JPH04223231A - Optical characteristics measuring device and optical parts manufacturing device using it - Google Patents

Optical characteristics measuring device and optical parts manufacturing device using it

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JPH04223231A
JPH04223231A JP41371990A JP41371990A JPH04223231A JP H04223231 A JPH04223231 A JP H04223231A JP 41371990 A JP41371990 A JP 41371990A JP 41371990 A JP41371990 A JP 41371990A JP H04223231 A JPH04223231 A JP H04223231A
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JP
Japan
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light
optical
light sources
measured
wavelengths
Prior art date
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Pending
Application number
JP41371990A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinichi Tomita
伸一 富田
Kenji Nishide
西出 研二
Fumio Suzuki
文生 鈴木
Ryozo Yamauchi
良三 山内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujikura Ltd
Original Assignee
Fujikura Ltd
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Publication date
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable time response characteristics to be extremely fast and an accurate measurement to be easily performed by modulating a plurality of lights with different frequencies, converting a light which is given to an object into an electrical signal, and obtaining each modulation frequency component. CONSTITUTION:Oscillators 11 and 12 are allowed to oscillate by each specified frequency, a pulse output of the frequency is added to a digital external modulation input terminal of light sources 1 and 2, and the light sources 1 and 2 are modulated. Only a modulated component is taken out of an output from a light detector 6 in a signal processing device 8 and a light power for light with two wavelengths is measured simultaneously. When each modulated component is taken out, a signal from the oscillators 11 and 12 is fed to the signal processing device 8. Light sources 1 and 2 are operated continuously to generate a modulation light and are always maintained to be ON, thus always enabling light to be generated stably, thus eliminate the need for waiting until the light sources 1 and 2 become stable, enabling a measurement at a wavelength of the light sources 1 and 2 to be measured in a short time, and achieving a measurement accordingly even if an object to be measured 4 is fluctuating with time.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】この発明は、少なくとも2つの波
長における光パワーを測定する光学特性測定装置及びそ
の光学特性測定装置を用いて構成される光部品製造装置
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical property measuring device for measuring optical power at at least two wavelengths, and an optical component manufacturing apparatus constructed using the optical property measuring device.

【0002】0002

【従来の技術】従来より、光ファイバカプラなどの光部
品の、いくつかの波長における損失や分離度などの特性
を知るために、それらのそれぞれの波長での光パワーを
測定して、そのパワーの差や比などから上記のような特
性を算出することが行われている。
[Prior Art] Conventionally, in order to know the characteristics of optical components such as optical fiber couplers such as loss and degree of separation at several wavelengths, the optical power at each wavelength has been measured and the power The above characteristics are calculated from the difference or ratio between the two.

【0003】2つの波長における光パワーを測定する場
合、光学特性測定装置は通常図1に示すように構成され
る。光源1、2はそれぞれ異なる波長の光を発生するも
ので、それらの光が光結合器3によって結合された上で
、被測定物4に同時に入射させられる。被測定物4を通
った光は分波器5に入射して、波長ごとに分離され、そ
の分離された2つの光が光検出器6、7のそれぞれに入
射する。
[0003] When measuring optical power at two wavelengths, an optical characteristic measuring device is usually constructed as shown in FIG. The light sources 1 and 2 each generate light of different wavelengths, and after the light is combined by an optical coupler 3, the light is made to simultaneously enter the object to be measured 4. The light that has passed through the object to be measured 4 enters a demultiplexer 5 and is separated into wavelengths, and the two separated lights enter photodetectors 6 and 7, respectively.

【0004】この場合、被測定物4から出力される光を
光学的に波長ごとに分離するため、分波器5としてグレ
ーティングやプリズムなどを使用したり、光ファイバカ
プラなどで構成される波長多重分割器(WDM)などを
使用したり、あるいはフィルタなどを使用する。
In this case, in order to optically separate the light output from the object to be measured 4 into wavelengths, a grating, a prism, etc. may be used as the demultiplexer 5, or a wavelength multiplexing method consisting of an optical fiber coupler or the like may be used. A divider (WDM) or a filter is used.

【0005】このように異なる波長の光を同時に使用し
検出側で波長ごとに光学的に分離する他、異なる波長の
光を時分割に使用して各波長ごとの測定を行う場合もあ
る。この場合は、図2のタイミングチャートで示すよう
に、光源1、2を交互にオン・オフさせ、各光源がオン
のとき、1つの光検出器からの信号をサンプリングする
。光源1、2を長い時間オフにすると、オンにした直後
は安定しないため、オンとなっている時間がある程度長
い時間T(一般には30分ほど)経過したときのタイミ
ングtで信号を取り込む必要がある。
In addition to using light of different wavelengths simultaneously and optically separating each wavelength on the detection side, there are also cases where light of different wavelengths is used in a time-division manner to perform measurements for each wavelength. In this case, as shown in the timing chart of FIG. 2, the light sources 1 and 2 are turned on and off alternately, and when each light source is on, the signal from one photodetector is sampled. If light sources 1 and 2 are turned off for a long time, they will not be stable immediately after being turned on, so it is necessary to capture the signal at timing t after a certain amount of time T (generally about 30 minutes) has elapsed since the light sources 1 and 2 have been turned on. be.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、同時に
複数の波長の光を入射し、その出射光を光学的に分離す
る場合、その分離度を大きくとることが難しいため、た
とえば2つの波長の光の場合、一方が他方に比べて大き
いときに小さい方の測定ができない、という問題がある
。また、光を波長ごとに分離する光学部品は電気部品に
比べて高価であるとともに、調整が難しく、さらに、温
度の影響を受け易いので温度による測定値の変動が大き
いという問題もある。
[Problem to be Solved by the Invention] However, when light of multiple wavelengths is input at the same time and the output light is optically separated, it is difficult to obtain a large degree of separation. In this case, there is a problem in that when one is larger than the other, it is not possible to measure the smaller one. Furthermore, optical components that separate light into wavelengths are more expensive than electrical components, and are difficult to adjust.Furthermore, they are easily affected by temperature, so there is a problem in that measured values vary greatly depending on temperature.

【0007】また、複数の波長の光を時分割的に使用す
る場合、各光源が安定するまでの時間が長いので、複数
波長の光に関する測定をすべて終了するまで時間がかか
り、被測定物の特性が時間的に変動するような場合には
それに追従して測定することができないという問題があ
る。
Furthermore, when using light of multiple wavelengths in a time-sharing manner, it takes a long time for each light source to stabilize, so it takes time to complete all measurements regarding the light of multiple wavelengths, and the When the characteristics change over time, there is a problem in that it is not possible to follow and measure the characteristics.

【0008】そこで、このような光学測定測定装置を用
いて光部品の製造を行う場合に問題があった。すなわち
、融着延伸型光ファイバカプラやハーフミラーによる光
分岐器などを製造する際には、その光部品に光を入射し
、出射した光を監視して延伸量の調整や位置調整を行う
必要がある。前者の光学特性測定装置を用いたのでは、
それが高価であるとともに、一方の波長の光が大きいと
きの測定限界や温度特性の悪さなどから、光部品の正確
な測定に基づく製造が容易でない。また、後者の光学特
性測定装置では、時間的な応答性が悪く、刻々変化する
光パワー測定ができないため、その光パワーに応じてた
だちに調整することができず、光部品の製造効率がきわ
めて悪かった。
[0008] Therefore, there is a problem when manufacturing optical components using such an optical measuring device. In other words, when manufacturing a fusion-stretched optical fiber coupler or an optical splitter using a half mirror, it is necessary to input light into the optical component, monitor the emitted light, and adjust the amount of stretching and position. There is. If you use the former optical property measuring device,
In addition to being expensive, it is not easy to manufacture optical components based on accurate measurements due to measurement limits when the light of one wavelength is large and poor temperature characteristics. In addition, the latter type of optical property measuring device has poor temporal response and cannot measure optical power that changes moment by moment, making it impossible to make immediate adjustments according to the optical power, resulting in extremely poor manufacturing efficiency for optical components. Ta.

【0009】この発明は、上記に鑑み、時間的な応答特
性が非常に速く、しかも正確な測定を容易に行うことが
できる、安価な光学特性測定装置を提供することを目的
とする。
[0009] In view of the above, an object of the present invention is to provide an inexpensive optical property measuring device that has extremely fast temporal response characteristics and can easily perform accurate measurements.

【0010】また、この発明は、この測定時間が短く且
つダイナミックレンジが広い光学特性測定装置を使用す
ることにより光部品を容易に、効率よく製造できるよう
改善した、光部品製造装置を提供することを目的とする
Another object of the present invention is to provide an optical component manufacturing apparatus that is improved so that optical components can be manufactured easily and efficiently by using an optical property measuring device that has a short measurement time and a wide dynamic range. With the goal.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】この発明による光学特性
測定装置では、波長の異なる複数の光をそれぞれ異なる
周波数で変調し、被測定物に与え、被測定物から得られ
た光を一旦電気信号に変換した後、その電気信号から上
記の各変調周波数の成分を得ている。この各変調周波数
成分は、波長の異なる光に関するものであるから、複数
の波長についての測定が同時に行えることになり、複数
波長の光についての測定時間を短縮し、時間的な応答特
性を非常に速くできる。また、光発生手段はオフとなっ
ている期間がないため、その出力光は安定したものとな
る。
[Means for Solving the Problems] In the optical property measuring device according to the present invention, a plurality of lights having different wavelengths are modulated at different frequencies and applied to an object to be measured, and the light obtained from the object to be measured is converted into an electrical signal. After converting into , the components of each modulation frequency mentioned above are obtained from the electrical signal. Since each of these modulated frequency components relates to light of different wavelengths, measurements of multiple wavelengths can be performed simultaneously, shortening the measurement time for light of multiple wavelengths and greatly improving the temporal response characteristics. It can be done quickly. Further, since the light generating means does not have a period of being off, its output light becomes stable.

【0012】さらに、この発明による光部品製造装置で
は、上記のような時間的応答特性の高い光学特性測定装
置を用いて光部品から出力される光を各波長ごとに同時
に測定し、その光学特性測定装置の出力に応じて光部品
を調整することが特徴となっており、光部品からの、刻
々変化する出射光を時間遅れなく測定して、即座に光部
品を調整することができ、容易且つ効率的に光部品を製
造することができるようになる。
Furthermore, in the optical component manufacturing apparatus according to the present invention, the light output from the optical component is simultaneously measured for each wavelength using the optical characteristic measuring device with high temporal response characteristics as described above, and the optical characteristics are measured. The feature is that the optical components are adjusted according to the output of the measuring device, and the ever-changing output light from the optical components can be measured without time delay, making it possible to adjust the optical components immediately and easily. Moreover, it becomes possible to efficiently manufacture optical components.

【0013】[0013]

【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照しながら詳細に説明する。図3はこの発明の一実施例
にかかる光学特性測定装置を示すブロック図で、この図
においては波長の異なる2つの光源1、2を用いて2つ
の波長での出射光パワーを測定している。この場合、光
源1として波長1.31μmのレーザダイオードを用い
、光源2として波長1.55μmのレーザダイオードを
用いた。これらの光は光ファイバカプラなどの光結合器
3で結合されて被測定物4に入射させられる。被測定物
4から出射した光は1つの光検出器6に入射させられ、
その出力が信号処理装置8に送られる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 3 is a block diagram showing an optical characteristic measuring device according to an embodiment of the present invention. In this diagram, two light sources 1 and 2 with different wavelengths are used to measure the output light power at two wavelengths. . In this case, a laser diode with a wavelength of 1.31 μm was used as the light source 1, and a laser diode with a wavelength of 1.55 μm was used as the light source 2. These lights are combined by an optical coupler 3 such as an optical fiber coupler and made incident on the object to be measured 4. The light emitted from the object to be measured 4 is made incident on one photodetector 6,
The output is sent to the signal processing device 8.

【0014】光源1、2はそれぞれ発振器11、12の
出力により変調させられている。この実施例では発振器
11、12はそれぞれ270Hz、1kHzで発振して
おり、その周波数のパルス出力が光源1、2のデジタル
外部変調入力端子に加えられる。信号処理装置8では、
光検出器6からの出力のうち、上記の変調成分のみが取
り出され、2つの波長の光についての光パワーが同時に
測定される。それぞれの変調成分を取り出す方式として
は電気的周波数フィルタ方式と同期検波方式などが考え
られる。同期検波方式の場合は点線で示すように各発振
器11、12からの信号を信号処理装置8に送る。光源
1、2は変調光を発生するよう連続動作させられており
、オフとならないため、つねに安定に光を発生すること
ができる。その結果、光源1、2が安定するまで待つ時
間が不要となり、両方の光源1、2の2つの波長での測
定を非常に短い時間で終わることができ、被測定物4が
時間的に変動している場合でも、それに追従した測定を
行うことができる。
The light sources 1 and 2 are modulated by the outputs of oscillators 11 and 12, respectively. In this embodiment, the oscillators 11 and 12 oscillate at 270 Hz and 1 kHz, respectively, and pulse outputs at these frequencies are applied to the digital external modulation input terminals of the light sources 1 and 2. In the signal processing device 8,
Of the output from the photodetector 6, only the above modulated component is extracted, and the optical powers of the two wavelengths of light are measured simultaneously. Possible methods for extracting each modulation component include an electrical frequency filter method and a synchronous detection method. In the case of the synchronous detection method, signals from each oscillator 11 and 12 are sent to the signal processing device 8 as shown by dotted lines. The light sources 1 and 2 are continuously operated to generate modulated light and are never turned off, so they can always generate light stably. As a result, there is no need to wait for the light sources 1 and 2 to stabilize, and measurements using the two wavelengths of both the light sources 1 and 2 can be completed in a very short time, and the object to be measured 4 changes over time. Even if you are using a computer, you can perform measurements that follow it.

【0015】この実施例では、信号処理装置8は電気的
周波数フィルタ方式に基づき具体的には図4のように構
成されている。図4において、信号処理装置8には光検
出器6からの信号が入力される。この光検出器6は、入
射した光に対応する電流出力を生じるもので、たとえば
FCコネクタ付の受光径300μm、InGaAs3元
系PINフォトダイオードなどが使用できる。
In this embodiment, the signal processing device 8 is specifically constructed as shown in FIG. 4 based on an electrical frequency filter method. In FIG. 4, a signal from the photodetector 6 is input to the signal processing device 8. The photodetector 6 generates a current output corresponding to the incident light, and can be, for example, an InGaAs ternary PIN photodiode with an FC connector and a light receiving diameter of 300 μm.

【0016】光検出器6から送られた電流出力は、まず
、信号処理装置8の電流−電圧変換器81において電圧
出力に変換され、その後、増幅器82、バンドパスフィ
ルタ83、増幅器84、実効値−直流電圧変換器85、
A/Dコンバータ86により構成される2つの信号系に
送られる。2つのバンドパスフィルタ83、83はそれ
ぞれ270Hzと1kHzの信号成分のみを通すもので
ある。これらのバンドパスフィルタ83を経た信号は正
弦波となっているため、その実効値を直流電圧に変換す
るためRMS(2乗平均)/DC回路などの実効値−直
流電圧変換器85が用いられる。
The current output sent from the photodetector 6 is first converted into a voltage output in the current-voltage converter 81 of the signal processing device 8, and then converted into a voltage output by an amplifier 82, a bandpass filter 83, an amplifier 84, and an effective value. - DC voltage converter 85,
The signal is sent to two signal systems configured by the A/D converter 86. The two bandpass filters 83 and 83 pass only signal components of 270 Hz and 1 kHz, respectively. Since the signals passing through these bandpass filters 83 are sinusoidal waves, an effective value-to-DC voltage converter 85 such as an RMS (root mean square)/DC circuit is used to convert the effective value to a direct current voltage. .

【0017】これら実効値−直流電圧変換器85の出力
はそれぞれA/Dコンバータ86によりデジタル信号に
変換された後、信号処理回路87に送られる。A/Dコ
ンバータ86はパーソナルコンピュータ内蔵用の16ビ
ットの分解能のものを使用でき、信号処理回路87とし
ては市販のパーソナルコンピュータを用いることができ
る。この信号処理回路87において、そのデジタル信号
を光パワーに変換するための演算が行われる。その結果
得られた2つの波長での光パワーが2つの表示器88で
それぞれ表示される。
The outputs of these effective value to DC voltage converters 85 are each converted into digital signals by an A/D converter 86 and then sent to a signal processing circuit 87 . The A/D converter 86 can be a built-in personal computer with a resolution of 16 bits, and the signal processing circuit 87 can be a commercially available personal computer. In this signal processing circuit 87, calculations are performed to convert the digital signal into optical power. The resulting optical powers at the two wavelengths are displayed on two displays 88, respectively.

【0018】図5は信号処理装置8の変形例を示すもの
で、同期検波方式に基づくものである。上記の図4のバ
ンドパスフィルタ83、増幅器84、実効値−直流電圧
変換器85の代わりに同期検波回路89を用いる。2つ
の同期検波回路89に、発振器11、12のパルス出力
をそれぞれ送って同期検波することにより、光源1から
の光の波長成分と、光源2からの光の波長成分とをそれ
ぞれ取り出す。同期検波回路89としてはロック・イン
・アンプなどを用いることができる。
FIG. 5 shows a modification of the signal processing device 8, which is based on a synchronous detection method. A synchronous detection circuit 89 is used in place of the bandpass filter 83, amplifier 84, and effective value-to-DC voltage converter 85 shown in FIG. By sending the pulse outputs of the oscillators 11 and 12 to the two synchronous detection circuits 89 and performing synchronous detection, the wavelength components of the light from the light source 1 and the wavelength components of the light from the light source 2 are respectively extracted. As the synchronous detection circuit 89, a lock-in amplifier or the like can be used.

【0019】これら図4、図5で示した構成において、
変調周波数をさらに多くし、3つ以上の波長の異なる光
源につき異なる変調周波数成分を有する光を得れば、多
数の波長の光についての光パワー特性の測定を同時に行
うことができる。多数の波長の光について測定が、回路
の切換などを行わずに、同時に行えるため、被測定物4
の光学的特性が時間とともに変化するような場合に、そ
れに追従した測定ができる。
In the configurations shown in FIGS. 4 and 5,
By increasing the modulation frequency and obtaining light having different modulation frequency components for three or more different wavelength light sources, it is possible to simultaneously measure the optical power characteristics of light of many wavelengths. Measurements can be made simultaneously on multiple wavelengths of light without switching circuits, so
When the optical properties of a material change over time, measurements can be made to follow them.

【0020】図6は、これら図3〜図5で示した光学特
性測定装置を使用した融着延伸型の光ファイバカプラの
製造装置を示している。この図において、2本の石英系
ガラスの光ファイバ61、62があらかじめ並列させら
れ、相互に側面が接触させられた上でクランパ63、6
4により把持され、延伸機65でそれらクランパ63、
34の間が長さ方向に延伸される。このクランパ63、
64間において光ファイバ61、62が側面よりバーナ
66によって加熱される。すなわち、2本の光ファイバ
61、62をその側面において融着することによって光
ファイバカプラを製造する。バーナ66の位置はバーナ
位置制御装置67により制御される。
FIG. 6 shows an apparatus for manufacturing a fused and drawn optical fiber coupler using the optical characteristic measuring apparatus shown in FIGS. 3 to 5. In this figure, two silica-based glass optical fibers 61 and 62 are arranged in parallel in advance, their sides are brought into contact with each other, and clampers 63 and 62 are placed in parallel.
4, and the clamper 63,
34 is extended in the length direction. This clamper 63,
The optical fibers 61 and 62 are heated from the side by a burner 66 between the two. That is, an optical fiber coupler is manufactured by fusing two optical fibers 61 and 62 at their sides. The position of the burner 66 is controlled by a burner position control device 67.

【0021】このような光ファイバカプラ製造装置にお
いて、光の分岐比は延伸量に依存する。ここでは2つの
波長における分岐比が所望のものとなるようにして光フ
ァイバカプラを製造することとし、波長の異なる光源1
、2を用いて一方の光ファイバ61の一端から光を入射
し、2本の光ファイバ61、62の他端から出射する光
のパワーをそれらの波長ごとに監視しながら延伸量を制
御する。光源1、2には、異なる周波数で発振している
発振器11、12から変調用のパルス信号が加えられて
おり、これら光源1、2から異なる周波数の変調光が発
生する。
In such an optical fiber coupler manufacturing apparatus, the light branching ratio depends on the amount of stretching. Here, we will manufacture an optical fiber coupler so that the branching ratio at two wavelengths is as desired, and the light source 1 with different wavelengths
. Pulse signals for modulation are applied to the light sources 1 and 2 from oscillators 11 and 12 that oscillate at different frequencies, and these light sources 1 and 2 generate modulated light at different frequencies.

【0022】光ファイバ61、62の他端からの出射光
は2つの光検出器6、6にそれぞれ入射させられ、その
出力が2つの信号処理装置8、8に各々送られ、これら
信号処理装置8、8でそれぞれの変調光成分が取り出さ
れる。その結果、2つの信号処理装置8、8から、2つ
の波長についての光パワーの測定値が同時に得られる。 なお図3の光結合器3は用いられていないが、これは被
測定物が光ファイバカプラであって2つの光源1、2か
らの光が結合されるからである。
The light emitted from the other ends of the optical fibers 61, 62 is made incident on two photodetectors 6, 6, respectively, and the output thereof is sent to two signal processing devices 8, 8, respectively. At 8 and 8, respective modulated light components are extracted. As a result, optical power measurements for two wavelengths can be obtained simultaneously from the two signal processing devices 8, 8. Note that the optical coupler 3 in FIG. 3 is not used because the object to be measured is an optical fiber coupler and the lights from the two light sources 1 and 2 are coupled.

【0023】そして、その測定値のデータが制御装置6
8に送られ、延伸機65及びバーナ位置制御装置67が
コントロールされる。2つの発振器11、12と、2つ
の光源1、2と、光検出器6及び信号処理装置8による
2系統の受光系とにより構成される光学特性測定装置は
上記の通り応答性が速く、同時に2つの波長についての
測定を行うことができる。そこで、光ファイバ61、6
2の各々から出射される光の2つの波長でのパワー変動
に追従して測定することができるため、バーナ66の位
置を最適なものとすることができるとともに、徐々に延
伸していったときの、その時々刻々変化する2つの波長
での分岐比を直ちに捉えて延伸量に反映させることがで
きる。こうして、2つの波長の光に関する分岐比が所望
のものとなったところで、延伸機65を停止させ、且つ
バーナ66を後退させることにより、所望の波長特性の
光ファイバカプラを得ることができる。
[0023] Then, the data of the measured value is sent to the control device 6.
8, and the drawing machine 65 and burner position control device 67 are controlled. As mentioned above, the optical characteristic measuring device, which is composed of two oscillators 11 and 12, two light sources 1 and 2, and two systems of light receiving systems including a photodetector 6 and a signal processing device 8, has a fast response and can simultaneously Measurements can be made for two wavelengths. Therefore, the optical fibers 61, 6
Since it is possible to track and measure the power fluctuations at two wavelengths of the light emitted from each of the two wavelengths, it is possible to optimize the position of the burner 66, and when the burner is gradually extended. The branching ratio at the two wavelengths, which changes moment by moment, can be immediately captured and reflected in the amount of stretching. In this way, when the branching ratio for the two wavelengths of light becomes desired, the drawing machine 65 is stopped and the burner 66 is moved back, thereby obtaining an optical fiber coupler with desired wavelength characteristics.

【0024】たとえばハーフミラーを用いた光分岐器を
製造する場合にも、上記の本発明による光学特性測定装
置を使用することができる。この場合、ハーフミラーを
使用した光分岐器に異なる波長の複数の光源から光を入
力しておいて、ハーフミラーを経て分岐された光をそれ
ぞれ光検出器に導く。こうして複数波長についての出射
光パワーを監視し、その複数の波長での分岐比に応じて
ハーフミラーの位置制御を行う。そうすると、複数の波
長での分岐比の変化に即応してただちにハーフミラーの
位置を調整できるため、容易に、かつ効率よく光分岐器
を製造することができる。
For example, the optical characteristic measuring device according to the present invention can be used when manufacturing an optical splitter using a half mirror. In this case, light from a plurality of light sources of different wavelengths is input into an optical splitter using a half mirror, and the branched lights are each guided to a photodetector via the half mirror. In this way, the emitted light power for a plurality of wavelengths is monitored, and the position of the half mirror is controlled according to the branching ratio at the plurality of wavelengths. Then, the position of the half mirror can be adjusted immediately in response to a change in the branching ratio at a plurality of wavelengths, so that the optical splitter can be manufactured easily and efficiently.

【0025】このように、この発明の光学特性測定装置
は融着延伸型光ファイバカプラを製造する製造装置だけ
でなく、たとえばハーフミラーを用いた光分岐器を製造
する製造装置など、他の光部品の製造装置に適用できる
As described above, the optical property measuring device of the present invention is applicable not only to manufacturing equipment for manufacturing fused and drawn optical fiber couplers, but also for manufacturing equipment for manufacturing optical splitters using half mirrors, and other optical properties. Applicable to parts manufacturing equipment.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように、この発明の光学特
性測定装置によれば、複数波長の光に関する光パワーの
測定を、時間的応答特性良好に行うことができる。その
ため測定すべき光のパワーが変動したとしても、それに
時間的に遅れることなくただちに追従して測定データを
得ることができる。
As described above, according to the optical characteristic measuring device of the present invention, it is possible to measure the optical power of light of a plurality of wavelengths with good temporal response characteristics. Therefore, even if the power of the light to be measured fluctuates, it is possible to immediately follow it and obtain measurement data without any time delay.

【0027】また、この発明の光部品製造装置によれば
、このように、複数波長の光に関する特性を測定できる
、応答性の良好な光学特性測定装置を用いているため、
所望の特性の光部品を容易にかつ効率よく製造すること
ができる。
Furthermore, according to the optical component manufacturing apparatus of the present invention, since an optical property measuring apparatus with good responsiveness that can measure the properties of light of multiple wavelengths is used,
Optical components with desired characteristics can be manufactured easily and efficiently.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】従来例のブロック図。FIG. 1 is a block diagram of a conventional example.

【図2】他の従来例のタイミングチャート。FIG. 2 is a timing chart of another conventional example.

【図3】この発明による光学特性測定装置の実施例のブ
ロック図。
FIG. 3 is a block diagram of an embodiment of an optical property measuring device according to the present invention.

【図4】上記光学特性測定装置の実施例の一部を具体的
に示すブロック図。
FIG. 4 is a block diagram specifically showing a part of an embodiment of the optical property measuring device.

【図5】上記光学特性測定装置の変形例の一部を具体的
に示すブロック図。
FIG. 5 is a block diagram specifically showing a part of a modification of the optical property measuring device.

【図6】この発明による光部品製造装置の実施例のブロ
ック図。
FIG. 6 is a block diagram of an embodiment of an optical component manufacturing apparatus according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、2            光源 3                光結合器4   
             被測定物5       
         分波器6、7          
  光検出器8                信号
処理装置11、12        発振器 81              電流−電圧変換器8
2、84        増幅器 83              バンドパスフィルタ
85              実効値−直流電圧変
換器86              A/Dコンバー
タ87              信号処理回路88
              表示器61、62   
     光ファイバ63、34        クラ
ンパ
1, 2 Light source 3 Optical coupler 4
Measured object 5
Duplexer 6, 7
Photodetector 8 Signal processing devices 11, 12 Oscillator 81 Current-voltage converter 8
2, 84 Amplifier 83 Bandpass filter 85 Effective value-DC voltage converter 86 A/D converter 87 Signal processing circuit 88
Displays 61, 62
Optical fiber 63, 34 clamper

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  異なる波長の光を発生する複数の光発
生手段と、該複数の光発生手段からの光をそれぞれ異な
る周波数で変調する手段と、該複数の光発生手段からの
複数の光を被測定物に入射させる手段と、被測定物を経
て入射するこれらの光を電気信号に変換する光電変換手
段と、該電気信号から上記の各変調周波数成分を取り出
す手段とを備えることを特徴とする光学特性測定装置。
1. A plurality of light generation means for generating light of different wavelengths, a means for modulating the light from the plurality of light generation means at different frequencies, and a plurality of light generation means for generating light from the plurality of light generation means. It is characterized by comprising a means for making the light incident on the object to be measured, a photoelectric conversion means for converting the incident light through the object to an electrical signal, and a means for extracting each of the above-mentioned modulated frequency components from the electrical signal. Optical property measuring device.
【請求項2】  複数の光発生手段からの異なる波長の
光をそれぞれ異なる周波数で変調した光を光部品に入力
し、その光部品から出力される光を測定する請求項1記
載の光学特性測定装置と、該光学特性測定装置の出力に
応じて該光部品を調整する手段とを備えることを特徴と
する光部品製造装置。
2. The optical characteristic measurement according to claim 1, wherein light modulated at different frequencies from a plurality of light generating means with different wavelengths is input to an optical component, and the light output from the optical component is measured. An optical component manufacturing apparatus comprising: a device; and means for adjusting the optical component according to the output of the optical property measuring device.
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