JPH043264Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔概要〕 枠に装着されたプリント基板が水平に積載され
たテーブルよりアームによつて挟持し、プリント
基板を垂直に回動させ、更に、シヤフトの案内に
よつて移動することで試験部に挿入されるように
することにより、テーブル上に水平にプリント基
板を積載する事で垂直に直立させた状態の試験が
行われるようにしたものである。

〔産業上の利用分野〕

本考案は半導体素子が実装されたプリント基板
の試験を行うプリント板用試験装置に係り、特
に、テーブルに水平に積載されたプリント基板を
垂直の状態で試験が行われるように形成したプリ
ント板用試験装置に関する。

電子機器を構成するプリント基板に実装される
LSI素子などの半導体素子は近年益々高密度実装
化、高速化が推進されるようになり、半導体素子
の安定した稼働を得るために半導体素子の発熱を
冷却するように形成されている。

また、このような半導体素子はプリント基板の
両面に実装され、プリント基板に対する実装効率
の向上を図ることが行われている。

したがつて、このようなプリント基板を用いて
装置を構成する場合は、通常、プリント基板が垂
直に保持されるように行われ、プリント基板の両
面に冷却プレートを配設し、両面に実装されたそ
れぞれの半導体素子の表面が冷却プレートに当接
され、稼働時には冷却プレートによる冷却が行わ
れるように形成される。

そこで、このようなプリント基板を試験する場
合は稼働時と同様にプリント基板を垂直になるよ
うに保持することで行われている。

一方、このようなプリント基板は大型になるよ
うに形成されるようになり、重量物となるため、
試験に際しての垂直に直立させるように試験装置
にセツトすることは慎重に取扱をしなければ、プ
リント基板を転倒させ損傷させることが生じる。

したがつて、このような大型で、しかも、重量
のあるプリント基板を試験装置に垂直に保持され
るようセツトすることが容易に行われることが望
まれている。

〔従来の技術〕

従来は第３図の従来の斜視図に示すように構成
されていた。

第３図に示すように、ベース２０によつてスラ
イド可能に係止された複数のコンタク機構８と冷
却プレート９とによつて構成された試験部１０に
半導体素子５が実装されたプリント基板４を垂直
に挿入するように形成されている。

コンタクト機構８はモータ２３の駆動により、
レール２２の案内によつて矢印Ａ方向にスライド
され、内部にはプリント基板４のパツド４Ａまた
は端子片４Ｂに当接される複数のプローブ８Ａが
内設され、プローブ８Ａに接続されたケーブル２
４によつてプリント基板４に対する電源の供給ま
たは信号の入出力が行われる。

また、同様に冷却プレート９も矢印Ａ方向にス
ライドされるように形成されている。

そこで、対向したコンタクト機構８と冷却プレ
ート９との間隔Ｓを先づ広げ、その間隔Ｓにプリ
ント基板４を矢印Ｂのように挿入し、次に間隔Ｓ
を狭め、プリント基板４を挟持することで、両面
に実装された半導体素子４を冷却プレート９によ
つて冷却し、それぞれのコンタクト機構８に内設
されたプローブ８Ａを移動させ、ケーブル２４を
介して電源の供給および信号の入出力をプリント
基板４に対して行うことで試験が行われていた。

また、試験の終了後は、対向したコンタクト機
構８と冷却プレート９との間隔Ｓを広げ、プリン
ト基板４を矢印Ｂと逆の方向に抜き出すことでプ
リント基板４の脱抜が行われていた。

〔考案が解決しようとする問題点〕

このような構成では、所定の大きさに広げられ
た間隔Ｓにプリント基板４を垂直に直立させて挿
脱することは人手によつて行われるため、プリン
ト基板４が大型でしかも、重量物であると挿脱が
困難となり、充分注意して挿脱を行わなければ、
プリント基板４を転倒させ、実装された半導体素
子５を損傷させるなどの事故が生じる問題を有し
ていた。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本考案の原理斜視図である。

第１図に示すように、枠３に装着されたプリン
ト基板４を水平に積載するテーブル１と、該枠３
を挟持し、該プリント基板４を垂直に回動される
可動子７を設けたアーム２と、該テーブル１と試
験部１０との間に張架され、該可動子７の往復移
動を案内するシヤフト６とが具備されるようにし
たものである。

このように構成することによつて前述の問題点
は解決される。

〔作用〕

即ち、枠に装着されたプリント基板をテーブル
にセツトすることでアームによつて挟持され、ア
ームの回動によつてプリント基板が垂直に直立さ
れ、更に、シヤフトに沿つて試験部に移送される
ことで試験が行なわれ、試験の終了後は元の位置
に戻され、アームの回動によつてテーブルに水平
に置かれるように形成したものである。

したがつて、従来のようにプリント基板を試験
部に挿脱することを人手によつて行う必要がな
く、しかも、プリント基板を垂直にする必要がな
くテーブルに水平にセツトすることで試験が行わ
れるため、前述のような転倒による障害の発生を
防止することができる。

〔実施例〕

以下本考案を第２図を参考に詳細に説明する。

第２図は本考案による一実施例の説明図で、ａ
は正面図、ｂは要部側面図である。全図を通じ
て、同一符号は同一対象物を示す。

第２図のａに示すように、軸受４１によつて張
架されたシヤフト６にスライドされる可動子７を
有するアーム２が設けられ、アーム２にはキヤリ
ツジ３２に固着されたシリンダ３３が係止され、
アーム２はシリンダ３３の駆動によりプリント基
板を装着した枠を挟持し、更に、シリンダ３６の
駆動によりキヤリツジ３２を試験部１０に移送
し、シリンダ３８と、ガイド３９とよつて昇降さ
れるクランプ４０によつて枠３の所定個所がクラ
ンプされるように構成したものである。

また、アーム２による枠３の挟持はｂに示すよ
うにベース２０よりシリンダ３４とガイド３５と
によつて水平に保持されたテーブル１に枠３が積
載されることで行われるように形成されている。

そこで、プリント基板４が装着された枠３はａ
に示す矢印Ｆの方向よりテーブル１の上に水平に
積載され、テーブル１のピン１Ａに枠３の溝３Ｂ
が挿入されることで位置決めが行われる。

このセツトにより、アーム２はモータ３０の駆
動によりギア３１を介してシヤフト６を中心に回
動され、ｂに示すように点線の位置から実線の位
置に、先端部がストツパ３６に当接されるよう水
平に移動される。

次に、シリンダ３３の駆動によりアーム２が矢
印Ｃ方向に移動され、枠３の穴３Ａにアーム２の
ピン２Ａが挿入されることで挟持される。

このアーム２の挟持によつて、テーブル１はシ
リンダ３４の駆動により矢印Ｅ方向に降下するこ
とで退避させ、アーム２を前述と逆の方向の矢印
Ｄ方向に回動させ、枠３が点線で示すように垂直
になるように回動される。

このように垂直に回動された枠３はシリンダ３
６の駆動によりキヤリツジ３２を移動することで
矢印Ｇ方向にキヤリツジ３２の側面にストツパ３
７が当接するまで可動子７がシヤフト６にスライ
ドされて試験部１０に移送される。

更に、試験部１０の所定個所に移送されること
でシリンダ３８の駆動によりクランプ４０が矢印
Ｈ方向に降下され、枠３が回動されないようにク
ランプが行われる。

このように試験部１０にプリント基板４が挿入
されることて前述のコンタクト機構８および冷却
プレート９がプリント基板４の両面に当接され、
所定の試験が行われる。

試験が終了すると、クランプ４０が矢印Ｈと逆
の方向に上昇されクランプが外され、キヤリツジ
３２が矢印Ｇと逆の方向に移送され、更に、アー
ム２が矢印Ｄと逆の方向に回動され、アーム２の
先端部がストツパ３６に当接され、枠３が水平に
されたことでテーブル１を矢印Ｅと逆の方向に上
昇させ、枠３をテーブル１で保持することが行わ
れる。

最後に、アーム２を矢印Ｃと逆の方向に移動さ
れ、枠３の挟持が外され、アーム２を矢印Ｄのよ
うに回動させることでテーブル１の上に枠３を水
平に戻すことができる。

したがつて、プリント基板４が装着された枠３
を水平にしてテーブル１に積載することで、プリ
ント基板４を垂直に直立させる試験部１０による
試験を自動的に行うことができ、また、試験の終
了後には枠３はテーブル１の上に積載時と同様に
水平に戻させることができる。

〔考案の効果〕

以上説明したように、本考案によれば、プリン
ト基板を水平にテーブルにセツトすることで垂直
に直立させて行う試験を行い。試験の終了後は元
の水平の状態でテーブルに戻させることができ
る。

したがつて、従来のように、プリント基板を試
験部にセツトすることを人手によつて行う必要が
なくなり、例え、プリント基板が大型で、重量物
となつても前述のような障害の発生を防止するこ
とができ、実用的効果は大である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の原理斜視図、第２図は本考案
による一実施例の説明図で、ａは正面図、ｂは要
部側面図、第３図は従来の斜視図を示す。 図において、１はテーブル、２はアーム、３は
枠、４はプリント基板、５は半導体素子、６はシ
ヤフト、７は可動子、８はコンタクト機構、９は
冷却プレート、１０は試験部を示す。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 半導体素子５が実装されたプリント基板４をコ
   ンタクト機構８と冷却プレート９とより成る試験
   部１０に装着し、該コンタクト機構８と冷却プレ
   ート９とがプリント基板４の両面に当接されるよ
   うそれぞれが対向するように配設され、該プリン
   ト基板４の両面より試験を行うプリント板用試験
   装置において、 枠３に装着された前記プリント基板４を水平に
   積載するテーブル１と、該枠３を挟持し、該プリ
   ント基板４を垂直に回動される可動子７を設けた
   アーム２と、該テーブル１と前記試験部１０との
   間に張架され、該可動子７の往復移動を案内する
   シヤフト６とが具備されたことを特徴とするプリ
   ント板用試験装置。