JPH04348086A - Liquid phase epitaxy - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】本発明は液相エピタキシャル成長
方法に関し、炭化シリコン(以下、SiCという。)単
結晶の製造に好適な方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid phase epitaxial growth method, and more particularly to a method suitable for producing silicon carbide (hereinafter referred to as SiC) single crystal.
【0002】0002
【従来の技術】炭化シリコン(SiC)は、耐熱性およ
び機械的強度に優れ、放射線に強いなどの物理的、科学
的性質から耐環境性半導体材料として注目されている。
特に6H(ヘキサゴナール)型のSiC結晶は、室温で
約3eVの禁制帯幅をもち、青色発光ダイオード材料と
して用いられている。2. Description of the Related Art Silicon carbide (SiC) is attracting attention as an environment-resistant semiconductor material due to its physical and scientific properties such as excellent heat resistance, mechanical strength, and resistance to radiation. In particular, 6H (hexagonal) type SiC crystal has a forbidden band width of about 3 eV at room temperature and is used as a material for blue light emitting diodes.
【0003】基板上にSiC単結晶を成長させる方法と
しては、電子技術第26巻第14号P.128〜P.1
29の記事「SiC青色発光ダイオード」に記載されて
いるような、液相エピタキシャル成長法の一種であるデ
ィップ法がある。[0003] A method for growing SiC single crystals on a substrate is described in Electronic Technology, Vol. 26, No. 14, p. 128~P. 1
There is a dip method, which is a type of liquid phase epitaxial growth method, as described in the article "SiC blue light emitting diode" published in No. 29.
【0004】このディップ法について、図7に従い説明
する。黒鉛製のるつぼ50内に、仕込んであるシリコン
(Si)60を、外側に配設される高周波加熱コイルに
より加熱し融解する。基板ホルダー30には、その先端
の仕込み部分にSiC基板15がはめ込まれている。シ
リコン融液60の温度を1600℃〜1800℃に保持
し、その中に基板ホルダー30を降下させ、SiC基板
15を浸漬させ、一定時間保持する。This dipping method will be explained with reference to FIG. Silicon (Si) 60 charged in a crucible 50 made of graphite is heated and melted by a high-frequency heating coil disposed outside. The SiC substrate 15 is fitted into the tip of the substrate holder 30 at its tip. The temperature of the silicon melt 60 is maintained at 1600° C. to 1800° C., the substrate holder 30 is lowered into the silicon melt 60, the SiC substrate 15 is immersed therein, and the temperature is maintained for a certain period of time.
【0005】黒鉛製のるつぼ50の内壁よりシリコン融
液60中へ炭素(C)が溶出し、炭化シリコン(SiC
)となり、SiC基板15上に、SiC単結晶が液相エ
ピタキシャル成長する。Carbon (C) is eluted from the inner wall of the graphite crucible 50 into the silicon melt 60, forming silicon carbide (SiC).
), and a SiC single crystal is grown on the SiC substrate 15 by liquid phase epitaxial growth.
【0006】この時に、シリコン融液60中に、少量の
窒化珪素(Si3N4)を添加しておくと、窒素(N)
はSiC中でドナーとして働くので、n型のSiC単結
晶が成長する。同様にシリコン融液60中に少量のアル
ミニウム(Al)を添加しておくと、アルミニウム(A
l)は、SiC中でアクセプタとして働くのでp型のS
iC単結晶が成長する。At this time, if a small amount of silicon nitride (Si3N4) is added to the silicon melt 60, nitrogen (N)
acts as a donor in SiC, so an n-type SiC single crystal grows. Similarly, if a small amount of aluminum (Al) is added to the silicon melt 60, aluminum (A
l) acts as an acceptor in SiC, so p-type S
An iC single crystal grows.
【0007】従って、図6に示すように、n型基板40
上に、n型のSiC単結晶41を成長させることができ
る。そして次に、るつぼを交換後p型のSiC単結晶を
成長させることによって、pn接合のSiC青色発光ダ
イオード(n−n−p構造)を製作することができる。Therefore, as shown in FIG.
An n-type SiC single crystal 41 can be grown thereon. Next, by replacing the crucible and growing a p-type SiC single crystal, a p-n junction SiC blue light emitting diode (n-n-p structure) can be manufactured.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】上述した液相エピタキ
シャル成長方法は、るつぼ内の温度分布を制御しやすく
、高品質のSiC単結晶を得るために適した方法である
。しかしながら、導電型の違う単結晶(p型、n型)や
、同じ導電型でもキャリア濃度の違う単結晶を製作する
際には、2種類以上のるつぼ(シリコン融液)が必要と
なる。The above-mentioned liquid phase epitaxial growth method is suitable for obtaining high quality SiC single crystals because the temperature distribution within the crucible can be easily controlled. However, when producing single crystals of different conductivity types (p-type, n-type) or single crystals of the same conductivity type but with different carrier concentrations, two or more types of crucibles (silicon melts) are required.
【0009】従って、反応管に1個のるつぼしか収納で
きない場合、るつぼを交換しなければならず、工程が非
常に複雑になり時間がかかるという欠点があった。また
、反応管内に複数個のるつぼを用意した場合、夫々のる
つぼ内の温度分布を制御するのが困難であった。この発
明は、上述した従来の問題点を解決するためになされた
ものにして、種類の異なる単結晶を容易にエピタキシャ
ル成長させることができる液相エピタキシャル成長方法
を提供することをその目的とする。[0009] Therefore, if only one crucible can be accommodated in the reaction tube, the crucible must be replaced, which makes the process very complicated and time consuming. Furthermore, when a plurality of crucibles are prepared in the reaction tube, it is difficult to control the temperature distribution within each crucible. The present invention was made to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a liquid phase epitaxial growth method that can easily epitaxially grow different types of single crystals.
【0010】0010
【課題を解決するための手段】この発明の第1の発明に
係る液相エピタキシャル成長方法は、内部が外側と内側
に区切られた構造の黒鉛るつぼを用意し、この黒鉛るつ
ぼの内側に第1導電型の成長を行なわせる融液を、外側
に第2導電型の成長を行なわせる融液を夫々設け、この
内側の融液中に炭化シリコン単結晶基板を浸漬して、第
1導電型の炭化シリコン単結晶を基板上にエピタキシャ
ル成長させた後、この融液をオーバーフローさせ、内側
の融液と外側融液を混合し、補償効果によって導電型を
変化させ、第2導電型の炭化シリコン単結晶をエピタキ
シャル成長させることを特徴とする。[Means for Solving the Problems] A liquid phase epitaxial growth method according to a first aspect of the present invention includes preparing a graphite crucible whose interior is divided into an outside and an inside, and a first conductive layer inside the graphite crucible. A melt for growing a mold and a melt for growing a second conductivity type are provided on the outside, and a silicon carbide single crystal substrate is immersed in the melt on the inside to form a carbonized silicon carbide of the first conductivity type. After a silicon single crystal is epitaxially grown on a substrate, this melt is allowed to overflow, the inner melt and the outer melt are mixed, and the conductivity type is changed by the compensation effect to form a silicon carbide single crystal of the second conductivity type. It is characterized by epitaxial growth.
【0011】この発明の第2の発明に係る液相エピタキ
シャル成長方法は、黒鉛るつぼ中の原料融液に基板を浸
漬させて、基板上に単結晶をエピタキシャル成長させる
液相エピタキシャル成長方法であって、黒鉛るつぼ内に
複数枚の仕切壁を設け、この仕切板を順次除去していく
ことにより、融液の移動を行い、基板上に種々のタイプ
の異なる単結晶を順次形成することを特徴とする。A liquid phase epitaxial growth method according to a second aspect of the present invention is a liquid phase epitaxial growth method in which a substrate is immersed in a raw material melt in a graphite crucible to epitaxially grow a single crystal on the substrate. The method is characterized in that a plurality of partition walls are provided inside the substrate, and by sequentially removing the partition plates, the melt is moved and various types of different single crystals are sequentially formed on the substrate.
【0012】0012
【作用】第1の発明によれば、第1導電型のSiC単結
晶を成長後、SiC融液をオーバーフローさせることに
より、補償効果でSiC融液が第2導電型の成長を行な
うのに適した融液となる。従って、るつぼの温度を下げ
ず且つ内容物を取り換えることなく第2導電型のSiC
単結晶を連続して形成できるため、大幅に工程を短縮で
きる。[Operation] According to the first invention, by overflowing the SiC melt after growing the SiC single crystal of the first conductivity type, the SiC melt becomes suitable for growing the second conductivity type due to the compensation effect. It becomes a melted liquid. Therefore, SiC of the second conductivity type can be melted without lowering the temperature of the crucible and without replacing the contents.
Since single crystals can be formed continuously, the process can be significantly shortened.
【0013】第2の発明によれば、仕切壁を順次取り除
くことで、1つのるつぼで、種々のタイプの異なる単結
晶を得ることができる。またるつぼが1個であるので、
温度分布の制御が容易である。According to the second invention, by sequentially removing the partition walls, various types of different single crystals can be obtained in one crucible. Also, since there is only one crucible,
Temperature distribution can be easily controlled.
【0014】[0014]
【実施例】以下、この発明をその実施例を示す図面に基
いて説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to drawings showing embodiments thereof.
【0015】まず、図1及び図2に従いこの発明の第1
の発明の実施例について説明する。図1は、この発明の
第1の発明方法を実施するための装置の断面様式図であ
る。First, according to FIGS. 1 and 2, the first
An embodiment of the invention will be described. FIG. 1 is a sectional stylized view of an apparatus for carrying out the first method of the present invention.
【0016】図1において、1は黒鉛るつぼであり、こ
のるつぼ1は中央壁2によって、内側の融液室3aと外
側の融液室4aに区切られている。この内側の融液室3
aには、n型のSiCを成長させるようなn型のシリコ
ン融液3が、外側の融液室4aには、内側融液の融液3
と混じり合った時p型SiCを成長させるようなp型の
シリコン融液4が充填される。5は基板支持棒であり、
その先端部にSiC単結晶基板6が支持される。この基
板支持棒5に支持されたSiC単結晶基板6は、るつぼ
1の融液中に浸漬される。In FIG. 1, 1 is a graphite crucible, and this crucible 1 is divided by a central wall 2 into an inner melt chamber 3a and an outer melt chamber 4a. This inner melt chamber 3
In the outer melt chamber 4a, there is an n-type silicon melt 3 that grows n-type SiC, and in the outer melt chamber 4a, there is an inner melt 3.
A p-type silicon melt 4 that grows p-type SiC when mixed with the silicon melt 4 is filled. 5 is a board support rod;
A SiC single crystal substrate 6 is supported at its tip. The SiC single crystal substrate 6 supported by the substrate support rod 5 is immersed in the melt in the crucible 1.
【0017】次に、図1にこの装置を用いてSiC単結
晶を基板6上に成長させる手順につき図1及び図2を参
照して説明する。Next, the procedure for growing a SiC single crystal on the substrate 6 using this apparatus shown in FIG. 1 will be explained with reference to FIGS. 1 and 2.
【0018】まず、図示しない高周波コイル等によりる
つぼ3を結晶成長温度まで加熱した状態で、図1に示す
ように内側の融液室3aに充填させたn型融液3に基板
支持棒5にて支持されたSiC単結晶基板6を浸漬させ
る。この時の融液はn型融液なので、基板6上にはn型
のSiC単結晶が成長する。First, with the crucible 3 heated to the crystal growth temperature using a high frequency coil (not shown) or the like, the n-type melt 3 filled in the inner melt chamber 3a is heated to the substrate support rod 5 as shown in FIG. The SiC single crystal substrate 6 supported by the substrate is immersed. Since the melt at this time is an n-type melt, an n-type SiC single crystal grows on the substrate 6.
【0019】次に、図2に示すように、るつぼ1にSi
Cブロックなどを挿入し、p型のシリコン融液4をオー
バーフローさせる。p型のシリコン融液4は上述したよ
うに、n型のシリコン融液3及びSiブロックと混じり
、補償効果によって全体として、p型成長を行なわせる
p型シリコン融液4となる。Next, as shown in FIG. 2, Si is placed in the crucible 1.
A C block or the like is inserted to cause the p-type silicon melt 4 to overflow. As described above, the p-type silicon melt 4 mixes with the n-type silicon melt 3 and the Si block, and becomes the p-type silicon melt 4 that causes p-type growth as a whole due to the compensation effect.
【0020】この結果るつぼ1全体はp型のシリコン融
液4となり、基板支持棒5に支持されたn型SiC単結
晶が成長しているSiC単結晶基板6を、再度融液4中
に浸漬させることでp型SiC単結晶が成長する。As a result, the entire crucible 1 becomes a p-type silicon melt 4, and the SiC single crystal substrate 6 on which the n-type SiC single crystal is grown, supported by the substrate support rod 5, is immersed again into the melt 4. By doing so, a p-type SiC single crystal grows.
【0021】このように、この第1の発明によれば、S
iC単結晶基板上に、n型SiC層及びp型SiC層を
るつぼを交換することなく、略連続的に成長させること
ができ、SiC青色発光ダイオードなどの量産性が大幅
に向上する。[0021] Thus, according to the first invention, S
An n-type SiC layer and a p-type SiC layer can be grown substantially continuously on an iC single crystal substrate without replacing the crucible, and mass productivity of SiC blue light emitting diodes and the like is greatly improved.
【0022】次に、この発明の第2の発明について、図
3及び図4に従い説明する。図3は、この発明の第2の
発明方法に実施例を工程順に示す断面模式図である。Next, a second aspect of the present invention will be explained with reference to FIGS. 3 and 4. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of the second method of the present invention in the order of steps.
【0023】図3は縦形の仕切板方式を示す。この実施
例として、2つの仕切り板11、12を用いて、3つの
タイプの融液を作成する方法を示す。必要であれば、2
枚以上の仕切り板を有することも可能である。FIG. 3 shows a vertical partition plate system. As this example, a method of creating three types of melts using two partition plates 11 and 12 will be shown. 2 if necessary
It is also possible to have more than one partition plate.
【0024】図3において、10は黒鉛製のるつぼ、2
0はSi融液、11、12は黒鉛製の仕切板である。1
6、17は、p形反転用のアルミニウム融液である。3
0は基板ホルダーであり、この基板ホルダーの先端部に
SiC単結晶15がはさみこまれている。In FIG. 3, 10 is a graphite crucible;
0 is a Si melt, and 11 and 12 are partition plates made of graphite. 1
6 and 17 are aluminum melts for p-type inversion. 3
0 is a substrate holder, and a SiC single crystal 15 is sandwiched in the tip of this substrate holder.
【0025】次に、この図3に従い、この第2発明の手
順につき説明する。Next, the procedure of the second invention will be explained with reference to FIG.
【0026】まず最初に図3(a)に示すように、仕切
板11、12に囲まれた領域20aに、Si融液20を
充填し、成長温度で保持した後に、基板ホルダー30を
降下し、SiC単結晶基板15を浸漬する。このSi融
液20には、少量の窒化珪素(Si3N4)を添加して
おきn型のSiC層をn型基板15上に形成する。この
時にさらに少量のアルミニウム(Al)も添加しておき
、発光センターとして利用する。First, as shown in FIG. 3(a), a region 20a surrounded by the partition plates 11 and 12 is filled with Si melt 20 and held at the growth temperature, after which the substrate holder 30 is lowered. , the SiC single crystal substrate 15 is immersed. A small amount of silicon nitride (Si3N4) is added to this Si melt 20, and an n-type SiC layer is formed on the n-type substrate 15. At this time, a small amount of aluminum (Al) is also added and used as a luminescent center.
【0027】次に図3(b)に示すように、n型基板1
5上に、n型発光層形成後、基板ホルダー30を一旦上
昇させる。そして、仕切板11を取りはずす。この結果
、図に示すように融液は広がり、アルミニウム融液17
がSi融液20に添加され、p型の融液に反転する。
再度、基板ホルダー30を降下させ、Si単結晶基板1
5を浸漬すると、先に形成したn型発光層上にp型層が
形成される。Next, as shown in FIG. 3(b), the n-type substrate 1
After forming an n-type light emitting layer on the substrate 5, the substrate holder 30 is once raised. Then, the partition plate 11 is removed. As a result, the melt spreads as shown in the figure, and the aluminum melt 17
is added to the Si melt 20 to turn it into a p-type melt. Lower the substrate holder 30 again and place the Si single crystal substrate 1
5, a p-type layer is formed on the previously formed n-type light emitting layer.
【0028】次に図3(c)に示すように、再び基板ホ
ルダー30を上昇させ仕切板12を取りはずすと、さら
に融液は広がりアルミニウム融液16がSi融液20に
添加され、p+型の融液に反転する。Next, as shown in FIG. 3(c), when the substrate holder 30 is raised again and the partition plate 12 is removed, the melt spreads further and the aluminum melt 16 is added to the Si melt 20, resulting in p+ type Invert to melt.
【0029】ここで、Si単結晶基板15を浸漬し、先
に形成したp型層上にp+型層を形成する。At this point, the Si single crystal substrate 15 is immersed, and a p+ type layer is formed on the previously formed p type layer.
【0030】このようにして図5に示すような、n型基
板40上にn型発光層41、p型層42、p+型層43
を順次形成して、SiC青色発光ダイオードを製作する
。ここで最後のp+型層は、オーミック電極とのオーミ
ック性を高めるために形成されたものである。In this way, as shown in FIG.
are sequentially formed to produce a SiC blue light emitting diode. Here, the last p+ type layer is formed to improve ohmic properties with the ohmic electrode.
【0031】図4は、第2の発明の異なる実施例を示す
断面模式図である。この図4は、図3に示した実施例の
ものが縦型仕切板方式であるのに対し、横型仕切板方式
に構成したものである。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a different embodiment of the second invention. In contrast to the embodiment shown in FIG. 3, which uses a vertical partition plate system, FIG. 4 shows a configuration using a horizontal partition plate system.
【0032】図4に示すように、横型の仕切板方式はる
つぼ25に横型の仕切板26、27を設けたものである
。そして、上の仕切板26で仕切られた領域にSi融液
20を充填し、第2の仕切板27上にアルミニウム融液
16が、るつぼ25の底部にアルミニウム融液17が配
置されている。そして、仕切板26から順に取りはずし
、Si融液2を下方へ落としていくだけで、図3で説明
したものと同様に、順次タイプの異なるSiC単結晶が
基板15上に成長形成される。As shown in FIG. 4, in the horizontal partition plate system, horizontal partition plates 26 and 27 are provided on the crucible 25. The area partitioned by the upper partition plate 26 is filled with Si melt 20, and the aluminum melt 16 is placed on the second partition plate 27, and the aluminum melt 17 is placed at the bottom of the crucible 25. Then, by simply removing the partition plates 26 in order and dropping the Si melt 2 downward, different types of SiC single crystals are sequentially grown and formed on the substrate 15, similar to what was explained with reference to FIG.
【0033】上述した実施例は、ほんの一例であり、n
−n−p−p+構造だけではなくn−n−−n+−p構
造等にも利用することが可能であり、必要であれば、さ
らに多層構造の発光ダイオードを製作することも可能で
ある。The embodiment described above is just an example, and n
It is possible to use not only the -n-p-p+ structure but also the n-n--n+-p structure, and if necessary, it is also possible to manufacture a light emitting diode with a multilayer structure.
【0034】[0034]
【発明の効果】以上説明したように、本発明による液相
エピタキシャル成長方法によると、1個のるつぼを交換
することなく順次エピタキシャル成長層を形成すること
ができ、大幅に時間短縮がはかれ、コストダウンにも有
効である。さらに、従来法では、pn接合界面は必ず大
気にさらされていたが、本発明では、連続して成長を行
うことができるため良好なpn接合界面を得ることがで
きる。Effects of the Invention As explained above, according to the liquid phase epitaxial growth method of the present invention, epitaxial growth layers can be sequentially formed without replacing a single crucible, which greatly reduces time and costs. It is also effective for Furthermore, in the conventional method, the pn junction interface was always exposed to the atmosphere, but in the present invention, growth can be performed continuously, so that a good pn junction interface can be obtained.
【0035】また、2層以上の多層構造も容易に形成す
ることができる。Furthermore, a multilayer structure of two or more layers can be easily formed.
【図1】 第1の発明方法を実施するための装置の断
面模式図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of an apparatus for carrying out the first method of the invention.
【図2】 第1の発明方法の第2の導電型の結晶成長
状態を示す断面模式図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing the state of crystal growth of the second conductivity type in the first invention method.
【図3】 第2の発明の実施例を示す断面模式図であ
る。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of the second invention.
【図4】 第2の発明の他の実施例を示す断面模式図
である。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing another embodiment of the second invention.
【図5】 第2の発明によって形成された液相エピタ
キシャル層の断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view of a liquid phase epitaxial layer formed according to the second invention.
【図6】 従来の方法によって形成された液相エピタ
キシャル層の断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view of a liquid phase epitaxial layer formed by a conventional method.
【図7】 従来の液相エピタキシャル成長方法を示す
断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view showing a conventional liquid phase epitaxial growth method.
1 るつぼ 2 中央壁 3 シリコン融液 4 シリコン融液 5 基板支持棒 6 SiC単結晶基板 10 るつぼ 11 仕切板 12 仕切板 15 SiC単結晶基板 16 アルミニウム融液 17 アルミニウム融液 20 シリコン融液 25 るつぼ 26 仕切板 27 仕切板 30 基板ホルダー 1 Crucible 2 Central wall 3 Silicon melt 4 Silicon melt 5 Board support rod 6 SiC single crystal substrate 10 Crucible 11 Partition plate 12 Partition plate 15 SiC single crystal substrate 16 Aluminum melt 17 Aluminum melt 20 Silicon melt 25 Crucible 26 Partition plate 27 Partition plate 30 Substrate holder
Claims (2)
黒鉛るつぼを用意し、この黒鉛るつぼの内側に第1導電
型の成長を行なわせる融液を、外側に第2導電型の成長
を行なわせる融液を夫々設け、この内側の融液中に炭化
シリコン単結晶基板を浸漬して、第1導電型の炭化シリ
コン単結晶を基板上にエピタキシャル成長させた後、こ
の融液をオーバーフローさせ、内側の融液と外側の融液
を混合し、補償効果によって導電型を変化させ、第2導
電型の炭化シリコン単結晶をエピタキシャル成長させる
ことを特徴とする液相エピタキシャル成長方法。Claim 1: A graphite crucible having a structure in which the inside is divided into an outside and an inside is prepared, and a melt for growing a first conductivity type is placed inside the graphite crucible, and a melt for growing a second conductivity type is placed outside the crucible. A silicon carbide single crystal substrate is immersed in the inner melt to epitaxially grow a silicon carbide single crystal of the first conductivity type on the substrate, and then the melt is allowed to overflow. A liquid phase epitaxial growth method characterized by mixing an inner melt and an outer melt, changing the conductivity type by a compensation effect, and epitaxially growing a silicon carbide single crystal of a second conductivity type.
させて、基板上に単結晶をエピタキシャル成長させる液
相エピタキシャル成長方法であって、黒鉛るつぼ内に複
数枚の仕切壁を設け、この仕切板を順次除去していくこ
とにより、融液の移動を行い、基板上に種々のタイプの
異なる単結晶を順次形成することを特徴とする液相エピ
タキシャル成長方法。2. A liquid phase epitaxial growth method in which a substrate is immersed in a raw material melt in a graphite crucible to epitaxially grow a single crystal on the substrate, the method comprising: providing a plurality of partition walls in the graphite crucible; A liquid phase epitaxial growth method characterized by sequentially removing various types of single crystals on a substrate by moving the melt and sequentially forming different types of single crystals on a substrate.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3149713A JPH04348086A (en) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | Liquid phase epitaxy |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3149713A JPH04348086A (en) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | Liquid phase epitaxy |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04348086A true JPH04348086A (en) | 1992-12-03 |
Family
ID=15481198
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3149713A Pending JPH04348086A (en) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | Liquid phase epitaxy |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04348086A (en) |
-
1991
- 1991-05-24 JP JP3149713A patent/JPH04348086A/en active Pending
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