JPH0429818U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の一実施例を示す一部省略を
含む斜視図、第２図はこの実施例の要部の分解斜
視図、第３図は第１図の−断面図、第４図は
従来技術の第２図相当図である。 １……測定装置、２……メインスケール、３…
…インデツクススケール、４……発光素子、５，
６……受光素子、７……演算表示手段、８……ホ
ルダー、１６，１７，１８……保持手段、１９，
２３，２７……フランジ部、２０，２４，２８…
…挟持部材、２２，２６，３０……止めビス（保
持手段）、３１，３２，３３……姿勢調整手段、
３６，３７，４４，４５，５２，５３……挟持片
（保持手段で且つ姿勢調整手段）、３８，３９，
４６，４７，５４，５５……調整ビス（姿勢調整
手段）。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 互いに相対移動可能に配設されたメインスケ
   ール及びインデツクススケールと、それらメイン
   スケール及びインデツクススケールを介して光の
   授受をおこなう、フランジ部を有する発光素子及
   び受光素子と、その受光素子からの信号に基づき
   メインスケールとインデツクススケールの相対移
   動の距離や角度等を演算表示する演算表示手段が
   備えられ、 加えて、上記発光素子及び受光素子をそれぞれ
   のフランジ部で挟持する挟持部材を含み、発光素
   子及び受光素子のメインスケール又はインデツク
   ススケールに対する定位置を保持する保持手段と
   、その保持手段に保持されている発光素子及び受
   光素子の姿勢を調整する姿勢調整手段が設けられ
   てなる測定装置。 ２ 挟持手段に発光素子及び受光素子のフランジ
   部を挟持するための挟持片が備えられ、その挟持
   片のフランジ部を挟持する側の面にそのフランジ
   部と当接する突出部が形成されてなる請求項１に
   記載の測定装置。