JPS61269005A - Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field - Google Patents

Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field

Info

Publication number
JPS61269005A
JPS61269005A JP10445785A JP10445785A JPS61269005A JP S61269005 A JPS61269005 A JP S61269005A JP 10445785 A JP10445785 A JP 10445785A JP 10445785 A JP10445785 A JP 10445785A JP S61269005 A JPS61269005 A JP S61269005A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
cryogenic
strong magnetic
magnetic field
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10445785A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0431324B2 (en
Inventor
Eiji Fukushima
福島 英二
Minoru Tanaka
実 田中
Sadao Obata
小畠 貞男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Science & Tech Agency
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Science & Tech Agency
Agency of Industrial Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Science & Tech Agency, Agency of Industrial Science and Technology filed Critical Science & Tech Agency
Priority to JP10445785A priority Critical patent/JPS61269005A/en
Publication of JPS61269005A publication Critical patent/JPS61269005A/en
Publication of JPH0431324B2 publication Critical patent/JPH0431324B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

PURPOSE:To measure the displacement of an object to be measured from a TV image, by a method wherein light containing no infrared ray is introduced into a cryogenic ferromagnetic field to irradiate an object to be measured and the image of the reflected light is transmitted outside to make the TV image through a photoelectric conversion. CONSTITUTION:A sample 13 with the known width of a cut P is mounted 14 to be irradiated at the tip 23 of a light guide 21 and the reflected light is received by an objective lens 24 of an image guide 22 to observe an image of an image receiver 33 through a TV camera 31. By so doing, the magnifying power is adjusted 32 and the position of the lens 24 is finely adjusted by considering the refractive index of a liquid He. Then, a sample 13 is arranged in an inner tank 2, after a lid 4 is set, a liquid He 7 is held therein and following the defoaming, the inner tank 2 is put under the atm. When a cryogenic superconductive coil 6 is excited, an expanded image of the part P when unloaded is obtained and when it is imparted 8 a tension to plot a load signal S0 and the mean of the expansion of the part P in the image of the image receiver 33, a rupture toughness test can be done in a cryogenic ferromagnetic field.

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は、極低温でかつ強磁場と言った特殊環境下にお
ける変位を良好に測定できるようにした極低温強磁場用
変位測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Technical Field of the Invention) The present invention relates to a displacement measuring device for cryogenic and strong magnetic fields that can satisfactorily measure displacement under special environments such as cryogenic temperatures and strong magnetic fields.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

各種材料を液体ヘリウムで代表される極低温液体中で、
かつ強磁場中に置くと、常温の場合とは違った機械的性
質を示すことが予想される。このように、各種材料の極
低温強磁場内における機械的性質を確認することは、将
来のエネルギー源として有望視されている核融合装置を
実現するうえで重要な意味を有している。
Various materials are stored in cryogenic liquids such as liquid helium.
Moreover, when placed in a strong magnetic field, it is expected to exhibit mechanical properties different from those at room temperature. In this way, confirming the mechanical properties of various materials at extremely low temperatures and in strong magnetic fields has an important meaning in realizing nuclear fusion devices, which are seen as promising future energy sources.

ところで、各種材料の機械的性質、たとえば破墳靭性値
を測定する手段はJIS等で細かい点まで決められてい
る。しかし、これは常温を条件にしたものであって、極
低温強磁場と言った特殊環境下では同様の手段を採用で
きない場合が多い。
Incidentally, the means for measuring the mechanical properties of various materials, such as the fracture toughness value, are determined in detail by JIS and the like. However, this method is based on the condition of room temperature, and it is often impossible to employ similar means under special environments such as extremely low temperatures and strong magnetic fields.

すなわち、極低温場はクライオスタット内に液体ヘリウ
ム等の極低温液体を収容することによって作られ、また
9強磁場は超電導コイルの使用によって作られる。超電
導コイルは、冷媒として極低温液体を必要とするので、
結局、クライオスタンド内に極低温液体と超電導コイル
とを収容するすることによって、クライオスタットと言
った閉じられた部屋内に極低濡場と強磁場とを作り出す
ことができる。このように、極低温場と強磁場とを同時
に作り出すことは比較的容易である。しかし。
That is, the cryogenic field is created by containing a cryogenic liquid such as liquid helium in a cryostat, and the 9 strong magnetic field is created by the use of superconducting coils. Superconducting coils require cryogenic liquid as a refrigerant, so
Ultimately, by housing a cryogenic liquid and a superconducting coil within a cryostand, it is possible to create an extremely low wet field and a strong magnetic field within a closed chamber such as a cryostat. In this way, it is relatively easy to simultaneously create a cryogenic field and a strong magnetic field. but.

このような場において破壊靭性試験を行なうには試料の
変位を測定する必要がある。この変位の測定に当っては
6通常は、クリップ・オン・ゲージや静電容量検出器が
用いられているが、これらは磁場の影響を受けるので使
用することができない。
To perform a fracture toughness test in such a field, it is necessary to measure the displacement of the sample. Clip-on gauges and capacitance detectors are usually used to measure this displacement, but these cannot be used because they are affected by the magnetic field.

したがって、閉じられた部屋内に位置している試料の変
位を磁場の影響を受けずに如何にして測定するかと言う
点が問題になり、この問題のために未だに極低温強磁場
内での破壊靭性試験は行われていないのが実状である。
Therefore, the problem is how to measure the displacement of a sample located in a closed room without being affected by the magnetic field, and due to this problem, destruction in extremely low temperature strong magnetic fields is still difficult. The reality is that no toughness tests have been conducted.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、そ
の目的とするところは、極低温強磁場内の機械的変位を
良好に測定でき、もって上記環境下における破壊靭性試
験等の実施に寄与できる極低温強磁場用変位測定装置を
提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to be able to satisfactorily measure mechanical displacement in an extremely low temperature strong magnetic field, thereby making it possible to conduct fracture toughness tests, etc. under the above environment. The object of the present invention is to provide a displacement measuring device for extremely low temperature and strong magnetic fields that can contribute to the present invention.

(発明の概要) 本発明によれば、被変位測定物が置かれている極低温強
磁場の外に配置され赤外線゛を含まない照明光を送出す
る光源装置と、この光源装置から送出された照明光を前
記極低温強磁場内に導いて前記被変位測定物に照射する
ライトガイドと、前記被変位測定物からの反射光像を前
記極低温強磁場の外へ伝送するイメージガイドと、この
イメージガイドを介して伝送された前記被変位測定物の
像を光電変換するテレビジョンカメラと、このテレビジ
ョンカメラから送出された映像信号を導入して前記被変
位測定物の像を写し出すテレビジョン受像機とを備え、
前記テレビジョン受像機に写し出された像から前記被変
位測定物の変位を測定するようにした極低温強磁場用変
位測定装置が提供される。
(Summary of the Invention) According to the present invention, there is provided a light source device that is placed outside a cryogenic strong magnetic field in which an object to be measured is placed and that emits illumination light that does not contain infrared rays; a light guide that guides illumination light into the cryogenic strong magnetic field and irradiates the displaced measurement object; an image guide that transmits a reflected light image from the displaced measurement object to the outside of the cryogenic strong magnetic field; a television camera that photoelectrically converts an image of the object to be displaced transmitted through an image guide; and a television receiver that displays an image of the object to be displaced by introducing a video signal sent from the television camera. equipped with a machine,
A displacement measuring device for a cryogenic strong magnetic field is provided, which measures the displacement of the object to be displaced from an image projected on the television receiver.

(発明の効果) 本発明によれば、ライトガイドおよびイメージガイドと
言った濃度および磁場の影響を受けない伝送系を用いて
被変位測定物の像・を極低製強磁場外に導き、これをテ
レビジョン受像機に写し出し。
(Effects of the Invention) According to the present invention, the image of the object to be displaced is guided outside the ultra-low strong magnetic field using a transmission system such as a light guide and an image guide that is not affected by concentration and magnetic fields. projected onto a television receiver.

この写し出された像から変位を測定するようにしている
。したがって;温度や磁場の影響を全く受けずに変位を
測定することができる。また、イメージガイドを介して
導かれた像をテレビジョンカメラで撮像するようにして
いるので1倍率を大ぎく設定でき、この結果、精度の高
い変位測定を実施することができる。
The displacement is measured from this projected image. Therefore; displacement can be measured without being affected by temperature or magnetic fields. Furthermore, since the image guided through the image guide is captured by a television camera, the 1 magnification can be set to a large degree, and as a result, highly accurate displacement measurement can be performed.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下0本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

なお2図は本発明を破壊靭性試験装置に適用した例を示
すものである。
Note that FIG. 2 shows an example in which the present invention is applied to a fracture toughness testing device.

同図において、1はクライオスタットであり。In the figure, 1 is a cryostat.

このクライオスタット1は内槽2と、外槽3と。This cryostat 1 has an inner tank 2 and an outer tank 3.

内槽2の上部開口を選択的に蓋する蓋体4とで構成され
ている。そして、内槽2と外槽3との間に     ・
存在する空1I15は真空引きされて真空断熱層に形 
    )成されている。内槽2内には図示しない外部
?l源     □によって励磁される超電導コイル6
が軸心線を上下方向に向け、で収容されており、さらに
上記超電導コイル6が十分に没するレベルに液体ヘリウ
ム7が収容されている。
It is comprised of a lid body 4 that selectively covers the upper opening of the inner tank 2. And between the inner tank 2 and the outer tank 3
The existing void 1I15 is evacuated and formed into a vacuum insulation layer.
) has been completed. Is there an external part (not shown) inside the inner tank 2? Superconducting coil 6 excited by l source □
is housed with its axis facing up and down, and liquid helium 7 is housed at a level where the superconducting coil 6 is sufficiently submerged.

しかして、クライオスタット1の上方位置には引張り力
付与機構8が支持柱9に支持されるとと     lも
に支持柱9に沿って口中実線矢印10で示す方向に昇降
自在に設けられている。引張り力付与機構8は、下方に
向けて平行に延びる固定ロッド11と可動ロッド12と
を有しており1図示しない駆動源で上記可動ロッド12
を固定ロッド11に対して上方向に相対移動させること
によって引張り力を付与するように構成されている。固
定ロッド11と可動ロッド12とは、クライオスタット
1の蓋体4を貫通して内槽2内へ延び、その下端部を超
電導コイル6で囲まれた部分内に位置させている。そし
て、固定ロッド11の下端部と可動ロッド12の下端部
との間には所定の形状に形成された試料片13の上下端
を支持する試料保持機構14が上下に対向して設けられ
ている。
A tensile force applying mechanism 8 is supported by a support column 9 above the cryostat 1, and is movable up and down along the support column 9 in the direction indicated by a solid line arrow 10. The tensile force applying mechanism 8 has a fixed rod 11 and a movable rod 12 that extend downward in parallel.1 A drive source (not shown) moves the movable rod 12.
It is configured to apply a tensile force by moving the member upward relative to the fixed rod 11. The fixed rod 11 and the movable rod 12 extend into the inner tank 2 through the lid 4 of the cryostat 1, and have their lower ends located within a portion surrounded by the superconducting coil 6. A sample holding mechanism 14 is provided between the lower end of the fixed rod 11 and the lower end of the movable rod 12 so as to face each other vertically. .

一方、クライオスタット1の蓋体4を貫通して内槽2内
にライトガイド21の一端側とイメージガイド22の一
端鋼とがそれぞれ差し込まれている。ライトガイド21
の内槽2内に位置する端部23は、試料片13に設けら
れた切り込みPに近接し、かつその光軸が切り込みPに
所定の角度で臨む関係に配置されている。イメージガイ
ド22の内槽2内に位置する端部には対物レンズ24が
取り付けてあり、この対物レンズ24は試料片’   
 13(7)i;7J、)BMPIC!El!L、ヵ、
つや。0、。
On the other hand, one end of the light guide 21 and one end of the image guide 22 are inserted into the inner tank 2 through the lid 4 of the cryostat 1. light guide 21
The end portion 23 located in the inner tank 2 is close to the notch P provided in the sample piece 13, and is arranged such that its optical axis faces the notch P at a predetermined angle. An objective lens 24 is attached to the end of the image guide 22 located inside the inner tank 2, and this objective lens 24
13(7)i;7J,)BMPIC! El! L, ka,
luster. 0,.

込みPに所定の角度で臨む関係に配置されている。It is arranged so as to face the entrance P at a predetermined angle.

そして、上記のように配置されたライトガイド21の一
端側とイメージガイド22の一端側とは固定ロッド11
に支持材25.26を介してそれ  ゛ぞれ支持されて
いる。クライオスタット1外に位置しているライトガイ
ド21の他端側は光源装置27に接続されている。この
光源装置!27は、ランプを内蔵した光源装置本体28
と、この光源装置本体28から送出された光のうち赤外
線をカットした光をライトガイド21へ導入するフィル
タ29とで構成されている。クライオスタット1外に位
置しているイメージガイド22の端部はコネクタ30を
介してテレビジョンカメラ31の拡大レンズ系に対向接
続されている。そして、テレビジョンカメラ31から送
出された映像信号はカメラ制御器32を介してテレビジ
ョン受1!11133に導入されている。
One end side of the light guide 21 and one end side of the image guide 22 arranged as described above are connected to the fixed rod 11.
They are supported by support members 25 and 26, respectively. The other end of the light guide 21 located outside the cryostat 1 is connected to a light source device 27. This light source device! 27 is a light source device main body 28 with a built-in lamp.
and a filter 29 that introduces into the light guide 21 light that cuts infrared rays out of the light sent out from the light source device main body 28 . An end of the image guide 22 located outside the cryostat 1 is connected via a connector 30 to a magnifying lens system of a television camera 31. The video signal sent from the television camera 31 is introduced into the television receiver 1!11133 via the camera controller 32.

なお1図中34はテレビジョンカメラ31.カメラ制御
器32およびテレビジョン受像機33を磁気的にシール
ドする磁気遮蔽材を示している。
Note that 34 in Figure 1 is a television camera 31. A magnetic shielding material that magnetically shields the camera controller 32 and the television receiver 33 is shown.

また、35は液体ヘリウム導入用のパルプを示し。Further, 35 indicates pulp for introducing liquid helium.

36.37は排気用のバルブを示している。36 and 37 indicate exhaust valves.

次に、上記のように構成された破壊靭性試験装置の使用
例を説明する。
Next, an example of use of the fracture toughness testing apparatus configured as described above will be described.

まず、クライオスタット1の蓋体4を締め付けているボ
ルトを緩めて取り除き、この状態で引張り力付与機構8
を支持柱9に沿わせて試料保持機構14がクライオスタ
ット1外に出る位置まで上昇させる。次に、切り込みP
の幅が判明している試料片13を試料保持機構14に装
着する。次に。
First, loosen and remove the bolts tightening the lid 4 of the cryostat 1, and in this state, the tensile force applying mechanism 8
is raised along the support column 9 to a position where the sample holding mechanism 14 comes out of the cryostat 1. Next, the cut P
A sample piece 13 whose width is known is attached to the sample holding mechanism 14. next.

ライトガイド21の先端部23から送出される光が切り
込みPの部分に照射されるようにライトガイド21を位
置設定し、また、切り込みPの部分からの反射光を受光
できるようにイメージガイド22の対物レンズ24を位
置合せする。この状態で、実際に受像Ia33に写し出
された切り込みPの部分の像を観察し、カメラ制御器3
2を調整して倍率を設定するとともに受像Il!33に
写し出された像のピントが合うように対物レンズ24の
位置を微調整する。続いて、切り込みPから対物レンズ
24までの距離と、液体ヘリウムの屈折率とを考慮に入
れ、予め求められている校正カーブにしたがって液体ヘ
リウムの屈折率の影響でピントぼけが起きないように対
物レンズ24の位置をさらに微調整する。このような、
11整が終了した時点で、引張り力付与機構8を下降さ
せ2図に示すように試料片13を内槽2内に位置させる
とともに蓋体4を元の状態にセットする。続いて、パル
プ36を介して内槽2内を排気し、排気後に一旦。
The light guide 21 is positioned so that the light emitted from the tip 23 of the light guide 21 is irradiated onto the notch P, and the image guide 22 is positioned so that the light reflected from the notch P can be received. The objective lens 24 is aligned. In this state, the image of the notch P actually projected on the image receiving Ia 33 is observed, and the camera controller 3
2 to set the magnification and receive the image Il! The position of the objective lens 24 is finely adjusted so that the image projected at 33 is in focus. Next, taking into consideration the distance from the notch P to the objective lens 24 and the refractive index of liquid helium, the objective is adjusted according to a predetermined calibration curve to avoid defocusing due to the influence of the refractive index of liquid helium. The position of the lens 24 is further finely adjusted. like this,
When the 11 adjustment is completed, the tensile force applying mechanism 8 is lowered to position the sample piece 13 in the inner tank 2 as shown in FIG. 2, and the lid 4 is set to its original state. Subsequently, the inside of the inner tank 2 is evacuated through the pulp 36, and once after exhausting.

内槽2内にヘリウムガスを充填し、続いてヘリウムガス
を排気しながらバルブ35を介して内槽2内に液体ヘリ
ウム7を所定山収容する。次に、内槽2内を再び所定時
間排気して内t12内に存在している気泡を除去した後
、大気圧とする。
The inner tank 2 is filled with helium gas, and then a predetermined amount of liquid helium 7 is stored in the inner tank 2 via the valve 35 while the helium gas is exhausted. Next, the inside of the inner tank 2 is again evacuated for a predetermined period of time to remove air bubbles existing in the inner tank t12, and then the pressure is brought to atmospheric pressure.

上記のように内槽2内に液体ヘリウム7を導入すると、
超電導コイル6を構成している線材は極低温に冷却され
超電導線となる。また、試料片13も極低温に冷却され
る。次に1図示しない外部電源で超電導コイル6を励磁
する。この励磁によって試料片13は強磁場内に置かれ
たことになる。なお、ll場の強さは図示しないセンサ
によって検出されることは勿論である。また、このとき
受像機33には切り込みPの部分が写し出されている。
When liquid helium 7 is introduced into the inner tank 2 as described above,
The wire constituting the superconducting coil 6 is cooled to an extremely low temperature and becomes a superconducting wire. Further, the sample piece 13 is also cooled to an extremely low temperature. Next, the superconducting coil 6 is excited by an external power source (not shown). This excitation places the sample piece 13 in a strong magnetic field. Note that, of course, the strength of the ll field is detected by a sensor (not shown). Further, at this time, the portion of the notch P is displayed on the receiver 33.

この写し出されている像は、前述したように液体ヘリウ
ム7の屈折率を考慮に入れて対物レンズ24の位置設定
を行なっていることからしてピントの合ったものとなる
。また、この時点では試料片13に荷重を加えていない
ので受ll133に写し出された切り込みPの部分の鍮
は、実際の切り込みPの部分をそのまま拡大した像であ
る。
This projected image is in focus because the position of the objective lens 24 is set taking into consideration the refractive index of the liquid helium 7 as described above. Moreover, since no load is applied to the sample piece 13 at this point, the brass portion of the notch P projected on the receptacle 133 is an enlarged image of the actual portion of the notch P.

実際の寸法は判明しているので倍率を直ちに知ることが
できる。したがって、以後、引張り力付与機構8を動作
させ、このときの荷重信号Soと。
Since the actual dimensions are known, the magnification can be immediately determined. Therefore, from now on, the tensile force applying mechanism 8 is operated, and the load signal So at this time.

受像機33に写し出された切り込みPの広がり距離の平
均値とをプロットすることによ、つて極低温強磁場内に
おける破壊靭性試験を行なうことができる。
By plotting the average value of the spread distance of the cut P projected on the image receiver 33, a fracture toughness test in a cryogenic strong magnetic field can be performed.

そして、この場合には、ライトガイド21とイメージガ
イド22とを使って試料片13の像をi低温強磁場外へ
取り出し、これを受像!133に写し出し、写し出され
た像から試料片13の変位を測定するようにしているの
で、極低温および強磁場の影響を受けずに変位を測定す
ることができる。
In this case, the light guide 21 and the image guide 22 are used to take out the image of the sample piece 13 outside the low-temperature strong magnetic field, and the image is received! 133, and the displacement of the sample piece 13 is measured from the projected image, so that the displacement can be measured without being affected by extremely low temperatures and strong magnetic fields.

また、イメージガイド22を介して伝送された試料片1
3の像をテレビジョンカメラ31で写し。
In addition, the sample piece 1 transmitted via the image guide 22
Photograph the image of 3 with television camera 31.

これを受像機33に写し出すようにしているので。This is projected onto the receiver 33.

倍率を自由に設定でき、この結果、測定精度を上げるこ
とができるので、結局、前述した効果を発揮させること
ができる。
Since the magnification can be freely set and, as a result, the measurement accuracy can be increased, the above-mentioned effects can be achieved after all.

また、この実施例によると、光源装置27として赤外線
をカットするフィルタ29を備えたものを用いているの
で、ライトガイド21の送光端にヘリウムの気泡が発生
するのを防止でき、より正確な測定に寄与することがで
きる。また、液体ヘリウムの屈折率を考慮にいれてイメ
ージガイド22の対物レンズ位置を設定するようにして
いるので受像機33に写し出される試料片13の像の 
    □輪郭の鮮明化を図ることができ、なお一層測
定の正確化に寄与できる。さらに、磁気遮蔽材34で。
Furthermore, according to this embodiment, since the light source device 27 is equipped with a filter 29 that cuts infrared rays, it is possible to prevent helium bubbles from being generated at the light transmission end of the light guide 21, and to achieve more accurate can contribute to measurements. In addition, since the objective lens position of the image guide 22 is set taking into account the refractive index of liquid helium, the image of the sample piece 13 projected on the image receiver 33 is
□The contour can be made clearer, contributing to even more accurate measurement. Furthermore, with the magnetic shielding material 34.

テレビジョンカメラ31.カメラ制御器32.受像機3
3等を磁気遮蔽するようにしているので。
Television camera 31. Camera controller 32. Receiver 3
Because the 3rd class is magnetically shielded.

これらが磁気的な影響を受ける虞れがなく、安定に動作
させることができる。
There is no risk that these will be affected by magnetism, and they can be operated stably.

なお1本発明は、上述した実施例に限定されるものでは
ない。すなわち、上述した実施例は1本発明を破壊靭性
試験V&置に適用した例であるが。
Note that the present invention is not limited to the embodiments described above. That is, the above-mentioned embodiment is an example in which the present invention is applied to the fracture toughness test V&T.

本発明はこれに限定されるものではなく、極低温強磁場
内での変位測定全般に適用できることは勿論である。ま
た、ライトガイドの先端部位置およびイメージガイドの
対物レンズ位置を外部から調整できる機構を設けるよう
にしてもよい。また。
The present invention is not limited to this, but can of course be applied to displacement measurements in general at extremely low temperatures and in strong magnetic fields. Furthermore, a mechanism may be provided that allows the position of the tip of the light guide and the position of the objective lens of the image guide to be adjusted from the outside. Also.

ライトガイドとイメージガイドとを一体化してもよい。The light guide and the image guide may be integrated.

この場合、送光側の光軸と受光側の光軸との簡にある角
度が存在するように設定すれば、鮮明な像を伝送するこ
とができる。
In this case, if the optical axis on the light transmitting side and the optical axis on the light receiving side are set so that a certain angle exists, a clear image can be transmitted.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図は本発明を破壊靭性試験装置に適用した例の模式的構
成図である。 1・・・クライオスタット、6・・・超電導コイル。 7・・・液体ヘリウム、8・・・引張り力付与機構。 13・・・試料片、21・・・ライトガイド、22・・
・イメージガイド、27・・・光源装置、31・・・テ
レビジョンカメラ、33・・・テレビジョン受像機。
The figure is a schematic configuration diagram of an example in which the present invention is applied to a fracture toughness testing device. 1... Cryostat, 6... Superconducting coil. 7...Liquid helium, 8...Tensile force imparting mechanism. 13... Sample piece, 21... Light guide, 22...
- Image guide, 27... Light source device, 31... Television camera, 33... Television receiver.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)被変位測定物が置かれている極低温強磁場の外に
配置され赤外線を含まない照明光を送出する光源装置と
、この光源装置から送出された照明光を前記極低温強磁
場内に導いて前記被変位測定物に照射するライトガイド
と、前記被変位測定物からの反射光像を前記極低温強磁
場の外へ伝送するイメージガイドと、このイメージガイ
ドを介して伝送された前記被変位測定物の像を光電変換
するテレビジョンカメラと、このテレビジョンカメラか
ら送出された映像信号を導入して前記被変位測定物の像
を写し出すテレビジョン受像機とを具備し、前記テレビ
ジョン受像機に写し出された像から前記被変位測定物の
変位を測定するようにしたことを特徴とする極低温強磁
場用変位測定装置。
(1) A light source device that is placed outside the extremely low temperature strong magnetic field in which the object to be measured is placed and that emits illumination light that does not contain infrared rays; a light guide that guides the object to be displaced and irradiates it to the object to be measured; an image guide that transmits a reflected light image from the object to be measured to the outside of the cryogenic strong magnetic field; The television camera is equipped with a television camera that photoelectrically converts an image of the object to be displaced, and a television receiver that receives a video signal sent from the television camera and projects an image of the object to be displaced. A displacement measuring device for a cryogenic strong magnetic field, characterized in that the displacement of the object to be displaced is measured from an image projected on a receiver.
(2)前記極低温強磁場外に配置された各要素は、それ
ぞれ磁気遮蔽されていることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の極低温強磁場用変位測定装置。
(2) The displacement measuring device for a cryogenic strong magnetic field according to claim 1, wherein each element placed outside the cryogenic strong magnetic field is magnetically shielded.
(3)前記イメージガイドは、極低温冷媒の屈折率を考
慮に入れて対物レンズの位置設定がなされていることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の極低温強磁場用
変位測定装置。
(3) The displacement measuring device for cryogenic strong magnetic fields according to claim 1, wherein the image guide is configured such that the position of the objective lens is set in consideration of the refractive index of the cryogenic coolant. .
JP10445785A 1985-05-16 1985-05-16 Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field Granted JPS61269005A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10445785A JPS61269005A (en) 1985-05-16 1985-05-16 Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10445785A JPS61269005A (en) 1985-05-16 1985-05-16 Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61269005A true JPS61269005A (en) 1986-11-28
JPH0431324B2 JPH0431324B2 (en) 1992-05-26

Family

ID=14381135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10445785A Granted JPS61269005A (en) 1985-05-16 1985-05-16 Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61269005A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0261509A (en) * 1988-08-26 1990-03-01 Agency Of Ind Science & Technol Displacement measuring apparatus
FR2641373A1 (en) * 1988-12-30 1990-07-06 Aerospatiale INSTALLATION FOR MEASURING DEFORMATIONS OF AN OBJECT SUBJECT TO CONSTRAINTS

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58171612A (en) * 1982-04-01 1983-10-08 Furukawa Electric Co Ltd:The Picture image type detection of displacement

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58171612A (en) * 1982-04-01 1983-10-08 Furukawa Electric Co Ltd:The Picture image type detection of displacement

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0261509A (en) * 1988-08-26 1990-03-01 Agency Of Ind Science & Technol Displacement measuring apparatus
FR2641373A1 (en) * 1988-12-30 1990-07-06 Aerospatiale INSTALLATION FOR MEASURING DEFORMATIONS OF AN OBJECT SUBJECT TO CONSTRAINTS

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0431324B2 (en) 1992-05-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101752164B1 (en) Charged particle beam apparatus and sample image acquiring method
US6882701B2 (en) X-ray fluorescence system and method
EP0781992A1 (en) Fluorescence X-ray analyzer
RU2249813C2 (en) Device for taking elementary analysis by means of spectrometry of optical emission on laser-generated plasma
JP2004144478A (en) X-ray analysis apparatus and method
Calligaro et al. An external milli-beam for archaeometric applications on the AGLAE IBA facility of the Louvre museum
EP2881973A1 (en) Device and method for pvd process diagnostic using X-ray fluorescence local probe
JPS61269005A (en) Displacement measuring apparatus for cryogenic ferromagnetic field
GB2152697A (en) Improvements in or relating to scanning optical microscopes
Roberts An optical absorption cell for use at low temperatures
JP4041606B2 (en) X-ray analyzer
Katabuchi et al. Spin-exchange optically pumped polarized He3 target for low-energy charged particle scattering experiments
EP0617431A2 (en) X-ray analysing apparatus
US4675523A (en) Directional gamma ray monitor
Anderegg et al. Optical carriage for laser‐induced fluorescence in a magnetized plasma
Maddox et al. Imaging corrosion under insulation with a mechanically-translatable atomic magnetometer
EP3150997A1 (en) Non-magnetic insertion probe for spectroscopic measurements
JPH07253472A (en) Helium-3 cryostat for radiation detector and analyzer
JPH01120749A (en) Automatic focusing device for electron microscope
JP2004163235A (en) X-ray analyzer
JPS62246356A (en) Examination apparatus using nuclear magnetic resonance
WO2003012797A1 (en) Methods and devices for aligning and determining the focusing characteristics of x-ray optics
Handbook Leak Testing
JP4069514B2 (en) Analysis equipment
US20070222440A1 (en) Induced magnetic field detecting apparatus and an induced magnetic field detecting method

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term