JPH0431324B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0431324B2
JPH0431324B2 JP60104457A JP10445785A JPH0431324B2 JP H0431324 B2 JPH0431324 B2 JP H0431324B2 JP 60104457 A JP60104457 A JP 60104457A JP 10445785 A JP10445785 A JP 10445785A JP H0431324 B2 JPH0431324 B2 JP H0431324B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
strong magnetic
magnetic field
cryogenic
displacement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP60104457A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS61269005A (en
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP10445785A priority Critical patent/JPS61269005A/en
Publication of JPS61269005A publication Critical patent/JPS61269005A/en
Publication of JPH0431324B2 publication Critical patent/JPH0431324B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、極低温でかつ強磁場と言つた特殊環
境下における変位を良好に測定できるようにした
極低温強磁場用変位測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a displacement measuring device for cryogenic and strong magnetic fields that can satisfactorily measure displacement in special environments such as cryogenic temperatures and strong magnetic fields.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

各種材料を液体ヘリウムで代表される極低温液
体中で、かつ強磁場中に置くと、常温の場合とは
違つた機械的性質を示すことが予想される。この
ように、各種材料の極低温強磁場内における機械
的性質を確認することは、将来のエネルギー源と
して有望視されている核融合装置を実現するうえ
で重要な意味を有している。
When various materials are placed in a cryogenic liquid such as liquid helium and in a strong magnetic field, they are expected to exhibit mechanical properties that are different from those at room temperature. In this way, confirming the mechanical properties of various materials at extremely low temperatures and in strong magnetic fields has an important meaning in realizing nuclear fusion devices, which are seen as promising future energy sources.

ところで、各種材料の機械的性質、たとえば破
壊靭性質を測定する手段はJIS等で細かい点まで
決められている。しかし、これは常温を条件にし
たものであつて、極低温強磁場と言つた特殊環境
下では同様の手段を採用できない場合が多い。す
なわち、極低温場はクライオスタツト内に液体ヘ
リウム等の極低温液体を収容することによつて作
られ、また、強磁場は超電導コイルの使用によつ
て作られる。超電導コイルは、冷媒として極低温
液体を必要とするので、結局、クライオスタツト
内に極低温液体と超電導コイルとを収容するする
ことによつて、クライオスタツトと言つた閉じら
れた部屋内に極低温場と強磁場とを作り出すこと
ができる。このように、極低温場と強磁場とを同
時に作り出すことは比較的容易である。しかし、
このような場において破壊靭性試験を行なうには
試料の変位を測定する必要がある。この変位の測
定に当つては、通常は、クリツプ・オン・ゲージ
や静電容量検出器が用いられているが、これらは
磁場の影響を受けるので使用することができな
い。したがつて、閉じられた部屋内に位置してい
る試料の変位を磁場の影響を受けずに如何にして
測定するかと言う点が問題になり、この問題のた
めに未だに極低温強磁場内での破壊靭性試験は行
われていないのが実状である。
By the way, the means for measuring the mechanical properties of various materials, such as fracture toughness, are determined in detail by JIS and the like. However, this method is based on room temperature conditions, and similar means cannot often be used in special environments such as extremely low temperatures and strong magnetic fields. That is, a cryogenic field is created by containing a cryogenic liquid such as liquid helium within a cryostat, and a strong magnetic field is created by the use of superconducting coils. Superconducting coils require a cryogenic liquid as a refrigerant, so by housing the cryogenic liquid and the superconducting coil in a cryostat, it is possible to maintain a cryogenic temperature inside a closed room called a cryostat. field and a strong magnetic field. In this way, it is relatively easy to simultaneously create a cryogenic field and a strong magnetic field. but,
To perform a fracture toughness test in such a field, it is necessary to measure the displacement of the sample. Clip-on gauges and capacitance detectors are normally used to measure this displacement, but these cannot be used because they are affected by the magnetic field. Therefore, the problem is how to measure the displacement of a sample located in a closed room without being influenced by the magnetic field. The reality is that no fracture toughness tests have been conducted.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、このような事情に鑑みてなされたも
ので、その目的とするところは、極低温強磁場内
の機械的変位を良好に測定でき、もつて上記環境
下における破壊靭性試験等の実施に寄与できる極
低温強磁場用変位測定装置を提供することにあ
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to be able to satisfactorily measure mechanical displacement in a cryogenic strong magnetic field, and to conduct fracture toughness tests, etc. under the above environment. The object of the present invention is to provide a displacement measuring device for cryogenic strong magnetic fields that can contribute to the

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明によれば、被変位測定物を液体ヘリウム
中に位置させるとともに上記被変位測定物に強磁
場を印加する手段と、この手段によつて形成され
た極低温強磁場の外に配置され、赤外線のカツト
された照明光を送出する光源装置と、この光源装
置から送出された照明光を前記極低温強磁場内に
導いて前記被変位測定物に照射するライトガイド
と、前記被変位測定物からの反射光像を前記極低
温強磁場の外へ伝送するイメージガイドと、この
イメージガイドを介して伝送された前記被変位測
定物の像を光電変換するテレビジヨンカメラと、
このテレビジヨンカメラから送出された映像信号
を導入して前記被変位測定物の像を写し出すテレ
ビジヨン受像機とを備え、前記テレビジヨン受像
機に写し出された像から前記被変位測定物の変位
を測定するようにした極低温強磁場用変位測定装
置が提供される。
According to the present invention, a means for positioning an object to be measured to be displaced in liquid helium and applying a strong magnetic field to the object to be measured to be displaced, and a means disposed outside the cryogenic strong magnetic field formed by the means, a light source device that sends out infrared cut illumination light; a light guide that guides the illumination light sent out from the light source device into the cryogenic strong magnetic field and irradiates the displaced object; and the displaced object. an image guide that transmits a reflected light image from the ultra-low temperature strong magnetic field to the outside of the cryogenic strong magnetic field; a television camera that photoelectrically converts the image of the displaced object transmitted through the image guide;
and a television receiver for projecting an image of the object to be displaced by introducing the video signal sent from the television camera, and detecting the displacement of the object to be displaced from the image projected on the television receiver. A displacement measuring device for a cryogenic strong magnetic field is provided.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、ライトガイドおよびイメージ
ガイドと言つた温度および磁場の影響を受けない
伝送系を用いて被変位測定物の像を極低温強磁場
外に導き、これをテレビジヨン受像機に写し出
し、この写し出された像から変位を測定するよう
にしている。したがつて、温度や磁場の影響を全
く受けずに変位を測定することができる。また、
イメージガイドを介して導かれた像をテレビジヨ
ンカメラで撮像するようにしているので、倍率を
大きく設定でき、この結果、精度の高い変位測定
を実施することができる。この場合、特に赤外線
のカツトされた照明光、つまり液体ヘリウムに吸
収され易い波長域を持たない照明光を用いている
ので、照明光の照射で液体ヘリウム中に多数の微
細な気泡が発生するのを防止でき、この結果、テ
レビジヨン受像機に被変位測定物の像を鮮明に写
し出すことができるので、一層精度の高い変位測
定を実施できる。
According to the present invention, the image of the object to be displaced is guided outside the extremely low temperature strong magnetic field using a transmission system such as a light guide and an image guide that is unaffected by temperature and magnetic fields, and the image is projected onto a television receiver. The displacement is measured from this projected image. Therefore, displacement can be measured without being affected by temperature or magnetic field. Also,
Since the image guided through the image guide is captured by a television camera, a large magnification can be set, and as a result, highly accurate displacement measurement can be performed. In this case, since we are using particularly infrared-cut illumination light, that is, illumination light that does not have a wavelength range that is easily absorbed by liquid helium, many fine bubbles may be generated in liquid helium due to illumination light irradiation. As a result, the image of the object to be displaced can be clearly projected on the television receiver, so that displacement measurement can be performed with higher accuracy.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説
明する。なお、図は本発明を破壊靭性試験装置に
適用した例を示すものである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Note that the figure shows an example in which the present invention is applied to a fracture toughness testing device.

同図において、1はクライオスタツトであり、
このクライオスタツト1は内槽2と、外槽3と、
内槽2の上部開口を選択的に蓋する蓋体4とで構
成されている。そして、内槽2と外槽3との間に
存在する空間5は真空引きされて真空断熱層に形
成されている。内槽2内には図示しない外部電源
によつて励磁される超電導コイル6が軸心線を上
下方向に向けて収容されており、さらに上記超電
導コイル6が十分に没するレベルに液体ヘリウム
7が収容されている。
In the figure, 1 is a cryostat;
This cryostat 1 has an inner tank 2, an outer tank 3,
It is comprised of a lid body 4 that selectively covers the upper opening of the inner tank 2. The space 5 existing between the inner tank 2 and the outer tank 3 is evacuated and formed into a vacuum insulation layer. A superconducting coil 6 excited by an external power source (not shown) is housed in the inner tank 2 with its axis facing upward and downward, and liquid helium 7 is provided at a level where the superconducting coil 6 is sufficiently submerged. It is accommodated.

しかして、クライオスタツト1の上方位置には
引張り力付与機構8が支持柱9に支持されるとと
もに支持柱9に沿つて図中実線矢印10で示す方
向に昇降自在に設けられている。引張り力付与機
構8は、下方に向けて平行に延びる固定ロツド1
1と可動ロツド12とを有しており、図示しない
駆動源で上記可動ロツド12を固定ロツド11に
対して上方向に相対移動させることによつて引張
り力を付与するように構成されている。固定ロツ
ド11と可動ロツド12とは、クライオスタツト
1の蓋体4を貫通して内槽2内へ延び、その下端
部を超電導コイル6で囲まれた部分内に位置させ
ている。そして、固定ロツド11の下端部と可動
ロツド12の下端部との間には所定の形状に形成
された試料片13の上下端を支持する試料保持機
構14が上下に対向して設けられている。
A tensile force applying mechanism 8 is supported by a support column 9 above the cryostat 1 and is movable up and down along the support column 9 in the direction indicated by a solid arrow 10 in the figure. The tensile force applying mechanism 8 includes a fixed rod 1 that extends downward in parallel.
1 and a movable rod 12, and is configured to apply a tensile force by moving the movable rod 12 upward relative to the fixed rod 11 using a drive source (not shown). The fixed rod 11 and the movable rod 12 extend into the inner tank 2 through the lid 4 of the cryostat 1, and have their lower ends located within the area surrounded by the superconducting coil 6. A sample holding mechanism 14 is provided between the lower end of the fixed rod 11 and the lower end of the movable rod 12 to face each other vertically and to support the upper and lower ends of the sample piece 13 formed in a predetermined shape. .

一方、クライオスタツト1の蓋体4を貫通して
内槽2内にライトガイド21の一端側とイメージ
ガイド22の一端側とがそれぞれ差し込まれてい
る。ライトガイド21の内槽2内に位置する端部
23は、試料片13に設けられた切り込みPに近
接し、かつその光軸が切り込みPに所定の角度で
臨む関係に配置されている。イメージガイド22
の内槽2内に位置する端部には対物レンズ24が
取り付けてあり、この対物レンズ24は試料片1
3の切り込みPに近接し、かつその光軸が切り込
みPに所定の角度で臨む関係に配置されている。
そして、上記のように配置されたライトガイド2
1の一端側とイメージガイド22の一端側とは固
定ロツド11に支持材25,26を介してそれぞ
れ支持されている。クライオスタツト1外に位置
しているライトガイド21の他端側は光源装置2
7に接続されている。この光源装置27は、ラン
プを内蔵した光源装置本体28と、この光源装置
本体28から送出された光のうち赤外線をカツト
した光をライトガイド21へ導入するフイルタ2
9とで構成されている。クライオスタツト1外に
位置しているイメージガイド22の端部はコネク
タ30を介してテレビジヨンカメラ31の拡大レ
ンズ系に対向接続されている。そして、テレビジ
ヨンカメラ31から送出された映像信号はカメラ
制御器32を介してテレビジヨン受像機33に導
入されている。
On the other hand, one end of the light guide 21 and one end of the image guide 22 are inserted into the inner tank 2 through the lid 4 of the cryostat 1, respectively. The end portion 23 of the light guide 21 located inside the inner tank 2 is close to the notch P provided in the sample piece 13, and is arranged such that its optical axis faces the notch P at a predetermined angle. Image guide 22
An objective lens 24 is attached to the end located in the inner tank 2 of the sample piece 1.
It is located close to the notch P of No. 3 and in such a manner that its optical axis faces the notch P at a predetermined angle.
Then, the light guide 2 arranged as above
One end of the image guide 1 and one end of the image guide 22 are supported by the fixed rod 11 via supporting members 25 and 26, respectively. The other end of the light guide 21 located outside the cryostat 1 is the light source device 2.
7 is connected. This light source device 27 includes a light source device main body 28 that has a built-in lamp, and a filter 2 that introduces light that cuts out infrared rays from the light sent out from the light source device main body 28 into the light guide 21.
It consists of 9. An end of the image guide 22 located outside the cryostat 1 is connected via a connector 30 to a magnifying lens system of a television camera 31. A video signal sent from the television camera 31 is introduced into a television receiver 33 via a camera controller 32.

なお、図中34はテレビジヨンカメラ31、カ
メラ制御器32およびテレビジヨン受像機33を
磁気的にシールドする磁気遮蔽材を示している。
また、35は液体ヘリウム導入用のバルブを示
し、36,37は排気用のバルブを示している。
In the figure, numeral 34 indicates a magnetic shielding material that magnetically shields the television camera 31, camera controller 32, and television receiver 33.
Further, 35 indicates a valve for introducing liquid helium, and 36 and 37 indicate valves for exhaust.

次に、上記のように構成された破壊靭性試験装
置の使用例を説明する。
Next, an example of use of the fracture toughness testing apparatus configured as described above will be described.

まず、クライオスタツト1の蓋体4を締め付け
ているボルトを緩めて取り除き、この状態で引張
り力付与機構8を支持柱9に沿わせて試料保持機
構14がクライオスタツト1外に出る位置まで上
昇させる。次に、切り込みPの幅が判明している
試料片13を試料保持機構14に装着する。次
に、ライトガイド21の先端部23から送出され
る光が切り込みPの部分に照射されるようにライ
トガイド21を位置設定し、また、切り込みPの
部分からの反射光を受光できるようにイメージガ
イド22の対物レンズ24を位置合せする。この
状態で、実際に受像機33に写し出された切り込
みPの部分の像を観察し、カメラ制御器32を調
整して倍率を設定するとともに受像機33に写し
出された像のピントが合うように対物レンズ24
の位置を微調整する。続いて、切り込みPから対
物レンズ24までの距離と、液体ヘリウムの屈折
率とを考慮に入れ、予め求められている校正カー
ブにしたがつて液体ヘリウムの屈折率の影響でピ
ントぼけが起きないように対物レンズ24の位置
をさらに微調整する。このような、調整が終了し
た時点で、引張り力付与機構8を下降させ、図に
示すように試料片13を内槽2内に位置させると
ともに蓋体4を元の状態にツトする。続いて、バ
ルブ36を介して内槽2内を排気し、排気後に一
旦、内槽2内にヘリウムガスを充填し、続いてヘ
リウムガスを排気しながらバルブ35を介して内
槽2内に液体ヘリウム7を所定量収容する。次
に、内槽2内を再び所定時間排気して内槽2内に
存在している気泡を除去した後、大気圧とする。
First, loosen and remove the bolts tightening the cover body 4 of the cryostat 1, and in this state raise the tensile force applying mechanism 8 along the support column 9 to the position where the sample holding mechanism 14 comes out of the cryostat 1. . Next, the sample piece 13 of which the width of the cut P is known is mounted on the sample holding mechanism 14. Next, the light guide 21 is positioned so that the light emitted from the tip 23 of the light guide 21 is irradiated onto the notch P, and the image is set so that the light reflected from the notch P can be received. The objective lens 24 of the guide 22 is aligned. In this state, the image of the notch P actually projected on the receiver 33 is observed, and the camera controller 32 is adjusted to set the magnification and the image projected on the receiver 33 is brought into focus. Objective lens 24
Fine-tune the position. Next, taking into account the distance from the notch P to the objective lens 24 and the refractive index of liquid helium, the calibration curve is determined in advance to avoid defocusing due to the influence of the refractive index of liquid helium. Then, the position of the objective lens 24 is further finely adjusted. When such adjustment is completed, the tensile force applying mechanism 8 is lowered to position the sample piece 13 in the inner tank 2 as shown in the figure, and the lid 4 is returned to its original state. Subsequently, the inside of the inner tank 2 is evacuated via the valve 36, and after the exhaust, the inner tank 2 is temporarily filled with helium gas, and then, while the helium gas is evacuated, liquid is filled into the inner tank 2 via the valve 35. A predetermined amount of helium 7 is stored. Next, the inside of the inner tank 2 is again evacuated for a predetermined period of time to remove air bubbles existing in the inner tank 2, and then the pressure is brought to atmospheric pressure.

上記のように内槽2内に液体ヘリウム7を導入
すると、超電導コイル6を構成している線材は極
低温に冷却され超電導線となる。また、試料片1
3も極低温に冷却される。次に、図示しない外部
電源で超電導コイル6を励磁する。この励磁によ
つて試料片13は強磁場内に置かれたことにな
る。なお、磁場の強さは図示しないセンサによつ
て検出されることは勿論である。また、このとき
受像機33には切り込みPの部分が写し出されて
いる。この写し出されている像は、前述したよう
に液体ヘリウム7の屈折率を考慮に入れて対物レ
ンズ24の位置設定を行なつていることからして
ピントの合つたものとなる。また、この時点では
試料片13に荷重を加えていないので受像機33
に写し出された切り込みPの部分の像は、実際の
切り込みPの部分をそのまま拡大した像である。
実際の寸法は判明しているので倍率を直ちに知る
ことができる。したがつて、以後、引張り力付与
機構8を動作させ、このときの荷重信号S0と、受
像機33に写し出された切り込みPの広がり距離
の平均値とをプロツトすることによつて極低温強
磁場内における破壊靭性試験を行なうことができ
る。
When the liquid helium 7 is introduced into the inner tank 2 as described above, the wire forming the superconducting coil 6 is cooled to an extremely low temperature and becomes a superconducting wire. In addition, sample piece 1
3 is also cooled to a cryogenic temperature. Next, the superconducting coil 6 is excited by an external power source (not shown). This excitation places the sample piece 13 in a strong magnetic field. Note that, of course, the strength of the magnetic field is detected by a sensor (not shown). Further, at this time, the portion of the notch P is displayed on the receiver 33. This projected image is in focus because the position of the objective lens 24 is set taking into consideration the refractive index of the liquid helium 7 as described above. Also, since no load is applied to the sample piece 13 at this point, the image receiver 3
The image of the notch P shown in is an enlarged image of the actual notch P.
Since the actual dimensions are known, the magnification can be immediately determined. Therefore, from now on, by operating the tensile force applying mechanism 8 and plotting the load signal S0 at this time and the average value of the spread distance of the cut P projected on the image receiver 33, the cryogenic strength is Fracture toughness tests can be performed in a magnetic field.

そして、この場合には、ライトガイド21とイ
メージガイド22とを使つて試料片13の像を極
低温強磁場外へ取り出し、これを受像機33に写
し出し、写し出された像から試料片13の変位を
測定するようにしているので、極低温および強磁
場の影響を受けずに変位を測定することができ
る。また、イメージガイド22を介して伝送され
た試料片13の像をテレビジヨンカメラ31で写
し、これを受像機33に写し出すようにしている
ので、倍率を自由に設定でき、この結果、測定精
度を上げることができるので、結局、前述した効
果を発揮させることができる。
In this case, the light guide 21 and the image guide 22 are used to take out the image of the sample piece 13 out of the extremely low temperature strong magnetic field, and it is projected onto the image receiver 33, and the displacement of the sample piece 13 is determined from the projected image. , the displacement can be measured without being affected by extremely low temperatures or strong magnetic fields. Furthermore, since the image of the sample piece 13 transmitted through the image guide 22 is captured by the television camera 31 and displayed on the receiver 33, the magnification can be set freely, and as a result, measurement accuracy can be improved. As a result, the above-mentioned effects can be achieved.

また、この実施例によると、光源装置27とし
て赤外線をカツトするフイルタ29を備えたもの
を用いているので、ライトガイド21の送光端に
ヘリウムの気泡が発生するのを防止でき、より正
確な測定に寄与することができる。また、液体ヘ
リウムの屈折率を考慮にいれてイメージガイド2
2の対物レンズ位置を設定するようにしているの
で受像機33に写し出される試料片13の像の輪
郭の鮮明化を図ることができ、なお一層測定の正
確化に寄与できる。さらに、磁気遮蔽材34で、
テレビジヨンカメラ31、カメラ制御器32、受
像機33等を磁気遮蔽するようにしているので、
これらが磁気的な影響を受ける虞れがなく、安定
に動作させることができる。
Further, according to this embodiment, since the light source device 27 is equipped with a filter 29 that cuts out infrared rays, it is possible to prevent helium bubbles from being generated at the light transmission end of the light guide 21, and to achieve more accurate can contribute to measurements. In addition, taking into account the refractive index of liquid helium, the image guide 2
Since the second objective lens position is set, the outline of the image of the sample piece 13 projected on the image receiver 33 can be made clearer, and this can further contribute to more accurate measurement. Furthermore, with the magnetic shielding material 34,
Since the television camera 31, camera controller 32, receiver 33, etc. are magnetically shielded,
There is no risk that these will be affected by magnetism, and they can be operated stably.

なお、本発明は、上述した実施例に限定される
ものではない。すなわち、上述した実施例は、本
発明を破壊靭性試験装置に適用した例であるが、
本発明はこれに限定されるものではなく、極低温
強磁場内での変位測定全般に適用できることは勿
論である。また、ライトガイドの先端部位置およ
びイメージガイドの対物レンズ位置を外部から調
整できる機構を設けるようにしてもよい。また、
ライトガイドとイメージガイドとを一体化しても
よい。この場合、送体側の光軸と受光軸の光軸と
の間にある角度が存在するように設定すれば、鮮
明な像を伝送することができる。
Note that the present invention is not limited to the embodiments described above. That is, the above-mentioned embodiment is an example in which the present invention is applied to a fracture toughness test device, but
The present invention is not limited to this, but can of course be applied to displacement measurements in general at extremely low temperatures and in strong magnetic fields. Furthermore, a mechanism may be provided that allows the position of the tip of the light guide and the position of the objective lens of the image guide to be adjusted from the outside. Also,
The light guide and the image guide may be integrated. In this case, by setting a certain angle between the optical axis of the transmitter side and the optical axis of the light receiving axis, a clear image can be transmitted.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図は本発明の破壊靭性試験装置に適用した例の
模式的構成図である。 1……クライオスタツト、6……超電導コイ
ル、7……液体ヘリウム、8……引張り力付与機
構、13……試料片、21……ライトガイド、2
2……イメージガイド、27……光源装置、31
……テレビジヨンカメラ、33……テレビジヨン
受像機。
The figure is a schematic configuration diagram of an example applied to the fracture toughness testing device of the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Cryostat, 6... Superconducting coil, 7... Liquid helium, 8... Tensile force applying mechanism, 13... Sample piece, 21... Light guide, 2
2... Image guide, 27... Light source device, 31
...TV camera, 33...Television receiver.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 被変位測定物を液体ヘリウム中に位置させる
とともに上記被変位測定物に強磁場を印加する手
段と、この手段によつて形成された極低温強磁場
の外に配置され、赤外線のカツトされた照明光を
送出する光源装置と、この光源装置から送出され
た照明光を前記極低温強磁場内に導いて前記被変
位測定物に照射するライトガイドと、前記被変位
測定物からの反射光像を前記極低温強磁場の外へ
伝送するイメージガイドと、このイメージガイド
を介して伝送された前記被変位測定物の像を光電
変換するテレビジヨンカメラと、このテレビジヨ
ンカメラから送出された映像信号を導入して前記
被変位測定物の像を写し出すテレビジヨン受像機
とを具備し、前記テレビジヨン受像機に写し出さ
れた像から前記被変位測定物の変位を測定するよ
うにしたことを特徴とする極低温強磁場用変位測
定装置。 2 前記極低温強磁場外に配置された前記各要素
は、それぞれ磁気遮蔽されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の極低温強磁場用変
位測定装置。 3 前記イメージガイドは、前記液体ヘリウムの
屈折率との関連において対物レンズの位置が設定
されていることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の極低温強磁場用変位測定装置。
[Scope of Claims] 1. Means for positioning a displacement measurement object in liquid helium and applying a strong magnetic field to the displacement measurement object, and a means for placing a displacement measurement object in liquid helium and applying a strong magnetic field to the displacement measurement object; , a light source device that sends out infrared cut illumination light; a light guide that guides the illumination light sent out from the light source device into the cryogenic strong magnetic field and irradiates the object to be measured; and the object to be measured that is displaced. An image guide that transmits a reflected light image from an object to the outside of the cryogenic strong magnetic field, a television camera that photoelectrically converts the image of the displaced object transmitted through the image guide, and the television camera. and a television receiver for projecting an image of the object to be displaced by introducing a video signal sent from the television receiver, and for measuring the displacement of the object to be displaced from the image projected on the television receiver. A displacement measuring device for cryogenic strong magnetic fields, characterized by: 2. The displacement measuring device for a cryogenic strong magnetic field according to claim 1, wherein each of the elements arranged outside the cryogenic strong magnetic field is magnetically shielded. 3. Claim 1, wherein in the image guide, the position of the objective lens is set in relation to the refractive index of the liquid helium.
Displacement measuring device for cryogenic strong magnetic field as described in .
JP10445785A 1985-05-16 1985-05-16 Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field Granted JPS61269005A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10445785A JPS61269005A (en) 1985-05-16 1985-05-16 Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10445785A JPS61269005A (en) 1985-05-16 1985-05-16 Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61269005A JPS61269005A (en) 1986-11-28
JPH0431324B2 true JPH0431324B2 (en) 1992-05-26

Family

ID=14381135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10445785A Granted JPS61269005A (en) 1985-05-16 1985-05-16 Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61269005A (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0687005B2 (en) * 1988-08-26 1994-11-02 工業技術院長 Displacement measuring device
FR2641373B1 (en) * 1988-12-30 1993-01-15 Aerospatiale INSTALLATION FOR MEASURING DEFORMATIONS OF AN OBJECT SUBJECT TO CONSTRAINTS

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58171612A (en) * 1982-04-01 1983-10-08 Furukawa Electric Co Ltd:The Picture image type detection of displacement

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58171612A (en) * 1982-04-01 1983-10-08 Furukawa Electric Co Ltd:The Picture image type detection of displacement

Also Published As

Publication number Publication date
JPS61269005A (en) 1986-11-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6345086B1 (en) X-ray fluorescence system and method
JP4664306B2 (en) Method for inspecting hermeticity of sealed cavities of micrometric components and micrometric components implementing the method
RU2249813C2 (en) Device for taking elementary analysis by means of spectrometry of optical emission on laser-generated plasma
JP2004144478A (en) X-ray analysis apparatus and method
CN106918309A (en) The measurement apparatus and its measuring method of electro-optic crystal light pass surface normal and Z axis deflecting angle
KR20130082334A (en) Equipment for inspecting semiconductor substrate and method for inspecting semiconductor substrate using the same
CN108770177B (en) Hollow antiresonance optical fiber cold atomic beam conductance draws and flux detection method and device
Stratton et al. Instrumentation for the joint European torus motional Stark effect diagnostic
JPH0431324B2 (en)
JPH06265606A (en) Method of positioning e-o probe of voltage measuring apparatus
GB2152697A (en) Improvements in or relating to scanning optical microscopes
Randall et al. A self recording spectrometer
JP4041606B2 (en) X-ray analyzer
CA1194619A (en) Fluorescent x-ray device
EP0617431A2 (en) X-ray analysing apparatus
EP3150997A1 (en) Non-magnetic insertion probe for spectroscopic measurements
Lewis et al. A laser microprobe system for controlled atmosphere time and spatially resolved fluorescence studies of analytical laser plumes
JPS59166838A (en) Device for measuring refractive index of optical fiber
US7463025B2 (en) Induced magnetic field detecting apparatus and an induced magnetic field detecting method
Bond Simple Hot Powder Camera
JPS62133339A (en) Luminescence measuring instrument
Anderegg et al. Optical carriage for laser‐induced fluorescence in a magnetized plasma
CN113835050B (en) SERF-based atomic magnetometer detection of fifth force V12+13Method and apparatus
JP4069514B2 (en) Analysis equipment
CN111307715B (en) In-situ test device for low-dimensional semiconductor interface regulation

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term