JPH04345066A - Linear image sensor - Google Patents

Linear image sensor

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Publication number
JPH04345066A
JPH04345066A JP3118290A JP11829091A JPH04345066A JP H04345066 A JPH04345066 A JP H04345066A JP 3118290 A JP3118290 A JP 3118290A JP 11829091 A JP11829091 A JP 11829091A JP H04345066 A JPH04345066 A JP H04345066A
Authority
JP
Japan
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image sensor
sheet substrate
conductor layer
semiconductor element
circuit conductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP3118290A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Eiichiro Tanaka
栄一郎 田中
Tetsuro Nakamura
哲朗 中村
Masahiro Nakagawa
雅浩 中川
Shinji Fujiwara
慎司 藤原
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP3118290A priority Critical patent/JPH04345066A/en
Publication of JPH04345066A publication Critical patent/JPH04345066A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain a linear image sensor capable of corresponding with both a close contact type and a completely close contact type. CONSTITUTION:A transparent sheet substrate 11 on which surface a circuit conductor layer 12 is formed, and a semiconductor element having a photodetector 17 which is mounted on the substrate 11 surface via photo-setting type insulative resin 15 are provided. The semiconductor element is mounted with its face down, and electrodes formed on the element abut against the circuit conductor layer 12. At least a part of the circuit conductor layer 12 on the transparent sheet substrate 11 is connected with a circuit board 16, and the transparent sheet substrate is retained by the circuit board 16. Hence one kind of manufacturing equipment of an image sensor can be commonly used, so that initial investment can be reduced.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は光学画像を電気信号に変
換するイメージセンサに関し、ファクシミリ、イメージ
リーダ、ディジタル複写機等に好適な原稿の幅方向に対
応された一次元イメージセンサ関するものである。
[Field of Industrial Application] The present invention relates to an image sensor that converts an optical image into an electrical signal, and relates to a one-dimensional image sensor that is compatible with the width direction of a document and is suitable for facsimile machines, image readers, digital copying machines, etc. .

【0002】0002

【従来の技術】従来、イメージ情報を電気信号に変換す
るイメージセンサには、一次元CCD素子を用いた縮小
型と、等倍の長尺センサを用いた一次元イメージセンサ
が商品化されている。このうち後者の長尺センサを用い
た一次元イメージセンサは光の利用率が高く、高速な読
み取りが可能で、光学系が小さく設計できる等優れた特
長を有する。このようなイメージセンサには等倍光学レ
ンズである集束性ロッドレンズアレイを用いた密着型イ
メージセンサと光学レンズを用いない完全密着型イメー
ジセンサがある。後者の完全密着型イメージセンサは、
集束性ロッドレンズアレイが不要であることから安価で
、装置の小型化が更に容易であることからファクシミリ
において実用化されるに至っている。
[Prior Art] Conventionally, image sensors that convert image information into electrical signals have been commercialized as a reduced type using a one-dimensional CCD element and a one-dimensional image sensor using a long sensor of the same size. . Among these, the latter one-dimensional image sensor using a long sensor has excellent features such as high light utilization, high-speed reading, and the ability to design a small optical system. Such image sensors include a close-contact type image sensor that uses a convergent rod lens array, which is a same-magnification optical lens, and a completely close-contact type image sensor that does not use an optical lens. The latter fully contact image sensor is
Since no converging rod lens array is required, it is inexpensive, and the device can be more easily miniaturized, so it has come into practical use in facsimiles.

【0003】0003

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな長尺センサを用いた一次元イメージセンサでは、完
全密着型イメージセンサにおいては、被検知体(読み取
り原稿)と受光素子間が概ね50μm程度であるため、
ロッドレンズアレイを用いた密着型イメージセンサとは
個別にイメージセンサを設計製造する必要があった。こ
のため、別個の生産設備と頻繁な機種切り替え等複雑な
管理が必要であり、多くの設備投資を必要としていた。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in a one-dimensional image sensor using a long sensor as described above, in a fully contact type image sensor, the distance between the object to be detected (read original) and the light receiving element is approximately 50 μm. Because there is
Unlike a contact image sensor using a rod lens array, it was necessary to design and manufacture an image sensor separately. For this reason, complicated management such as separate production equipment and frequent model switching is required, and a large amount of capital investment is required.

【0004】0004

【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに本発明は、表面上に回路導体層を形成した透光性シ
ート基板と、この透光性シート基板の表面上に、光硬化
型絶縁樹脂を介して実装した受光素子を有する半導体素
子とを備え、上記半導体素子はフェイスダウンで、その
素子上に形成された取り出し電極が上記回路導体層に当
接する構造をし、上記透光性シート基板上の回路導体層
の少なくとも1部が回路基板と接続され且つ透光性シー
ト基板が回路基板に保持された構造とする。
[Means for Solving the Problems] In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a light-transmitting sheet substrate on which a circuit conductor layer is formed, and a photocurable sheet substrate on the surface of the light-transmitting sheet substrate. a semiconductor element having a light-receiving element mounted through a type insulating resin, the semiconductor element is face-down, and the extraction electrode formed on the element is in contact with the circuit conductor layer; At least a part of the circuit conductor layer on the translucent sheet substrate is connected to the circuit board, and the translucent sheet substrate is held by the circuit board.

【0005】[0005]

【作用】このようにして、本発明の上記した構成によっ
て、密着型、完全密着型と問わずに少しの加工のみで対
応できるイメージセンサを提供できるため、イメージセ
ンサの製造設備は1種のみで共用できるため設備投資を
軽減できる。
[Operation] In this way, with the above-described configuration of the present invention, it is possible to provide an image sensor that can be used with only a small amount of processing, regardless of whether it is a close-contact type or a completely close-contact type. Therefore, only one type of image sensor manufacturing equipment is required. Since it can be shared, capital investment can be reduced.

【0006】たとえば、完全密着型イメージセンサを得
る場合には、透光性シート基板の受光素子を有する半導
体素子がフェイスダウンで回路導体層と当接する面とは
異なる面、いわゆる原稿と当接する面に例えば保護層と
帯電防止層を兼ねた耐摩耗性に優れた光硬化型透明樹脂
あるいは熱硬化あるいは常温硬化型透明樹脂に低分子化
合物である電荷移動媒体を分散させ塗布し硬化させた層
を形成することにより、容易にS/N比の優れた、高い
出力均一性の完全密着型イメージセンサが得られる。
For example, in order to obtain a completely contact type image sensor, a semiconductor element having a light receiving element of a light-transmitting sheet substrate is placed face down on a surface different from the surface that contacts the circuit conductor layer, that is, the surface that contacts the original. For example, a photocurable transparent resin with excellent abrasion resistance, which serves as both a protective layer and an antistatic layer, or a layer made by dispersing a charge transfer medium, which is a low molecular compound, in a thermosetting or room temperature curing transparent resin, and then hardening the resin. By forming this, a fully contact image sensor with an excellent S/N ratio and high output uniformity can be easily obtained.

【0007】また、ファイバアレイを埋め込んだガラス
基板(ファイバアレイプレート)を用いた完全密着型イ
メージセンサを得る場合には、ファイバ部分と受光素子
とが一致するように張り合わせるだけで完全密着型イメ
ージセンサが得られる。
[0007] In addition, when obtaining a fully contact type image sensor using a glass substrate (fiber array plate) in which a fiber array is embedded, a completely contact type image sensor can be obtained by simply pasting the fiber part and the light receiving element so that they match. A sensor is obtained.

【0008】さらに、ロッドレンズアレイを用いた密着
型イメージセンサを得る場合には原稿と受光素子がレッ
ドレンズの焦点位置と合うような位置に固定できるシャ
ーシを設計することのみで密着型イメージセンサが得ら
れる。
Furthermore, in order to obtain a close-contact type image sensor using a rod lens array, a close-contact type image sensor can be obtained simply by designing a chassis that can fix the document and the light-receiving element in a position that matches the focal position of the red lens. can get.

【0009】[0009]

【実施例】以下本発明の一実施例の一次元イメージセン
サについて、図面を参照しながら説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A one-dimensional image sensor according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】図1は本発明の一実施例におけるイメージ
センサの正面断面図を示したものである。13は複数の
受光素子を構成するイメージセンサ半導体素子、11は
半導体素子搭載用基板として用いる透光性シート基板、
12は透光性シート基板11の表面上に形成された回路
導体層、14はイメージセンサ半導体素子13に設けら
れている電極、15はイメージセンサ半導体素子13を
、透光性シート基板11の基板へ実装するための透明光
硬化型絶縁樹脂、17はイメージセンサ半導体素子13
に設けられている受光素子、16透光性シート基板等を
保持する回路部品が実装された回路基板であり、半導体
素子のためのスリット状の溝あるいは穴を設けてある。 19は回路基板に設けられた回路導体層、18は透光性
シート基板を回路基板に固定するための透明樹脂である
FIG. 1 shows a front sectional view of an image sensor according to an embodiment of the present invention. 13 is an image sensor semiconductor element constituting a plurality of light receiving elements; 11 is a transparent sheet substrate used as a substrate for mounting the semiconductor element;
12 is a circuit conductor layer formed on the surface of the transparent sheet substrate 11; 14 is an electrode provided on the image sensor semiconductor element 13; and 15 is the image sensor semiconductor element 13 formed on the surface of the transparent sheet substrate 11. 17 is an image sensor semiconductor element 13;
This is a circuit board on which circuit components are mounted to hold a light receiving element provided in a semiconductor device, a 16 light-transmitting sheet substrate, etc., and a slit-like groove or hole is provided for a semiconductor element. 19 is a circuit conductor layer provided on the circuit board, and 18 is a transparent resin for fixing the translucent sheet board to the circuit board.

【0011】次に、上記のように構成されたイメージセ
ンサの製造方法を説明する。まず半導体プロセスを用い
て単結晶シリコン基板(ウエハ)上に、フォトトランジ
スタまたはフォトダイオード等の受光素子17とCCD
やMOS、バイポーラIC等のアクセス回路(図示せず
)を設けたものを作る。本実施例ではバイポーラICを
用いて受光素子を形成したものを用いる。電極14につ
いては、2層Al配線のプロセスを用い、スパッタリン
グ方法により数μm程度ウエハ表面より突出した構造に
なっている。その後このウエハを高精度ダイシング技術
により切断し、イメージセンサ半導体素子13を作る。 次にポリアリレート(PA)、ポリエーテルサルフォン
(PES)またはポリエーテルエーテルケトン(PEE
K)等の透光性シート基板11上に、銅等の金属を、蒸
着法やスパッタリング法、または箔等を用いて形成し、
後にフォトリソ法によって回路導体層12を形成する。 この透光性シート基板11の所定に位置に、アクリレー
ト系の透明光硬化型絶縁樹脂15をスタンピング法やス
クリーン印刷法等で所定量塗布し、その上にイメージセ
ンサ半導体素子13を電極14が所定の回路導体層12
に当接するようにフェイスダウンで配置する。その後、
このイメージセンサ半導体素子13の上方から圧力を加
えながら、透明光硬化型絶縁樹脂15に透光性シート基
板11を通して紫外線照射をし、硬化させ、実装を完了
する。この実装済みの透光性シート基板を、半導体素子
が入る穴が開けられた回路基板16の接続すべき回路導
体層19と透光性シート基板上の回路導体層12とを合
わせ熱圧着法等により半田づけ等により接続する。この
回路基板は多層配線によってセンサの駆動回路あるいは
信号処理回路を含んだ回路部品を実装すればよい。その
後、透光性シート基板11を固定するため透明な光硬化
型あるいは常温または熱硬化型のシリコーン樹脂18等
を注入し固化することにより回路基板に固定する。
Next, a method of manufacturing the image sensor configured as described above will be explained. First, using a semiconductor process, a light receiving element 17 such as a phototransistor or photodiode and a CCD are formed on a single crystal silicon substrate (wafer).
A device equipped with an access circuit (not shown) such as MOS, bipolar IC, etc. is manufactured. In this embodiment, a light receiving element formed using a bipolar IC is used. The electrode 14 uses a two-layer Al wiring process and has a structure that protrudes from the wafer surface by about several μm using a sputtering method. Thereafter, this wafer is cut using high-precision dicing technology to produce image sensor semiconductor elements 13. Then polyarylate (PA), polyethersulfone (PES) or polyetheretherketone (PEE)
Forming a metal such as copper on a transparent sheet substrate 11 such as K) using a vapor deposition method, a sputtering method, a foil, etc.
A circuit conductor layer 12 is then formed by photolithography. A predetermined amount of acrylate-based transparent photocurable insulating resin 15 is applied to a predetermined position of the translucent sheet substrate 11 by a stamping method, a screen printing method, etc., and the image sensor semiconductor element 13 is placed on the electrode 14 in a predetermined position. circuit conductor layer 12
Place it face down so that it is in contact with the after that,
While applying pressure from above the image sensor semiconductor element 13, the transparent photocurable insulating resin 15 is irradiated with ultraviolet rays through the transparent sheet substrate 11 and cured, completing the mounting. This mounted translucent sheet substrate is bonded to the circuit conductor layer 19 to be connected of the circuit board 16 with a hole for the semiconductor element to be connected to the circuit conductor layer 12 on the translucent sheet substrate using thermocompression bonding, etc. Connect by soldering etc. Circuit components including a sensor drive circuit or a signal processing circuit may be mounted on this circuit board using multilayer wiring. Thereafter, in order to fix the translucent sheet substrate 11, a transparent photo-curing type, room temperature or thermosetting type silicone resin 18 or the like is injected and solidified to fix it to the circuit board.

【0012】透明光硬化型絶縁樹脂15としては、光照
射によって硬化するウレタンアクリレート系、あるいは
エポキシアクリレート系の紫外線硬化樹脂が接着性、光
感度、電気的な接続性の点から好適である。
As the transparent photocurable insulating resin 15, urethane acrylate-based or epoxy acrylate-based ultraviolet curable resins, which are cured by light irradiation, are suitable from the viewpoint of adhesiveness, photosensitivity, and electrical connectivity.

【0013】上記図1の構成のイメージセンサを作成す
る際に、透光性シート基板11にポリアリレートフィル
ムを用い、またその上に8〜17.5μmの銅箔を貼り
、フォトリソ法により回路導体層を形成した。センサ半
導体素子と当接する部分に金メッキ処理を施せばさらに
好適である。
When producing the image sensor having the configuration shown in FIG. 1, a polyarylate film is used as the transparent sheet substrate 11, a copper foil of 8 to 17.5 μm is pasted thereon, and a circuit conductor is formed by photolithography. formed a layer. It is more preferable if the portion that contacts the sensor semiconductor element is plated with gold.

【0014】図2は本発明の第1の実施例における完全
密着型イメージセンサの正面断面図である。13は複数
の受光素子を構成するイメージセンサ半導体素子、11
は少なくとも半導体素子搭載部近傍が透光する構造の透
光性シート基板、12は透光性シート基板11の表面上
に形成された回路導体層、14はイメージセンサ半導体
素子13に設けられている電極、15はイメージセンサ
半導体素子13を、透光性シート基板11へ実装するた
めの透明光硬化型絶縁樹脂、20は電荷移動媒体を含有
しイメージセンサ半導体素子13を電気的・機械的に保
護するための耐摩耗性を有する保護層、17はイメージ
センサ半導体素子13に設けられている受光素子、21
は保護層の電位を一定に保ち且つセンサ保持を兼ねたシ
ャーシ、16は透光性シート基板等を保持する回路基板
、18は回路基板に固定するためのシリコーン透明樹脂
、19は回路基板上の回路導体層である。ここで受光素
子と対向して配置する被検知体22である読み取り原稿
は保護層20を介して接する。
FIG. 2 is a front sectional view of a fully contact type image sensor according to a first embodiment of the present invention. 13 is an image sensor semiconductor element constituting a plurality of light receiving elements; 11
12 is a circuit conductor layer formed on the surface of the transparent sheet substrate 11; 14 is provided on the image sensor semiconductor element 13; Electrode 15 is a transparent photocurable insulating resin for mounting the image sensor semiconductor element 13 on the transparent sheet substrate 11; 20 is a material containing a charge transfer medium to electrically and mechanically protect the image sensor semiconductor element 13; 17 is a light-receiving element provided in the image sensor semiconductor element 13;
16 is a circuit board that holds a translucent sheet board, etc.; 18 is a silicone transparent resin for fixing to the circuit board; 19 is a chassis on the circuit board; It is a circuit conductor layer. Here, a read original, which is a detected object 22 disposed facing the light-receiving element, comes into contact with the light-receiving element through the protective layer 20.

【0015】ここで、電荷移動媒体としてはオキサジア
ゾール、オキサゾール等の複素環化合物、ピラゾリン誘
導体、トリフェニルメタン、ヒドラゾン、トリアリール
アミン、N−フェニルカルバゾール、スチルベン等電子
写真感光体に応用される低分子化合物が有用である。
Here, charge transfer media include heterocyclic compounds such as oxadiazole and oxazole, pyrazoline derivatives, triphenylmethane, hydrazone, triarylamine, N-phenylcarbazole, and stilbene, which are used in electrophotographic photoreceptors. Low molecular weight compounds are useful.

【0016】この本実施例では表面を粗面化したポリエ
ーテルサルフォン(PES)の透光性シート基板11上
に、銅箔を紫外線硬化型透明絶縁樹脂等を用いて貼合わ
せて形成し、後にフォトリソ法によって回路導体層12
を形成する。この時、エッチングにより除去された銅箔
部には中心線平均粗さRa=〜0.5a、最大高さRm
ax=〜1.2s程度に粗面化されている。イメージセ
ンサ半導体素子13を実装後、反対面の透光性シート基
板11に例えば、スクリーン印刷等によりエポキシアク
リレート系等の光硬化型透明樹脂中に低分子化合物電荷
移動媒体としてスチルベンを樹脂に対して0.5〜2重
量比、好適には0.9〜1.2重量比を充分に分散させ
た溶液を塗布し、UV照射により硬化させ5〜15μm
の保護層16を形成した。最後にシャーシ21をこの保
護層に圧接・固定し完全密着型イメージセンサを得る。
In this embodiment, a copper foil is bonded to a transparent sheet substrate 11 made of polyether sulfone (PES) with a roughened surface using an ultraviolet curable transparent insulating resin. Later, the circuit conductor layer 12 is formed by photolithography.
form. At this time, the copper foil portion removed by etching has a center line average roughness Ra=~0.5a and a maximum height Rm.
The surface is roughened to about ax=~1.2s. After mounting the image sensor semiconductor element 13, stilbene is applied to the light-curing transparent resin such as epoxy acrylate as a low-molecular compound charge transfer medium to the transparent sheet substrate 11 on the opposite side by, for example, screen printing. A well-dispersed solution with a weight ratio of 0.5 to 2, preferably 0.9 to 1.2, is applied and cured by UV irradiation to a thickness of 5 to 15 μm.
A protective layer 16 was formed. Finally, the chassis 21 is pressed and fixed to this protective layer to obtain a completely contact type image sensor.

【0017】このイメージセンサについては、透光性シ
ート基板11及び透明光硬化型絶縁樹脂15、透明シリ
コーン樹脂18を通してイメージセンサ半導体素子13
近傍の開口部上方からLEDアレイ等で保護層20と接
する原稿22を投光し、反射してきた光情報を受光素子
17が検知し、これを電気信号に変換するようになって
いる。
Regarding this image sensor, an image sensor semiconductor element 13 is passed through a transparent sheet substrate 11, a transparent photocurable insulating resin 15, and a transparent silicone resin 18.
Light is projected onto the document 22 in contact with the protective layer 20 using an LED array or the like from above the nearby opening, and the light receiving element 17 detects the reflected light information and converts it into an electrical signal.

【0018】このようにして得られたバイポーラICを
用いた完全密着型イメージセンサは摩擦帯電による電界
強度が4V/μm以下では出力特性に影響が無いことか
ら、本実施例のイメージセンサは摩擦帯電により数十ボ
ルト程度の帯電電位を示すが、放電によるノイズ発生も
なくまた、電界強度も1V/μm以下のため特性には影
響はなく安定した出力特性が得られた。
Since the fully contact type image sensor using the bipolar IC thus obtained has no effect on the output characteristics when the electric field strength due to tribo-electrification is 4 V/μm or less, the image sensor of this example is not affected by tribo-electrification. Although the charged potential was on the order of several tens of volts, there was no noise caused by the discharge, and the electric field strength was less than 1 V/μm, so the characteristics were not affected and stable output characteristics were obtained.

【0019】図3に第2の実施例について述べる。第1
の実施例と同様に、回路導体層12上にイメージセンサ
半導体素子13を電極14が所定の回路導体層12に当
接するようにフェイスダウンで実装を完了し、回路基板
16に固定された後、レッドレンズアレイ23とLED
アレイ24を配置し、被検知体である読み取り原稿22
と受光素子がレンズの焦点に位置するようにシャーシ2
1を設計し密着型イメージセンサを得たものである。
A second embodiment will be described with reference to FIG. 1st
Similar to the embodiment, the image sensor semiconductor element 13 is mounted face down on the circuit conductor layer 12 so that the electrode 14 is in contact with a predetermined circuit conductor layer 12, and after being fixed to the circuit board 16, Red lens array 23 and LED
An array 24 is arranged, and a read original 22 which is an object to be detected is placed.
and chassis 2 so that the light receiving element is located at the focal point of the lens.
1 was designed to obtain a contact type image sensor.

【0020】本実施例のイメージセンサは従来のガラス
基板あるいはアルミナ基板にワイヤボンドされて得られ
た従来のセンサと何等変わることなく優れた特性を示し
た。
The image sensor of this example exhibited excellent characteristics, no different from conventional sensors obtained by wire bonding to conventional glass substrates or alumina substrates.

【0021】図4に第3の実施例であるファイバアレイ
プレートを用いた完全密着型イメージセンサの例を示す
FIG. 4 shows a third embodiment of a complete contact type image sensor using a fiber array plate.

【0022】第1の実施例と同様に、回路導体層12上
にイメージセンサ半導体素子13を電極14が所定の回
路導体層12に当接するようにフェイスダウンで実装を
完了した後、回路基板16に固定する。さらに、ファイ
バアレイプレート25上に透明な光硬化あるいは熱また
は常温硬化の樹脂を塗布した後、受光素子とファイバア
レイ26が一致するように配置し樹脂を固化することに
よって完全密着型イメージセンサを得たものである。
As in the first embodiment, after mounting the image sensor semiconductor element 13 on the circuit conductor layer 12 face down so that the electrode 14 is in contact with a predetermined circuit conductor layer 12, the circuit board 16 is mounted. Fixed to. Furthermore, after applying a transparent photocuring, heat or room temperature curing resin on the fiber array plate 25, a completely contact image sensor is obtained by arranging the light receiving element and the fiber array 26 so that they match and solidifying the resin. It is something that

【0023】本実施例の完全密着型イメージセンサは比
較的焦点深度の深く、摩擦による静電気あるいは摩耗に
よるきずによる画像劣化も少なく製造工程も簡素で安価
な完全密着型イメージセンサを提供することが出来る。
The complete contact type image sensor of this embodiment has a relatively deep depth of focus, has little image deterioration due to static electricity due to friction or scratches due to wear, and has a simple manufacturing process, making it possible to provide an inexpensive fully contact type image sensor. .

【0024】[0024]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、密着型、
完全密着型と問わずに少しの加工のみで対応できるイメ
ージセンサを提供できるため、イメージセンサの製造設
備は1種のみで共用できるため設備投資を軽減できる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the contact type,
Since it is possible to provide an image sensor that requires only a small amount of processing, regardless of whether it is a completely contact type, only one type of image sensor manufacturing equipment can be shared, reducing capital investment.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】本発明の一実施例における一次元イメージセン
サの断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a one-dimensional image sensor in one embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施例における完全密着型イメ
ージセンサの断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view of a fully contact type image sensor in a first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第2の実施例における密着型イメージ
センサの断面図である。
FIG. 3 is a sectional view of a contact type image sensor according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第3の実施例における完全密着型イメ
ージセンサの断面図である。
FIG. 4 is a sectional view of a complete contact type image sensor according to a third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11  透光性シート基板 12  回路導体層 13  イメージセンサ半導体素子 14  電極 15  透明光硬化型絶縁樹脂 16  回路基板 17  受光素子 18  透明樹脂 19  回路導体層 20  保護層 21  シャーシ 22  被検知体(読み取り原稿) 23  ロッドレンズアレイ 24  LEDアレイ 25  ファイバアレイプレート 26  ファイバアレイ 11 Translucent sheet substrate 12 Circuit conductor layer 13 Image sensor semiconductor device 14 Electrode 15 Transparent photocurable insulating resin 16 Circuit board 17 Photo receiving element 18 Transparent resin 19 Circuit conductor layer 20 Protective layer 21 Chassis 22 Detected object (scanned original) 23 Rod lens array 24 LED array 25 Fiber array plate 26 Fiber array

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  表面上に回路導体層を形成した透光性
シート基板と、この透光性シート基板の表面上に、光硬
化型絶縁樹脂を介して実装した受光素子を有する半導体
素子とを備え、上記半導体素子はフェイスダウンで、そ
の素子上に形成された取り出し電極が上記回路導体層に
当接する構造をし、上記透光性シート基板上の回路導体
層の少なくとも1部が、回路基板と接続され且つ透光性
シート基板が回路基板に保持された構造を有する一次元
イメージセンサ。
1. A light-transmitting sheet substrate having a circuit conductor layer formed on its surface, and a semiconductor element having a light-receiving element mounted on the surface of the light-transmitting sheet substrate via a photocurable insulating resin. The semiconductor element is face-down and has a structure in which an extraction electrode formed on the element is in contact with the circuit conductor layer, and at least a part of the circuit conductor layer on the translucent sheet substrate is connected to the circuit board. A one-dimensional image sensor having a structure in which a translucent sheet substrate is connected to a circuit board and is held on a circuit board.
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