JPH04251343A - Error information processing circuit - Google Patents

Error information processing circuit

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JPH04251343A
JPH04251343A JP3000835A JP83591A JPH04251343A JP H04251343 A JPH04251343 A JP H04251343A JP 3000835 A JP3000835 A JP 3000835A JP 83591 A JP83591 A JP 83591A JP H04251343 A JPH04251343 A JP H04251343A
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JP
Japan
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error
signal
output
hold
information processing
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Application number
JP3000835A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Nishikawa
西川 岳
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

PURPOSE:To recognize the place where an error occurs at once so that adjustment can be performed in a short time by detecting the error by means of plural error detecting sections respectively provided to plural status monitoring areas and controlling the error detecting sections by using individual hold signals. CONSTITUTION:When a signal having a logical value '1' is inputted to an error accumulating mode flag generating section 6 from the outside as a control signal 106, an error accumulating mode signal 104 having a logical value '1' indicating that an error accumulating mode is 'ON' is continuously outputted until '0' is inputted next. In the case an error detecting section 2B connected to another EIF, for example, EIF 3B in the same group operates and outputs '1' when the status of the 1st EIF 3A becomes '1' and error information is outputted, the hold control section 4B connected to the 1st EIF 3B operates and set the EIF 3B to the status of '1' by outputting the 1st hold signal 107B irrespective of the operation of the other 1st EIFs.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明はエラー情報処理回路に関
し、特にコンピュータなどに使用されている情報処理装
置内に障害が生じたときに障害が発生した箇所を示すフ
ラグを生成するエラー情報処理回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an error information processing circuit, and more particularly to an error information processing circuit that generates a flag indicating the location of the fault when a fault occurs in an information processing device used in a computer or the like. Regarding.

【0002】0002

【従来の技術】コンピュータ等のディジタル情報を処理
する装置の動作状態を監視して異常状態を検出するため
には、装置内で使用するディジタルデータにパリティビ
ットを付加しておきパリティチェックをエラー検出部で
行なう方法、あるいはディジタルデータの構成単位がn
ビット(nは2以上)であるとき特定の桁の値を常に論
理値″1″としておきこの特定の桁の値をエラー検出部
で監視し、もしこの特定の桁の値が″0″となったとき
にエラーとして検出する1/nチェック法などによって
エラーを検出している。
[Background Art] In order to monitor the operating status of a device that processes digital information such as a computer and detect abnormal conditions, a parity bit is added to the digital data used in the device and a parity check is performed to detect errors. method in which the unit of digital data is n
bit (n is 2 or more), the value of a specific digit is always set to the logical value "1", the value of this specific digit is monitored by the error detection unit, and if the value of this specific digit is "0", Errors are detected using the 1/n check method, which detects an error when the error occurs.

【0003】図3は従来のエラー情報処理回路の一例を
示すブロック図である。直接監視対象とする情報処理回
路は最下位階層グループ1からMまでにグループ分けさ
れており、最下位階層グループ2からMにも最下位階層
グループ1に示されているエラー情報処理回路が設けら
れている。図3に示されているブロック図はエラー情報
処理回路を示すもので、レジスタ1A,1B…1Nには
それぞれ動作状態を監視するエラー検出部2A,2B…
2Nが接続されている。これらエラー検出部2A,2B
…2Nの出力側は第1のエラー・インジケータ・フラグ
生成部(以後エラー・インジケータ・フラグ生成部をE
IFと称する)3A,3B…3Nの入力側に接続されて
いる。これら第1のEIF3A,3B…3Nの出力は第
1の論理和ゲート5の入力側に接続されている。第1の
論理和ゲート5の出力は第1のホールド信号109とし
て第1のEIF3A,3B…3Nに制御信号として加え
られる。以上説明したレジスタ1A,1B…1N、エラ
ー検出部2A,2B…2N、第1のEIF3A,3B…
3Nおよび第1の論理和ゲート5の構成によって一つの
ディジタル処理部すなわち第1の最下位階層グループ1
のエラーを監視している。図3に示されている従来例は
このような最下位階層グループがM個ある場合を示して
いる。このような最下位階層グループは最小限1個でも
よい。
FIG. 3 is a block diagram showing an example of a conventional error information processing circuit. The information processing circuits to be directly monitored are divided into groups 1 to M in the lowest hierarchy, and error information processing circuits shown in group 1 in the lowest hierarchy are also provided in groups 2 to M in the lowest hierarchy. ing. The block diagram shown in FIG. 3 shows an error information processing circuit, and the registers 1A, 1B...1N have error detection units 2A, 2B...
2N is connected. These error detection units 2A, 2B
...The output side of 2N is the first error indicator flag generating section (hereinafter referred to as the error indicator flag generating section).
(referred to as IF) are connected to the input sides of 3A, 3B...3N. The outputs of these first EIFs 3A, 3B...3N are connected to the input side of the first OR gate 5. The output of the first OR gate 5 is applied as a first hold signal 109 to the first EIFs 3A, 3B...3N as a control signal. The registers 1A, 1B...1N, error detection units 2A, 2B...2N, first EIFs 3A, 3B...
3N and the first OR gate 5, one digital processing unit, that is, the first lowest hierarchical group 1
is monitoring errors. The conventional example shown in FIG. 3 shows a case where there are M such lowest hierarchy groups. There may be at least one such lowest hierarchy group.

【0004】図3に示されているように、このような最
下位階層グループが複数個ある場合には、各最下位階層
のそれぞれに属する第1の論理和ゲート5の出力を第2
のEIF7A,7B…7Mの入力側に加える。これら第
2の各EIFの出力を第2の論理和ゲート8の入力側に
接続し、第2の論理和ゲート8の出力を第2の各EIF
7A,7B…7Mに第2のホールド信号108として加
える。
As shown in FIG. 3, when there are a plurality of such lowest hierarchy groups, the output of the first OR gate 5 belonging to each lowest hierarchy is
Add to the input side of EIF7A, 7B...7M. The output of each of these second EIFs is connected to the input side of the second OR gate 8, and the output of the second OR gate 8 is connected to each of the second EIFs.
7A, 7B...7M as a second hold signal 108.

【0005】これら第2のEIF7A,7B…7M、第
2の論理和ゲート8は最下位階層の直上位の階層のエラ
ー情報処理回路を構成している。
These second EIFs 7A, 7B, . . . , 7M and the second OR gate 8 constitute an error information processing circuit in the hierarchy immediately above the lowest hierarchy.

【0006】なお、多数の最下位階層グループがある場
合にはこのような最下位階層グループよりも少数の直上
位階層づつに纏め、これら複数の直上位階層を更に上位
の階層において、図3に示されている直上位階層と同様
に一纏めとしてもよい。
[0006] When there are a large number of lowest-level hierarchical groups, these lowest-level hierarchical groups are grouped into a smaller number of immediately superior hierarchical groups, and these multiple immediately superior hierarchical groups are arranged as shown in FIG. They may be grouped together in the same way as the immediately upper hierarchy shown.

【0007】上述したエラー情報処理回路の内の最下位
階層グループ1に属するレジスタ1Aの動作に異常を生
じるとエラー検出部2Aがこれを検出してたとえば論理
値″1″の信号を出力する。この出力は第1のEIF3
Aに入力される。
When an abnormality occurs in the operation of the register 1A belonging to the lowest hierarchical group 1 in the error information processing circuit described above, the error detection section 2A detects this and outputs a signal with a logic value of "1", for example. This output is the first EIF3
It is input to A.

【0008】第1のEIF3A,3B…3Nは″1″か
″0″かの何れかの状態を持つことができ外部からのホ
ールド信号、たとえば、″1″なる信号が加えられてい
る間はホールド信号が加えられる直前の状態を保持する
。ここではエラー検出部3A,3B…3Nからのエラー
検出信号がないときは、第1のEIF3A,3B…3N
の状態は″0″であり、たとえばエラー検出部2Aから
エラー検出出力として″1″が出力されると第1のEI
F3Aの状態も″1″となりこの値を出力する。EIF
3Aが″1″を出力すると、この出力が第1の論理和ゲ
ート5に加えられる。第1の論理和ゲート5の出力は第
1のホールド信号109として第1の各EIF3A,3
B…3Nにそれぞれ加えられてこれら各EIFの状態を
この第1のホールド信号109が加えられる直前の状態
に保持する。すなわち、第1のEIF3Aは状態″1″
となり他の第1のEIF3B…3Nは状態″0″を保持
し、以後第1のホールド信号105が断となるまで上記
の状態を保つ。
The first EIFs 3A, 3B...3N can have a state of either "1" or "0", and while an external hold signal, for example, a signal "1" is applied, Holds the state immediately before the hold signal is applied. Here, when there is no error detection signal from the error detection units 3A, 3B...3N, the first EIF 3A, 3B...3N
For example, when the error detection unit 2A outputs "1" as the error detection output, the state of the first EI is "0".
The state of F3A also becomes "1" and outputs this value. EIF
When 3A outputs "1", this output is applied to the first OR gate 5. The output of the first OR gate 5 is applied to each of the first EIFs 3A, 3 as a first hold signal 109.
B...3N to maintain the state of each EIF in the state immediately before the first hold signal 109 was applied. That is, the first EIF3A is in state "1"
Therefore, the other first EIFs 3B, . . . , 3N maintain the state "0", and thereafter maintain the above state until the first hold signal 105 is disconnected.

【0009】また、第1の論理和ゲート5からは″1″
が出力され第2のEIF7Aの状態が″1″となり第2
の論理和ゲート8から出力される第2のホールド信号1
08が″1″となりすべての第2のEIF7A,7B…
7Mをこの第2のホールド信号108が″1″となる直
前の状態に保持する。すなわち、第2のEIF7Aは状
態″1″に、7B…7Mは何れも状態″0″に保持され
、第2のホールド信号が断となるまで上述した状態を保
つ。
Furthermore, "1" is output from the first OR gate 5.
is output and the state of the second EIF7A becomes "1" and the second
The second hold signal 1 output from the OR gate 8 of
08 becomes "1" and all second EIFs 7A, 7B...
7M is held in the state immediately before this second hold signal 108 becomes "1". That is, the second EIF 7A is held in the state "1" and all EIFs 7B...7M are held in the state "0", and the above-mentioned state is maintained until the second hold signal is disconnected.

【0010】第2の論理和ゲート8の出力を監視するこ
とにより下位の階層で生じたエラーをすべて検出するこ
とができる。
[0010] By monitoring the output of the second OR gate 8, all errors occurring in the lower hierarchy can be detected.

【0011】通常、第1のEIF3A,3B…3Nおよ
び第2のEIF7A,7B…7Mには図示されていない
スキャンパス回路が組込まれており、このスキャンパス
回路を外部信号により動作させると上述した各EIFの
状態を変化させることなく外部で読み出すことができ、
またこのような各EIFの状態を上述したスキャンパス
回路によって″1″または″0″の内の何れか任意の状
態に再設定することができる。
Normally, a scan path circuit (not shown) is incorporated in the first EIF 3A, 3B...3N and the second EIF 7A, 7B...7M, and as described above, this scan path circuit is operated by an external signal. Each EIF can be read externally without changing its status.
Further, the state of each EIF can be reset to any arbitrary state of "1" or "0" by the above-described scan path circuit.

【0012】0012

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のエラー
情報処理回路は、複数個のEIFの内の何れか一つが状
態″1″となると、状態が″1″となったEIFを含み
この状態が″1″となったEIFを入力とする論理和ゲ
ートの入力側に接続される他のEIFにもホールド信号
が加えられ、さらにこの論理和ゲートの出力側に接続さ
れるすべてのEIFもホールド信号が加えられる直前の
状態を保持する。
[Problems to be Solved by the Invention] In the conventional error information processing circuit described above, when any one of the plurality of EIFs is in the state "1", the error information processing circuit including the EIF in the state "1" A hold signal is also applied to other EIFs connected to the input side of the OR gate whose input is the EIF whose value is "1", and all EIFs connected to the output side of this OR gate are also held. Maintains the state immediately before the signal is applied.

【0013】以後、前述した最下位階層と同一のグルー
プに属する他のEIFが接続されているエラー検出部に
よってエラーが検出されてもこのエラー検出部に接続さ
れているEIFは状態″0″のままで状態″1″にはな
らない。
[0013] Thereafter, even if an error is detected by the error detection section to which another EIF belonging to the same group as the lowest layer is connected, the EIF connected to this error detection section will be in the state "0". If the state remains unchanged, the state will not be "1".

【0014】このようなエラー情報処理回路はエラーを
監視する情報処理回路がすでに十分に調整され通常の運
用状態である場合はエラーが複数箇所で頻繁に発生する
ことは殆どないため、上述したように時刻的に最初に検
出されたエラーに関連する最下位階層のEIFとそれよ
り上位の階層のEIFを状態″1″とし他のEIFの状
態は″0″にホールドするので真の故障部位の特定を行
うことは容易である。
[0014] In such an error information processing circuit, as long as the information processing circuit that monitors errors has already been sufficiently adjusted and is in a normal operating state, errors rarely occur frequently at multiple locations. The EIF of the lowest hierarchy and the EIF of the higher hierarchy related to the error that was first detected in time are set to "1", and the states of other EIFs are held to "0", so that the true fault location is It is easy to identify.

【0015】しかしながら、このようなエラー情報処理
回路が組込まれている組立てられたばかりの情報処理回
路、あるいは、これらの情報処理回路を複数個持つ未調
整な段階の装置では、エラーの発生頻度が多く、決めら
れた情報の処理の過程で上記の情報処理回路または情報
処理装置が時系列的に複数の箇所でエラーを発生する場
合には、最初に発生したエラーの原因となる箇所を調整
してからでないと次のエラーの発生箇所を特定すること
はできない。そのため、このような情報処理回路または
装置を動作させて一つエラーが生じた段階でエラーの原
因箇所を調整しつつ次のエラーの原因箇所を求めて調整
を行わなければならないため調整に長時間を必要とする
欠点があった。
However, in a newly assembled information processing circuit in which such an error information processing circuit is incorporated, or in an unadjusted device having a plurality of these information processing circuits, errors occur frequently. If the information processing circuit or information processing device described above generates errors at multiple locations in chronological order during the process of processing determined information, adjust the location that causes the first error. Otherwise, it will be impossible to determine where the next error occurs. Therefore, when an error occurs while operating such an information processing circuit or device, it is necessary to adjust the cause of the error and then find the cause of the next error and make adjustments, which takes a long time. It had the disadvantage of requiring

【0016】本発明の目的は、対象とする情報処理回路
またはこのような情報処理回路を複数含む装置が未調整
な段階では、適切な時間このような回路または装置を動
作させ、エラーを複数箇所発生させて、最初からエラー
を発生する箇所がいくつあるか、また、それがどこであ
るかを一回で把握できることを可能とし、調整を短時間
で行うことを可能とし、しかも、調整完了後には、従来
と同じくエラーが生じた場合にそれがどの箇所であるか
特定できるエラー情報処理回路を提供することにある。
An object of the present invention is to operate such a circuit or device for an appropriate period of time when a target information processing circuit or a device including a plurality of such information processing circuits is not adjusted, and to eliminate errors in multiple locations. This makes it possible to understand from the beginning how many places are causing errors and where they are, and to make adjustments in a short time. Another object of the present invention is to provide an error information processing circuit that can identify where an error occurs when it occurs, as in the prior art.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明のエラー情報処理
回路は、対象とする情報処理部を複数の状態監視領域に
分割し各状態監視領域毎に設けられた複数のエラー検出
部によってエラーを検出しその検出出力をそれぞれ個別
の第1のホールド信号によって制御されている第1のエ
ラー・インジケータ・フラグ生成部に入力して前記第1
のエラー・インジケータ・フラグ生成部を動作させて個
別の信号を出力させこれら第1の各エラー・インジケー
タ・フラグ生成部からの出力信号の論理和を取る第1の
論理ゲートに加え第1の論理和信号を出力するエラー情
報処理回路において、前記第1の各エラー・インジケー
タ・フラグ生成部は前記第1のホールド信号が加えられ
たときはこのホールド信号が加えられる直前の状態を保
持し前記第1のホールド信号が加えられていないときは
前記エラー検出部からの出力に応じて変化しており前記
第1の各エラー・インジケータ・フラグ生成部のそれぞ
れに1対1に対応して設けられ前記対応した第1のエラ
ー・インジケータ・フラグ生成部の出力と前記第1の論
理和ゲートの出力およびエラー累積モード信号を入力と
し前記対応する第1のエラー・インジケータ・フラグ生
成部の出力が論理値″1″のときには常に前記ホールド
信号を前記対応する第1のエラー・インジケータ・フラ
グ生成部に出力しまた前記エラー累積モード信号が″0
″であるときに前記第1の論理和信号の出力が″1″と
なると前記ホールド信号を前記対応する第1のエラー・
インジケータ・フラグ生成部に出力しまた前記エラー累
積モード信号が″1″であるときには前記第1の論理和
信号が″1″あるいは″0″の何れであっても前記ホー
ルド信号を出力しないホールド制御部と、外部からの制
御信号により前記エラー累積モード信号を出力するエラ
ー累積モードフラグ生成部とを備えている。
[Means for Solving the Problems] The error information processing circuit of the present invention divides a target information processing section into a plurality of status monitoring areas, and detects errors using a plurality of error detection units provided for each status monitoring area. and inputs the detection output to a first error indicator/flag generation section each controlled by an individual first hold signal to generate the first error indicator and flag.
A first logic gate that operates the error indicator/flag generation units of the first error indicator/flag generation units to output individual signals and takes the logical sum of the output signals from each of the first error indicator/flag generation units; In the error information processing circuit that outputs a sum signal, when the first hold signal is applied, each of the first error indicator flag generating units maintains the state immediately before the hold signal is applied, and When the first hold signal is not applied, the hold signal changes according to the output from the error detection section, and the first hold signal is provided in one-to-one correspondence to each of the first error indicator flag generation sections. The output of the corresponding first error indicator flag generating section, the output of the first OR gate, and the error accumulation mode signal are input, and the output of the corresponding first error indicator flag generating section is a logical value. When it is "1", the hold signal is always output to the corresponding first error indicator flag generation section, and the error accumulation mode signal is "0".
'', if the output of the first OR signal becomes ``1'', the hold signal is changed to the corresponding first error signal.
Hold control that outputs the hold signal to the indicator/flag generation section and does not output the hold signal when the error accumulation mode signal is "1" even if the first OR signal is "1" or "0". and an error accumulation mode flag generating section that outputs the error accumulation mode signal in response to an external control signal.

【0018】[0018]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0019】図1は本発明のエラー情報処理回路の一実
施例を示すブロック図であり、図2は図1の実施例中の
ホールド制御部の一実施例を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the error information processing circuit of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the hold control section in the embodiment of FIG.

【0020】すでに図3によって説明したと同一の部分
については以下の説明において省略する、図2において
は図3と同様にエラーを監視する対象の情報処理回路が
最下位階層グループ1からMまでの複数のグループに存
在しこれらのグループからのエラー情報を直上位の階層
で一纏めとしたエラー情報を出力する場合の実施例がブ
ロック図で示されている。
The same parts as those already explained with reference to FIG. 3 will be omitted in the following explanation. In FIG. 2, as in FIG. A block diagram shows an embodiment in which error information that exists in a plurality of groups and that collects error information from these groups at the immediately upper layer is output.

【0021】最下位階層グループ1からMはそれぞれ最
下位階層グループ1に示されている構成と同一の構成を
している。エラー累積モードフラグ生成部6の出力は第
1のEIF3A,3B…3Nにそれぞれ出力が接続され
たホールド制御部4A,4B…4Nの入力側に接続され
ており、このエラー累積モードフラグ生成部6には制御
信号106が入力される。
The lowest hierarchy groups 1 to M each have the same configuration as that shown in the lowest hierarchy group 1. The output of the error accumulation mode flag generation section 6 is connected to the input side of the hold control sections 4A, 4B...4N whose outputs are connected to the first EIFs 3A, 3B...3N, respectively. A control signal 106 is input to.

【0022】また、それぞれのホールド制御部4A,4
B…4Nの入力側には1対1に対応する第1のEIF3
A,3B…3Nの出力が接続されると共に第1の論理和
ゲート5の出力も接続されている。ホールド制御部4A
,4B…4Nは、たとえば、図2にブロック図として示
されている構成であればよい。
[0022] Also, each hold control section 4A, 4
On the input side of B...4N, there is a first EIF3 in one-to-one correspondence.
The outputs of A, 3B, . . . , 3N are connected, and the output of the first OR gate 5 is also connected. Hold control section 4A
, 4B...4N may have the configuration shown as a block diagram in FIG. 2, for example.

【0023】エラー累積モードフラグ生成部6に、たと
えば、制御信号106として論理値″1″を持つ信号が
外部より加えられると、次に″0″が入力されるまでエ
ラー累積モードONである論理値″1″を出力し、また
、″0″が入力されると次に″1″が入力されるまでエ
ラー累積モードがOFFである論理値″0″を出力する
When a signal having a logical value of "1" is applied to the error accumulation mode flag generating section 6 from the outside, for example, as the control signal 106, the error accumulation mode remains ON until the next input of "0". It outputs the value "1", and when "0" is input, it outputs the logical value "0" which indicates that the error accumulation mode is OFF until the next "1" is input.

【0024】ここで、制御信号106として制御信号″
1″が最下位階層グループ1にあるエラー累積モードフ
ラグ生成部6に入力されるとエラー累積モードがONで
あることを示す論理値″1″なるエラー累積モード信号
104が出力される。
Here, as the control signal 106, the control signal "
When 1'' is input to the error accumulation mode flag generation unit 6 in the lowest hierarchy group 1, an error accumulation mode signal 104 with a logical value of ``1'' indicating that the error accumulation mode is ON is output.

【0025】エラー累積モード信号104はホールド制
御部4Aを構成する否定回路41の入力側に加えられる
。これと同時に他の同一構成のホールド制御部4B…4
Nの入力側にも加えられる。このような状態では第1の
論理和ゲート5からの出力が″0″あるいは″1″の何
れであっても、論理積回路42の出力は″0″であるの
で第3の論理和ゲート43の出力はこのホールド制御部
4Aの出力である第1のホールド信号で制御される第1
のEIF3Aからの出力107Aが″1″となったとき
のみ第1のホールド信号107A(論理値″1″)を出
力する。すなわち、第1のEIF3Aの状態が″1″と
なったときのみ第1のホールド信号107Aが″1″と
なり、他の第1のEIFたとえば第1のEIF3Bをホ
ールド状態とはしない。
The error accumulation mode signal 104 is applied to the input side of the NOT circuit 41 constituting the hold control section 4A. At the same time, other hold control units 4B...4 having the same configuration
It is also added to the input side of N. In such a state, even if the output from the first OR gate 5 is "0" or "1", the output of the AND circuit 42 is "0", so the third OR gate 43 The output of the first signal is controlled by the first hold signal which is the output of this hold control section 4A.
The first hold signal 107A (logical value "1") is output only when the output 107A from the EIF 3A becomes "1". That is, the first hold signal 107A becomes "1" only when the state of the first EIF 3A becomes "1", and other first EIFs, such as the first EIF 3B, are not held.

【0026】したがって、このような状態では他の同一
グループ内の第1のEIFの状態が″1″となってエラ
ー情報を出力した場合でも、同一グループ内の他の第1
のEIF、たとえばEIF3Bに接続されているエラー
検出部2Bが動作して″1″を出力すればこの第1のE
IF3Bに接続されているホールド制御部4Bが動作し
て第1のホールド信号107Bを出力して第1のEIF
3Bを″1″の状態にホールドする。すなわち、エラー
累積モード信号がONの状態ではこの信号が入力されて
いるホールド制御回路は第1グループ内の他の第1のE
IFの動作に関係なくそのホールド制御回路が接続され
ている第1のEIFの状態が″0″から″1″に変化し
たとき第1のホールド信号を生成してこの第1のEIF
の状態をホールドする。
Therefore, in such a state, even if the status of the other first EIF in the same group becomes "1" and outputs error information, the other first EIF in the same group
If the error detection unit 2B connected to the EIF, for example EIF3B, operates and outputs "1", this first EIF
The hold control unit 4B connected to the IF 3B operates and outputs the first hold signal 107B, and the first EIF
Hold 3B at "1". That is, when the error accumulation mode signal is ON, the hold control circuit to which this signal is input is connected to other first E in the first group.
Regardless of the operation of the IF, when the state of the first EIF to which the hold control circuit is connected changes from "0" to "1", a first hold signal is generated and the first EIF
hold the state.

【0027】つぎに、エラー累積モードフラグ生成部6
の出力がOFFの状態では同一グループ、たとえば、図
1の最下位階層グループ1内の第1のEIF3A,3B
…3Nの内の何れか一つが″1″の状態となると第1の
論理和ゲート5の出力105がホールド制御部4A,4
B…4Nに入力されると論理積回路42の出力が″1″
となるので第1のホールド信号107A,107B…1
07N等がそれぞれ出力されるので同一グループに属す
るすべての第1のEIF3A,3B…3Nはすべてこの
第1のホールド信号が入力される直前のそれぞれの状態
でホールドされることになる。
Next, the error accumulation mode flag generating section 6
When the output of
...When any one of 3N becomes "1", the output 105 of the first OR gate 5 becomes the hold control section 4A, 4.
B...When input to 4N, the output of the AND circuit 42 becomes "1"
Therefore, the first hold signals 107A, 107B...1
07N, etc. are output, so all the first EIFs 3A, 3B, . . . , 3N belonging to the same group are held in their respective states immediately before the first hold signal is input.

【0028】図1に示された構成のエラー情報処理回路
において各最下位階層グループにそれぞれ設けられてい
るエラー累積モードフラグ生成部6の内の任意のエラー
累積モードフラグ生成部6に論理値″1″を持つ信号を
入力し、他のエラー累積モードフラグ生成部6には論理
値″0″の信号を入力すれば上述の″1″を入力した最
下位階層グループ内の第1の各EIFを独立動作させる
こともできる。
In the error information processing circuit having the configuration shown in FIG. 1, a logic value "" is applied to any one of the error accumulation mode flag generation sections 6 provided in each of the lowest hierarchical groups. If a signal with a logical value of ``1'' is inputted to the other error accumulation mode flag generation unit 6, and a signal with a logical value of ``0'' is inputted, each of the first EIFs in the lowest hierarchical group to which the above-mentioned ``1'' was inputted can also be operated independently.

【0029】本発明のエラー情報処理回路は上述したよ
うに従来のこの種のエラー情報処理回路にホールド制御
部4A,4B…4Nとエラー累積モードフラグ生成部4
A,4B…4Nを付加したものであるが図1に示されて
いるよりも多くの最下位階層グループ数に設けた回路を
前述した最下位階層のグループ数よりも少ない複数の直
上位階層のそれぞれに纏め、これらの複数の直上位階層
に纏められ論理和ゲートから出力されるエラー情報出力
をさらに上位階層において図示されていない第3のEI
Fと第4の論理和回路によって図1に示されている直上
位階層と同様な接続を行いエラー情報を一つに纏めて出
力させることができることは明らかである。
As described above, the error information processing circuit of the present invention has the hold control sections 4A, 4B...4N and the error accumulation mode flag generation section 4 in addition to the conventional error information processing circuit of this type.
A, 4B...4N is added, but the circuits provided in the lowest layer groups which are larger than those shown in FIG. A third EI (not shown) in a higher layer further collects the error information output from the logical sum gate and outputs the error information output from the OR gate.
It is clear that the error information can be output together by connecting F and the fourth OR circuit in the same way as the immediately upper layer shown in FIG.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のエラー情
報処理回路は、従来のこの種のエラー情報処理回路と同
様に時刻的に最初に発生したエラーがどこで生じたかを
特定できると共に外部からの制御信号を加えることによ
りエラーの監視状態を別モードとし、予め設定した監視
グループ内で生じる時系列的に順次発生するエラーの発
生状況をこの監視グループ内に設けた複数のエラーフラ
グ生成部によって互いに独立してホールドさせて一度に
測定することができるのでエラー監視対象である情報処
理回路または装置が未調整状態のとき複数のエラー発生
箇所を短時間で求め、従来より短時間でこれらの情報処
理回路または装置を調整することができるという効果が
ある。
As explained above, the error information processing circuit of the present invention can identify where the first error occurred in terms of time, as well as the conventional error information processing circuit of this type, and can By adding a control signal, the error monitoring state is set to a different mode, and the occurrence status of errors that occur in a chronological order within a preset monitoring group is determined by multiple error flag generation units provided within this monitoring group. Since they can be held independently of each other and measured at once, multiple error locations can be determined in a short time when the information processing circuit or device being monitored for errors is in an unadjusted state, and this information can be obtained in a shorter time than before. The advantage is that the processing circuit or device can be adjusted.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明のエラー情報処理回路の一実施例を示す
ブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an error information processing circuit of the present invention.

【図2】図1に示されたホールド制御部の一実施例を示
すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the hold control section shown in FIG. 1;

【図3】従来のこの種のエラー情報処理回路の一例を示
すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing an example of a conventional error information processing circuit of this type.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1A,1B,1N    レジスタ 2A,2B,2N    エラー検出部3A,3B,3
N    第1のエラー・インジケータ・フラグ生成部 4A,4B,4N    ホールド制御部5    第
1の論理和ゲート 6    エラー累積モードフラグ生成部8    第
2の論理和ゲート 41    否定回路 42    論理積回路 43    第3の論理和ゲート
1A, 1B, 1N Register 2A, 2B, 2N Error detection section 3A, 3B, 3
N First error indicator flag generation section 4A, 4B, 4N Hold control section 5 First OR gate 6 Error accumulation mode flag generation section 8 Second OR gate 41 NOT circuit 42 AND circuit 43 Third disjunction gate of

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  対象とする情報処理部を複数の状態監
視領域に分割し各状態監視領域毎に設けられた複数のエ
ラー検出部によってエラーを検出しその検出出力をそれ
ぞれ個別の第1のホールド信号によって制御されている
第1のエラー・インジケータ・フラグ生成部に入力して
前記第1のエラー・インジケータ・フラグ生成部を動作
させて個別の信号を出力させこれら第1の各エラー・イ
ンジケータ・フラグ生成部からの出力信号の論理和を取
る第1の論理ゲートに加え第1の論理和信号を出力する
エラー情報処理回路において、前記第1の各エラー・イ
ンジケータ・フラグ生成部は前記第1のホールド信号が
加えられたときはこのホールド信号が加えられる直前の
状態を保持し前記第1のホールド信号が加えられていな
いときは前記エラー検出部からの出力に応じて変化して
おり前記第1の各エラー・インジケータ・フラグ生成部
のそれぞれに1対1に対応して設けられ前記対応した第
1のエラー・インジケータ・フラグ生成部の出力と前記
第1の論理和ゲートの出力およびエラー累積モード信号
を入力とし前記対応する第1のエラー・インジケータ・
フラグ生成部の出力が論理値″1″のときには常に前記
ホールド信号を前記対応する第1のエラー・インジケー
タ・フラグ生成部に出力しまた前記エラー累積モード信
号が″0″であるときに前記第1の論理和信号の出力が
″1″となると前記ホールド信号を前記対応する第1の
エラー・インジケータ・フラグ生成部に出力しまた前記
エラー累積モード信号が″1″であるときには前記第1
の論理和信号が″1″あるいは″0″の何れであっても
前記ホールド信号を出力しないホールド制御部と、外部
からの制御信号により前記エラー累積モード信号を出力
するエラー累積モードフラグ生成部とを備えたことを特
徴とするエラー情報処理回路。
Claim 1: A target information processing unit is divided into a plurality of condition monitoring areas, an error is detected by a plurality of error detection units provided for each condition monitoring area, and the detected output is stored in a separate first hold. input to a first error indicator flag generator controlled by the signal to operate the first error indicator flag generator to output a separate signal for each of these first error indicators. In the error information processing circuit that outputs a first OR signal in addition to a first logic gate that ORs output signals from the flag generation section, each of the first error indicator flag generation sections is connected to the first logic gate. When a hold signal is applied, the state immediately before this hold signal is applied is maintained, and when the first hold signal is not applied, the state is changed according to the output from the error detection section, and the state is changed according to the output from the error detection section. The output of the corresponding first error indicator/flag generating unit, the output of the first OR gate, and the error accumulation are provided in a one-to-one correspondence with each of the error indicator/flag generating units of mode signal as input and said corresponding first error indicator;
Whenever the output of the flag generation section is a logical value "1", the hold signal is outputted to the corresponding first error indicator flag generation section, and when the error accumulation mode signal is "0", the hold signal is outputted to the corresponding first error indicator flag generation section. When the output of the OR signal of 1 becomes "1", the hold signal is outputted to the corresponding first error indicator flag generating section, and when the error accumulation mode signal is "1", the hold signal is outputted to the first error indicator flag generating section.
a hold control unit that does not output the hold signal even if the OR signal of is “1” or “0”; and an error accumulation mode flag generation unit that outputs the error accumulation mode signal based on an external control signal. An error information processing circuit comprising:
【請求項2】  前記エラー情報処理回路を複数有しこ
れら各エラー情報処理回路の出力に個別に入力側が接続
され第2のホールド信号によって制御され前記第1のエ
ラー・インジケータ・フラグ生成部と同様な動作を行う
複数の第2のエラー・インジケータ・フラグ生成部と、
前記複数の第2のエラー・インジケータ・フラグ生成部
の出力を入力としその論理和を出力し前記第2の各エラ
ー・インジケータ・フラグ生成部に前記第2のホールド
信号として加える第2の論理和ゲートとを備えたことを
特徴とするエラー情報処理回路。
2. A plurality of error information processing circuits, the input side being individually connected to the output of each error information processing circuit, controlled by a second hold signal, and similar to the first error indicator flag generation section. a plurality of second error indicator flag generation units that perform operations;
a second logical sum that receives the outputs of the plurality of second error indicator flag generating units, outputs a logical sum thereof, and adds the logical sum to each of the second error indicator flag generating units as the second hold signal; An error information processing circuit characterized by comprising a gate.
【請求項3】  前記エラー累積モード信号を入力とす
る否定回路と、前期否定回路の出力と前記第1の論理和
ゲートの出力とを入力とする論理積回路と、前記第1の
エラー・インジケータ・フラグ生成部の内の何れか一つ
の出力と前記論理積回路の出力とを入力とし前記第1の
ホールド信号を出力する第3の論理和ゲートにより構成
された前記ホールド制御部を有することを特徴とする請
求項1または請求項2記載のエラー情報処理回路。
3. A NOT circuit that receives the error accumulation mode signal as an input, an AND circuit that receives the output of the first NOT circuit and the output of the first OR gate, and the first error indicator. - The hold control unit is configured by a third OR gate that receives the output of any one of the flag generation units and the output of the AND circuit as input and outputs the first hold signal. The error information processing circuit according to claim 1 or claim 2.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140099533A (en) 2012-01-17 2014-08-12 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 Copper-polyimide laminate, three-dimensional molding body, and method for producing three-dimensional molding body

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