JPH04356829A - 光中継伝送システムの障害区間標定装置 - Google Patents
光中継伝送システムの障害区間標定装置Info
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- JPH04356829A JPH04356829A JP3150696A JP15069691A JPH04356829A JP H04356829 A JPH04356829 A JP H04356829A JP 3150696 A JP3150696 A JP 3150696A JP 15069691 A JP15069691 A JP 15069691A JP H04356829 A JPH04356829 A JP H04356829A
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Landscapes
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光増幅機能のみを有す
る非再生中継器を用いた光中継伝送システムにおいて、
特性劣化を生じている伝送路あるいは中継器の障害区間
を標定する障害区間標定装置に関する。
る非再生中継器を用いた光中継伝送システムにおいて、
特性劣化を生じている伝送路あるいは中継器の障害区間
を標定する障害区間標定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】非再生中継器を用いた光中継伝送システ
ムの任意の区間で障害が発生した場合には、各中継器に
おける信号再生が行われないので、対向端局では受信信
号中の主信号対雑音電力比(以下、「S/N」という。 )の劣化を引き起こす。
ムの任意の区間で障害が発生した場合には、各中継器に
おける信号再生が行われないので、対向端局では受信信
号中の主信号対雑音電力比(以下、「S/N」という。 )の劣化を引き起こす。
【0003】このような光中継伝送システムの障害区間
標定装置は、一方の端局の送信器から送信したS/N測
定のための信号光を各中継器で折り返し、その端局の受
信器に受信信号として取り込まれる信号光のS/Nを評
価して障害区間を標定する構成になっている。
標定装置は、一方の端局の送信器から送信したS/N測
定のための信号光を各中継器で折り返し、その端局の受
信器に受信信号として取り込まれる信号光のS/Nを評
価して障害区間を標定する構成になっている。
【0004】図7は、従来の障害区間標定装置の構成例
を示すブロック図である。図において、光中継伝送シス
テムの各中継器101 ,102 ,…,10n は、
各伝送方向ごとに光増幅器11,12と、少なくとも一
方の伝送路の信号光を他方の伝送路に折り返す光スイッ
チ13とを備える。なお、所定の中継器の光スイッチ1
3は、端局から送信された制御信号に応じて折り返し経
路を形成するものとし、図では中継器102 の光スイ
ッチ13が折り返し経路を形成しているとする。
を示すブロック図である。図において、光中継伝送シス
テムの各中継器101 ,102 ,…,10n は、
各伝送方向ごとに光増幅器11,12と、少なくとも一
方の伝送路の信号光を他方の伝送路に折り返す光スイッ
チ13とを備える。なお、所定の中継器の光スイッチ1
3は、端局から送信された制御信号に応じて折り返し経
路を形成するものとし、図では中継器102 の光スイ
ッチ13が折り返し経路を形成しているとする。
【0005】一方の端局には送信器20および受信器3
0が設けられ、送信器20の送信回路21で生成された
送信信号光は、伝送路および各中継器を介して中継器1
02 で折り返され、受信器30に受信信号光として受
信される。受信信号光は受信器30のS/N測定器31
に入力されてS/Nが測定される。なお、S/N測定器
31は、代わりに誤り率測定器としてS/Nから一意的
に決まる誤り率を測定する構成としても同様である。
0が設けられ、送信器20の送信回路21で生成された
送信信号光は、伝送路および各中継器を介して中継器1
02 で折り返され、受信器30に受信信号光として受
信される。受信信号光は受信器30のS/N測定器31
に入力されてS/Nが測定される。なお、S/N測定器
31は、代わりに誤り率測定器としてS/Nから一意的
に決まる誤り率を測定する構成としても同様である。
【0006】従来の障害区間標定装置は、このような構
成により各中継器を折り返し点としたときのS/Nある
いは誤り率を測定し、障害がない場合に予想されるそれ
ぞれのS/Nあるいは誤り率と比較し、どの区間の中継
器あるいは伝送路に特性劣化が生じているかを判断して
障害区間を標定していた。
成により各中継器を折り返し点としたときのS/Nある
いは誤り率を測定し、障害がない場合に予想されるそれ
ぞれのS/Nあるいは誤り率と比較し、どの区間の中継
器あるいは伝送路に特性劣化が生じているかを判断して
障害区間を標定していた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光中継伝送
システムでは、各中継器の光増幅器で発生する光雑音に
よるS/Nの劣化に比べて、伝送路でのS/Nは高く誤
り率が極端に低い。したがって、複数の中継器が縦続に
接続される構成において、光伝送系の障害区間標定を行
う場合に、S/Nの測定を行う端局の直近の中継器で折
り返された信号光と、次の中継器で折り返された信号光
とでは、各中継器の光増幅器における光雑音の累積によ
ってそれぞれのS/Nの差は大きく、さらに折り返す中
継器が後段になるほどその差は広がる。すなわち、全区
間を対象とした障害標定を行うには、ダイナミックレン
ジの大きなS/N測定器を使用する必要があった。
システムでは、各中継器の光増幅器で発生する光雑音に
よるS/Nの劣化に比べて、伝送路でのS/Nは高く誤
り率が極端に低い。したがって、複数の中継器が縦続に
接続される構成において、光伝送系の障害区間標定を行
う場合に、S/Nの測定を行う端局の直近の中継器で折
り返された信号光と、次の中継器で折り返された信号光
とでは、各中継器の光増幅器における光雑音の累積によ
ってそれぞれのS/Nの差は大きく、さらに折り返す中
継器が後段になるほどその差は広がる。すなわち、全区
間を対象とした障害標定を行うには、ダイナミックレン
ジの大きなS/N測定器を使用する必要があった。
【0008】また、S/Nが高い場合には誤り率が極め
て低くなるので、S/Nの変化に対して誤り率の変化を
測定するには膨大で非現実的な時間がかかる。さらに、
各中継器の光増幅器で発生する光雑音が所定値以下の場
合には、光雑音の累積による誤り率の劣化を正確に測定
することができず、障害区間の標定を正確に行うことが
できなかった。
て低くなるので、S/Nの変化に対して誤り率の変化を
測定するには膨大で非現実的な時間がかかる。さらに、
各中継器の光増幅器で発生する光雑音が所定値以下の場
合には、光雑音の累積による誤り率の劣化を正確に測定
することができず、障害区間の標定を正確に行うことが
できなかった。
【0009】本発明は、ダイナミックレンジの小さなS
/N測定器の使用を可能とし、また短時間で正確な誤り
率を測定して正確な障害区間の標定を行うことができる
障害区間標定装置を提供することを目的とする。
/N測定器の使用を可能とし、また短時間で正確な誤り
率を測定して正確な障害区間の標定を行うことができる
障害区間標定装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明は
、伝送路上の中継器で折り返されてきた信号光の主信号
対雑音電力比あるいは誤り率を測定し、各折り返し点に
おける特性劣化の有無を評価して障害区間を標定する光
中継伝送システムの障害区間標定装置において、前記中
継器で発生する光雑音と同性質の光雑音を発生し、前記
信号光と結合して前記伝送路に送出する光雑音発生手段
を備えたことを特徴とする。
、伝送路上の中継器で折り返されてきた信号光の主信号
対雑音電力比あるいは誤り率を測定し、各折り返し点に
おける特性劣化の有無を評価して障害区間を標定する光
中継伝送システムの障害区間標定装置において、前記中
継器で発生する光雑音と同性質の光雑音を発生し、前記
信号光と結合して前記伝送路に送出する光雑音発生手段
を備えたことを特徴とする。
【0011】請求項2に記載の発明は、伝送路上の中継
器で折り返されてきた信号光の主信号対雑音電力比ある
いは誤り率を測定し、各折り返し点における特性劣化の
有無を評価して障害区間を標定する光中継伝送システム
の障害区間標定装置において、前記中継器で発生する光
雑音と同性質の光雑音を発生し、前記中継器で折り返さ
れてきた信号光に結合する光雑音発生手段を備えたこと
を特徴とする。
器で折り返されてきた信号光の主信号対雑音電力比ある
いは誤り率を測定し、各折り返し点における特性劣化の
有無を評価して障害区間を標定する光中継伝送システム
の障害区間標定装置において、前記中継器で発生する光
雑音と同性質の光雑音を発生し、前記中継器で折り返さ
れてきた信号光に結合する光雑音発生手段を備えたこと
を特徴とする。
【0012】請求項3に記載の発明は、請求項1または
請求項2に記載の光中継伝送システムの障害区間標定装
置において、信号光を折り返す中継器までの段数に応じ
て、光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさを調整す
る光雑音量調整手段を備えたことを特徴とする。
請求項2に記載の光中継伝送システムの障害区間標定装
置において、信号光を折り返す中継器までの段数に応じ
て、光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさを調整す
る光雑音量調整手段を備えたことを特徴とする。
【0013】請求項4に記載の発明は、請求項1または
請求項2に記載の光中継伝送システムの障害区間標定装
置において、光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさ
を調整し、中継器で折り返されてきた信号光の主信号対
雑音電力比あるいは誤り率を所定の値に制御する光雑音
量調整手段と、前記光雑音調整手段で調整された光雑音
の大きさを検出して障害区間の標定に供する光雑音量検
出手段とを備えたことを特徴とする。
請求項2に記載の光中継伝送システムの障害区間標定装
置において、光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさ
を調整し、中継器で折り返されてきた信号光の主信号対
雑音電力比あるいは誤り率を所定の値に制御する光雑音
量調整手段と、前記光雑音調整手段で調整された光雑音
の大きさを検出して障害区間の標定に供する光雑音量検
出手段とを備えたことを特徴とする。
【0014】請求項5に記載の発明は、伝送路上の中継
器で折り返されてきた信号光の主信号対雑音電力比ある
いは誤り率を測定し、各折り返し点における特性劣化の
有無を評価して障害区間を標定する光中継伝送システム
の障害区間標定装置において、前記中継器で発生する光
雑音と同性質の光雑音を発生し、前記信号光と結合して
前記伝送路に送出する第一の光雑音発生手段と、前記信
号光を折り返す中継器までの段数に応じて、前記第一の
光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさを調整する第
一の光雑音量調整手段と、前記中継器で発生する光雑音
と同性質の光雑音を発生し、前記中継器で折り返されて
きた信号光に結合する第二の光雑音発生手段と、前記信
号光を折り返す中継器までの段数に応じて、前記第二の
光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさを調整する第
二の光雑音量調整手段とを備えたことを特徴とする。
器で折り返されてきた信号光の主信号対雑音電力比ある
いは誤り率を測定し、各折り返し点における特性劣化の
有無を評価して障害区間を標定する光中継伝送システム
の障害区間標定装置において、前記中継器で発生する光
雑音と同性質の光雑音を発生し、前記信号光と結合して
前記伝送路に送出する第一の光雑音発生手段と、前記信
号光を折り返す中継器までの段数に応じて、前記第一の
光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさを調整する第
一の光雑音量調整手段と、前記中継器で発生する光雑音
と同性質の光雑音を発生し、前記中継器で折り返されて
きた信号光に結合する第二の光雑音発生手段と、前記信
号光を折り返す中継器までの段数に応じて、前記第二の
光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさを調整する第
二の光雑音量調整手段とを備えたことを特徴とする。
【0015】請求項6に記載の発明は、伝送路上の中継
器で折り返されてきた信号光の主信号対雑音電力比ある
いは誤り率を測定し、各折り返し点における特性劣化の
有無を評価して障害区間を標定する光中継伝送システム
の障害区間標定装置において、前記中継器で発生する光
雑音と同性質の光雑音を発生し、前記信号光と結合して
前記伝送路に送出する第一の光雑音発生手段と、前記信
号光を折り返す中継器までの段数に応じて、前記第一の
光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさを調整する第
一の光雑音量調整手段と、前記中継器で発生する光雑音
と同性質の光雑音を発生し、前記中継器で折り返されて
きた信号光に結合する第二の光雑音発生手段と、前記第
二の光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさを調整し
、前記中継器で折り返されてきた信号光の主信号対雑音
電力比あるいは誤り率を所定の値に制御する第二の光雑
音量調整手段と、前記第二の光雑音調整手段で調整され
た光雑音の大きさを検出して障害区間の標定に供する光
雑音量検出手段とを備えたことを特徴とする。
器で折り返されてきた信号光の主信号対雑音電力比ある
いは誤り率を測定し、各折り返し点における特性劣化の
有無を評価して障害区間を標定する光中継伝送システム
の障害区間標定装置において、前記中継器で発生する光
雑音と同性質の光雑音を発生し、前記信号光と結合して
前記伝送路に送出する第一の光雑音発生手段と、前記信
号光を折り返す中継器までの段数に応じて、前記第一の
光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさを調整する第
一の光雑音量調整手段と、前記中継器で発生する光雑音
と同性質の光雑音を発生し、前記中継器で折り返されて
きた信号光に結合する第二の光雑音発生手段と、前記第
二の光雑音発生手段で発生する光雑音の大きさを調整し
、前記中継器で折り返されてきた信号光の主信号対雑音
電力比あるいは誤り率を所定の値に制御する第二の光雑
音量調整手段と、前記第二の光雑音調整手段で調整され
た光雑音の大きさを検出して障害区間の標定に供する光
雑音量検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0016】
【作用】請求項1に記載の発明は、伝送路に送出する信
号光に中継器で発生する光雑音と同性質の光雑音を重畳
することにより、各中継器で折り返されてくる信号光の
S/N(主信号対雑音電力比)の差を小さくすることが
できる。すなわち、S/Nの測定によって障害区間を標
定する場合には、光雑音の大きさを調整することにより
、小さなダイナミックレンジの測定器でS/Nの測定を
行うことができる。また、誤り率の測定によって障害区
間を標定する場合には、S/Nの変化に対して誤り率が
変化する領域のS/Nになるように光雑音の大きさを調
整することにより、短時間で正確な誤り率の測定を行う
ことができる。
号光に中継器で発生する光雑音と同性質の光雑音を重畳
することにより、各中継器で折り返されてくる信号光の
S/N(主信号対雑音電力比)の差を小さくすることが
できる。すなわち、S/Nの測定によって障害区間を標
定する場合には、光雑音の大きさを調整することにより
、小さなダイナミックレンジの測定器でS/Nの測定を
行うことができる。また、誤り率の測定によって障害区
間を標定する場合には、S/Nの変化に対して誤り率が
変化する領域のS/Nになるように光雑音の大きさを調
整することにより、短時間で正確な誤り率の測定を行う
ことができる。
【0017】請求項2に記載の発明は、中継器で折り返
されてきた信号光に中継器で発生する光雑音と同性質の
光雑音を重畳することにより、S/Nの差を小さくする
ことができる。すなわち、S/Nの測定によって障害区
間を標定する場合には、光雑音の大きさを調整すること
により、小さなダイナミックレンジの測定器でS/Nの
測定を行うことができる。また、誤り率の測定によって
障害区間を標定する場合には、S/Nの変化に対して誤
り率が変化する領域のS/Nになるように光雑音の大き
さを調整することにより、短時間で正確な誤り率の測定
を行うことができる。
されてきた信号光に中継器で発生する光雑音と同性質の
光雑音を重畳することにより、S/Nの差を小さくする
ことができる。すなわち、S/Nの測定によって障害区
間を標定する場合には、光雑音の大きさを調整すること
により、小さなダイナミックレンジの測定器でS/Nの
測定を行うことができる。また、誤り率の測定によって
障害区間を標定する場合には、S/Nの変化に対して誤
り率が変化する領域のS/Nになるように光雑音の大き
さを調整することにより、短時間で正確な誤り率の測定
を行うことができる。
【0018】請求項3に記載の発明は、信号光を折り返
す中継器までの段数に応じて発生する光雑音の大きさを
調整することにより、S/Nの差を最適値に制御するこ
とができる。すなわち、S/Nの測定によって障害区間
を標定する場合には、さらに小さなダイナミックレンジ
の測定器でS/Nの測定を行うことができる。また、誤
り率の測定によって障害区間を標定する場合には、さら
に短時間で正確な誤り率の測定を行うことができる。
す中継器までの段数に応じて発生する光雑音の大きさを
調整することにより、S/Nの差を最適値に制御するこ
とができる。すなわち、S/Nの測定によって障害区間
を標定する場合には、さらに小さなダイナミックレンジ
の測定器でS/Nの測定を行うことができる。また、誤
り率の測定によって障害区間を標定する場合には、さら
に短時間で正確な誤り率の測定を行うことができる。
【0019】請求項4に記載の発明は、伝送路に送出す
る信号光あるいは中継器で折り返されてきた信号光に中
継器で発生する光雑音と同性質の光雑音を重畳するとき
に、光雑音の大きさを調整して各中継器で折り返されて
くる信号光のS/Nあるいは誤り率を折り返す中継器の
位置に応じた所定の値に制御する。したがって、重畳す
る光雑音の大きさは、折り返し区間における障害の有無
に応じて変化するので、そのときの光雑音の大きさを検
出することにより障害区間を標定することができる。な
お、本発明においても小さなダイナミックレンジの測定
器でS/Nを測定することができ、また、誤り率の測定
によって障害区間を標定する場合には短時間で正確な誤
り率を測定することができる。
る信号光あるいは中継器で折り返されてきた信号光に中
継器で発生する光雑音と同性質の光雑音を重畳するとき
に、光雑音の大きさを調整して各中継器で折り返されて
くる信号光のS/Nあるいは誤り率を折り返す中継器の
位置に応じた所定の値に制御する。したがって、重畳す
る光雑音の大きさは、折り返し区間における障害の有無
に応じて変化するので、そのときの光雑音の大きさを検
出することにより障害区間を標定することができる。な
お、本発明においても小さなダイナミックレンジの測定
器でS/Nを測定することができ、また、誤り率の測定
によって障害区間を標定する場合には短時間で正確な誤
り率を測定することができる。
【0020】なお、以上示した請求項1〜請求項4に記
載の発明では、伝送路に送出する信号光あるいは中継器
で折り返されてきた信号光に重畳する光雑音の大きさは
、その折り返し経路のすべての中継器を対象とした光雑
音に相当するものである。したがって、伝送路に送出す
る信号光に光雑音を重畳させる構成(請求項1)では、
折り返し中継器までの光増幅器にとっては通常の光伝送
時に比べてかなり大きなレベルでの増幅動作が要求され
る。一方、中継器で折り返されてきた信号光に光雑音を
重畳させる構成(請求項2)では、各中継器を通過する
信号光にあらかじめ光雑音が重畳されないので、折り返
し中継器までの光増幅器にとっては通常の光伝送時と同
様となるが、折り返し中継器以後の光増幅器にとっては
通常の光伝送時の場合に比べてかなり小さなレベルでの
増幅動作が要求されることがある。
載の発明では、伝送路に送出する信号光あるいは中継器
で折り返されてきた信号光に重畳する光雑音の大きさは
、その折り返し経路のすべての中継器を対象とした光雑
音に相当するものである。したがって、伝送路に送出す
る信号光に光雑音を重畳させる構成(請求項1)では、
折り返し中継器までの光増幅器にとっては通常の光伝送
時に比べてかなり大きなレベルでの増幅動作が要求され
る。一方、中継器で折り返されてきた信号光に光雑音を
重畳させる構成(請求項2)では、各中継器を通過する
信号光にあらかじめ光雑音が重畳されないので、折り返
し中継器までの光増幅器にとっては通常の光伝送時と同
様となるが、折り返し中継器以後の光増幅器にとっては
通常の光伝送時の場合に比べてかなり小さなレベルでの
増幅動作が要求されることがある。
【0021】請求項5および請求項6に記載の発明は、
伝送路に送出する信号光と、中継器で折り返されてきた
信号光のそれぞれに光雑音を重畳する方式であり、伝送
路に送出する信号光に重畳する光雑音の大きさは、伝送
路に送出する信号光だけに光雑音を重畳する場合に比べ
て小さくすることができる。したがって、折り返し中継
器までの光増幅器にとっては、通常の光伝送時に比べて
やや大きなレベルでの増幅動作に抑えることができる。 また、折り返し中継器以後の光増幅器にとっては通常の
光伝送時と同様とすることができる。
伝送路に送出する信号光と、中継器で折り返されてきた
信号光のそれぞれに光雑音を重畳する方式であり、伝送
路に送出する信号光に重畳する光雑音の大きさは、伝送
路に送出する信号光だけに光雑音を重畳する場合に比べ
て小さくすることができる。したがって、折り返し中継
器までの光増幅器にとっては、通常の光伝送時に比べて
やや大きなレベルでの増幅動作に抑えることができる。 また、折り返し中継器以後の光増幅器にとっては通常の
光伝送時と同様とすることができる。
【0022】なお、請求項5に記載の発明でも同様に、
信号光を折り返す中継器までの段数に応じて双方で発生
する光雑音の大きさを調整することにより、S/Nの差
を最適値に制御することができる。すなわち、S/Nの
測定によって障害区間を標定する場合には、小さなダイ
ナミックレンジの測定器でS/Nの測定を行うことがで
きる。また、誤り率の測定によって障害区間を標定する
場合には、短時間で正確な誤り率の測定を行うことがで
きる。
信号光を折り返す中継器までの段数に応じて双方で発生
する光雑音の大きさを調整することにより、S/Nの差
を最適値に制御することができる。すなわち、S/Nの
測定によって障害区間を標定する場合には、小さなダイ
ナミックレンジの測定器でS/Nの測定を行うことがで
きる。また、誤り率の測定によって障害区間を標定する
場合には、短時間で正確な誤り率の測定を行うことがで
きる。
【0023】また、請求項6に記載の発明でも同様に、
中継器で折り返されてきた信号光に重畳する光雑音の大
きさは、折り返し区間における障害の有無に応じて変化
するので、そのときの光雑音の大きさを検出することに
より障害区間を標定することができ、小さなダイナミッ
クレンジの測定器でS/Nの測定、あるいは短時間で正
確な誤り率を測定することができる。
中継器で折り返されてきた信号光に重畳する光雑音の大
きさは、折り返し区間における障害の有無に応じて変化
するので、そのときの光雑音の大きさを検出することに
より障害区間を標定することができ、小さなダイナミッ
クレンジの測定器でS/Nの測定、あるいは短時間で正
確な誤り率を測定することができる。
【0024】
【実施例】請求項1〜請求項6に記載の発明の主要な構
成要素である光雑音発生手段は、信号光を発生する送信
回路(例えば半導体レーザ)に比べて、発光帯域が重な
らずかつ広ければよいので、例えば発光ダイオード(L
ED)やスーパールミネッセントダイオード(SLD)
の出力光、また光ファイバアンプあるいは半導体レーザ
アンプの自然放出光を用いる。なお、以下に示す実施例
では光雑音発生器として説明する。
成要素である光雑音発生手段は、信号光を発生する送信
回路(例えば半導体レーザ)に比べて、発光帯域が重な
らずかつ広ければよいので、例えば発光ダイオード(L
ED)やスーパールミネッセントダイオード(SLD)
の出力光、また光ファイバアンプあるいは半導体レーザ
アンプの自然放出光を用いる。なお、以下に示す実施例
では光雑音発生器として説明する。
【0025】図1は、請求項1に記載の発明の実施例構
成を示すブロック図である。なお、各中継器101 〜
10n および受信器30の構成は、図7に示す従来の
障害区間標定装置と同様であり、同一符号を付して説明
に代える。
成を示すブロック図である。なお、各中継器101 〜
10n および受信器30の構成は、図7に示す従来の
障害区間標定装置と同様であり、同一符号を付して説明
に代える。
【0026】図において、送信器20aは光雑音発生器
23を備え、送信回路21から出力される信号光と光雑
音発生器23から出力される光雑音とを重畳して伝送路
に送出する。また、光雑音発生器23から出力される光
雑音は分岐され、光フィルタ25を介して入力される光
検出器26で光雑音の大きさが検出される構成である。
23を備え、送信回路21から出力される信号光と光雑
音発生器23から出力される光雑音とを重畳して伝送路
に送出する。また、光雑音発生器23から出力される光
雑音は分岐され、光フィルタ25を介して入力される光
検出器26で光雑音の大きさが検出される構成である。
【0027】光雑音が重畳された送信信号光は、各中継
器で折り返されて受信信号光となり、受信器30のS/
N測定器(あるいは誤り率測定器)31に入力されてS
/Nあるいは誤り率が測定される。なお、ここでは、中
継器102 の光スイッチ13で折り返す状態を示す。 すなわち、受信器30のS/N測定器31で検出される
S/Nは、送信器20aで重畳される光雑音に加えて、
中継器101 ,102 の各光増幅器11,12で発
生する光雑音によって劣化しているが、折り返す中継器
の位置によるS/Nの差は小さい。したがって、S/N
測定器31のダイナミックレンジは従来に比べて小さく
することができ、測定されたS/Nと障害のない場合に
予想されるS/Nとを比較として正確な障害区間の標定
を行うことができる。
器で折り返されて受信信号光となり、受信器30のS/
N測定器(あるいは誤り率測定器)31に入力されてS
/Nあるいは誤り率が測定される。なお、ここでは、中
継器102 の光スイッチ13で折り返す状態を示す。 すなわち、受信器30のS/N測定器31で検出される
S/Nは、送信器20aで重畳される光雑音に加えて、
中継器101 ,102 の各光増幅器11,12で発
生する光雑音によって劣化しているが、折り返す中継器
の位置によるS/Nの差は小さい。したがって、S/N
測定器31のダイナミックレンジは従来に比べて小さく
することができ、測定されたS/Nと障害のない場合に
予想されるS/Nとを比較として正確な障害区間の標定
を行うことができる。
【0028】また、誤り率測定器を用いた場合には、誤
り率の測定が容易なS/Nが設定可能であるので短時間
で正確な誤り率を測定することができ、障害のない場合
に予想される誤り率と比較して正確な障害区間の標定を
行うことができる。
り率の測定が容易なS/Nが設定可能であるので短時間
で正確な誤り率を測定することができ、障害のない場合
に予想される誤り率と比較して正確な障害区間の標定を
行うことができる。
【0029】図2は、請求項2に記載の発明の実施例構
成を示すブロック図である。なお、各中継器101 〜
10n および送信器20の構成は、図7に示す従来の
障害区間標定装置と同様であり、同一符号を付して説明
に代える。
成を示すブロック図である。なお、各中継器101 〜
10n および送信器20の構成は、図7に示す従来の
障害区間標定装置と同様であり、同一符号を付して説明
に代える。
【0030】図において、受信器30aは光雑音発生器
33を備え、受信信号光に光雑音発生器33から出力さ
れる光雑音を重畳する。また、光雑音発生器33から出
力される光雑音は分岐され、光フィルタ35を介して入
力される光検出器36で光雑音の大きさが検出される構
成である。光雑音が重畳された受信信号光が入力される
S/N測定器(あるいは誤り率測定器)31は、S/N
あるいは誤り率を測定する。
33を備え、受信信号光に光雑音発生器33から出力さ
れる光雑音を重畳する。また、光雑音発生器33から出
力される光雑音は分岐され、光フィルタ35を介して入
力される光検出器36で光雑音の大きさが検出される構
成である。光雑音が重畳された受信信号光が入力される
S/N測定器(あるいは誤り率測定器)31は、S/N
あるいは誤り率を測定する。
【0031】なお、ここでは、中継器102 の光スイ
ッチ13で折り返す状態を示す。すなわち、受信器30
のS/N測定器31で検出されるS/Nは、中継器10
1 ,102 の各光増幅器11,12で発生する光雑
音によって劣化しているが、折り返す中継器の位置によ
るS/Nの差は小さい。したがって、S/N測定器31
のダイナミックレンジは従来に比べて小さくすることが
でき、測定されたS/Nと障害のない場合に予想される
S/Nとを比較として正確な障害区間の標定を行うこと
ができる。
ッチ13で折り返す状態を示す。すなわち、受信器30
のS/N測定器31で検出されるS/Nは、中継器10
1 ,102 の各光増幅器11,12で発生する光雑
音によって劣化しているが、折り返す中継器の位置によ
るS/Nの差は小さい。したがって、S/N測定器31
のダイナミックレンジは従来に比べて小さくすることが
でき、測定されたS/Nと障害のない場合に予想される
S/Nとを比較として正確な障害区間の標定を行うこと
ができる。
【0032】また、誤り率測定器を用いた場合には、誤
り率の測定が容易なS/Nが設定可能であるので短時間
で正確な誤り率を測定することができ、障害のない場合
に予想される誤り率と比較して正確な障害区間の標定を
行うことができる。
り率の測定が容易なS/Nが設定可能であるので短時間
で正確な誤り率を測定することができ、障害のない場合
に予想される誤り率と比較して正確な障害区間の標定を
行うことができる。
【0033】図3は、請求項3に記載の発明の実施例構
成を示すブロック図である。なお、本実施例は、請求項
1に記載の発明に適用したものである。したがって、各
中継器101 〜10n および受信器30の構成は、
図7に示す従来の障害区間標定装置と同様であり、同一
符号を付して説明に代える。
成を示すブロック図である。なお、本実施例は、請求項
1に記載の発明に適用したものである。したがって、各
中継器101 〜10n および受信器30の構成は、
図7に示す従来の障害区間標定装置と同様であり、同一
符号を付して説明に代える。
【0034】図において、送信器20bは光雑音発生器
23および減衰器24を備え、光雑音発生器23から出
力される光雑音の大きさが減衰器24を介することによ
って調整される。送信回路21から出力される信号光は
、大きさが調整された光雑音と重畳されて伝送路に送出
される。また、減衰器24を介した光雑音は分岐され、
光フィルタ25を介して入力される光検出器26で光雑
音の大きさが検出される構成である。なお、減衰器24
では、送信器20bから送出される送信信号光が折り返
される中継器の位置に応じて、信号光に重畳する光雑音
の大きさを設定する。
23および減衰器24を備え、光雑音発生器23から出
力される光雑音の大きさが減衰器24を介することによ
って調整される。送信回路21から出力される信号光は
、大きさが調整された光雑音と重畳されて伝送路に送出
される。また、減衰器24を介した光雑音は分岐され、
光フィルタ25を介して入力される光検出器26で光雑
音の大きさが検出される構成である。なお、減衰器24
では、送信器20bから送出される送信信号光が折り返
される中継器の位置に応じて、信号光に重畳する光雑音
の大きさを設定する。
【0035】以下同様に、光雑音が重畳された送信信号
光は、各中継器で折り返されて受信信号光となり、受信
器30のS/N測定器(あるいは誤り率測定器)31に
入力されてS/Nあるいは誤り率が測定される。なお、
S/N測定器31のダイナミックレンジは従来に比べて
小さくすることができ、また誤り率測定器を用いた場合
には短時間で正確な誤り率を測定することができる。
光は、各中継器で折り返されて受信信号光となり、受信
器30のS/N測定器(あるいは誤り率測定器)31に
入力されてS/Nあるいは誤り率が測定される。なお、
S/N測定器31のダイナミックレンジは従来に比べて
小さくすることができ、また誤り率測定器を用いた場合
には短時間で正確な誤り率を測定することができる。
【0036】なお、請求項3に記載の発明を請求項2に
記載の発明(図2)に適用した場合にも同様に説明され
る。図4は、請求項4に記載の発明の実施例構成を示す
ブロック図である。
記載の発明(図2)に適用した場合にも同様に説明され
る。図4は、請求項4に記載の発明の実施例構成を示す
ブロック図である。
【0037】なお、本実施例は、請求項1に記載の発明
に適用したものである。したがって、各中継器101
〜10n および受信器30の構成は、図7に示す従来
の障害区間標定装置と同様であり、同一符号を付して説
明に代える。
に適用したものである。したがって、各中継器101
〜10n および受信器30の構成は、図7に示す従来
の障害区間標定装置と同様であり、同一符号を付して説
明に代える。
【0038】図において、送信器20cは光雑音発生器
23および減衰器24を備え、光雑音発生器23から出
力される光雑音の大きさが減衰器24を介することによ
って調整される。送信回路21から出力される信号光は
、大きさが調整された光雑音と重畳されて伝送路に送出
される。また、減衰器24を介した光雑音は分岐され、
光フィルタ25を介して入力される光検出器26で光雑
音の大きさが検出される構成である。
23および減衰器24を備え、光雑音発生器23から出
力される光雑音の大きさが減衰器24を介することによ
って調整される。送信回路21から出力される信号光は
、大きさが調整された光雑音と重畳されて伝送路に送出
される。また、減衰器24を介した光雑音は分岐され、
光フィルタ25を介して入力される光検出器26で光雑
音の大きさが検出される構成である。
【0039】ここで、本実施例の特徴とするところは、
S/N測定器(誤り率測定器)31で測定されるS/N
あるいは誤り率が信号光の折り返し位置に応じた所定の
値になるように、その検出出力を減衰器24にフィード
バックして信号光に重畳する光雑音の大きさを調整する
構成にある。したがって、光検出器26で光雑音の大き
さを検出し、障害のない場合に予想される光雑音の大き
さと比較することにより、正確な障害区間の標定を行う
ことができる。なお、S/N測定器31のダイナミック
レンジは従来に比べて小さくすることができ、また誤り
率測定器の測定時間を短くできることは同様である。
S/N測定器(誤り率測定器)31で測定されるS/N
あるいは誤り率が信号光の折り返し位置に応じた所定の
値になるように、その検出出力を減衰器24にフィード
バックして信号光に重畳する光雑音の大きさを調整する
構成にある。したがって、光検出器26で光雑音の大き
さを検出し、障害のない場合に予想される光雑音の大き
さと比較することにより、正確な障害区間の標定を行う
ことができる。なお、S/N測定器31のダイナミック
レンジは従来に比べて小さくすることができ、また誤り
率測定器の測定時間を短くできることは同様である。
【0040】なお、請求項4に記載の発明を請求項2に
記載の発明(図2)に適用した場合にも同様に説明され
る。図5は、請求項5に記載の発明の実施例構成を示す
ブロック図である。
記載の発明(図2)に適用した場合にも同様に説明され
る。図5は、請求項5に記載の発明の実施例構成を示す
ブロック図である。
【0041】各中継器101 〜10n の構成は、図
7に示す従来の障害区間標定装置と同様であり、同一符
号を付して説明に代える。図において、送信器20bの
構成は図5に示す実施例と同様であり、光雑音発生器2
3および減衰器24を備え、光雑音発生器23から出力
される光雑音の大きさが減衰器24を介することによっ
て調整される。送信回路21から出力される信号光は、
大きさが調整された光雑音と重畳されて伝送路に送出さ
れる。また、減衰器24を介した光雑音は分岐され、光
フィルタ25を介して入力される光検出器26で光雑音
の大きさが検出される構成である。なお、減衰器24で
は、送信器20bから送出される送信信号光が折り返さ
れる中継器の位置に応じて、信号光に重畳する光雑音の
大きさを設定する。
7に示す従来の障害区間標定装置と同様であり、同一符
号を付して説明に代える。図において、送信器20bの
構成は図5に示す実施例と同様であり、光雑音発生器2
3および減衰器24を備え、光雑音発生器23から出力
される光雑音の大きさが減衰器24を介することによっ
て調整される。送信回路21から出力される信号光は、
大きさが調整された光雑音と重畳されて伝送路に送出さ
れる。また、減衰器24を介した光雑音は分岐され、光
フィルタ25を介して入力される光検出器26で光雑音
の大きさが検出される構成である。なお、減衰器24で
は、送信器20bから送出される送信信号光が折り返さ
れる中継器の位置に応じて、信号光に重畳する光雑音の
大きさを設定する。
【0042】また、受信器30bは、光雑音発生器33
および減衰器34を備え、光雑音発生器33から出力さ
れる光雑音の大きさが減衰器34を介することによって
調整される。受信信号光は、大きさが調整された光雑音
と重畳されてS/N測定器31に入力される。また、減
衰器34を介した光雑音は分岐され、光フィルタ35を
介して入力される光検出器36で光雑音の大きさが検出
される構成である。なお、減衰器34では、送信器20
bから送出される送信信号光が折り返される中継器の位
置に応じて、受信信号光に重畳する光雑音の大きさを設
定する。
および減衰器34を備え、光雑音発生器33から出力さ
れる光雑音の大きさが減衰器34を介することによって
調整される。受信信号光は、大きさが調整された光雑音
と重畳されてS/N測定器31に入力される。また、減
衰器34を介した光雑音は分岐され、光フィルタ35を
介して入力される光検出器36で光雑音の大きさが検出
される構成である。なお、減衰器34では、送信器20
bから送出される送信信号光が折り返される中継器の位
置に応じて、受信信号光に重畳する光雑音の大きさを設
定する。
【0043】以下同様に、光雑音が重畳された送信信号
光は、各中継器で折り返されて受信信号光となり、さら
に受信器30で光雑音が重畳されてS/N測定器(ある
いは誤り率測定器)31に入力され、S/Nあるいは誤
り率が測定される。なお、S/N測定器31のダイナミ
ックレンジは従来に比べて同様に小さくすることができ
、また誤り率測定器を用いた場合には同様に短時間で正
確な誤り率を測定することができる。
光は、各中継器で折り返されて受信信号光となり、さら
に受信器30で光雑音が重畳されてS/N測定器(ある
いは誤り率測定器)31に入力され、S/Nあるいは誤
り率が測定される。なお、S/N測定器31のダイナミ
ックレンジは従来に比べて同様に小さくすることができ
、また誤り率測定器を用いた場合には同様に短時間で正
確な誤り率を測定することができる。
【0044】なお、送信器20bで信号光に重畳する光
雑音の大きさは、折り返し中継器102 以後の光増幅
器12にとっては光雑音の大きさが通常の光伝送時と同
様となるように、図1,図3あるいは図4に示す実施例
に比べて小さくすることができる。したがって、折り返
し中継器102 までの光増幅器11にとっては、通常
の光伝送時に比べてやや大きなレベルでの増幅動作に抑
えることができる。
雑音の大きさは、折り返し中継器102 以後の光増幅
器12にとっては光雑音の大きさが通常の光伝送時と同
様となるように、図1,図3あるいは図4に示す実施例
に比べて小さくすることができる。したがって、折り返
し中継器102 までの光増幅器11にとっては、通常
の光伝送時に比べてやや大きなレベルでの増幅動作に抑
えることができる。
【0045】図6は、請求項6に記載の発明の実施例構
成を示すブロック図である。各中継器101 〜10n
の構成は、図7に示す従来の障害区間標定装置と同様
であり、同一符号を付して説明に代える。
成を示すブロック図である。各中継器101 〜10n
の構成は、図7に示す従来の障害区間標定装置と同様
であり、同一符号を付して説明に代える。
【0046】図において、送信器20bの構成は図3に
示す実施例と同様である。また、受信器30cは、光雑
音発生器33および減衰器34を備え、光雑音発生器3
3から出力される光雑音の大きさが減衰器34を介する
ことによって調整される。すでに送信器20bで光雑音
が重畳されている受信信号光は、さらに受信器30cで
大きさが調整された光雑音と重畳されてS/N測定器3
1に入力される。また、減衰器34を介した光雑音は分
岐され、光フィルタ35を介して入力される光検出器3
6で光雑音の大きさが検出される構成である。
示す実施例と同様である。また、受信器30cは、光雑
音発生器33および減衰器34を備え、光雑音発生器3
3から出力される光雑音の大きさが減衰器34を介する
ことによって調整される。すでに送信器20bで光雑音
が重畳されている受信信号光は、さらに受信器30cで
大きさが調整された光雑音と重畳されてS/N測定器3
1に入力される。また、減衰器34を介した光雑音は分
岐され、光フィルタ35を介して入力される光検出器3
6で光雑音の大きさが検出される構成である。
【0047】ここで、本実施例の特徴とするところは、
S/N測定器(誤り率測定器)31で測定されるS/N
あるいは誤り率が信号光の折り返し位置に応じた所定の
値になるように、その検出出力を減衰器34にフィード
バックして信号光に重畳する光雑音の大きさを調整する
構成にある。したがって、光検出器36で光雑音の大き
さを検出し、障害のない場合に予想される光雑音の大き
さと比較することにより、正確な障害区間の標定を行う
ことができる。なお、S/N測定器31のダイナミック
レンジは従来に比べて小さくすることができ、また誤り
率測定器の測定時間を短くできることは同様である。
S/N測定器(誤り率測定器)31で測定されるS/N
あるいは誤り率が信号光の折り返し位置に応じた所定の
値になるように、その検出出力を減衰器34にフィード
バックして信号光に重畳する光雑音の大きさを調整する
構成にある。したがって、光検出器36で光雑音の大き
さを検出し、障害のない場合に予想される光雑音の大き
さと比較することにより、正確な障害区間の標定を行う
ことができる。なお、S/N測定器31のダイナミック
レンジは従来に比べて小さくすることができ、また誤り
率測定器の測定時間を短くできることは同様である。
【0048】なお、送信器20bで信号光に重畳する光
雑音の大きさについては上述した通りであり、折り返し
中継器102 までの光増幅器11にとっては、通常の
光伝送時に比べてやや大きなレベルでの増幅動作に抑え
ることができる。
雑音の大きさについては上述した通りであり、折り返し
中継器102 までの光増幅器11にとっては、通常の
光伝送時に比べてやや大きなレベルでの増幅動作に抑え
ることができる。
【0049】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、伝送路に
送出する信号光あるいは中継器で折り返された信号光に
中継器で発生する光雑音と同性質の光雑音を重畳し、ま
た信号光を折り返す中継器の段数に応じて光雑音の大き
さを調整し、また折り返された信号光のS/Nあるいは
誤り率が所定の値になるように光雑音の大きさを調整す
ることにより、障害のない場合に予想されるS/N,誤
り率あるいは光雑音の大きさを基準にして正確な障害区
間の標定を行うことができる。すなわち、非再生中継器
を用いた光中継伝送システムにおいて、S/Nあるいは
誤り率を短時間で正確に評価することができ、障害区間
の標定を確実に行うことができる。
送出する信号光あるいは中継器で折り返された信号光に
中継器で発生する光雑音と同性質の光雑音を重畳し、ま
た信号光を折り返す中継器の段数に応じて光雑音の大き
さを調整し、また折り返された信号光のS/Nあるいは
誤り率が所定の値になるように光雑音の大きさを調整す
ることにより、障害のない場合に予想されるS/N,誤
り率あるいは光雑音の大きさを基準にして正確な障害区
間の標定を行うことができる。すなわち、非再生中継器
を用いた光中継伝送システムにおいて、S/Nあるいは
誤り率を短時間で正確に評価することができ、障害区間
の標定を確実に行うことができる。
【図1】請求項1に記載の発明の実施例構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図2】請求項2に記載の発明の実施例構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図3】請求項3に記載の発明の実施例構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図4】請求項4に記載の発明の実施例構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図5】請求項5に記載の発明の実施例構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図6】請求項6に記載の発明の実施例構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図7】従来の障害区間標定装置の構成例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
10 中継器
11,12 光増幅器
13 光スイッチ
20,20a,20b,20c 送信器21 送信
回路 23 光雑音発生器 24 減衰器 25 光フィルタ 26 光検出器 30,30a,30b,30c 受信器31 S/
N測定器 33 光雑音発生器 34 減衰器 35 光フィルタ 36 光検出器
回路 23 光雑音発生器 24 減衰器 25 光フィルタ 26 光検出器 30,30a,30b,30c 受信器31 S/
N測定器 33 光雑音発生器 34 減衰器 35 光フィルタ 36 光検出器
Claims (6)
- 【請求項1】 伝送路上の中継器で折り返されてきた
信号光の主信号対雑音電力比あるいは誤り率を測定し、
各折り返し点における特性劣化の有無を評価して障害区
間を標定する光中継伝送システムの障害区間標定装置に
おいて、前記中継器で発生する光雑音と同性質の光雑音
を発生し、前記信号光と結合して前記伝送路に送出する
光雑音発生手段を備えたことを特徴とする光中継伝送シ
ステムの障害区間標定装置。 - 【請求項2】 伝送路上の中継器で折り返されてきた
信号光の主信号対雑音電力比あるいは誤り率を測定し、
各折り返し点における特性劣化の有無を評価して障害区
間を標定する光中継伝送システムの障害区間標定装置に
おいて、前記中継器で発生する光雑音と同性質の光雑音
を発生し、前記中継器で折り返されてきた信号光に結合
する光雑音発生手段を備えたことを特徴とする光中継伝
送システムの障害区間標定装置。 - 【請求項3】 請求項1または請求項2に記載の光中
継伝送システムの障害区間標定装置において、信号光を
折り返す中継器までの段数に応じて、光雑音発生手段で
発生する光雑音の大きさを調整する光雑音量調整手段を
備えたことを特徴とする光中継伝送システムの障害区間
標定装置。 - 【請求項4】 請求項1または請求項2に記載の光中
継伝送システムの障害区間標定装置において、光雑音発
生手段で発生する光雑音の大きさを調整し、中継器で折
り返されてきた信号光の主信号対雑音電力比あるいは誤
り率を所定の値に制御する光雑音量調整手段と、前記光
雑音調整手段で調整された光雑音の大きさを検出して障
害区間の標定に供する光雑音量検出手段とを備えたこと
を特徴とする光中継伝送システムの障害区間標定装置。 - 【請求項5】 伝送路上の中継器で折り返されてきた
信号光の主信号対雑音電力比あるいは誤り率を測定し、
各折り返し点における特性劣化の有無を評価して障害区
間を標定する光中継伝送システムの障害区間標定装置に
おいて、前記中継器で発生する光雑音と同性質の光雑音
を発生し、前記信号光と結合して前記伝送路に送出する
第一の光雑音発生手段と、前記信号光を折り返す中継器
までの段数に応じて、前記第一の光雑音発生手段で発生
する光雑音の大きさを調整する第一の光雑音量調整手段
と、前記中継器で発生する光雑音と同性質の光雑音を発
生し、前記中継器で折り返されてきた信号光に結合する
第二の光雑音発生手段と、前記信号光を折り返す中継器
までの段数に応じて、前記第二の光雑音発生手段で発生
する光雑音の大きさを調整する第二の光雑音量調整手段
とを備えたことを特徴とする光中継伝送システムの障害
区間標定装置。 - 【請求項6】 伝送路上の中継器で折り返されてきた
信号光の主信号対雑音電力比あるいは誤り率を測定し、
各折り返し点における特性劣化の有無を評価して障害区
間を標定する光中継伝送システムの障害区間標定装置に
おいて、前記中継器で発生する光雑音と同性質の光雑音
を発生し、前記信号光と結合して前記伝送路に送出する
第一の光雑音発生手段と、前記信号光を折り返す中継器
までの段数に応じて、前記第一の光雑音発生手段で発生
する光雑音の大きさを調整する第一の光雑音量調整手段
と、前記中継器で発生する光雑音と同性質の光雑音を発
生し、前記中継器で折り返されてきた信号光に結合する
第二の光雑音発生手段と、前記第二の光雑音発生手段で
発生する光雑音の大きさを調整し、前記中継器で折り返
されてきた信号光の主信号対雑音電力比あるいは誤り率
を所定の値に制御する第二の光雑音量調整手段と、前記
第二の光雑音調整手段で調整された光雑音の大きさを検
出して障害区間の標定に供する光雑音量検出手段とを備
えたことを特徴とする光中継伝送システムの障害区間標
定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3150696A JPH04356829A (ja) | 1991-03-25 | 1991-06-21 | 光中継伝送システムの障害区間標定装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6026991 | 1991-03-25 | ||
JP3-60269 | 1991-03-25 | ||
JP3150696A JPH04356829A (ja) | 1991-03-25 | 1991-06-21 | 光中継伝送システムの障害区間標定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04356829A true JPH04356829A (ja) | 1992-12-10 |
Family
ID=26401341
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3150696A Pending JPH04356829A (ja) | 1991-03-25 | 1991-06-21 | 光中継伝送システムの障害区間標定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04356829A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008193483A (ja) * | 2007-02-06 | 2008-08-21 | Fujitsu Ltd | 光受信装置およびその制御方法、並びに、光伝送システム |
JP2009206565A (ja) * | 2008-02-26 | 2009-09-10 | Nec Magnus Communications Ltd | 光伝送システム、光伝送方法、光スイッチ装置、センター装置、光カプラ装置、加入者装置及び光通信システム |
WO2023112261A1 (ja) * | 2021-12-16 | 2023-06-22 | 日本電信電話株式会社 | 測定装置、管理システム、及び、測定方法 |
-
1991
- 1991-06-21 JP JP3150696A patent/JPH04356829A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008193483A (ja) * | 2007-02-06 | 2008-08-21 | Fujitsu Ltd | 光受信装置およびその制御方法、並びに、光伝送システム |
JP2009206565A (ja) * | 2008-02-26 | 2009-09-10 | Nec Magnus Communications Ltd | 光伝送システム、光伝送方法、光スイッチ装置、センター装置、光カプラ装置、加入者装置及び光通信システム |
WO2023112261A1 (ja) * | 2021-12-16 | 2023-06-22 | 日本電信電話株式会社 | 測定装置、管理システム、及び、測定方法 |
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