の電離電流を取り出すことができ、こ
れにともなって、放射線量の検出感度も約2倍になり測
定精度が向上するという効果がある。
【0065】また、集電極が複数分割として構成されて
いるので、放射線分布の異なった領域の電離電流を取り
出すことができ、放射線量の分布をより詳しくモニタす
ることができる。
【0066】また、電離空間内の圧力が陽圧若しくは負
圧になるように構成されているので、周囲の温度や気圧
の変化に対しても、電離空間の内部の電位分布が安定し
、放射線量モニタ値が安定するという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1に係る放射線モニタを示す図である。
【図2】請求項2に係る放射線モニタを示す断面図であ
る。
【図3】請求項3に係る放射線モニタを示す平面図であ
る。
【図4】請求項4に係る放射線モニタを示す断面図であ
る。
【図5】放射線モニタの実施例を示す断面図である。
【図6】放射線モニタを有する放射線発生装置の説明図
である。
【図7】従来の放射線モニタの一例を示す断面図である
【図8】従来の放射線モニタの他の例を示す断面図であ
る。
【図9】放射線量モニタの回路説明図である。
【符号の説明】
1    電離空間 2    高圧電極 3    集電極 4    枠体 20    放射線

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  放射線を発生することができる放射線
    発生装置の放射線モニタにおいて、放射線の発生により
    電離電流が発生する電離空間を、絶縁材からなる枠体と
    、対向する高圧電極および集電極とで放射線が通過する
    全域に等しい寸法に構成したことを特徴とする放射線モ
    ニタ。
  2. 【請求項2】  放射線を発生することができる放射線
    発生装置の放射線モニタにおいて、放射線の発生により
    電離電流が発生する電離空間を、絶縁材からなる枠体と
    、対向する2枚の高圧電極と、この高圧電極間に位置す
    る集電極とで構成したことを特徴とする放射線モニタ。
  3. 【請求項3】  放射線を発生することができる放射線
    発生装置の放射線モニタにおいて、放射線の発生により
    電離電流が発生する電離空間の集電極を複数分割として
    構成してあることを特徴とする放射線モニタ。
  4. 【請求項4】  放射線を発生することができる放射線
    発生装置の放射線モニタにおいて、放射線の発生により
    電離電流が発生する電離空間内の圧力を陽圧若しくは負
    圧としてあることを特徴とする放射線モニタ。
JP3133906A 1991-06-05 1991-06-05 放射線モニタ Expired - Lifetime JP2728986B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3133906A JP2728986B2 (ja) 1991-06-05 1991-06-05 放射線モニタ
US07/894,637 US5326976A (en) 1991-06-05 1992-06-05 Radiation measuring device for measuring doses from a radiotherapy aparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3133906A JP2728986B2 (ja) 1991-06-05 1991-06-05 放射線モニタ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04359856A true JPH04359856A (ja) 1992-12-14
JP2728986B2 JP2728986B2 (ja) 1998-03-18

Family

ID=15115868

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3133906A Expired - Lifetime JP2728986B2 (ja) 1991-06-05 1991-06-05 放射線モニタ

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5326976A (ja)
JP (1) JP2728986B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08248138A (ja) * 1995-02-01 1996-09-27 Keithley Instr Inc エックス線暴露量を測定するためのデュアル・エントランス・ウィンドウ・イオン・チャンバー
JP2002542457A (ja) * 1999-02-19 2002-12-10 ジー エス アイ ゲゼルシャフト フュア シュベールイオーネンフォルシュンク エム ベー ハー イオンビーム走査システム及び該システムの操作方法
JP2010054309A (ja) * 2008-08-27 2010-03-11 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 透過型線量計を用いた放射線治療装置
JP2010156671A (ja) * 2008-12-01 2010-07-15 Mitsubishi Electric Corp 電離箱検出器および線量分布測定装置
JP2011133250A (ja) * 2009-12-22 2011-07-07 Yokogawa Electric Corp 放射線検出装置
JP2013228333A (ja) * 2012-04-26 2013-11-07 Jfe Engineering Corp 粒子線分布の測定方法及び装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5663567A (en) * 1996-05-31 1997-09-02 The Regents Of The University Of California Apparatus for detecting alpha radiation in difficult access areas
US5672878A (en) * 1996-10-24 1997-09-30 Siemens Medical Systems Inc. Ionization chamber having off-passageway measuring electrodes
DE19907207A1 (de) * 1999-02-19 2000-08-31 Schwerionenforsch Gmbh Ionisationskammer für Ionenstrahlen und Verfahren zur Intensitätsüberwachung eines Ionenstrahls
SE530013C2 (sv) * 2006-06-07 2008-02-12 Goeran Wickman Anordning för mätning av absorberad dos i ett joniserande strålfält, samt användning av anordningen
US11633628B2 (en) * 2021-06-21 2023-04-25 Varian Medical Systems, Inc. Monitor for high dose rate electron therapy, system and method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS506677U (ja) * 1973-05-16 1975-01-23
JPS59163585A (ja) * 1983-02-25 1984-09-14 ウエスチングハウス エレクトリック コ−ポレ−ション 電離箱式放射線検出器
JPS6168581A (ja) * 1984-09-10 1986-04-08 エヌ・ベー・フイリツプス・フルーイランペンフアブリケン 電離放射ビームの強度測定装置
JPH0193044A (ja) * 1987-10-01 1989-04-12 Mitsubishi Electric Corp 放射線測定器

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3852610A (en) * 1973-02-26 1974-12-03 Varian Associates Transmission ion chamber
JPS60172155A (ja) * 1984-02-17 1985-09-05 Mitsubishi Electric Corp Bf↓3比例計数管
NL8801937A (nl) * 1988-08-03 1990-03-01 Optische Ind De Oude Delft Nv Dosismeter voor ioniserende straling.

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS506677U (ja) * 1973-05-16 1975-01-23
JPS59163585A (ja) * 1983-02-25 1984-09-14 ウエスチングハウス エレクトリック コ−ポレ−ション 電離箱式放射線検出器
JPS6168581A (ja) * 1984-09-10 1986-04-08 エヌ・ベー・フイリツプス・フルーイランペンフアブリケン 電離放射ビームの強度測定装置
JPH0193044A (ja) * 1987-10-01 1989-04-12 Mitsubishi Electric Corp 放射線測定器

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08248138A (ja) * 1995-02-01 1996-09-27 Keithley Instr Inc エックス線暴露量を測定するためのデュアル・エントランス・ウィンドウ・イオン・チャンバー
JP2002542457A (ja) * 1999-02-19 2002-12-10 ジー エス アイ ゲゼルシャフト フュア シュベールイオーネンフォルシュンク エム ベー ハー イオンビーム走査システム及び該システムの操作方法
JP2010054309A (ja) * 2008-08-27 2010-03-11 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 透過型線量計を用いた放射線治療装置
JP2010156671A (ja) * 2008-12-01 2010-07-15 Mitsubishi Electric Corp 電離箱検出器および線量分布測定装置
JP2011133250A (ja) * 2009-12-22 2011-07-07 Yokogawa Electric Corp 放射線検出装置
US8829459B2 (en) 2009-12-22 2014-09-09 Yokogawa Electric Corporation Radiation detection apparatus
JP2013228333A (ja) * 2012-04-26 2013-11-07 Jfe Engineering Corp 粒子線分布の測定方法及び装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2728986B2 (ja) 1998-03-18
US5326976A (en) 1994-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4435426B2 (ja) イオンビーム用イオン化チャンバーおよびイオンビーム強度をモニターする方法
EP0838844B1 (en) Ionization chamber
JP5270659B2 (ja) ハドロン・ビームをオンラインで線量モニタリングするための装置、その使用、および方法
US9293310B2 (en) Method and apparatus for monitoring a charged particle beam
JPH04359856A (ja) 放射線モニタ
KR20010101202A (ko) 전자빔 다단가속기 구동형 프로우브장치
US9427599B1 (en) Multi-resolution detectors for measuring and controlling a charged particle pencil beam
US11177105B2 (en) X-ray source
JP2661876B2 (ja) プラズマイオン注入装置
US20230241413A1 (en) Dose rate monitor, system and method
RU2688216C1 (ru) Ионизационная камера
Pardo et al. Development and operation of a pixel segmented liquid-filled linear array for radiotherapy quality assurance
CA2163416C (en) Dual entrance window ion chamber for measuring x-ray exposure
JP2008077980A (ja) イオン移動度計およびイオン移動度計測方法
EP0040589B1 (en) A method and a device relating to a transmission ion chamber
US20220314030A1 (en) Asymmetric dual-mode ionization systems and methods
JPH081797B2 (ja) 放射線検出器
Dölling et al. Beam diagnostics for the proton therapy facility PROSCAN
Bewley Collector monitors for electron beams
Arora An investigation of the polarity effects in small field based on the orientation of the micro ionization chamber
KR101984813B1 (ko) 광센서를 포함하는 탄소나노튜브 기반의 x-선 튜브를 이용한 켈로이드 및 피부암 치료용 x-선 근접 치료 장치에 사용되는 초소형 x-선 튜브 시스템 및 이를 포함하는 x-선 근접 치료 시스템
Badano et al. SLIM (Secondary emission monitor for Low Interception Monitoring) an innovative non-destructive beam monitor for the extraction lines of a hadrontherapy center
JPH0857068A (ja) 治療用放射線転送装置
JPS5853141A (ja) イオン源装置
JPS5840822B2 (ja) X線検出器