JPH04329376A - 電磁妨害源位置推定法 - Google Patents
電磁妨害源位置推定法Info
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- JPH04329376A JPH04329376A JP12693391A JP12693391A JPH04329376A JP H04329376 A JPH04329376 A JP H04329376A JP 12693391 A JP12693391 A JP 12693391A JP 12693391 A JP12693391 A JP 12693391A JP H04329376 A JPH04329376 A JP H04329376A
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- electromagnetic interference
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 24
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電磁妨害源の位置を検
出する方法に関し、特に空間の電磁界分布を測定するこ
とによって、電磁妨害源の位置を推定する方法に係る。
出する方法に関し、特に空間の電磁界分布を測定するこ
とによって、電磁妨害源の位置を推定する方法に係る。
【０００２】
【従来の技術】近年、機器の放射妨害波によって周辺の
電子機器の誤動作や放送波等に妨害を与えることが問題
化している。このような電磁障害に対する対策を行うた
めには、どの位置から電磁妨害波が出ているかを特定す
ることが必要である。
電子機器の誤動作や放送波等に妨害を与えることが問題
化している。このような電磁障害に対する対策を行うた
めには、どの位置から電磁妨害波が出ているかを特定す
ることが必要である。
【０００３】図１は電磁妨害源の位置を特定する推定方
法の概念を示す図である。同図において、１は電磁妨害
源、２は移動式測定アンテナ、３は参照アンテナ、４は
測定装置（電界の振幅と位相差を測定する装置）を表わ
している。そして、同図においてＰ（Ｘ，Ｙ）は電磁妨
害源の位置推定に用いる点を示しており、また、Ｑｎ
（Ｘｎ ，Ｙｎ ） はｎ番目の測定点を、Ｓ（Ｘｒｅ
ｆ ，Ｙｒｅｆ ）は参照アンテナの位置を示している
。
法の概念を示す図である。同図において、１は電磁妨害
源、２は移動式測定アンテナ、３は参照アンテナ、４は
測定装置（電界の振幅と位相差を測定する装置）を表わ
している。そして、同図においてＰ（Ｘ，Ｙ）は電磁妨
害源の位置推定に用いる点を示しており、また、Ｑｎ
（Ｘｎ ，Ｙｎ ） はｎ番目の測定点を、Ｓ（Ｘｒｅ
ｆ ，Ｙｒｅｆ ）は参照アンテナの位置を示している
。
【０００４】このとき、点Ｑｎ における電界の振幅は
Ａｎ で与えられ、ｎ番目の位置における測定アンテナ
と参照アンテナの受信電圧の位相差をφｎ とする。Ｒ
ｐｒｅｆは点Ｐと参照アンテナの距離を示し、Ｒｐｎは
点Ｐと第ｎ番目の測定点の距離を示す。また、ｄは測定
アンテナの移動量である。
Ａｎ で与えられ、ｎ番目の位置における測定アンテナ
と参照アンテナの受信電圧の位相差をφｎ とする。Ｒ
ｐｒｅｆは点Ｐと参照アンテナの距離を示し、Ｒｐｎは
点Ｐと第ｎ番目の測定点の距離を示す。また、ｄは測定
アンテナの移動量である。
【０００５】このような妨害波の測定方法として、文献
「菊地、他：“開口合成による不要電磁波発生源の位置
推定法の一提案”，信学論（Ｂ），Ｊ６８−Ｂ，ｐｐ１
１９４−１２０１（昭和６０−１０）．」に示されてい
るものがある。この方法は、空間的にアンテナを移動し
ながら電界強度と、参照アンテナと測定アンテナの受信
電圧の位相差の測定データを用いて、電磁妨害源の位置
を推定するものである。具体的には、電磁妨害源の位置
に関する式“数１”の評価関数Ｄ（Ｘ，Ｙ）を用いるこ
とによって、電磁妨害源の位置を推定する。
「菊地、他：“開口合成による不要電磁波発生源の位置
推定法の一提案”，信学論（Ｂ），Ｊ６８−Ｂ，ｐｐ１
１９４−１２０１（昭和６０−１０）．」に示されてい
るものがある。この方法は、空間的にアンテナを移動し
ながら電界強度と、参照アンテナと測定アンテナの受信
電圧の位相差の測定データを用いて、電磁妨害源の位置
を推定するものである。具体的には、電磁妨害源の位置
に関する式“数１”の評価関数Ｄ（Ｘ，Ｙ）を用いるこ
とによって、電磁妨害源の位置を推定する。
【０００６】
【数１】
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述したような“数１
”を用いて電磁妨害源の位置を推定する場合には、測定
点が少ないと、電磁妨害源があると思われる領域が広範
囲になってしまうので、測定点をかなり多く与えなけれ
ば、推定精度が悪いと言う問題があった。そのため、少
ない測定点で電磁妨害源の位置を高精度に推定する方法
を確立することが望まれていた。このように、従来の推
定方法では推定精度が低いので、測定に際し電磁妨害源
があると思われる領域が広範囲になる。そのため、電磁
妨害源の位置を明確に特定することができないと言う問
題点があった。本発明は上記問題点を解決するために、
電磁妨害源の位置の推定精度の高い電磁妨害推定方法を
提供することを目的としている。
”を用いて電磁妨害源の位置を推定する場合には、測定
点が少ないと、電磁妨害源があると思われる領域が広範
囲になってしまうので、測定点をかなり多く与えなけれ
ば、推定精度が悪いと言う問題があった。そのため、少
ない測定点で電磁妨害源の位置を高精度に推定する方法
を確立することが望まれていた。このように、従来の推
定方法では推定精度が低いので、測定に際し電磁妨害源
があると思われる領域が広範囲になる。そのため、電磁
妨害源の位置を明確に特定することができないと言う問
題点があった。本発明は上記問題点を解決するために、
電磁妨害源の位置の推定精度の高い電磁妨害推定方法を
提供することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明によれば上述の問
題点は、前記特許請求の範囲に記載した手段により解決
される。すなわち、本発明は、電磁放射源より放射され
る電磁界を、固定式の参照アンテナと移動式の測定アン
テナで測定し、測定アンテナで受けた電磁界の振幅と、
参照アンテナ及び測定アンテナで測定した電磁界の位相
差を用いて、電磁妨害源の分布に関する推定式とその推
定式の空間微分値より、電磁妨害源の位置を推定する電
磁妨害源位置推定方法である。
題点は、前記特許請求の範囲に記載した手段により解決
される。すなわち、本発明は、電磁放射源より放射され
る電磁界を、固定式の参照アンテナと移動式の測定アン
テナで測定し、測定アンテナで受けた電磁界の振幅と、
参照アンテナ及び測定アンテナで測定した電磁界の位相
差を用いて、電磁妨害源の分布に関する推定式とその推
定式の空間微分値より、電磁妨害源の位置を推定する電
磁妨害源位置推定方法である。
【０００９】
【作用】本発明の電磁妨害源位置推定方法作用等につい
て以下に説明する。従来の方法によると、前記“数１”
で表される評価関数Ｄ（Ｘ，Ｙ）は電磁放射源付近で大
きくなる。この特性を利用して、電磁妨害源の位置推定
精度を高めることができる。そこで、“数１”に関して
“数２”，“数３”に示すような偏微分を行う。
て以下に説明する。従来の方法によると、前記“数１”
で表される評価関数Ｄ（Ｘ，Ｙ）は電磁放射源付近で大
きくなる。この特性を利用して、電磁妨害源の位置推定
精度を高めることができる。そこで、“数１”に関して
“数２”，“数３”に示すような偏微分を行う。
【数２】
【数３】
このとき、電磁妨害源の位置に関する評価関数を“数４
”のように考える。
”のように考える。
【数４】
“数４”において、Ｌは重み付け定数を示す。通常、Ｌ
は１〜３程度を用いる。ここで、“数４”は分母に極大
点で０に近づく関数を入れることにより、電磁妨害源以
外の評価関数値と電磁妨害源の付近の評価関数値の差を
大きくすることができることを示している。これによっ
て、電磁妨害源の位置推定精度を上げることができる。
は１〜３程度を用いる。ここで、“数４”は分母に極大
点で０に近づく関数を入れることにより、電磁妨害源以
外の評価関数値と電磁妨害源の付近の評価関数値の差を
大きくすることができることを示している。これによっ
て、電磁妨害源の位置推定精度を上げることができる。
【００１０】
【実施例】本発明の方法の具体的な実施例を以下に説明
する。図１において、参照アンテナを固定し、測定アン
テナを移動しながら電界を測定する。このとき、各測定
点における測定アンテナの電磁界の振幅成分と、測定ア
ンテナと参照アンテナの位相差を測定器（ベクトルボル
トメータ）で測定する。
する。図１において、参照アンテナを固定し、測定アン
テナを移動しながら電界を測定する。このとき、各測定
点における測定アンテナの電磁界の振幅成分と、測定ア
ンテナと参照アンテナの位相差を測定器（ベクトルボル
トメータ）で測定する。
【００１１】この振幅と位相差を“数１”，“数２”と
“数３”に代入し、Ｄ（Ｘ，Ｙ），ＦＸ（Ｘ，Ｙ），Ｆ
Ｙ（Ｘ，Ｙ）を求め“数４”の評価関数Ｄ′（Ｘ，Ｙ）
を求める。このとき、推定点Ｐ（Ｘ，Ｙ）を移動させて
“数４”の値を３次元表示の図より、電磁妨害源の位置
を推定することができる。本発明の電磁妨害源推定方法
では、従来の位置推定方法に比して推定精度が高いため
、広い空間における電磁妨害源の位置推定を容易に行う
ことができる。
“数３”に代入し、Ｄ（Ｘ，Ｙ），ＦＸ（Ｘ，Ｙ），Ｆ
Ｙ（Ｘ，Ｙ）を求め“数４”の評価関数Ｄ′（Ｘ，Ｙ）
を求める。このとき、推定点Ｐ（Ｘ，Ｙ）を移動させて
“数４”の値を３次元表示の図より、電磁妨害源の位置
を推定することができる。本発明の電磁妨害源推定方法
では、従来の位置推定方法に比して推定精度が高いため
、広い空間における電磁妨害源の位置推定を容易に行う
ことができる。
【００１２】図２は本発明を実施する系の構成の例を示
す図である。同図において、１は電磁妨害源、２は移動
式測定アンテナ、３は参照アンテナ、４は測定装置（こ
こでは、測定電界の電圧と位相を取るためベクトルメー
タ）を表わしている。同図においては、電磁妨害源が半
波長ダイポールの送信アンテナである場合を示している
。
す図である。同図において、１は電磁妨害源、２は移動
式測定アンテナ、３は参照アンテナ、４は測定装置（こ
こでは、測定電界の電圧と位相を取るためベクトルメー
タ）を表わしている。同図においては、電磁妨害源が半
波長ダイポールの送信アンテナである場合を示している
。
【００１３】このアンテナを自由空間に設置した場合の
電磁妨害源の位置推定シミュレーションを行ったときの
電磁妨害源の位置推定結果（周波数は３０ＭＨｚ）を図
３と図４に示す。図３は本発明による位置推定結果を、
また図４は従来の位置推定結果を示している。これらの
図より従来の方法では電磁妨害源がある位置を明確に示
すことができないが、本発明によると電磁妨害源の位置
を明確に示すことができることが分かる。以上のように
本発明の電磁妨害源推定方法によって高精度な電磁妨害
源の位置推定を行うことができる。
電磁妨害源の位置推定シミュレーションを行ったときの
電磁妨害源の位置推定結果（周波数は３０ＭＨｚ）を図
３と図４に示す。図３は本発明による位置推定結果を、
また図４は従来の位置推定結果を示している。これらの
図より従来の方法では電磁妨害源がある位置を明確に示
すことができないが、本発明によると電磁妨害源の位置
を明確に示すことができることが分かる。以上のように
本発明の電磁妨害源推定方法によって高精度な電磁妨害
源の位置推定を行うことができる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電磁妨害
源推定方法によれば、電磁妨害源の推定を行なう場合に
、従来の方法に比して電磁妨害源の位置を高精度に推定
することができる。また、電磁妨害源がどの位置に有す
るのかを遠隔地より特定することができるから遠隔監視
システムの電磁妨害源探知技術等に応用できる利点があ
る。
源推定方法によれば、電磁妨害源の推定を行なう場合に
、従来の方法に比して電磁妨害源の位置を高精度に推定
することができる。また、電磁妨害源がどの位置に有す
るのかを遠隔地より特定することができるから遠隔監視
システムの電磁妨害源探知技術等に応用できる利点があ
る。
【図１】電磁妨害源の位置を特定する推定方法の概念を
示す図である。
示す図である。
【図２】本発明を実施する系の構成の例を示す図である
。
。
【図３】本発明による電磁妨害源の位置の推定結果の例
を示す図である。
を示す図である。
【図４】従来の方法による電磁妨害源の位置の推定結果
の例を示す図である。
の例を示す図である。
１ 電磁妨害源
２ 移動式測定アンテナ
３ 参照アンテナ
４ 測定装置
Claims (1)
- 【請求項１】 電磁放射源より放射される電磁界を、
固定式の参照アンテナと移動式の測定アンテナで測定し
、測定アンテナで受けた電磁界の振幅と、参照アンテナ
及び測定アンテナで測定した電磁界の位相差を用いて、
電磁妨害源の分布に関する推定式とその推定式の空間微
分値より、電磁妨害源の位置を推定することを特徴とす
る電磁妨害源位置推定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12693391A JPH04329376A (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | 電磁妨害源位置推定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12693391A JPH04329376A (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | 電磁妨害源位置推定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04329376A true JPH04329376A (ja) | 1992-11-18 |
Family
ID=14947497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12693391A Pending JPH04329376A (ja) | 1991-04-30 | 1991-04-30 | 電磁妨害源位置推定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04329376A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1174722A1 (en) * | 1999-04-23 | 2002-01-23 | Hitachi, Ltd. | Electromagnetic wave generating source probing device, method therefor and analyzing method therefor |
| EP1477819A1 (en) * | 2001-04-09 | 2004-11-17 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Method of measuring electromagnetic field intensity and device therefor,method of measuring electromagnetic field intensity distribution and device thereof, method of measuring current/voltage distribution and divice thereof |
| CN102565546A (zh) * | 2010-12-17 | 2012-07-11 | 上海无线电设备研究所 | 一种电磁辐射扫描定位方法 |
-
1991
- 1991-04-30 JP JP12693391A patent/JPH04329376A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1174722A1 (en) * | 1999-04-23 | 2002-01-23 | Hitachi, Ltd. | Electromagnetic wave generating source probing device, method therefor and analyzing method therefor |
| US6411104B1 (en) | 1999-04-23 | 2002-06-25 | Hitachi, Ltd. | Apparatus and method for detecting electromagnetic wave source, and method for analyzing the same |
| US6617860B2 (en) | 1999-04-23 | 2003-09-09 | Hitachi, Ltd. | Apparatus and method for detecting electromagnetic wave source, and method for analyzing the same |
| EP1174722A4 (en) * | 1999-04-23 | 2008-08-20 | Hitachi Ltd | SURVEY DEVICE AND METHOD FOR ELECTROMAGNETIC WAVE SOURCE SEARCH, AND METHOD FOR ANALYZING THE SAME |
| EP1477819A1 (en) * | 2001-04-09 | 2004-11-17 | Taiyo Yuden Co., Ltd. | Method of measuring electromagnetic field intensity and device therefor,method of measuring electromagnetic field intensity distribution and device thereof, method of measuring current/voltage distribution and divice thereof |
| EP1477819A4 (en) * | 2001-04-09 | 2008-04-02 | Taiyo Yuden Kk | METHOD OF MEASURING THE ELECTROMAGNETIC FIELD INTENSITY AND DEVICE THEREFOR, METHOD FOR MEASURING THE ELECTROMAGNETIC FIELD INTENSITY DISTRIBUTION AND EQUIPMENT THEREFOR, METHOD FOR MEASURING THE ELECTRICITY / VOLTAGE DISTRIBUTION AND ESTABLISHMENT THEREFOR |
| CN102565546A (zh) * | 2010-12-17 | 2012-07-11 | 上海无线电设备研究所 | 一种电磁辐射扫描定位方法 |
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