JPH0425530A - Siloxane polymer and resist composition - Google Patents

Siloxane polymer and resist composition

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JPH0425530A
JPH0425530A JP2129145A JP12914590A JPH0425530A JP H0425530 A JPH0425530 A JP H0425530A JP 2129145 A JP2129145 A JP 2129145A JP 12914590 A JP12914590 A JP 12914590A JP H0425530 A JPH0425530 A JP H0425530A
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JP
Japan
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carboxylic acid
siloxane polymer
acid
polysiloxane
resist
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JP2129145A
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Japanese (ja)
Inventor
Haruyori Tanaka
啓順 田中
Takao Kimura
隆男 木村
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

PURPOSE:To obtain a siloxane polymer difficulty soluble in an alkali by hydrolyzing a carboxylic acid (anhydride) group-containing alkoxysilane, condensing the saponificate and esterifying at least part of the carboxylic acid of the obtained polysiloxane. CONSTITUTION:A carboxylic acid (anhydride) group-containing alkoxysilane (e.g. 4-trimethoxysilyltetrahydrophthalic anhydride) is hydrolyzed in the presence of optionally a catalyst (e.g. aqueous hydrochloric acid solution) in a solvent (e.g. ethanol), and the saponificate is condensed to obtain a polysiloxane. At least part of the carboxylic acid groups of the obtained polysiloxane are esterified to obtain a siloxane polymer. This siloxane polymer is mixed with an acid generator to obtain a resist composition.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はポジパターンを高精度に再現し、かつ酸素プラ
ズマ耐性の高い高エネルギー線用のレジスト組成物に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a resist composition for high-energy radiation that reproduces a positive pattern with high precision and has high resistance to oxygen plasma.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

ノボラック樹脂と感光剤のナフトキノンジアジドから成
るポジ形の7オトレジストは、高感度、高解像度、アル
カリ可溶性等の特徴を持つため、リソグラフィの分野に
おいて最近用いられている。さて、2層レジスト[B、
J、リン(B、J。
A positive-type 7-otoresist made of a novolac resin and a photosensitizer, naphthoquinone diazide, has been recently used in the field of lithography because it has characteristics such as high sensitivity, high resolution, and alkali solubility. Now, the two-layer resist [B,
J, Lin (B, J.

Lin)、ソリッド ステート テクノ′ロジー(So
lid 5tate Technol、)、第24巻、
第73頁(1981)]において、高形状比のパターン
は下層レジスト上に形成したレジスト薄膜の微細パター
ンをマスクとし、酸素プラズマエツチング(0,RIB
)で異方性エツチングすることによって得られている。
Lin), solid state technology (So
Lid 5tate Technol, ), Volume 24,
73 (1981)], a pattern with a high shape ratio was formed by oxygen plasma etching (0, RIB) using a fine pattern of a resist thin film formed on the lower resist as a mask.
) is obtained by anisotropic etching.

この02RIB耐性はレジスト材料にとって極めて重要
視されるようになっており、O□RIBにより酸化物を
形成するような材料、一般にはケイ素(シリコン)を含
む材料が0、RIB耐性に優れているとされている。し
かるに、現用の7オトレジストは、シリコン成分を含ん
でいないため0□RIB耐性が悪い欠点があった。これ
を解決するため、ポリシロキサン系のレジスト材料が提
案されているが、この種の材料は一般にガラス転移温度
が低く、このため加工時にほこりが付き易い、膜厚制御
が困難、現像時のパターン変形による現像性低下などの
プロセスとの適合性に大きな問題があった。
This 02RIB resistance has become extremely important for resist materials, and materials that form oxides due to O□RIB, generally materials containing silicon, are said to have excellent 0 and RIB resistance. has been done. However, the currently used 7 photoresist has a drawback of poor 0□RIB resistance because it does not contain a silicon component. To solve this problem, polysiloxane-based resist materials have been proposed, but this type of material generally has a low glass transition temperature, so it is easy to get dust during processing, it is difficult to control the film thickness, and it is difficult to control the film thickness during development. There were major problems with compatibility with the process, such as deterioration of developability due to deformation.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

したがって、ガラス転移温度が高く、また、02RIB
耐性に優れ、かつ、アルカリ現像タイプのレジスト材料
が期待されている。また、遠紫外線用材料には遠紫外線
領域における吸収が小さいものが要求されている。
Therefore, the glass transition temperature is high, and 02RIB
Resist materials with excellent resistance and alkaline development are expected. Furthermore, materials for deep ultraviolet rays are required to have low absorption in the far ultraviolet region.

本発明の目的は、前記課題を解決したシロキサンポリマ
ー及びレジスト組成物を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a siloxane polymer and a resist composition that solve the above problems.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明を概説すれば、本発明の第1の発明はシロキサン
ポリマーに関する発明であって、カルボン酸基あるいは
カルボン酸無水物基を有するアルコキシシランの加水分
解・縮合によって得られるポリシロキサンのカルボン酸
の全部あるいは一部をエステル化したことを特徴とする
To summarize the present invention, the first invention of the present invention relates to a siloxane polymer. It is characterized by being wholly or partially esterified.

そして、本発明の第2の発明はレジスト組成物に関する
発明であって、第1の発明のシロキサンポリマーと酸発
生剤とを包含してなることを特徴とする。
The second invention of the present invention relates to a resist composition, and is characterized in that it contains the siloxane polymer of the first invention and an acid generator.

本発明は、前記の問題点を解決するた約に、まず、シロ
キサン結合を骨格構造とすることにより0.RIE耐性
を高め、多官能アルコキシドを原料とし、梯子型のシロ
キサン構造をとることによりガラス転移温度を高t、ま
た、エステルが高エネルギー線照射により、アルカリ溶
解性のカルボキシル基に変化することによりアルカリ現
像が可能となるものである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention first has a siloxane bond as a skeleton structure. It has high RIE resistance, uses polyfunctional alkoxide as a raw material, and has a ladder-shaped siloxane structure to achieve a high glass transition temperature.Also, when the ester is irradiated with high-energy rays, it changes to an alkali-soluble carboxyl group, making it alkali-soluble. This allows development.

本発明のシロキサンポリマーは一般には次のような方法
によって合成される。まず、特定のアルコキシシランを
エタノールなどのアルコールに溶解し、これに水と塩酸
などの触媒を加える。この触媒は場合によっては除いて
もよい。
The siloxane polymer of the present invention is generally synthesized by the following method. First, a specific alkoxysilane is dissolved in alcohol such as ethanol, and water and a catalyst such as hydrochloric acid are added to this. This catalyst may optionally be omitted.

この反応は常温で進行するが、必要に応じて加熱しても
よい。所定時間経過後、反応溶液を水中に投入し、沈殿
した生成物をろ別した後乾燥する。更に高重合体を所望
する場合には、生成物を適当な溶媒中、アルカリ触媒な
どにより更に反応を進めれば良い。あるいは、バルク状
で更に加熱して縮合を進める方法も有効である。
This reaction proceeds at room temperature, but may be heated if necessary. After a predetermined period of time has elapsed, the reaction solution is poured into water, and the precipitated product is filtered out and then dried. If a higher polymer is desired, the product may be further reacted with an alkali catalyst in a suitable solvent. Alternatively, it is also effective to proceed with condensation by further heating in bulk.

得られたポリシロキサンのカルボン酸のエステル化は一
般に行われているエステル化反応がすべて適用できる。
All commonly used esterification reactions can be used to esterify the carboxylic acid of the obtained polysiloxane.

すなわち、カルボン酸とアルコールの反応、カルボン酸
を酸クロライドとしたのちナトリウムなどの金属アルコ
ラードとの反応、カルボン酸をカリウムなどの金属塩に
したのちハロゲン化炭化水素との反応などが挙げられる
Namely, examples include reaction of a carboxylic acid with an alcohol, reaction of a carboxylic acid with an acid chloride and then a metal alcoholade such as sodium, and reaction of a carboxylic acid with a metal salt such as potassium with a halogenated hydrocarbon.

また、本発明の金属アルコキシドの加水分解・縮合によ
って得られたポリシロキサンは、般に末端にシラノール
基を有するため、これが縮合を起こし経時的に特性が変
化しつる可能性がある。これを避けるた約には、シリル
化剤によりシラノール基を他の非反応性の置換基に置換
することができる。
Furthermore, since the polysiloxane obtained by hydrolysis and condensation of the metal alkoxide of the present invention generally has a silanol group at the end, there is a possibility that this condensation may occur and the properties may change over time. To avoid this, the silanol group can be replaced by another non-reactive substituent using a silylating agent.

本発明において用いられるカルボン酸基あるいはカルボ
ン酸無水物基を有する多官能金属アルコキシドは特に限
定するものではなく、分子中に、カルボン酸基あるいは
カルボン酸無水物基を持つ2官能あるいは3官能のアル
コキシシランである。
The polyfunctional metal alkoxide having a carboxylic acid group or carboxylic acid anhydride group used in the present invention is not particularly limited. It's silane.

具体的には、4−トリメトキシシリルテトラヒドロフタ
ル酸無水物、4−トリエトキシシリルテトラヒドロフタ
ル酸無水物、4−トリイソプロポキシシリルテトラヒド
ロフタル酸無水物、4−トリメトキシシリルテトラヒド
ロフタル酸、4−トリエトキシシリルテトラヒドロフタ
ル酸、4−トリイソプロポ牛シシリルテトラヒドロフタ
ル酸等が例示される。
Specifically, 4-trimethoxysilyltetrahydrophthalic anhydride, 4-triethoxysilyltetrahydrophthalic anhydride, 4-triisopropoxysilyltetrahydrophthalic anhydride, 4-trimethoxysilyltetrahydrophthalic acid, 4- Examples include triethoxysilyltetrahydrophthalic acid and 4-triisopropo-bovine silyltetrahydrophthalic acid.

また、本発明にはカルボン酸基あるいはカルボン酸無水
物基を有する金属アルコキシシランと、汎用の金属アル
コキシドあるいは金属塩化物との共重合によって得られ
るポリシロキサンも含まれる。この種の汎用の金属アル
コキシドは特に限定するものではないが、次のようなも
のが例示される。ジメトキシジメチルシラン、ジェトキ
シジメチルシラン、ジメトキシメチル3.3.3−)リ
フルオロプロピルシラン、ジ工トキシジビニルシラン、
ジェトキシジエチルシラン、3−アミノプロピルジェト
キシメチルシラン、3− (2−7ミノエチルアミノ)
プロピルジメトキシメチルシラン、ジメトキシメチルフ
ェニルシラン、ジェトキシメチルフェニルシラン、ジメ
トキシジフェニルシラン、ジェトキシジフェニルシラン
、トリス−(2−メトキシエトキシ)ビニルシラン、メ
チルトリメトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、
3.3.3−トリフルオロプロピルトリメトキシシラン
、メチルトリエトキシシラン、3−(N−メチルアミノ
)プロピルトリメトキシシラン、メチルトリス−(2−
アミノエトキシ)シラン、トリアセトキシビニルシラン
、トリエトキシビニルシラン、エチルトリエトキシシラ
ン、3−メルカプトプロピルトリエトキシシラン、3−
(2−アミノエチルアミノ)プロピルトリメトキシシラ
ン、フェニルトリメトキシシラン、2−シアノエチルト
リエトキシシラン、アリルトリエトキシシラン、3−グ
リシドキシプロピルトリメトキシシラン、プロピルトリ
エトキシシラン、ヘキシルトリメトキシシラン、3−ア
ミノプロピルトリエトキシシラン、3−メタクリロキシ
プロピルトリメトキシシラン、メチルトリプロポキシシ
ラン、フェニルトリエトキシシラン、3−〔N−アリル
−N−(2−アミノエチル)〕アミノプロピルトリメト
キシシラン、3−(Nアリル−N−グリシジル)アミノ
プロピルトリメトキシシラン、3−(N、N−ジグリシ
ジル)゛rミノプロピルトリメトキシシラン。これらの
うち、特に好ましいのは、原料の入手しやすさ、 反応
性、得られた生成物の特性等の点から、フェニルトリエ
トキシシラン及びメチルトリエトキシシランである。ま
た、金属塩化物としては、n−ブチルトリクロロシラン
、ジメチルジクロロシラン、エチルトリクロロシラン、
メチルトリクロロシラン、フェニルトリクロロシラン、
トリクロロビニルシラン、ジフェニルジクロロシラン等
が例示される。本発明のシロキサンポリマーは1μmの
厚さで248 nmにおける光の透過率は90%以上で
あり、またフェニルトリエトキシシランを共重合させた
場合でも70%以上であり、エキシマレーザ用レジスト
として有望である。
The present invention also includes polysiloxanes obtained by copolymerizing a metal alkoxysilane having a carboxylic acid group or a carboxylic acid anhydride group with a general-purpose metal alkoxide or metal chloride. Although this kind of general-purpose metal alkoxide is not particularly limited, the following are exemplified. dimethoxydimethylsilane, jetoxydimethylsilane, dimethoxymethyl 3.3.3-)lifluoropropylsilane, di-engineered toxydivinylsilane,
Jetoxydiethylsilane, 3-aminopropyljethoxymethylsilane, 3-(2-7minoethylamino)
Propyldimethoxymethylsilane, dimethoxymethylphenylsilane, jetoxymethylphenylsilane, dimethoxydiphenylsilane, jetoxydiphenylsilane, tris-(2-methoxyethoxy)vinylsilane, methyltrimethoxysilane, ethyltrimethoxysilane,
3.3.3-Trifluoropropyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, 3-(N-methylamino)propyltrimethoxysilane, methyltris-(2-
(aminoethoxy)silane, triacetoxyvinylsilane, triethoxyvinylsilane, ethyltriethoxysilane, 3-mercaptopropyltriethoxysilane, 3-
(2-aminoethylamino)propyltrimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, 2-cyanoethyltriethoxysilane, allyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, propyltriethoxysilane, hexyltrimethoxysilane, 3 -aminopropyltriethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, methyltripropoxysilane, phenyltriethoxysilane, 3-[N-allyl-N-(2-aminoethyl)]aminopropyltrimethoxysilane, 3- (Nallyl-N-glycidyl)aminopropyltrimethoxysilane, 3-(N,N-diglycidyl)minopropyltrimethoxysilane. Among these, phenyltriethoxysilane and methyltriethoxysilane are particularly preferred from the viewpoint of availability of raw materials, reactivity, properties of the obtained product, etc. In addition, examples of metal chlorides include n-butyltrichlorosilane, dimethyldichlorosilane, ethyltrichlorosilane,
Methyltrichlorosilane, phenyltrichlorosilane,
Examples include trichlorovinylsilane and diphenyldichlorosilane. The siloxane polymer of the present invention has a light transmittance of 90% or more at 248 nm with a thickness of 1 μm, and even when copolymerized with phenyltriethoxysilane, it has a transmittance of 70% or more, making it a promising resist for excimer lasers. be.

本発明において用いられる加水分解・縮合の触媒は特に
限定するものではなく、酸触媒及びアルカリ触媒が用い
られる。このような酸触媒としては、塩酸、フッ化水素
酸、硝酸、硫酸等が例示される。また、アルカリ触媒と
しては、アンモニア、苛性ソーダ、苛性カリ等が例示さ
れる。
The hydrolysis/condensation catalyst used in the present invention is not particularly limited, and acid catalysts and alkali catalysts are used. Examples of such acid catalysts include hydrochloric acid, hydrofluoric acid, nitric acid, and sulfuric acid. Examples of the alkali catalyst include ammonia, caustic soda, and caustic potash.

第1の発明のシロキサンポリマーは適当な酸発生剤との
組合せで様々な用途に応用できる。
The siloxane polymer of the first invention can be applied to various uses in combination with a suitable acid generator.

本発明の第2の発明はこのような組合せの1つであり、
シロキサンポリマーと酸発生剤とから成るレジスト組成
物に関するものである。第1の発明のシロキサンポリマ
ーはカルボン酸の全部あるいは一部がエステル化されて
いるためにアルカリ水溶液には難溶性であるが、電子線
などの高エネルギー線の照射により酸発生剤から生成す
る酸を触媒としてエステルが容易に加水分解し、アルカ
リ可溶性のカルボン酸に変化する。すなわち、本発明の
レジスト組成物は高エネルギー線照射により、照射部分
のシロキサンポリマーが相応するカルボン酸となり、照
射部はアルカリ現像で除去されるためポジ型レジスト特
性を示す。
The second invention of the present invention is one of such combinations,
The present invention relates to a resist composition comprising a siloxane polymer and an acid generator. The siloxane polymer of the first invention is poorly soluble in alkaline aqueous solutions because all or part of the carboxylic acid is esterified, but the siloxane polymer is difficult to dissolve in alkaline aqueous solutions, but the acid generated from the acid generator when irradiated with high-energy rays such as electron beams. As a catalyst, the ester is easily hydrolyzed and converted to an alkali-soluble carboxylic acid. That is, the resist composition of the present invention exhibits positive resist characteristics because the siloxane polymer in the irradiated portion becomes a corresponding carboxylic acid when irradiated with high-energy rays, and the irradiated portion is removed by alkaline development.

このレジスト組成物において酸発生剤は、アルカリ液に
対するシロキサンポリマーの溶解防止剤としての役割も
果す。酸発生剤の添加量は、通常0.5〜20重量%の
範囲であり、0.5%未満では発生する酸の量が少ない
。このため、高感度化が困難となる。また20%を越え
るとレジスト材料としてのシリコン含有率が低下し、酸
素プラズマ耐性が低下する。また、248nmでの吸収
が大きくなる問題がある。一般には5%程度が好ましい
添加量である。
In this resist composition, the acid generator also serves as an agent for preventing the siloxane polymer from dissolving in the alkaline solution. The amount of acid generator added is usually in the range of 0.5 to 20% by weight, and if it is less than 0.5%, the amount of acid generated is small. This makes it difficult to achieve high sensitivity. Moreover, if it exceeds 20%, the silicon content as a resist material decreases, and the oxygen plasma resistance decreases. Further, there is a problem that absorption at 248 nm becomes large. Generally, a preferable addition amount is about 5%.

本発明における酸発生剤とは特に限定するものではない
が、下記−船蔵■、■、■:ArN=”MXn−(1) Arzl”MXn−(II ) Ar3S”MXn−(m ) (式中MXnはBF、、PF6、AsF5及びSbF、
の群から選択された1種を示す)で表されるオニウム塩
あるいはハロゲン化メチルトリアジン、テトラブロモビ
スフェノールA1ニトロベンジルエステル化物などが使
用できる。酸発生剤の中には波長が300nm以上の紫
外線には低感度のものがあるが、その場合、フェノチア
ジンのような分光増感剤を添加することも可能である。
The acid generator in the present invention is not particularly limited, but the following - ship stock ■, ■, ■: ArN="MXn-(1) Arzl"MXn-(II) Ar3S"MXn-(m) (formula Medium MXn is BF, PF6, AsF5 and SbF,
Onium salts represented by (one selected from the group of), halogenated methyl triazine, tetrabromobisphenol A1 nitrobenzyl ester, etc. can be used. Some acid generators have low sensitivity to ultraviolet light having a wavelength of 300 nm or more, but in that case it is also possible to add a spectral sensitizer such as phenothiazine.

次に、本発明のレジスト組成物を用いて、パターンを形
成する方法の1例を述べる。まず、シリコンなどの基板
上に有機高分子材料の膜を形成し、その上に本発明のレ
ジスト組成物を塗布して2層構造とする。次いで熱処理
した後、高エネルギー線照射したのち、熱処理によりエ
ステルの加水分解を促進させ照射部分をアルカリ水溶液
に可溶性とし、次いでアルカリ現像により照射部のレジ
スト組成物を除去する。次に、非照射部のレジスト組成
物をマスクとし、酸素ガスを用いるドライエツチングに
よって、下層の有機高分子膜をエツチング除去すること
により、パターンを形成する。上記の有機高分子材料と
しては、酸素プラズマによりエツチングされるものであ
ればその種類を問わないが、パターン形成後、これをマ
スクとして基板をドライエツチングする際、耐性が必要
とされるため、芳香族含有ポリマーが望ましい。
Next, an example of a method for forming a pattern using the resist composition of the present invention will be described. First, a film of an organic polymer material is formed on a substrate such as silicon, and the resist composition of the present invention is applied thereon to form a two-layer structure. Next, after heat treatment and irradiation with high-energy rays, the heat treatment promotes hydrolysis of the ester to make the irradiated area soluble in an alkaline aqueous solution, and then the resist composition in the irradiated area is removed by alkaline development. Next, using the resist composition in the non-irradiated area as a mask, a pattern is formed by dry etching using oxygen gas to remove the underlying organic polymer film. The above-mentioned organic polymer material may be of any type as long as it can be etched by oxygen plasma, but after pattern formation, when dry etching the substrate using this as a mask, resistance is required, so Group-containing polymers are preferred.

〔実施例〕〔Example〕

以下に、本発明品の合成例及び実施例により本発明を更
に具体的に説明するが、本発明はこれら各側に限定され
ない。
The present invention will be explained in more detail below with reference to synthesis examples and examples of products of the present invention, but the present invention is not limited to these aspects.

以下にシロキサンポリマーの合成例を示す。Examples of synthesis of siloxane polymers are shown below.

合成例1 4−トリメトキシシリルテトラヒドロフタル酸無水物2
7.2g(0,1モル)をエタノールに溶解し、かくは
んしながらこれに塩酸水溶液を添加した。常温で144
時間反応させた後、反応溶液を蒸留水中に投入し、生成
した沈殿物をろ別し白色のポリシロキサンを得た。生成
物はテトラヒドロフラン(THF)、エタノール、エチ
レングリコールモノエチルエーテル(エチルセロソルブ
) メチルイソブチルケトン(MIBK)  アセトン
等の溶媒に可溶であった。
Synthesis example 1 4-trimethoxysilyltetrahydrophthalic anhydride 2
7.2 g (0.1 mol) was dissolved in ethanol, and an aqueous hydrochloric acid solution was added thereto while stirring. 144 at room temperature
After reacting for a period of time, the reaction solution was poured into distilled water, and the generated precipitate was filtered off to obtain a white polysiloxane. The product was soluble in solvents such as tetrahydrofuran (THF), ethanol, ethylene glycol monoethyl ether (ethyl cellosolve), methyl isobutyl ketone (MIBK), and acetone.

これらの溶液からは透明で均一な膜が得られた。Clear, uniform films were obtained from these solutions.

重量平均分子量は約1000であった。赤外吸収スペク
トルにおいて1700〜1750cm−’付近にC=0
(カルボン酸)の伸縮振動に基づく吸収が認められ、カ
ルボキシル基の導入が確認された。
The weight average molecular weight was approximately 1000. C=0 near 1700 to 1750 cm-' in the infrared absorption spectrum
Absorption based on the stretching vibration of (carboxylic acid) was observed, confirming the introduction of carboxyl groups.

これとイソブチンをトルエンスルホン酸を触媒として反
応させることにより、ターシャリブチルエステル化され
たシロキサンポリマーを得た。エステル化に伴いカルボ
ン酸の吸収は高波数側にシフトした。248 nmにお
ける光の透過率は92%(1μm厚さ)であった。カル
ボン酸基を酸クロライドにしたのち、ターシャリブチル
アルコラードと反応させた場合もターシャリブチルエス
テル化されることを確認した。
By reacting this with isobutyne using toluenesulfonic acid as a catalyst, a tert-butyl esterified siloxane polymer was obtained. With esterification, the absorption of carboxylic acid shifted to the higher wavenumber side. The light transmittance at 248 nm was 92% (1 μm thickness). It was confirmed that tert-butyl esterification was also achieved when a carboxylic acid group was converted into an acid chloride and then reacted with tert-butyl alcoholade.

合成例2 合成例1で得られたカルボン酸基を有するポリシロキサ
ンを酸クロライドとし、○−ニトロベンジルアルコラー
ドと反応させることにより、0−ニトロベンジルエステ
ル化されたシロキサンポリマーを得た。赤外吸収スペク
トルによりエステル化されたことを確認した。
Synthesis Example 2 The polysiloxane having a carboxylic acid group obtained in Synthesis Example 1 was converted into an acid chloride and reacted with ○-nitrobenzyl alcoholade to obtain an 0-nitrobenzyl esterified siloxane polymer. Esterification was confirmed by infrared absorption spectrum.

合成例3 合成例1で得られたカルボン酸基を有するポリシロキサ
ンを酸クロライドとし、ベンジルアルコラードと反応さ
せることにより、ベンジルエステル化されたシロキサン
ポリマーを得た。
Synthesis Example 3 A benzyl esterified siloxane polymer was obtained by using the polysiloxane having a carboxylic acid group obtained in Synthesis Example 1 as an acid chloride and reacting it with benzyl alcoholade.

赤外吸収スペクトルによりエステル化されたことを確認
した。
Esterification was confirmed by infrared absorption spectrum.

合成例4 合成例1で得られたカルボン酸基を有するポリシロキサ
ンを酸クロライドとし、α、α−ジメチルベンジルアル
コラードと反応させることにより、α、α−ジメチルベ
ンジルエステル化されたシロキサンポリマーを得た。赤
外吸収スペクトルによりエステル化されたことを確認し
た。
Synthesis Example 4 The polysiloxane having a carboxylic acid group obtained in Synthesis Example 1 was made into an acid chloride, and was reacted with α,α-dimethylbenzyl alcoholade to obtain an α,α-dimethylbenzyl esterified siloxane polymer. Ta. Esterification was confirmed by infrared absorption spectrum.

合成例5 合成例1で得られたカルボン酸基を有するポリシロキサ
ンをカリウム塩とし、4.4’−ジメトキシトリチルク
ロライドと反応させることにより、4.4′−ジメトキ
シトリチルエステル化されたシロキサンポリマーを得た
。赤外吸収スペクトルによりエステル化されたことを確
認した。
Synthesis Example 5 The polysiloxane having a carboxylic acid group obtained in Synthesis Example 1 was made into a potassium salt and reacted with 4,4'-dimethoxytrityl chloride to produce a 4,4'-dimethoxytrityl esterified siloxane polymer. Obtained. Esterification was confirmed by infrared absorption spectrum.

合成例6 合成例1で得られたカルボン酸基を有するポリシロキサ
ンをカリウム塩とし、4−メトキシトリチルクロライド
と反応させることにより、4−メトキシトリチルエステ
ル化されたシロキサンポリマーを得た。赤外吸収スペク
トルによりエステル化されたことを確認した。
Synthesis Example 6 The polysiloxane having a carboxylic acid group obtained in Synthesis Example 1 was made into a potassium salt, and the potassium salt was reacted with 4-methoxytrityl chloride to obtain a 4-methoxytrityl esterified siloxane polymer. Esterification was confirmed by infrared absorption spectrum.

合成例7 4−トリメトキシシリルテトラヒドロフタル酸無水物1
3.6 g (0,05モル)及びフェニルトリエトキ
シシラン12.Og(0,05モル)をエタノールに溶
解し、かくはんしながらこれに塩酸水溶液を添加した。
Synthesis Example 7 4-trimethoxysilyltetrahydrophthalic anhydride 1
3.6 g (0.05 mol) and phenyltriethoxysilane 12. Og (0.05 mol) was dissolved in ethanol and an aqueous hydrochloric acid solution was added thereto with stirring.

常温で144時間反応させた後、反応溶液を蒸留水中に
投入し、生成した沈殿物をろ別し白色のポリマーを得た
。生成物1tTHF、エタノール、エチルセロソルブ、
MIBK、アセトン、酢酸エチル等の溶媒に可溶であっ
た。これらの溶液からは透明で均一な膜が得られた。生
成物フィルムの赤外スペクトルには1700〜1750
cm−’付近にC=0(カルボン酸)の伸縮振動に基づ
く吸収が認められ、カルボキシル基の導入が確認された
。このカルボン酸基を有するポリシロキサンを合成例1
と同様の方法でターシャリブチルエステル化した。
After reacting at room temperature for 144 hours, the reaction solution was poured into distilled water, and the generated precipitate was filtered out to obtain a white polymer. Product 1 tTHF, ethanol, ethyl cellosolve,
It was soluble in solvents such as MIBK, acetone, and ethyl acetate. Clear, uniform films were obtained from these solutions. The infrared spectrum of the product film has 1700-1750
Absorption based on the stretching vibration of C=0 (carboxylic acid) was observed near cm-', confirming the introduction of a carboxyl group. Synthesis example 1 of polysiloxane having this carboxylic acid group
Tert-butyl esterification was performed in the same manner as above.

合成例8 4−トリメトキシシリルテトラヒドロフタル酸無水物1
3.6g(0,05モル)及びフェニルトリエトキシシ
ラン12.og(0,05モル)をエタノールに溶解し
、かくはんしながらこれに塩酸水溶液を添加した。常温
で144時間反応させた後、反応溶液を蒸留水中に投入
し、生成した沈殿物をろ別し白色のポリマーを得た。更
に反応溶液をシャーレに移し、窒素雰囲気中90℃で2
4時間、120℃で48時間加熱した。
Synthesis Example 8 4-trimethoxysilyltetrahydrophthalic anhydride 1
3.6 g (0.05 mol) and phenyltriethoxysilane 12. og (0.05 mol) was dissolved in ethanol, and an aqueous hydrochloric acid solution was added thereto with stirring. After reacting at room temperature for 144 hours, the reaction solution was poured into distilled water, and the generated precipitate was filtered out to obtain a white polymer. Furthermore, the reaction solution was transferred to a Petri dish and incubated at 90°C in a nitrogen atmosphere for 2 hours.
Heated at 120° C. for 48 hours.

これにより、重量平均分子量は3000と大きくなった
。生成物はTHF、エタノール、エチルセロソルブ、M
IBK、アセトン、酢酸エチル等の溶媒に可溶であった
。これらの溶液からは透明で均一な膜が得られた。生成
物フィルムの赤外スペクトルには1700〜1750c
m−’付近にC=0(カルボン酸)の伸縮振動に基づく
吸収が認められ、カルボキシル基の導入が確認された。
As a result, the weight average molecular weight increased to 3000. The products are THF, ethanol, ethyl cellosolve, M
It was soluble in solvents such as IBK, acetone, and ethyl acetate. Clear, uniform films were obtained from these solutions. The infrared spectrum of the product film has 1700-1750c
Absorption based on the stretching vibration of C=0 (carboxylic acid) was observed near m-', confirming the introduction of a carboxyl group.

このカルボン酸基を有するポリシロキサンを合成例1と
同様の方法でターシャリブチルエステル化した。
This polysiloxane having a carboxylic acid group was converted into a tert-butyl ester in the same manner as in Synthesis Example 1.

合成例9 4−トリメトキシシリルテトラヒドロフタル酸無水物8
.16 g (0,03モル)及びフェニルトリエトキ
シシラン16.8g(0,07モル)をエタノールに溶
解し、かくはんしながらこれに塩酸水溶液を添加した。
Synthesis Example 9 4-trimethoxysilyltetrahydrophthalic anhydride 8
.. 16 g (0.03 mol) and 16.8 g (0.07 mol) of phenyltriethoxysilane were dissolved in ethanol, and an aqueous hydrochloric acid solution was added thereto with stirring.

常温で144時間反応させた後、溶媒等を除去して生成
物を単離した。
After reacting at room temperature for 144 hours, the solvent and the like were removed to isolate the product.

次に生成物をMIBKを溶媒とし、また触媒に苛性カリ
を用いて窒素気流中で12時間還流した。再沈、中和に
より生成物を精製し白色のポリマーを得た。重量平均分
子量は約20000であった。生成物はTHF、エタノ
ール、エチルセロソルブ、MIBK、アセトン、酢酸エ
チル等の溶媒に可溶であった。これらの溶液からは透明
で均一な膜が得られた。生成物フィルムの赤外スペクト
ルには1700〜1750cm付近にC−0(カルボン
酸)の伸縮振動に基づく吸収が認められ、カルボキシル
基の導入が確認された。このカルボン酸基を有するポリ
シロキサンを合成例1と同様の方法でターシャリブチル
エステル化した。
Next, the product was refluxed for 12 hours in a nitrogen stream using MIBK as a solvent and caustic potassium as a catalyst. The product was purified by reprecipitation and neutralization to obtain a white polymer. The weight average molecular weight was approximately 20,000. The product was soluble in solvents such as THF, ethanol, ethyl cellosolve, MIBK, acetone, and ethyl acetate. Clear, uniform films were obtained from these solutions. In the infrared spectrum of the product film, absorption based on the stretching vibration of C-0 (carboxylic acid) was observed near 1700 to 1750 cm, confirming the introduction of carboxyl groups. This polysiloxane having a carboxylic acid group was converted into a tert-butyl ester in the same manner as in Synthesis Example 1.

合成例10 4−トリメトキシシリルテトラヒドロフタル酸無水物1
3.6 g (0,05モル)及びフェニルトリエトキ
シシラン12.Og(0,05モル)をエタノールに溶
解し、かくはんしながらこれに塩酸水溶液を添加した。
Synthesis Example 10 4-trimethoxysilyltetrahydrophthalic anhydride 1
3.6 g (0.05 mol) and phenyltriethoxysilane 12. Og (0.05 mol) was dissolved in ethanol and an aqueous hydrochloric acid solution was added thereto with stirring.

常温で144時間反応させた後、反応溶液を蒸留水中に
投入し、生成した沈殿物をろ別し白色のポリマーを得た
。生成物をMIBKに溶解し、これにトリメチルシリル
ジメチルアミンを溶解したTHF溶液を加え24時間反
応させた。反応溶液をn−へキサンに投入しシリル化し
たポリシロキサンを得た。
After reacting at room temperature for 144 hours, the reaction solution was poured into distilled water, and the generated precipitate was filtered out to obtain a white polymer. The product was dissolved in MIBK, a THF solution containing trimethylsilyldimethylamine was added thereto, and the mixture was reacted for 24 hours. The reaction solution was poured into n-hexane to obtain a silylated polysiloxane.

生Jlll;!THF、エタノール、エチルセロソルブ
、MIBK、アセトン、酢酸エチル等の溶媒に可溶であ
った。これらの溶液からは透明で均一な膜が得られた。
Raw Jllll;! It was soluble in solvents such as THF, ethanol, ethyl cellosolve, MIBK, acetone, and ethyl acetate. Clear, uniform films were obtained from these solutions.

生成物フィルムの赤外スペクトルには1700〜175
0cm−’付近にC=0(カルボン酸)の伸縮振動に基
づく吸収が認tられ、カルボキシル基の導入が確認され
た。
The infrared spectrum of the product film has 1700-175
Absorption based on the stretching vibration of C=0 (carboxylic acid) was observed near 0 cm-', confirming the introduction of a carboxyl group.

このカルボン酸基を有するポリシロキサンを合成例1と
同様の方法でターシャリブチルエステル化した。
This polysiloxane having a carboxylic acid group was converted into a tert-butyl ester in the same manner as in Synthesis Example 1.

合成例11 4−トリイソプロポキシシリルテトラヒドロフタル酸無
水物35.6g(0,1モル)をイソプロピルアルコー
ルに溶解し、かくはんしながらこれに塩酸水溶液を添加
した。常温で144時間反応させた後、反応溶液を蒸留
水中に投入し、生成した沈殿物をろ別し白色のポリマー
を得た。
Synthesis Example 11 35.6 g (0.1 mol) of 4-triisopropoxysilyltetrahydrophthalic anhydride was dissolved in isopropyl alcohol, and an aqueous hydrochloric acid solution was added thereto while stirring. After reacting at room temperature for 144 hours, the reaction solution was poured into distilled water, and the generated precipitate was filtered out to obtain a white polymer.

生成物はTHF、エタノール、エチルセロソルブ、MI
BK、アセトン等の溶媒に可溶であった。これらの溶液
からは透明で均一な膜が得られた。生成物フィルムの赤
外スペクトルには1700〜1750cm−’付近にC
=0(カルボン酸)の伸縮振動に基づく吸収が認とられ
、カルボキシル基の導入が確認された。このカルボン酸
基を有するポリシロキサンを合成例1と同様の方法でタ
ーシャリブチルエステル化した。
The products are THF, ethanol, ethyl cellosolve, MI
It was soluble in solvents such as BK and acetone. Clear, uniform films were obtained from these solutions. The infrared spectrum of the product film contains C in the vicinity of 1700-1750 cm-'.
Absorption based on stretching vibration of =0 (carboxylic acid) was observed, confirming the introduction of a carboxyl group. This polysiloxane having a carboxylic acid group was converted into a tert-butyl ester in the same manner as in Synthesis Example 1.

合成例12 4−トリメトキシシリルテトラヒドロフタル[1物13
.6 g (0,05モル)及びフェニルトリエトキシ
シラン9.60 g  (0,04モル)及びジフェニ
ルジェトキシシラン2.72g(0,01モル)をエタ
ノールに溶解し、かくはんしながらこれに塩酸水溶液を
添加した。常温で144時間反応させた後、反応溶液を
蒸留水中に投入し、生成した沈殿物をろ別し白色のポリ
マーを得た。生成物はTHF、エタノール、エチルセロ
ソルブ、MIBK、アセトン、酢酸エチル等の溶媒に可
溶であった。これらの溶液からは透明で均一な膜が得ら
れた。生成物フィルムの赤外スペクトルには1700〜
1750cm付近にC=0(カルボン酸)の伸縮振動に
基づく吸収が認められ、カルボキシル基の導入が確認さ
れた。このカルボン酸基を有するポリシロキサンを合成
例1と同様の方法でターシャリブチルエステル化した。
Synthesis Example 12 4-trimethoxysilyltetrahydrophthal [1 product 13
.. 6 g (0.05 mol), phenyltriethoxysilane 9.60 g (0.04 mol) and diphenyljethoxysilane 2.72 g (0.01 mol) were dissolved in ethanol, and aqueous hydrochloric acid solution was added to this while stirring. was added. After reacting at room temperature for 144 hours, the reaction solution was poured into distilled water, and the generated precipitate was filtered out to obtain a white polymer. The product was soluble in solvents such as THF, ethanol, ethyl cellosolve, MIBK, acetone, and ethyl acetate. Clear, uniform films were obtained from these solutions. The infrared spectrum of the product film ranges from 1700 to
Absorption based on the stretching vibration of C=0 (carboxylic acid) was observed near 1750 cm, confirming the introduction of carboxyl groups. This polysiloxane having a carboxylic acid group was converted into a tert-butyl ester in the same manner as in Synthesis Example 1.

合成例13 4−トリメトキシシリルテトラヒドロフタル酸無水物1
3.6g(0,05モル)及びフェニルトリエトキシシ
ラン8.9g(0,04モル)、及び3−アミノブロビ
ルトリエトシキシラン2.21g(0,01モル)をエ
タノールに溶解し、かくはんしながらこれに塩酸水溶液
を添加した。常温で144時間反応させた後、反応溶液
を蒸留水中に投入し、生成した沈殿物をろ別し白色のポ
リマーを得た。ギ酸物はTHF、エタノール、エチルセ
ロソルブ、MIBK、アセトン、酢酸エチル等の溶媒に
可溶であった。これらの溶液からは透明で均一な膜が得
られた。生成物フィルムの赤外スペクトルには1700
〜1750cm−’付近にC=0(カルボン酸)の伸縮
振動に基づく吸収が認tられ、カルボキシル基の導入が
確認された。このカルボン酸基を有するポリシロキサン
を合成例1と同様の方法でターシャリブチルエステル化
した。
Synthesis Example 13 4-trimethoxysilyltetrahydrophthalic anhydride 1
3.6 g (0.05 mol), 8.9 g (0.04 mol) of phenyltriethoxysilane, and 2.21 g (0.01 mol) of 3-aminobrobyltriethoxysilane were dissolved in ethanol and stirred. At the same time, an aqueous hydrochloric acid solution was added thereto. After reacting at room temperature for 144 hours, the reaction solution was poured into distilled water, and the generated precipitate was filtered out to obtain a white polymer. The formic acid compound was soluble in solvents such as THF, ethanol, ethyl cellosolve, MIBK, acetone, and ethyl acetate. Clear, uniform films were obtained from these solutions. 1700 in the infrared spectrum of the product film.
Absorption based on the stretching vibration of C=0 (carboxylic acid) was observed near ~1750 cm-', confirming the introduction of a carboxyl group. This polysiloxane having a carboxylic acid group was converted into a tert-butyl ester in the same manner as in Synthesis Example 1.

合成例14 4−トリメトキシシリルテトラヒドロフタル酸無水物1
3.6g(0,05モル)及びフェニルトリエトキシシ
ラン12.Og(0,05モル)をエタノールに溶解し
、かくはんしながらこれに塩酸水溶液を添加した。しか
る後アンモニア水を添加し反応溶液のpHを10に調節
した。60℃で144時間反応させた後、反応溶液を蒸
留水中に投入し、生成した沈殿物をろ別し白色のポリマ
ーを得た。生成物はTHF、エタノール、エチルセロソ
ルブ、MIBK、アセトン、酢酸エチル等の溶媒に可溶
であった。これらの溶液からは透明で均一な膜が得られ
た。生成物フィルムの赤外スペクトルには1700〜1
750cm−’付近にC=0(カルボン酸)の伸縮振動
に基づく吸収が認められ、カルボキシル基の導入が確認
された。このカルボン酸基を有するポリシロキサンを合
成例1と同様の方法でターシャリブチルエステル化した
Synthesis Example 14 4-trimethoxysilyltetrahydrophthalic anhydride 1
3.6 g (0.05 mol) and phenyltriethoxysilane 12. Og (0.05 mol) was dissolved in ethanol and an aqueous hydrochloric acid solution was added thereto with stirring. Thereafter, aqueous ammonia was added to adjust the pH of the reaction solution to 10. After reacting at 60° C. for 144 hours, the reaction solution was poured into distilled water, and the generated precipitate was filtered out to obtain a white polymer. The product was soluble in solvents such as THF, ethanol, ethyl cellosolve, MIBK, acetone, and ethyl acetate. Clear, uniform films were obtained from these solutions. The infrared spectrum of the product film contains 1700-1
Absorption based on the stretching vibration of C=0 (carboxylic acid) was observed near 750 cm-', confirming the introduction of a carboxyl group. This polysiloxane having a carboxylic acid group was converted into a tert-butyl ester in the same manner as in Synthesis Example 1.

以下実施例について述べる。Examples will be described below.

実施例1 合成例1〜14で得たシロキサンポリマーに2.6−シ
ニトロペンジルトシレートを10重量%添加したレジス
ト組成物をスピンコード法により約0.3μ0の厚さで
シリコンウェハに塗布し、80℃で20分プリベークし
た。プリベータ後、高エネルギー線(電子線、X線、遠
紫外線)を照射した。照射後、110℃のホットプレー
ト上で5分間熱処理し、続いてマイクロポリマ)240
1  (シブレイ社製)と水の比が1/1の現像液でそ
れぞれ現像し、照射部の残膜がなくなるところの照射量
り。を感度とした。
Example 1 A resist composition in which 10% by weight of 2,6-sinitropendyl tosylate was added to the siloxane polymer obtained in Synthesis Examples 1 to 14 was coated on a silicon wafer to a thickness of about 0.3μ0 by a spin cord method. , prebaked at 80°C for 20 minutes. After pre-beta, high energy beams (electron beams, X-rays, far ultraviolet rays) were irradiated. After irradiation, heat treatment was performed on a hot plate at 110 °C for 5 minutes, followed by micropolymer) 240
1 (manufactured by Sibley) and water in a developer solution of 1/1 ratio, and the amount of irradiation is such that there is no remaining film on the irradiated area. was taken as the sensitivity.

表1に感度と解像性を示す。解像性はライン&スペース
パターンを形成して評価し、いずれの材料も0.3μm
以下のパターンが形成できた。
Table 1 shows the sensitivity and resolution. The resolution was evaluated by forming a line & space pattern, and the resolution was 0.3 μm for each material.
The following pattern was formed.

実施例2 実施例1のレジスト組成物に分光増感剤としてフェノチ
アジンをポリマーに対し、0.5重量%添加したレジス
ト組成物を約0.3μmの厚さでシリコンウェハに塗布
し、80℃で20分間プリベークした。プリベーク後マ
スクアライナ(キャノン社製)を用いて紫外線照射した
Example 2 A resist composition prepared by adding 0.5% by weight of phenothiazine as a spectral sensitizer to the polymer to the resist composition of Example 1 was applied to a silicon wafer to a thickness of about 0.3 μm, and heated at 80°C. Prebaked for 20 minutes. After prebaking, ultraviolet rays were irradiated using a mask aligner (manufactured by Canon).

照射後、実施例1と同様の方法で熱処理をし、続いて同
じ現像液で現像し、照射部の残膜が0となる照射量を感
度として求めた。
After irradiation, heat treatment was performed in the same manner as in Example 1, followed by development with the same developer, and the sensitivity was determined as the irradiation amount at which the remaining film in the irradiated area was 0.

表2に感度と解像性を示す。解像性はライン&スペース
パターンを形成して評価し、いずれの材料も0.5μm
幅のパターンが形成できた。
Table 2 shows the sensitivity and resolution. Resolution was evaluated by forming line and space patterns, and each material was 0.5 μm.
A wide pattern was formed.

実施例3 シリコンウェハにAZ−1350レジスト(ヘキスト社
製)を3μmの厚さに塗布し、200℃で30分間加熱
し不溶化させた。このAZレジストの上に実施例1ある
いは実施例2で用いたレジスト組成物を約0.3μmの
厚さに塗布し、80℃で20分間プリベークした。プリ
ベータ後、高エネルギー線(実施例1の場合は電子線、
X線、遠紫外線、実施例2の場合は紫外線)を照射し、
実施例1あるいは実施例2と同様の方法で熱処理をし、
続いて同一組成の現像液で現像を行いパターンを形成し
た。その後、平行平板型スパッタエツチング装置で酸素
ガスをエツチングガスとして、また上記レジストパター
ンをマスクとしてAZレジストをエツチングした。RF
パワー0.2 W / cm2.02ガス圧20ミリト
ールの条件で15分エツチングすることにより、レジス
トパターンに覆われていない部分のAZレジストは完全
に消滅した。
Example 3 AZ-1350 resist (manufactured by Hoechst) was coated on a silicon wafer to a thickness of 3 μm, and heated at 200° C. for 30 minutes to make it insolubilized. The resist composition used in Example 1 or Example 2 was applied to a thickness of about 0.3 μm on this AZ resist, and prebaked at 80° C. for 20 minutes. After pre-beta, high energy beam (electron beam in the case of Example 1,
Irradiate with X-rays, far ultraviolet rays, and in the case of Example 2 ultraviolet rays),
Heat treated in the same manner as in Example 1 or Example 2,
Subsequently, development was performed using a developer having the same composition to form a pattern. Thereafter, the AZ resist was etched using a parallel plate type sputter etching apparatus using oxygen gas as an etching gas and using the above resist pattern as a mask. RF
By etching for 15 minutes under the conditions of power 0.2 W/cm2.02 and gas pressure 20 mTorr, the AZ resist in the portions not covered by the resist pattern completely disappeared.

また、実施例1で用いたいずれのレジスト組成物でも0
.3μmライン&スペースパターンが約3μmの厚さで
形成でき、実施例2の組成物を用いた場合は0.5μm
のライン&スペースパターンが形成できた。
Furthermore, any of the resist compositions used in Example 1 had 0
.. A 3 μm line and space pattern can be formed with a thickness of about 3 μm, and when the composition of Example 2 is used, it is 0.5 μm thick.
A line and space pattern was formed.

実施例4 合成例1で得られたシロキサンポリマーに以下の酸発生
剤を添加したレジスト組成物を調製し、実施例1と同様
の方法でレジスト特性を評価した。その結果を表3に示
す。
Example 4 A resist composition was prepared by adding the following acid generator to the siloxane polymer obtained in Synthesis Example 1, and the resist properties were evaluated in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 3.

酸発生剤■トリフェニルスルホニウ ムヘキサフルオロ了ンチモネート 2重量%i12 発
生剤■トリフェニルスルホニウムへ牛すフルオロアーセ
ネ−)2重量%酸発生剤■ジフェニルヨードニウム ヘキサフルオロアーセネート   2重量%を発生剤■
ビス(1−ブチルフェニ ル)ヨードニウムトリフレート  2重量%酸発生剤■
2.4−ビス(トリクロロ メチル)−6−フェニル−1,3,5 トリアジン          10重量%酸発生剤■
鉄アレンヘキサフルオロ ホスフェート錯体 酸発生剤■)’J(2,3−ジブロモプロピル)イソシ
アヌレート 酸発生剤■4−メトキシベンゼンジ アゾニウムトリプルオロメタンス ルホネート 酸発生剤■2.4.6−トリス(トリクロロメチル) 
−1,3,5−)リアジン 5重量% 5重量% 5重量% 5重量% 酸発生剤Oテトラブロモビスフェノ ール 10重量% 酸発生剤0ジブロモメチル) IJアジン 5重量% 〔発明の効果〕 以上説明したように、本発明のシロキサンポリマーは、
アルカリ可溶性のポリシロキサンのカルボン酸をエステ
ル化することにより、アルカリ難溶性にしたものである
。それに高エネルギー線照射により酸を発生する酸発生
剤を添加したレジスト組成物は酸を触媒として、エステ
ルが加水分解し元のカルボン酸に変化するため、アルカ
リ現像可能な非膨潤型ポジ型レジストになる。また、シ
リコンを含有するため酸素プラズマ耐性が高く、したが
って、2層レジストの上層レジストとして使用できる。
Acid generator ■Triphenylsulfonium hexafluoroarsenate 2% by weight Generator ■Triphenylsulfonium fluoroarceneate) 2% by weight Acid generator ■Diphenyliodonium hexafluoroarceneate 2% by weight Generator■
Bis(1-butylphenyl)iodonium triflate 2% by weight acid generator■
2.4-bis(trichloromethyl)-6-phenyl-1,3,5 triazine 10% by weight acid generator■
Iron allene hexafluorophosphate complex acid generator ■)'J (2,3-dibromopropyl) isocyanurate acid generator ■ 4-Methoxybenzenediazonium triple olomethane sulfonate acid generator ■ 2.4.6-tris (trichloromethyl )
-1,3,5-) Reazine 5% by weight 5% by weight 5% by weight 5% by weight Acid generator O tetrabromobisphenol 10% by weight Acid generator 0 dibromomethyl) IJ azine 5% by weight [Effects of the invention] Above explanation As mentioned above, the siloxane polymer of the present invention has
It is made slightly alkali-soluble by esterifying the carboxylic acid of an alkali-soluble polysiloxane. In a resist composition containing an acid generator that generates acid when irradiated with high-energy rays, the ester is hydrolyzed and converted to the original carboxylic acid using the acid as a catalyst, resulting in a non-swellable positive resist that can be developed in an alkaline manner. Become. Furthermore, since it contains silicon, it has high resistance to oxygen plasma, and therefore can be used as an upper layer resist of a two-layer resist.

2層レジストに使用できるため、0.5μ・m以下の微
細パターンが高アスペクト比で形成できる利点がある。
Since it can be used in a two-layer resist, it has the advantage that fine patterns of 0.5 μm or less can be formed with a high aspect ratio.

特許出願人 日本電信電話株式会社Patent applicant: Nippon Telegraph and Telephone Corporation

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、カルボン酸基あるいはカルボン酸無水物基を有する
アルコキシシランの加水分解・縮合によって得られるポ
リシロキサンのカルボン酸の全部あるいは一部をエステ
ル化したことを特徴とするシロキサンポリマー。 2、請求項1に記載のシロキサンポリマーと酸発生剤と
を包含してなることを特徴とするレジスト組成物。
[Scope of Claims] 1. A siloxane polymer characterized by esterifying all or part of the carboxylic acid of a polysiloxane obtained by hydrolysis and condensation of an alkoxysilane having a carboxylic acid group or a carboxylic acid anhydride group. . 2. A resist composition comprising the siloxane polymer according to claim 1 and an acid generator.
JP2129145A 1990-05-21 1990-05-21 Siloxane polymer and resist composition Pending JPH0425530A (en)

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