JPH04282476A - プログラマブルロジックデバイス - Google Patents
プログラマブルロジックデバイスInfo
- Publication number
- JPH04282476A JPH04282476A JP3045244A JP4524491A JPH04282476A JP H04282476 A JPH04282476 A JP H04282476A JP 3045244 A JP3045244 A JP 3045244A JP 4524491 A JP4524491 A JP 4524491A JP H04282476 A JPH04282476 A JP H04282476A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- flip
- output
- flop
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 10
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、論理動作をプログラム
可能な半導体デバイスであるプログラマブルロジックデ
バイス(PLD)、特にその検査機構に関する。
可能な半導体デバイスであるプログラマブルロジックデ
バイス(PLD)、特にその検査機構に関する。
【0002】
【従来の技術】近年のデジタル処理技術、半導体技術の
飛躍的な進歩により、各種処理にデジタル処理が採用さ
れ、その論理回路が半導体デバイスによって構成される
ようになってきている。しかし、半導体デバイスを利用
する場合には、その生産効率を考慮すると、大量に生産
する必要があり、1つのデバイスを汎用性を高くするこ
とが重要となる。このため、ユーザの要求に合わせて、
その動作を設定できるプログラマブルロジックデバイス
(PLD)が提案され、広く普及されるようになってき
ている。
飛躍的な進歩により、各種処理にデジタル処理が採用さ
れ、その論理回路が半導体デバイスによって構成される
ようになってきている。しかし、半導体デバイスを利用
する場合には、その生産効率を考慮すると、大量に生産
する必要があり、1つのデバイスを汎用性を高くするこ
とが重要となる。このため、ユーザの要求に合わせて、
その動作を設定できるプログラマブルロジックデバイス
(PLD)が提案され、広く普及されるようになってき
ている。
【0003】このPLDにおいては、同一の中間的な製
品について初期設定(例えば、プログラムの焼き付け等
の処理)することにより、その製品における論理を設定
することができる。そして、このようなPLDにおいて
は、その汎用性の向上や設計の効率化を図るために、同
一構造のユニットセルを多数設け、このユニットセル内
の論理を設定するとともに、各ユニットセルへの信号の
入出力経路に設けられているスイッチを所定のものに設
定して、PLD全体の信号処理を所望のものとしている
。
品について初期設定(例えば、プログラムの焼き付け等
の処理)することにより、その製品における論理を設定
することができる。そして、このようなPLDにおいて
は、その汎用性の向上や設計の効率化を図るために、同
一構造のユニットセルを多数設け、このユニットセル内
の論理を設定するとともに、各ユニットセルへの信号の
入出力経路に設けられているスイッチを所定のものに設
定して、PLD全体の信号処理を所望のものとしている
。
【0004】ここで、このようなPLDにおいても、通
常の半導体デバイスと同様に、製品が正常に機能するか
否かをテストしなければならない。そして、通常の場合
、このテストは入力信号の状態と出力信号の状態が所定
の関係にあるか否かによって行っている。
常の半導体デバイスと同様に、製品が正常に機能するか
否かをテストしなければならない。そして、通常の場合
、このテストは入力信号の状態と出力信号の状態が所定
の関係にあるか否かによって行っている。
【0005】そこで、入力信号を所定の状態に設定した
後、出力信号線の状態を検査することとなるが、検査対
象は多数あるため、なるべく多くの検査対象を一度に検
査したいという要求がある。
後、出力信号線の状態を検査することとなるが、検査対
象は多数あるため、なるべく多くの検査対象を一度に検
査したいという要求がある。
【0006】一方、各ユニットセルは、その内部にフリ
ップフロップを有している場合が多い。このため、検査
結果をこのフリップフロップにラッチしておき、ラッチ
されているデータを取り出して結果の判定を行うことが
行われている。すなわち、PLDにおいては、多数のコ
ンフィグレーションメンモリを有しており、電源立ち上
げ時には、上述のようにしてこのコンフィグレーション
メモリにシリアルデータを転送して、データをセットし
ている。そこで、各フリップフロップにコンフィグレー
ションメモリと同等のアドレスを付与し、コンフィグレ
ーションメモリへのデータ転送の経路を用いてフリップ
フロップに記憶されたデータを取り出していた。
ップフロップを有している場合が多い。このため、検査
結果をこのフリップフロップにラッチしておき、ラッチ
されているデータを取り出して結果の判定を行うことが
行われている。すなわち、PLDにおいては、多数のコ
ンフィグレーションメンモリを有しており、電源立ち上
げ時には、上述のようにしてこのコンフィグレーション
メモリにシリアルデータを転送して、データをセットし
ている。そこで、各フリップフロップにコンフィグレー
ションメモリと同等のアドレスを付与し、コンフィグレ
ーションメモリへのデータ転送の経路を用いてフリップ
フロップに記憶されたデータを取り出していた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、コンフ
ィグレーションメモリは、ユニットセルへ至る信号線の
伝達、非伝達設定のためのものの他、各ユニットセル内
の論理設定のためのものがあり、その数はフリップフロ
ップの数(ユニットセルの数に対応する)の100倍以
上ある。そこで、コンフィグレーションメモリへのデー
タ転送経路を用いてフリップフロップに記憶されている
データをシリアル転送すると、その転送時間に数10m
secを要し、テストの時間が長くなってしまうという
問題点があった。
ィグレーションメモリは、ユニットセルへ至る信号線の
伝達、非伝達設定のためのものの他、各ユニットセル内
の論理設定のためのものがあり、その数はフリップフロ
ップの数(ユニットセルの数に対応する)の100倍以
上ある。そこで、コンフィグレーションメモリへのデー
タ転送経路を用いてフリップフロップに記憶されている
データをシリアル転送すると、その転送時間に数10m
secを要し、テストの時間が長くなってしまうという
問題点があった。
【0008】本発明は、上記問題点を解決することを課
題としてなされたものであり、高速検査が可能なプログ
ラマブルロジックデバイスを提供することを目的とする
。
題としてなされたものであり、高速検査が可能なプログ
ラマブルロジックデバイスを提供することを目的とする
。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、信号の入出力
を行う複数の入出力部と、それぞれが所定の論理演算を
行う論理回路を含む複数のユニットセルと、上記入出力
部とユニットセルを接続する配線部とを含むプログラマ
ブルロジックデバイスにおいて、ユニットセルにおける
演算結果である出力データを記憶保持するフリップフロ
ップと、前記論理回路と前記フリップフロップの間に配
置され、論理回路からの出力信号と他のフリップフロッ
プからの出力信号のいずれか一方を選択するセレクタと
、複数のセレクタに接続され、複数のセレクタにおける
選択を同時に切り替える信号線とを有し、セレクタを切
り替えることによって、複数のフリップフロップを直列
接続とし、この状態で各フリップフロップにシフトクロ
ックを供給するすることによって直列接続された複数の
フリップフロップに記憶されているデータを上記入出力
部からシリアル出力することを特徴とする。
を行う複数の入出力部と、それぞれが所定の論理演算を
行う論理回路を含む複数のユニットセルと、上記入出力
部とユニットセルを接続する配線部とを含むプログラマ
ブルロジックデバイスにおいて、ユニットセルにおける
演算結果である出力データを記憶保持するフリップフロ
ップと、前記論理回路と前記フリップフロップの間に配
置され、論理回路からの出力信号と他のフリップフロッ
プからの出力信号のいずれか一方を選択するセレクタと
、複数のセレクタに接続され、複数のセレクタにおける
選択を同時に切り替える信号線とを有し、セレクタを切
り替えることによって、複数のフリップフロップを直列
接続とし、この状態で各フリップフロップにシフトクロ
ックを供給するすることによって直列接続された複数の
フリップフロップに記憶されているデータを上記入出力
部からシリアル出力することを特徴とする。
【0010】
【作用】このように、この発明に係るプログラマブルロ
ジックデバイスによれば、検査対象からの出力信号は、
それぞれ対応するフリップフロップにパラレル信号とし
て取り込まれる。従って、1つの取り込み命令によって
多数のフリップフロップに信号線の状態を示す信号を取
り入れることができ、その取り込みを高速に容易に行な
える。
ジックデバイスによれば、検査対象からの出力信号は、
それぞれ対応するフリップフロップにパラレル信号とし
て取り込まれる。従って、1つの取り込み命令によって
多数のフリップフロップに信号線の状態を示す信号を取
り入れることができ、その取り込みを高速に容易に行な
える。
【0011】そして、セレクタを切り替えることによっ
て、複数のフリップフロップをシフトレジスタに構成で
きる。このため、このシフトレジスタにシフトクロック
を供給することにより、フリップフロップに取り込んだ
データをシリアル信号として取出すことができる。そし
て、この信号はフリップフロップからのデータだけであ
るため、データ取り込みのための時間は比較的少なくて
よい。このため、高速の検査を行なうことができる。
て、複数のフリップフロップをシフトレジスタに構成で
きる。このため、このシフトレジスタにシフトクロック
を供給することにより、フリップフロップに取り込んだ
データをシリアル信号として取出すことができる。そし
て、この信号はフリップフロップからのデータだけであ
るため、データ取り込みのための時間は比較的少なくて
よい。このため、高速の検査を行なうことができる。
【0012】更に、フロップフロップからの出力は、通
常のI/Oパッドに接続されているため、通常のI/O
パッドから検査結果の出力を得ることができる。特に、
I/Oパッドの数に合わせて、フリップフロップの直列
接続の組の数を設定すれば、複数のI/Oパッドからそ
れぞれシリアル信号を得ることができ、データの転送時
間を短縮することができる。
常のI/Oパッドに接続されているため、通常のI/O
パッドから検査結果の出力を得ることができる。特に、
I/Oパッドの数に合わせて、フリップフロップの直列
接続の組の数を設定すれば、複数のI/Oパッドからそ
れぞれシリアル信号を得ることができ、データの転送時
間を短縮することができる。
【0013】
【実施例】以下、本発明に係るプログラマブルロジック
デバイスについて図面に基づいて説明する。
デバイスについて図面に基づいて説明する。
【0014】図1は、全体構成を示すブロック図であり
、配線ブロック10及び複数のユニットセル12からな
っている。
、配線ブロック10及び複数のユニットセル12からな
っている。
【0015】そして、配線ブロック10は、信号線X及
び信号線Yを有しており、その中の所望の信号線のみを
選択して、各ユニットセル12と接続する。
び信号線Yを有しており、その中の所望の信号線のみを
選択して、各ユニットセル12と接続する。
【0016】この信号線の選択のために、配線ブロック
10内には、各ユニットセル12にそれぞれ対応したク
ロスバースイッチ手段としてスイッチ部20が設けれら
れている。
10内には、各ユニットセル12にそれぞれ対応したク
ロスバースイッチ手段としてスイッチ部20が設けれら
れている。
【0017】そして、本実施例においては、ユニットセ
ル12は、図2に示すように、論理回路52、信号セレ
クタ54、フリップフロップ56から構成されている。 ここで、論理回路52はプログラマブルなゲートアレイ
であり、このゲートアレイの状態を決定するコンフィグ
レーションメモリの状態によってその論理を設定できる
ようになっている。
ル12は、図2に示すように、論理回路52、信号セレ
クタ54、フリップフロップ56から構成されている。 ここで、論理回路52はプログラマブルなゲートアレイ
であり、このゲートアレイの状態を決定するコンフィグ
レーションメモリの状態によってその論理を設定できる
ようになっている。
【0018】論理回路52は、4入力1出力となってお
り、論理回路52の出力は信号セレクタ54に入力され
る。信号セレクタ54は他のもう1つの入力信号と論理
回路からの入力信号のいずれか一方を選択して出力する
。この信号セレクタ54における選択は外部からの入力
信号P/Sによって切り替えられる。
り、論理回路52の出力は信号セレクタ54に入力され
る。信号セレクタ54は他のもう1つの入力信号と論理
回路からの入力信号のいずれか一方を選択して出力する
。この信号セレクタ54における選択は外部からの入力
信号P/Sによって切り替えられる。
【0019】信号セレクタ54からの出力はフリップフ
ロップ56に入力され、このフリップフロップ56はク
ロック信号CLKに応じ信号セレクタ54からの信号を
受け入れ出力の状態を切り替える。そして、このフリッ
プフロップ56の出力信号が外部に出力される。
ロップ56に入力され、このフリップフロップ56はク
ロック信号CLKに応じ信号セレクタ54からの信号を
受け入れ出力の状態を切り替える。そして、このフリッ
プフロップ56の出力信号が外部に出力される。
【0020】ここで、このフリップフロップ56からの
出力は、隣接するユニットセル12における信号セレク
タ54に上述の他の入力信号として入力されるようにな
っている。そこで、信号セレクタ54を論理回路52か
らの出力信号を選択するようにすれば、フリップフロッ
プ56は論理回路52の出力信号をラッチする。一方、
信号セレクタ54を隣接するユニットセル12からの出
力信号を受け入れるようになっている。そこで、信号P
/Sによって、信号セレクタ54において論理回路52
からの信号を選択するように設定すれば、各フリップフ
ロップ56はそれぞれパラレルに信号を受け入れ、これ
をパラレルに出力することになる。一方、信号P/Sに
よって、信号セレクタ54において隣接するユニットセ
ル12からの出力信号を選択するように設定すれば、各
ユニットセル12におけるフリップフロップ56がシリ
アルに接続されたシフトレジスタとなり、シリアル信号
が出力されることになる。
出力は、隣接するユニットセル12における信号セレク
タ54に上述の他の入力信号として入力されるようにな
っている。そこで、信号セレクタ54を論理回路52か
らの出力信号を選択するようにすれば、フリップフロッ
プ56は論理回路52の出力信号をラッチする。一方、
信号セレクタ54を隣接するユニットセル12からの出
力信号を受け入れるようになっている。そこで、信号P
/Sによって、信号セレクタ54において論理回路52
からの信号を選択するように設定すれば、各フリップフ
ロップ56はそれぞれパラレルに信号を受け入れ、これ
をパラレルに出力することになる。一方、信号P/Sに
よって、信号セレクタ54において隣接するユニットセ
ル12からの出力信号を選択するように設定すれば、各
ユニットセル12におけるフリップフロップ56がシリ
アルに接続されたシフトレジスタとなり、シリアル信号
が出力されることになる。
【0021】そして、端部のフリップフロップ56の出
力は、I/Oパッド58に接続されている。従って、各
フリップフロップ56からの出力信号は、I/Oパッド
58からシリアル信号として出力される。ここで、フリ
ップフロップ56は、通常動作時において処理結果を出
力するものである。このため、処理結果を出力する端部
のフリップフロップ56は、もともとI/Oパッド58
に接続されている。従って、このI/Oパッド58にお
いて、検査結果のシリアルデータを得ることができる。
力は、I/Oパッド58に接続されている。従って、各
フリップフロップ56からの出力信号は、I/Oパッド
58からシリアル信号として出力される。ここで、フリ
ップフロップ56は、通常動作時において処理結果を出
力するものである。このため、処理結果を出力する端部
のフリップフロップ56は、もともとI/Oパッド58
に接続されている。従って、このI/Oパッド58にお
いて、検査結果のシリアルデータを得ることができる。
【0022】また、I/Oパッド58はPLDの大きさ
に応じてその数が決定される。そこで、ユニットセル1
2の数が大きくなった場合には、I/Oパッド58の数
の大きくなる。従って、検査対象が多くなった場合にも
I/Oパッド58の数で除算したものが検査結果のシリ
アルデータの長さになり、検査の高速化を図ることがで
きる。
に応じてその数が決定される。そこで、ユニットセル1
2の数が大きくなった場合には、I/Oパッド58の数
の大きくなる。従って、検査対象が多くなった場合にも
I/Oパッド58の数で除算したものが検査結果のシリ
アルデータの長さになり、検査の高速化を図ることがで
きる。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るプロ
グラマブルロジックデバイスによれば、検査結果のデー
タを記憶するフリップフロップを直列接続として、通常
のI/Oパッドから取り出すことができるため、検査の
高速化および装置の簡易化を図ることができる。
グラマブルロジックデバイスによれば、検査結果のデー
タを記憶するフリップフロップを直列接続として、通常
のI/Oパッドから取り出すことができるため、検査の
高速化および装置の簡易化を図ることができる。
【図1】本発明に係るプログラマブルロジックデバイス
の実施例の概略構成図である。
の実施例の概略構成図である。
【図2】ユニットセルの構成図である。
30 コンフィグレーションメモリ
32 セレクタ
34 デコータ
54 信号セレクタ
56 フリップフロップ
58 I/Oパッド
Claims (1)
- 【請求項1】信号の入出力を行う複数の入出力部と、そ
れぞれが所定の論理演算を行う論理回路を含む複数のユ
ニットセルと、上記入出力部とユニットセルを接続する
配線部と、を含むプログラマブルロジックデバイスにお
いて、ユニットセルにおける演算結果である出力データ
を記憶保持するフリップフロップと、前記論理回路と前
記フリップフロップの間に配置され、論理回路からの出
力信号と他のフリップフロップからの出力信号のいずれ
か一方を選択するセレクタと、 複数のセレクタに接
続され、複数のセレクタにおける選択を同時に切り替え
る信号線と、を有し、セレクタを切り替えることによっ
て、複数のフリップフロップを直列接続とし、この状態
で各フリップフロップにシフトクロックを供給するする
ことによって直列接続された複数のフリップフロップに
記憶されているデータを上記入出力部からシリアル出力
することを特徴とするプログラマブルロジックデバイス
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3045244A JPH04282476A (ja) | 1991-03-11 | 1991-03-11 | プログラマブルロジックデバイス |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3045244A JPH04282476A (ja) | 1991-03-11 | 1991-03-11 | プログラマブルロジックデバイス |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04282476A true JPH04282476A (ja) | 1992-10-07 |
Family
ID=12713848
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3045244A Pending JPH04282476A (ja) | 1991-03-11 | 1991-03-11 | プログラマブルロジックデバイス |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04282476A (ja) |
-
1991
- 1991-03-11 JP JP3045244A patent/JPH04282476A/ja active Pending
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