JPH042881B2 - - Google Patents
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- JPH042881B2 JPH042881B2 JP20253384A JP20253384A JPH042881B2 JP H042881 B2 JPH042881 B2 JP H042881B2 JP 20253384 A JP20253384 A JP 20253384A JP 20253384 A JP20253384 A JP 20253384A JP H042881 B2 JPH042881 B2 JP H042881B2
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- Japan
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- light
- inspection
- transparent
- glass
- wavelength
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- Expired
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- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims description 8
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
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- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
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- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、ガラス、プラスチツク等の透明体の
表面を検査する方法に関する。
表面を検査する方法に関する。
従来より、例えばガラス加工製品であるガラス
食器（タンブラー等）の製品検査は種々の方法に
よつて行なわれており、古くは作業員による目視
による光の透過、屈折、反射などの総合的な検査
が知られる他、近時では機械的、光学的な機器を
用いた検査も広く行なわれるようになつている。
食器（タンブラー等）の製品検査は種々の方法に
よつて行なわれており、古くは作業員による目視
による光の透過、屈折、反射などの総合的な検査
が知られる他、近時では機械的、光学的な機器を
用いた検査も広く行なわれるようになつている。
機器検査としては、例えばプリセレクタと呼ば
れる第４図に示すような光学検査法があり、発光
部５から検査対象物６を透過した光を検査部７で
入力し、検査部ではリニヤCCD等を用いて検査
対象物の回転をさせながら透過光の光強度変化を
情報として製品の良否を判断する方式のもの、あ
るいはCSマシンと呼ばれる第５図に示すような
機械的および光学的ないくつかの検査ステーシヨ
ンをもつものもあり、これは一般的に、機械的に
高さ、口径、真円等の測定、天面のチエツク等を
行ない、光学的に胴バネ、口部チエツクなどを行
なつている。
れる第４図に示すような光学検査法があり、発光
部５から検査対象物６を透過した光を検査部７で
入力し、検査部ではリニヤCCD等を用いて検査
対象物の回転をさせながら透過光の光強度変化を
情報として製品の良否を判断する方式のもの、あ
るいはCSマシンと呼ばれる第５図に示すような
機械的および光学的ないくつかの検査ステーシヨ
ンをもつものもあり、これは一般的に、機械的に
高さ、口径、真円等の測定、天面のチエツク等を
行ない、光学的に胴バネ、口部チエツクなどを行
なつている。
しかし、これらの機器検査による場合は検査対
象の細かい形状については検査測定できない問題
があり、特に表面の型スジ、サザナミ、キズなど
の不良判断には限界が伴なうし、前記CSマシン
では各機器のセツテイングが容易でないなどの難
もある。一方目視検査は機器検査特有の難はない
が、検査基準のバラツキ（個人差、疲労の影響
等）、照明設備等への配慮など別の問題がある。
象の細かい形状については検査測定できない問題
があり、特に表面の型スジ、サザナミ、キズなど
の不良判断には限界が伴なうし、前記CSマシン
では各機器のセツテイングが容易でないなどの難
もある。一方目視検査は機器検査特有の難はない
が、検査基準のバラツキ（個人差、疲労の影響
等）、照明設備等への配慮など別の問題がある。
したがつてこれらのことからして、機器検査に
おける従来の弱点を改善することが求められ、特
に製品表面の細かなスジ等の正確かつ簡易な検査
方法の提案が望まれている。
おける従来の弱点を改善することが求められ、特
に製品表面の細かなスジ等の正確かつ簡易な検査
方法の提案が望まれている。
本発明は以上のような観点からなされたもので
あり、製品に対し、非接触な状態で検査できる光
学検査法により、ガラス、プラスチツク等の透明
体表面のスジ等の検出を容易とした検査方法の提
供を目的とする。
あり、製品に対し、非接触な状態で検査できる光
学検査法により、ガラス、プラスチツク等の透明
体表面のスジ等の検出を容易とした検査方法の提
供を目的とする。
光学検査法によりガラス体表面の検査を行なう
場合に問題となるのは、検査対象が透明体（若干
の着色された透明体も同じ）であるため、光の屈
折、反射等にて検査光として得られる入力情報が
一定光路に特定されない点にある。これは、入力
された検査光の光強度に変化を生じた場合に、こ
の原因が製品の表面、内部、反対側表面のいずれ
に存在しているか簡単には判別できないことにつ
ながる。
場合に問題となるのは、検査対象が透明体（若干
の着色された透明体も同じ）であるため、光の屈
折、反射等にて検査光として得られる入力情報が
一定光路に特定されない点にある。これは、入力
された検査光の光強度に変化を生じた場合に、こ
の原因が製品の表面、内部、反対側表面のいずれ
に存在しているか簡単には判別できないことにつ
ながる。
そこで本発明者等は、検査対象が透明体である
ことを前提として、検査光として測定される光が
特定された一つの光路をたどつたものとなるよう
にすることの工夫を重ねた結果、本発明をなすに
至つたのであり、これはガラス、プラスチツク等
の透明体も、全波長領域の光に対し透明ではな
く、所定領域の波長光に対しては不透明（光を透
過しない）であることに着目してなされたもので
ある。
ことを前提として、検査光として測定される光が
特定された一つの光路をたどつたものとなるよう
にすることの工夫を重ねた結果、本発明をなすに
至つたのであり、これはガラス、プラスチツク等
の透明体も、全波長領域の光に対し透明ではな
く、所定領域の波長光に対しては不透明（光を透
過しない）であることに着目してなされたもので
ある。
而して前記した目的を達成するためになされた
本発明方法の要旨とするところは、ガラス、プラ
スチツク等の透明体を検査対象として、この透明
体を実質的に透過しない波長の光を透明体表面で
反射させ、この反射光を測定判断装置の入力信号
とすることを特徴とする透明体表面の検査方法に
ある。
本発明方法の要旨とするところは、ガラス、プラ
スチツク等の透明体を検査対象として、この透明
体を実質的に透過しない波長の光を透明体表面で
反射させ、この反射光を測定判断装置の入力信号
とすることを特徴とする透明体表面の検査方法に
ある。
本発明の検査対象となる透明体は、本法が代表
的に適用されるタンブラー等のガラス食器である
場合の他、これ以外のガラス製品、レンズ等、あ
るいはプラスチツク製品など、あるいは着色され
た透明体であつてもよく、要は、通常（可視領域
の波長光）は透明であるが、これ以外のある所定
の波長の光を透過しないものであればよい。例え
ば一般的な食器用のガラスは第３図の分光透過曲
線中のA1，A2，A3で示す如く波長約330nm以下
の（紫外）光に対して実質的に不透明であり、同
第３図のＢで示す一般的写真撮影用レンズは波長
約360nm以下の光に対して実質的に不透明であ
る。またプラスチツクでは例えばアクリル樹脂透
明体は390nm以下の波長の光に対して実質的不透
明である。
的に適用されるタンブラー等のガラス食器である
場合の他、これ以外のガラス製品、レンズ等、あ
るいはプラスチツク製品など、あるいは着色され
た透明体であつてもよく、要は、通常（可視領域
の波長光）は透明であるが、これ以外のある所定
の波長の光を透過しないものであればよい。例え
ば一般的な食器用のガラスは第３図の分光透過曲
線中のA1，A2，A3で示す如く波長約330nm以下
の（紫外）光に対して実質的に不透明であり、同
第３図のＢで示す一般的写真撮影用レンズは波長
約360nm以下の光に対して実質的に不透明であ
る。またプラスチツクでは例えばアクリル樹脂透
明体は390nm以下の波長の光に対して実質的不透
明である。
したがつて、これらの各透明体に対して夫々の
透過しない波長領域の光を検査光として使用でき
る。
透過しない波長領域の光を検査光として使用でき
る。
本発明を図面に示した実施態様に基づいて更に
詳しく説明すると、第１図に示す如く、検査対象
物１（例えばガラス食器）に対して光源２と受光
部３を所定の位置関係に配置し、受光部３は更に
測定判断装置４に電気的に接続される。前記光源
２は例えばガラス食器に対して330nm以下の検査
光を発光するもの（フイルターの利用等による）
を用いてもよいが、一般的にこの330nm以下の波
長光を含むキセノンランプ等が好ましく使用され
る。
詳しく説明すると、第１図に示す如く、検査対象
物１（例えばガラス食器）に対して光源２と受光
部３を所定の位置関係に配置し、受光部３は更に
測定判断装置４に電気的に接続される。前記光源
２は例えばガラス食器に対して330nm以下の検査
光を発光するもの（フイルターの利用等による）
を用いてもよいが、一般的にこの330nm以下の波
長光を含むキセノンランプ等が好ましく使用され
る。
受光部３は、一般的には、前記330nm以下の検
査光を通すがそれ以上の波長は遮蔽するフイルタ
ー（図示せず）と、このフイルターを介して検査
光を受けるリニヤCCD等の組合せにより構成さ
れ、CCDからの電気信号を受けた測定判断装置
４が検査光強度の変動の大きさ等に基づいて検査
製品の良否を判断するようになつている。
査光を通すがそれ以上の波長は遮蔽するフイルタ
ー（図示せず）と、このフイルターを介して検査
光を受けるリニヤCCD等の組合せにより構成さ
れ、CCDからの電気信号を受けた測定判断装置
４が検査光強度の変動の大きさ等に基づいて検査
製品の良否を判断するようになつている。
このような構成によれば、例えば第２図により
説明される如く、検査対象物１に対して光源から
照射された光は、屈折、透過反射等によつて、
、の方向に進み、また室内照明等の系外光源
（図中仮想光源２′で示す）からの光が存在する
ことになるが、受光部のフイルターを通してリニ
ヤCCDに入射される検査光は光のみとなり、
他は入射されない。したがつてガラス食器等の表
面検査が非接触の光学方式で正確、迅速にかつ容
易に行なえることになる。
説明される如く、検査対象物１に対して光源から
照射された光は、屈折、透過反射等によつて、
、の方向に進み、また室内照明等の系外光源
（図中仮想光源２′で示す）からの光が存在する
ことになるが、受光部のフイルターを通してリニ
ヤCCDに入射される検査光は光のみとなり、
他は入射されない。したがつてガラス食器等の表
面検査が非接触の光学方式で正確、迅速にかつ容
易に行なえることになる。
なお、検査の対象は例えばガラス食器の外表面
は勿論、対象物の形状、光源・受光部の配置関係
により内表面についても検査可能であることは言
うまでもない。
は勿論、対象物の形状、光源・受光部の配置関係
により内表面についても検査可能であることは言
うまでもない。
本発明は以上述べた如く非接触型の光学方式の
検査法として、ガラス、プラスチツク等の透明体
表面を正確、詳細に、しかも容易に検査できるも
のであり、その有用性は極めて大なるものであ
る。
検査法として、ガラス、プラスチツク等の透明体
表面を正確、詳細に、しかも容易に検査できるも
のであり、その有用性は極めて大なるものであ
る。
図面第１図は本発明方法の実施態様を説明する
ための図、第２図は検査対象とこれに照射された
光の関係を説明する図、第３図は透明体の分光透
過曲線を示す図、第４図、第５図は夫々従来法を
説明するための図である。 １……検査対象物、２……光源、２′……仮想
光源、３……受光部（検査部）、４……測定判断
装置、５……光源、６……検査対象物、７……受
光部。
ための図、第２図は検査対象とこれに照射された
光の関係を説明する図、第３図は透明体の分光透
過曲線を示す図、第４図、第５図は夫々従来法を
説明するための図である。 １……検査対象物、２……光源、２′……仮想
光源、３……受光部（検査部）、４……測定判断
装置、５……光源、６……検査対象物、７……受
光部。
Claims (1)
- １ ガラス、プラスチツク等の透明体を検査対象
として、この透明体を実質的に透過しない波長の
光を透明体表面で反射させ、この反射光を測定判
断装置の入力信号とすることを特徴とする透明体
表面の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20253384A JPS6179111A (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 透明体表面の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20253384A JPS6179111A (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 透明体表面の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6179111A JPS6179111A (ja) | 1986-04-22 |
| JPH042881B2 true JPH042881B2 (ja) | 1992-01-21 |
Family
ID=16459070
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20253384A Granted JPS6179111A (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 透明体表面の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6179111A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007271410A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Dainippon Printing Co Ltd | 欠陥検出方法、欠陥検出装置及び欠陥検出プログラム |
| CN105571824B (zh) * | 2014-10-13 | 2019-01-04 | 南昌欧菲光电技术有限公司 | 滤光片检验方法和装置 |
-
1984
- 1984-09-27 JP JP20253384A patent/JPS6179111A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6179111A (ja) | 1986-04-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |