JPH04307388A - X線線量空間分布測定装置 - Google Patents

X線線量空間分布測定装置

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Publication number
JPH04307388A
JPH04307388A JP7160391A JP7160391A JPH04307388A JP H04307388 A JPH04307388 A JP H04307388A JP 7160391 A JP7160391 A JP 7160391A JP 7160391 A JP7160391 A JP 7160391A JP H04307388 A JPH04307388 A JP H04307388A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
rays
light
dose
sensor array
Prior art date
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Pending
Application number
JP7160391A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Sumino
努 角野
Koji Kakizaki
弘司 柿崎
Saburo Sato
三郎 佐藤
Yasukazu Matsuoka
松岡 靖和
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH04307388A publication Critical patent/JPH04307388A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】[発明の目的]
【0002】
【産業上の利用分野】この発明は、X線線量空間分布測
定装置に関する。
【0003】
【従来の技術】X線により予備電離するガスレーザ発振
装置や医療用のX線CT(Computer Tomg
raphy)あるいはX線露光に使用されるSOR(S
ynchrotron Orbital Radiat
ion )などにおける放射X線の線量空間分布を測定
することは、それら装置の性能を向上させる開発をおこ
なう上に重要である。
【0004】従来このX線の線量空間分布測定方法とし
て、小型の電離箱サーベイメータによりX線照射エリア
を走査する方法、およびX線写真により測定する方法が
ある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来X
線線量の空間分布測定方法として、電離箱サーベイメー
タにより測定する方法とX線写真により測定する方法と
がある。
【0006】しかし、電離箱サーベイメータにより測定
する方法は、ガスを封止する容器が必要であり、その容
器の小型化が困難であるため、微少エリアのX線線量の
空間分布を測定することができない。また、X線写真に
より測定する方法は、フィルムの感度が低いため、パル
スX線やエネルギの低いX線に対して十分な明暗の写真
が得られず、X線線量の空間分布を正確に測定すること
ができない。また感度が得られても、写真の明暗がX線
線量に比例しない。さらにこの写真により測定する方法
は、撮影後現像が必要なため、実時間処理ができないな
どの問題がある。
【0007】この発明は、上記問題点を解決するために
なされたものであり、微少エリアおよびパルスX線やエ
ネルギの低いX線線量の空間分布を測定することができ
るX線線量空間分布測定装置を構成することを目的とす
る。
【0008】[発明の構成]
【0009】
【課題を解決するための手段】X線線量空間分布測定装
置において、複数個のX線シンチレータを不透光性スペ
ーサを介して配列してセンサアレイを構成し、そのX線
シンチレータから得られる光を複数個の光伝送路により
各別に伝送し、この複数個の光伝送路を介して伝送され
る光を複数個のフォトダイオードにより各別に受光し、
このフォトダイオードから送出される電気信号を処理回
路により、増幅し、増幅された電気信号のピーク値をホ
ールドし、そのピーク値をA/D変換する構成とした。
【0010】
【作用】上記のように構成すると、センサアレイを微細
構造に形成することができるため、微細エリアのX線線
量空間分布を測定することができ、またX線シンチレー
タを使用したことにより、パルスX線やエネルギの低い
X線線量空間分布を測定することができるようになる。
【0011】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明を実施例に基
づいて説明する。
【0012】図1にその一実施例であるX線線量空間分
布測定装置の構成を示す。この測定装置は、X線の入射
により発光する複数個のX線シンチレータ1を配列して
なるセンサアレイ2と、各X線シンチレータ1の背面に
密接して配置され、X線シンチレータ1から得られる光
を伝送する複数本の光ファイバ3からなる光伝送路と、
この光ファイバ3を介して伝送される光を各別に受光し
て電気信号に変換する複数個のフォトダイオード4と、
その電気信号を処理する処理回路5とからなる。
【0013】上記センサアレイ2は、図2に示すように
、NaIからなるチップ状X線シンチレータ1を肉厚の
薄い金属枠状の不透光性スペーサ7内に収容し、この不
透光性スペーサ7を介して複数個のチップ状X線シンチ
レータ1を平面状(二次元)に配列したものである。 その不透光性スペーサ7は、チップ状X線シンチレータ
1に対して図3に示すようにX線シンチレータ1の背面
側にずれて配置されている。
【0014】光ファイバ3は、その一端部が上記チップ
状X線シンチレータ1の背面側にずれている不透光性ス
ペーサ7の内側に位置してX線シンチレータ1の背面に
密接し、他端は、フォトダイオード4の受光面に密接し
て、X線シンチレータ1から得られる光の伝送ロスを少
なくする接続構造となっている。
【0015】処理回路5は、フォトダイオード4により
光電変換されて送出される電気信号を電流電圧変換して
増幅する電流−電圧変換器8、この電流−電圧変換器8
により変換増幅された電気信号を処理するマルチプレク
サ9、このマルチプレクサ9を介して得られる電気信号
のピーク値をホールドするピークホールド回路10、こ
のピークホールド回路10から得られるピーク値をA/
D変換するA/D変換器11およびこのA/D変換器1
0から得られる電気信号を取込んで画像処理するコンピ
ュータ12からなる。このコンピュータ12により処理
された画像信号は、図示しない表示装置により表示また
は記録される。
【0016】ところで、上記のように構成すると、X線
受光部をセンサアレイ2とし、このセンサアレイ2をチ
ップ状の微小X線シンチレータ1で構成することができ
るので、数100μm オーダーの小さなエリアのX線
線量分布を測定することができる。しかもX線シンチレ
ータ1から得られる光を光電変換して処理するので、実
時間で測定することができる。またこの測定装置によれ
ば、連続X線は勿論、パルスX線やエネルギの低いX線
に対しても、そのX線線量空間分布を測定することがで
きる。さらにX線シンチレータ1から得られる光を光フ
ァイバ3によりフォトダイオード4に伝送するように構
成したので、光の伝送ロスが少なく、遠隔測定が可能と
なり、かつ測定波形の歪みを少なくすることができる。
【0017】つぎに他の実施例について説明する。
【0018】図4に示すセンサアレイ2は、X線シンチ
レータ1をたとえば幅3mm長さ20mmの長方形チッ
プ状に形成し、このチップ状のX線シンチレータ1を複
数個一列(一次元)に配置し、この一列配置のX線シン
チレータ1と1対1に対応してその背面に複数個のフォ
トダイオード4を配置し、その各X線シンチレータ1と
フォトダイオード4との対の間に不透光性スペーサ7を
介在させたものである。この各対応するX線シンチレー
タ1とフォトダイオード4とは、所定間隔離間して対向
し、この例の測定装置では、それら間の空間14が光伝
送路となっている。
【0019】なお、このセンサアレイ2から得られる電
気信号を処理する処理回路は、前記実施例の処理回路と
同じである。
【0020】図5にX線管から放射されるパルスX線線
量の空間分布測定例を示す。図5(a)に示すように、
X線管15に高電圧パルス電源16からその陽極17に
同(b)に示すピーク電圧Vmax =40kV,パル
ス幅W=500nsのパルス電圧18を印加して、パル
ス幅500ns、5 mR/パルスのX線を発生させ、
その陽極17の前面に3mm×20mmのX線シンチレ
ータ1を15個一列に配列した長さ87.5mmのセン
サアレイ2を配置して、そのX線線量空間分布を測定し
た。同(c)に示す曲線19がその測定されたX線線量
の分布である。なお、20はX線管15の陰極21に印
加する定電圧電源である。
【0021】このようにこの例の測定装置を用いると、
従来測定困難であったパルスX線線量の空間分布を有効
に測定することができる。
【0022】なお、上記実施例では、X線シンチレータ
をNa Iで構成したが、より速い応答を必要とする場
合は、プラスチックシンチレータ、あるいはフォトダイ
オードそのものをシンチレータとして構成しても同様の
効果が得られる。
【0023】
【発明の効果】複数個のX線シンチレータを不透光性ス
ペーサを介して配列してセンサアレイを構成し、その複
数個のX線シンチレータから得られる光を複数個の光伝
送路により各別に伝送し、この複数個の光伝送路により
伝送される光を複数個のフォトダイオードにより各別に
受光し、このフォトダイオードから送出される電気信号
を処理回路により画像処理する構成とすると、センサア
レイを微細構造に形成することができるため、微細エリ
アのX線線量の空間分布を測定することができ、またX
線シンチレータを使用したことにより、パルスX線やエ
ネルギの低いX線線量の空間分布も有効に測定すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例であるX線線量空間分布測
定装置の構成を示す図である。
【図2】そのセンサアレイの構造を示す図である。
【図3】そのセンサアレイを構成するX線シンチレータ
の図である。
【図4】この発明の他の実施例のセンサアレイの構造を
示す図で、図4(a)はその平面図、図4(b)はその
断面図である。
【図5】図5(a)はパルスX線線量の空間分布の測定
例を示す図、図5(b)はX線管の陽極に印加する高電
圧波形図、図5(c)は測定されたパルスX線線量の空
間分布図である。
【符号の説明】
1…X線シンチレータ 2…センサアレイ 3…光ファイバ 4…フォトダイオード 5…処理回路 7…不透光性スペーサ 14…空間

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  複数個のX線シンチレータが不透光性
    スペーサを介して配列されたセンサアレイと、上記複数
    個のX線シンチレータから得られる光を各別に伝送する
    複数個の光伝送路と、上記複数個の光伝送路を介して伝
    送される光を各別に受光する複数個のフォトダイオード
    と、このフォトダイオードから送出される電気信号を増
    幅し、この増幅された電気信号のピーク値をホールドし
    、このピーク値をA/D変換する処理回路とを具備する
    ことを特徴とするX線線量空間分布測定装置。
JP7160391A 1991-04-04 1991-04-04 X線線量空間分布測定装置 Pending JPH04307388A (ja)

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JP7160391A JPH04307388A (ja) 1991-04-04 1991-04-04 X線線量空間分布測定装置

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JPH04307388A true JPH04307388A (ja) 1992-10-29

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19647235A1 (de) * 1996-11-15 1998-05-20 Martin Garg Vielkanal-Dosimeter
JP2008304349A (ja) * 2007-06-08 2008-12-18 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc シンチレータ部材およびx線ct装置
JP2012237562A (ja) * 2011-05-10 2012-12-06 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線検出パネルおよび放射線画像検出器
JP2014173903A (ja) * 2013-03-06 2014-09-22 Toreck Co Ltd 線量計

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