JPH04218755A - Apparatus for diagnosing deterioration of film - Google Patents

Apparatus for diagnosing deterioration of film

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JPH04218755A
JPH04218755A JP9275991A JP9275991A JPH04218755A JP H04218755 A JPH04218755 A JP H04218755A JP 9275991 A JP9275991 A JP 9275991A JP 9275991 A JP9275991 A JP 9275991A JP H04218755 A JPH04218755 A JP H04218755A
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JP
Japan
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coating film
voltage
impedance
film
probe
Prior art date
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Application number
JP9275991A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Kondo
武 近藤
Sumio Yamamoto
澄夫 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH04218755A publication Critical patent/JPH04218755A/en
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Abstract

PURPOSE:To miniaturize an apparatus as a whole in an apparatus diagnosing the deterioration degree of a film on the basis of the measured result of the impedance of the film. CONSTITUTION:The I/F board 18 provided in the expansion slot of a personal computer 11 applies voltage having a predetermined waveform across the probe 20 applied to the surface of a film 19 and a substrate metal 21. A preamplifier 22 measures the current flowing to the probe 20. The spectrum data of the preliminarily calculated output voltage waveform from the I/F board 18 is stored in a memory 13 and a CPU 12 calculates the impedance Z of the film from a measured current value (i) and the stored voltage value E.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[発明の目的][Object of the invention]

【0002】0002

【産業上の利用分野】本発明は塗膜の劣化度合を客観的
に判断するようにした塗膜劣化診断装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a paint film deterioration diagnosing device for objectively determining the degree of deterioration of a paint film.

【0003】0003

【従来の技術】例えば変圧器や配電盤など屋外に配置さ
れる機器は、防蝕及び美観のために塗装がなされるが、
その塗膜は紫外線や水分などの影響を受けて経時的に劣
化して行く。このような塗膜の劣化を放置すれば、やが
て塗膜が剥離したり下地金属が腐蝕するようになり、機
器の機能障害に至る場合もある。そこで、塗装の塗替え
やメンテナンスを適切な時期に行うために、塗膜インピ
ーダンスを測定することにより、塗膜の劣化度を定量的
に評価することが行われている。
[Prior Art] Equipment placed outdoors, such as transformers and switchboards, is painted for corrosion protection and aesthetic purposes.
The coating deteriorates over time due to the effects of UV rays and moisture. If such deterioration of the paint film is left untreated, the paint film will eventually peel off or the underlying metal will corrode, which may lead to equipment malfunction. Therefore, in order to perform repainting and maintenance at appropriate times, the degree of deterioration of the paint film is quantitatively evaluated by measuring the paint film impedance.

【0004】この場合、塗膜インピーダンスは、図4に
示すような抵抗RとコンデンサCとの並列回路からなる
等価回路にて表すことができ、塗膜が劣化することによ
り、その抵抗R値が小さくなってインピーダンスが変化
することを利用して、塗膜の劣化度合を診断することが
できるのである。
In this case, the coating film impedance can be expressed by an equivalent circuit consisting of a parallel circuit of a resistor R and a capacitor C as shown in FIG. 4, and as the coating film deteriorates, the resistance R value increases. The degree of deterioration of the paint film can be diagnosed by utilizing the fact that the impedance changes as the impedance decreases.

【0005】このような塗膜のインピーダンスを測定す
る装置として、本出願人の出願に係る特開昭62−10
2148号公報に示されたものがある。このものは、図
9に示すように、下地金属1の塗膜2にプローブ3を宛
がい、そのプローブ3と下地金属1との間に交流電源4
を用いて電圧を印加し、電流測定器5により流れる電流
iを測定すると共に、電圧測定器6によりプローブ3と
下地金属1との間の印加電圧eを測定するように構成さ
れている。そして、測定された電流値i及び電圧値eが
伝達関数計7に入力されるようになっており、伝達関数
計7は、各周波数についてのインピーダンスZを計算し
出力するようになっている。
[0005] As an apparatus for measuring the impedance of such a coating film, there is disclosed a method disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 1986-10 filed by the present applicant.
There is one shown in Publication No. 2148. As shown in FIG. 9, a probe 3 is applied to a coating film 2 on a base metal 1, and an AC power source is connected between the probe 3 and the base metal 1.
The current measuring device 5 measures the flowing current i, and the voltage measuring device 6 measures the applied voltage e between the probe 3 and the base metal 1. The measured current value i and voltage value e are input to the transfer function meter 7, and the transfer function meter 7 calculates and outputs the impedance Z for each frequency.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な塗膜インピーダンスの測定のためには、測定装置を変
圧器などが設置されている現場まで搬入することが必要
となる。このため、上述のような塗膜インピーダンス測
定装置は、軽量,小形であることが要望されている。
By the way, in order to measure the coating film impedance as described above, it is necessary to transport the measuring device to the site where the transformer and the like are installed. For this reason, it is desired that the coating film impedance measuring device as described above be lightweight and compact.

【0007】これに対し、上記した従来の塗膜インピー
ダンス測定装置では、塗膜インピーダンスを測定するた
めに、その都度電流及び電圧を測定しなければならない
ので、装置には電流測定器5及び電圧測定器6が必要で
あった。このため、装置全体が比較的大形となり、軽量
化,小形化には限度があった。
On the other hand, in the conventional coating film impedance measuring device described above, in order to measure the coating film impedance, it is necessary to measure the current and voltage each time. 6 vessels were required. For this reason, the entire device becomes relatively large, and there is a limit to how much it can be made lighter and smaller.

【0008】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
、その目的は、装置全体の小形化を効果的に図ることが
できる塗膜劣化診断装置を提供するにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and its object is to provide a coating film deterioration diagnosing device that can effectively downsize the entire device.

【0009】[発明の構成][Configuration of the invention]

【0010】0010

【課題を解決するための手段】本発明の塗膜劣化診断装
置は、塗膜の表面に宛われるプローブと、所定波形の電
圧を前記塗膜の下地金属と前記プローブとの間に印加す
る電圧印加手段と、前記塗膜の劣化度を判断するために
前記塗膜を通じて前記プローブに流れる電流を測定する
電流測定手段とを具備する構成に特徴を有する。
[Means for Solving the Problems] The paint film deterioration diagnosing device of the present invention includes a probe that is applied to the surface of a paint film, and a voltage that applies a voltage of a predetermined waveform between the base metal of the paint film and the probe. The present invention is characterized in that it includes an applying means and a current measuring means for measuring the current flowing through the coating film to the probe in order to determine the degree of deterioration of the coating film.

【0011】[0011]

【作用】下地金属とプローブとの間に電圧印加手段によ
り電圧を印加すると、プローブには塗膜を通じて電流が
流れ、それが電流測定手段により測定される。塗膜のイ
ンピーダンスは、塗膜の劣化度合と相関関係があること
が知られているから、インピーダンスの測定周波数等と
上記相関関係とを考慮した所定の解析手順により、塗膜
の劣化度合を診断することができる。
[Operation] When a voltage is applied between the base metal and the probe by the voltage applying means, a current flows through the coating through the probe and is measured by the current measuring means. It is known that the impedance of the paint film has a correlation with the degree of deterioration of the paint film, so the degree of deterioration of the paint film can be diagnosed using a predetermined analysis procedure that takes into consideration the impedance measurement frequency and the above correlation. can do.

【0012】ここで、インピーダンスの計算には、塗膜
に印加される電圧と塗膜に流れる電流とが必要となるが
、電圧印加手段は、所定波形の電圧を印加するものであ
るから、塗膜インピーダンス測定時の印加電圧を毎回同
一波形のものとすることにより、印加電圧をその都度測
定することを不要とすることができる。
[0012] Here, calculation of impedance requires the voltage applied to the coating film and the current flowing through the coating film, but since the voltage application means applies a voltage with a predetermined waveform, By making the applied voltage at the time of membrane impedance measurement have the same waveform each time, it is possible to eliminate the need to measure the applied voltage each time.

【0013】従って、電流測定手段により電流のみを測
定すれば塗膜インピーダンスを検出することができるよ
うになり、この結果、電圧を測定する装置を不要とする
ことができ、ひいては装置全体の小形化を図ることがで
きる。
[0013] Therefore, it is now possible to detect the coating film impedance by measuring only the current using the current measuring means, and as a result, it is possible to eliminate the need for a device for measuring voltage, and the overall size of the device can be reduced. can be achieved.

【0014】[0014]

【実施例】以下本発明の一実施例について、図1乃至図
8を参照して説明する。11はいわゆるラップトップ形
あるいはブック形と称されるパーソナルコンピュータで
あり、本体ケース(図示せず)内に、CPU12、メモ
リ13、FDD(フロッピーディスクドライブ)14あ
るいはHDD(ハードディスクドライブ)15などを内
蔵すると共に、液晶形のディスプレイ16及びキーボー
ド17を備える一般的な構成である。そして、このパー
ソナルコンピュータ11の拡張スロット内には、D/A
変換機能及びA/D変換機能を備えるI/Fボード18
が挿入されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 8. Reference numeral 11 designates a so-called laptop-type or book-type personal computer, which includes a CPU 12, a memory 13, an FDD (floppy disk drive) 14, an HDD (hard disk drive) 15, etc. in a main body case (not shown). In addition, it has a general configuration including a liquid crystal display 16 and a keyboard 17. In the expansion slot of this personal computer 11, a D/A
I/F board 18 with conversion function and A/D conversion function
is inserted.

【0015】一方、劣化診断を行おうとする塗膜19の
表面にはプローブ20が宛がわれる。このプローブ20
は、各種の構造のものが知られているので(例えば特開
昭61−108954号)詳しく図示はしないが、基本
的には本体容器内に導電性ゲルを浸み込ませたスポンジ
状電極を収納すると共に、その本体容器の開口部周辺に
永久磁石を備えた構成で、永久磁石と下地金属21との
間に作用する吸引力によってスポンジ状電極を塗膜19
の表面に密着させるようになっている。
On the other hand, a probe 20 is applied to the surface of the coating film 19 on which deterioration diagnosis is to be performed. This probe 20
Although various structures are known (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 108954/1983), detailed illustrations are not provided, but basically a sponge-like electrode in which a conductive gel is soaked into the main body container is used. In addition to being stored, the main container is equipped with a permanent magnet around the opening, and the sponge-like electrode is applied to the coating film 19 by the attractive force that acts between the permanent magnet and the base metal 21.
It is designed to adhere to the surface of the

【0016】プローブ20から導出されたリード線と、
下地金属に接続したリード線とはプリアンプ22に接続
されている。このプリアンプ22は、電流−電圧変換抵
抗23(抵抗値R)及びその両端に発生した電圧を増幅
するプログラマブルゲインアンプ24等から構成され、
塗膜19を通じて流れる電流値iに応じた電圧信号を前
記パーソナルコンピュータ11のI/Fボード18に与
えるようになっている。これにて、プリアンプ22が塗
膜19を通じてプローブ20に流れる電流を測定するた
めの電流測定手段として機能する。
A lead wire led out from the probe 20;
The lead wire connected to the base metal is connected to the preamplifier 22. This preamplifier 22 is composed of a current-voltage conversion resistor 23 (resistance value R) and a programmable gain amplifier 24 that amplifies the voltage generated across the resistor.
A voltage signal corresponding to the current value i flowing through the coating film 19 is applied to the I/F board 18 of the personal computer 11. In this way, the preamplifier 22 functions as a current measuring means for measuring the current flowing to the probe 20 through the coating film 19.

【0017】尚、プリアンプ22は、塗膜19の劣化の
度合いに応じて測定レンジを切替え得るようになってお
り、本実施例では、電流−電圧変換抵抗23の抵抗値R
が100Ω〜1MΩ、アンプの増幅度Gが10〜100
0倍で、測定電流が1pA〜1mAの範囲(塗膜抵抗と
して10KΩ〜10GΩ以上)が測定可能である。
The preamplifier 22 is capable of changing the measurement range depending on the degree of deterioration of the coating film 19, and in this embodiment, the resistance value R of the current-voltage conversion resistor 23 is
is 100Ω to 1MΩ, and the amplifier amplification G is 10 to 100
At 0x, it is possible to measure a measurement current in the range of 1 pA to 1 mA (10 KΩ to 10 GΩ or more as coating film resistance).

【0018】さて、I/Fボード18は、プローブ20
と下地金属21との間に所定波形の電圧を印加する電圧
印加手段として機能し、予めフロッピーディスク内に記
憶されていたデジタル情報に基づき、I/Fボード18
のD/A変換機能によって生成・合成された所定波形の
電圧を出力するようになっている。本実施例では、印加
される所定の電圧波形は、0.1Hz〜50Hz(0.
1Hz間隔で500点)の周波数を含み、パワースペク
トルPが、
Now, the I/F board 18 has a probe 20
The I/F board 18 functions as a voltage applying means for applying a voltage of a predetermined waveform between the I/F board 18 and the base metal 21 based on digital information stored in advance in the floppy disk
It outputs a voltage with a predetermined waveform generated and synthesized by the D/A conversion function. In this embodiment, the predetermined voltage waveform to be applied is 0.1Hz to 50Hz (0.1Hz to 50Hz).
500 points at 1Hz intervals), and the power spectrum P is

【0019】[0019]

【数1】[Math 1]

【0020】からFrom [0020]

【0021】[0021]

【数2】[Math 2]

【0022】の間に存在するようにしている。パワース
ペクトルPがP=1/fとなるように合成した電圧波形
の一例を図3に示す。また、ここではこの電圧波形を構
成する各周波数成分の位相はランダム化してあってピー
ク電圧を極力抑えるようにしてある。
It is made to exist between [0022]. FIG. 3 shows an example of voltage waveforms synthesized so that the power spectrum P becomes P=1/f. Further, here, the phase of each frequency component constituting this voltage waveform is randomized to suppress the peak voltage as much as possible.

【0023】また、I/Fボード18のD/A変換とA
/D変換とのタイミングは、毎回同一となるように構成
されており、これにて、印加される電圧の位相角とプリ
アンプ22の電流測定位相角とは同一に保たれるように
なっている。さらに、後述するように、パーソナルコン
ピュータ11のメモリ13には、予め求められたI/F
ボード18からの出力電圧波形のスペクトルデータが記
憶されるようになっている。
[0023] Furthermore, the D/A conversion and A
The timing with /D conversion is configured to be the same every time, so that the phase angle of the applied voltage and the current measurement phase angle of the preamplifier 22 are kept the same. . Furthermore, as will be described later, the memory 13 of the personal computer 11 has a predetermined I/F
Spectral data of the output voltage waveform from the board 18 is stored.

【0024】次に、上記構成の塗膜劣化診断装置にて塗
膜19の診断を行う手順について説明する。これにてパ
ーソナルコンピュータ11が果たす機能が明らかにされ
る筈である。
Next, a procedure for diagnosing the coating film 19 using the coating film deterioration diagnosing apparatus having the above configuration will be explained. This should clarify the functions performed by the personal computer 11.

【0025】まず、実際の塗膜19の診断を行う以前の
準備段階として、I/Fボード18からの出力電圧値E
を求めることが行われる。これは、図2に示すように、
測定器の測定端子に塗膜19の代りに校正用抵抗25(
抵抗値Ra)を接続し、塗膜インピーダンス測定時と同
様に、所定電圧を印加して流れる電流値iをプリアンプ
22によって測定することにより行われる。このとき、
電流値iの値は、プリアンプ22からI/Fボード18
のA/D変換機能を通してCPU12に入力される。C
PU12は、機械語によるFFT(高速フーリエ変換)
プログラム等を利用して、次の(1)式から電圧値Eを
算出し、その結果(スペクトルデータ)をメモリ13に
記憶する。
First, as a preparatory step before actually diagnosing the coating film 19, the output voltage value E from the I/F board 18 is
It is done to find out. This is shown in Figure 2.
A calibration resistor 25 (instead of the coating 19) is attached to the measurement terminal of the measuring device.
This is done by connecting the resistance value Ra), applying a predetermined voltage, and measuring the flowing current value i using the preamplifier 22, as in the case of coating film impedance measurement. At this time,
The value of the current i is determined from the preamplifier 22 to the I/F board 18.
The signal is input to the CPU 12 through the A/D conversion function. C
PU12 is FFT (fast Fourier transform) using machine language.
A voltage value E is calculated from the following equation (1) using a program or the like, and the result (spectral data) is stored in the memory 13.

【0026】E=i(Ra+R)          
  …(1)ここで、図1に示すように、塗膜19のイ
ンピーダンスZを測定するためには、塗膜19に印加さ
れた電圧値eと、流れた電流値iとが必要になるが、電
圧値eは、電流−電圧変換抵抗23に生じた電圧値をΔ
e(Δe=iR)とすると、 e=E−Δe                  …
(2)となる。ところが、電圧値Eは所定波形とされて
いるので、上述のように、校正用抵抗25を用いて電圧
値Eを求めておくことにより、電圧値eを塗膜インピー
ダンス測定の都度測定する必要がなくなるのである。尚
、電流−電圧変換抵抗23を抵抗値Rが塗膜インピーダ
ンスZに比べて十分に小さなものを使用すれば、上記(
2)式は、 e=E                      
  …(3)と近似され、測定周波数範囲の狭いFFT
を使用したインピーダンス測定では実用上(3)式で十
分な精度が得られる。また、この場合、上記(1)式も
、E=iRa                   
 …(4)のように書替え可能となる。
E=i(Ra+R)
...(1) Here, as shown in FIG. 1, in order to measure the impedance Z of the coating film 19, the voltage value e applied to the coating film 19 and the flowing current value i are required. , the voltage value e is the voltage value generated in the current-voltage conversion resistor 23 by Δ
If e(Δe=iR), then e=E−Δe...
(2) becomes. However, since the voltage value E has a predetermined waveform, as described above, by determining the voltage value E using the calibration resistor 25, it is no longer necessary to measure the voltage value e each time the coating film impedance is measured. It will disappear. In addition, if the current-voltage conversion resistor 23 is used whose resistance value R is sufficiently smaller than the coating film impedance Z, the above (
2) The formula is e=E
...Approximated as (3), FFT with narrow measurement frequency range
In practical impedance measurement using equation (3), sufficient accuracy can be obtained. In addition, in this case, the above equation (1) also has E=iRa
...It can be rewritten as shown in (4).

【0027】次に、塗膜劣化診断の手順について述べる
。劣化診断を行う現場にパーソナルコンピュータ11、
プリアンプ22及びプローブ20を持ち込み、プローブ
20を塗膜19の表面に宛ってプリアンプ22と共に図
1に示すように接続する。そして、FDD14あるいは
HDD15内にある測定プログラムを実行させる。
Next, the procedure for diagnosing paint film deterioration will be described. A personal computer 11 is installed at the site where deterioration diagnosis is performed.
The preamplifier 22 and probe 20 are brought in, and the probe 20 is connected to the surface of the coating film 19 together with the preamplifier 22 as shown in FIG. Then, the measurement program stored in the FDD 14 or HDD 15 is executed.

【0028】このプログラムの実行の結果、プローブ2
0と下地金属21との間に電圧が印加され、その時に塗
膜19に流れる電流がプリアンプ22によって検出され
、その電流に応じた電圧信号がパーソナルコンピュータ
11のI/Fボード18に与えられるため、その電圧信
号がI/Fボード18のA/D変換機能によってデジタ
ル信号に変換される。そして、CPU12は、測定電流
値iと(1)式で予め求められ記憶されている電圧値E
から、次の(5)式により塗膜インピーダンスZを算出
し、その結果をFDD14やHDD15などの外部記憶
装置に書き込む。
As a result of executing this program, probe 2
0 and the base metal 21, the current flowing through the coating film 19 at that time is detected by the preamplifier 22, and a voltage signal corresponding to the current is given to the I/F board 18 of the personal computer 11. , the voltage signal is converted into a digital signal by the A/D conversion function of the I/F board 18. Then, the CPU 12 selects the measured current value i and the voltage value E which has been determined and stored in advance using equation (1).
Then, the coating film impedance Z is calculated using the following equation (5), and the result is written to an external storage device such as the FDD 14 or the HDD 15.

【0029】Z=E/i−R            
    …(5)この場合、塗膜インピーダンスZは、
図4に示すような抵抗RとコンデンサCとの並列回路か
らなる等価回路にて表すことができ、塗膜19が劣化す
ることにより、その抵抗R値が小さくなってインピーダ
ンスが変化することを利用して、塗膜19の劣化度合を
診断することができるのである。
Z=E/i-R
...(5) In this case, the coating film impedance Z is
It can be expressed as an equivalent circuit consisting of a parallel circuit of a resistor R and a capacitor C as shown in FIG. Thus, the degree of deterioration of the coating film 19 can be diagnosed.

【0030】この様な塗膜インピーダンスZの測定は塗
膜9の複数箇所について行われ、また、この測定に併せ
てパーソナルコンピュータ11のキーボード17から、
測定時の塗膜19(機器)の種類、塗膜19の膜厚、プ
ローブ20の面積等の測定データを入力しておき、これ
も同時にFDD14やHDD15等の外部記憶装置に記
録させておく。
Such measurement of the coating film impedance Z is carried out at a plurality of locations on the coating film 9, and in addition to this measurement, from the keyboard 17 of the personal computer 11,
Measurement data such as the type of coating film 19 (equipment), the thickness of the coating film 19, and the area of the probe 20 at the time of measurement are input, and are also recorded in an external storage device such as the FDD 14 or HDD 15 at the same time.

【0031】上述したようなプローブ20を用いた測定
が終了したら、次に診断プログラムをフロッピーディス
クから読み出して実行させる。この診断プログラムの実
行手順は図5のフローチャートに示した通りである。
After the measurement using the probe 20 as described above is completed, the diagnostic program is then read from the floppy disk and executed. The execution procedure of this diagnostic program is as shown in the flowchart of FIG.

【0032】ステップS1:測定データの読み込みまず
フロッピーディスク内に記録された測定データが読み出
され、測定時の塗膜19の膜厚、プローブ20の面積等
が確認のためにディスプレイ16に表示される。このの
ち、確認操作を行うと、ディスプレイ16は初期条件入
力画面となる。
Step S1: Reading measurement data First, the measurement data recorded in the floppy disk is read out, and the thickness of the coating film 19, the area of the probe 20, etc. at the time of measurement are displayed on the display 16 for confirmation. Ru. After this, when a confirmation operation is performed, the display 16 becomes an initial condition input screen.

【0033】ステップS2:初期条件入力ここでは、塗
膜の劣化状態を診断するための塗料種、使用年数、外観
状態、設置環境等についてそれら表すコードをキーボー
ド17から入力する。
Step S2: Input of initial conditions Here, codes representing the type of paint, age of use, external appearance, installation environment, etc. for diagnosing the deterioration state of the paint film are input from the keyboard 17.

【0034】ステップS3:スムージングインピーダン
ス測定データのスムージングを行う。これは、現場で測
定されたインピーダンスデータは必ずしも各周波数に対
してインピーダンスが一様に変化していないことがある
ため、データのスムージングにより測定精度を向上させ
るためである。
Step S3: Smoothing The impedance measurement data is smoothed. This is because impedance data measured on site may not necessarily change uniformly with respect to each frequency, so measurement accuracy is improved by smoothing the data.

【0035】ステップS4:データ解析まず、スムージ
ングしたインピーダンスデータをもとに0.1Hzの塗
膜インピーダンスZ1 を求め、確認のために各周波数
fに対する塗膜インピーダンスZ1 及びCx(容量成
分)のグラフを作成・表示する。
Step S4: Data Analysis First, the coating film impedance Z1 at 0.1 Hz is determined based on the smoothed impedance data, and for confirmation, a graph of the coating film impedance Z1 and Cx (capacitance component) for each frequency f is drawn. Create/display.

【0036】ステップS5:解析繰返しとミスデータの
判別 塗膜インピーダンスZ1 の測定は1台の機器について
複数箇所で行われるから、その測定箇所数だけ上述のデ
ータ解析を繰り返すと共に、各測定点での0.1Hzの
塗膜インピーダンスZ1 の平均値及び分散を計算し、
異常データを測定ミス等に起因するミスデータとして除
外する。
Step S5: Repetition of analysis and discrimination of incorrect data Since the coating film impedance Z1 is measured at multiple locations for one device, the above data analysis is repeated as many times as the number of measurement locations, and the data analysis at each measurement point is repeated. Calculate the average value and variance of the coating film impedance Z1 at 0.1 Hz,
Exclude abnormal data as erroneous data due to measurement errors, etc.

【0037】ステップS6:寿命推定線図の作成ところ
で、塗膜インピーダンスZの対数 logZは時間tに
対し直線的関係を有する。また、ステップS2にて入力
された塗料種に対応する初期インピーダンスZ0 は既
知データとして記憶されており、また、ステップS2に
て使用年数が入力されている。従って、これらの情報か
ら、図6に示すように初期インピーダンスZ0 の対数
 logZ0 と、測定された塗膜インピーダンスZ1
 の対数 logZ1 とを直線Lで結ぶことにより、
寿命推定線図を描くことができる。ここで余寿命trは
、測定時点t1から直線Lの延長線が寿命ラインRと交
差する点までの時間をいう。また、寿命ラインRは、予
め塗膜の暴露試験或いは促進試験を行っておき、塗膜の
劣化の程度や下地金属の発錆の程度とその時の塗膜イン
ピーダンスZとに基づき予め決定しておくことができる
。なお、寿命推定線図は、図7に示すように推定精度を
考慮して時間軸をtの二乗にて表してもよい。
Step S6: Creating a life estimation diagram The logarithm logZ of the coating film impedance Z has a linear relationship with time t. Further, the initial impedance Z0 corresponding to the paint type input in step S2 is stored as known data, and the number of years of use is input in step S2. Therefore, from this information, the logarithm logZ0 of the initial impedance Z0 and the measured coating film impedance Z1 are calculated as shown in FIG.
By connecting the logarithm of logZ1 with a straight line L,
You can draw a lifespan estimation diagram. Here, the remaining life tr refers to the time from the measurement time t1 to the point where the extension of the straight line L intersects the life line R. In addition, the life line R is determined in advance based on the degree of deterioration of the paint film, the degree of rusting of the base metal, and the paint film impedance Z at that time by conducting an exposure test or accelerated test of the paint film in advance. be able to. Note that in the life estimation diagram, the time axis may be represented by the square of t, as shown in FIG. 7, in consideration of estimation accuracy.

【0038】ステップS7:劣化度及び塗替え時期の予
測 検出された塗膜インピーダンスZ1 の値がどの範囲に
あるかに基づき劣化度のランク付けがなされる。ここで
は、A,B,Cの3段階に分けられ、ディスプレイ16
に例えば図8に示すような表示がされる。
Step S7: Prediction of degree of deterioration and repainting time The degree of deterioration is ranked based on the range of the detected value of the coating film impedance Z1. Here, it is divided into three stages A, B, and C, and the display 16
For example, a display as shown in FIG. 8 is displayed.

【0039】ステップS8:劣化要因の推定この後、劣
化要因推定プログラムの起動操作がされた場合には、エ
キスパート推論を対話形式で実行し、塗膜インピーダン
スZ1 の測定結果に基づき劣化要因が推定され、結果
がディスプレイ16に表示される。また、その結果や解
析途中のグラフはプリンタ26にも出力できるようにな
っている。
Step S8: Estimation of Deterioration Factors After this, when the deterioration factor estimation program is activated, expert reasoning is executed in an interactive manner, and the deterioration factors are estimated based on the measurement results of the coating film impedance Z1. , the results are displayed on the display 16. Further, the results and graphs during analysis can also be output to a printer 26.

【0040】このように本実施例では、上述の診断プロ
グラムに従って動作するCPU12が塗膜インピーダン
スZのデータに基づき解析作業を行って塗膜の劣化度を
判断し、またディスプレイ16にその判断結果が表示さ
れるようになっている。これにより、誰が操作を行って
も塗膜の劣化度について常に適切な判断が可能であり、
しかもその作業を簡単・正確に行うことができるように
なるものである。
As described above, in this embodiment, the CPU 12 operating according to the above-mentioned diagnostic program performs analysis work based on the data of the coating film impedance Z to judge the degree of deterioration of the coating film, and the display 16 displays the judgment result. It is now displayed. As a result, it is possible to always make appropriate judgments about the degree of deterioration of the paint film, regardless of who is performing the operation.
Moreover, the work can be done easily and accurately.

【0041】そして、I/Fボード18を所定波形の電
圧を出力するように構成したので、塗膜インピーダンス
測定時の印加電圧を毎回同一波形のものとすることによ
り、印加電圧をその都度測定することを不要とすること
ができた。従って、従来のような電流測定器5及び電圧
測定器6の両者を備えていたものと異なり、電流値iの
みを測定すれば塗膜インピーダンスZを検出することが
できるようになり、この結果、電圧を測定するための装
置を不要とすることができ、ひいては装置全体の小形化
を図ることができるものである。
Since the I/F board 18 is configured to output a voltage with a predetermined waveform, the applied voltage can be measured each time by making the applied voltage the same waveform each time when measuring the coating film impedance. I was able to make that unnecessary. Therefore, unlike the conventional device which is equipped with both a current measuring device 5 and a voltage measuring device 6, it is now possible to detect the coating film impedance Z by measuring only the current value i, and as a result, A device for measuring voltage can be made unnecessary, and the entire device can be made more compact.

【0042】尚、上記実施例では、一のパーソナルコン
ピュータ11により、塗膜インピーダンスZの測定だけ
でなくデータ解析をも行うようにしたが、測定だけを行
ってそのデータをフロッピーディスクに記憶するように
しておき、データ解析はそのフロッピーディスクを用い
て別の機器にて行うように構成しても良いなど、本発明
は要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更が可能である。
In the above embodiment, one personal computer 11 not only measures the coating film impedance Z but also analyzes the data. However, the present invention can be modified in various ways without departing from the scope of the invention, for example, data analysis may be performed in a separate device using the floppy disk.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上の説明にて明らかなように、本発明
の塗膜劣化診断装置は、塗膜の表面に宛われるプローブ
と、所定波形の電圧を前記塗膜の下地金属と前記プロー
ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜の劣化度
を判断するために前記塗膜を通じて前記プローブに流れ
る電流を測定する電流測定手段とを具備するものである
から、塗膜インピーダンスの測定の都度電圧を測定する
ための装置を不要とすることができ、装置全体の小形化
を効果的に図ることができるという優れた効果を奏する
ものである。
Effects of the Invention As is clear from the above explanation, the paint film deterioration diagnosing device of the present invention uses a probe applied to the surface of a paint film, and a voltage of a predetermined waveform to be applied to the base metal of the paint film and the probe. and a current measuring means that measures the current flowing through the coating film to the probe in order to judge the degree of deterioration of the coating film. This eliminates the need for a device to measure the voltage each time the device is used, and has the excellent effect of effectively downsizing the entire device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の一実施例を示す全体のブロック図FIG. 1: Overall block diagram showing one embodiment of the present invention

【図
2】印加電圧測定時の状態を示す全体のブロック図
[Figure 2] Overall block diagram showing the state when measuring applied voltage

【図
3】塗膜に印加される電圧波形の一例を示す波形図
[Figure 3] Waveform diagram showing an example of the voltage waveform applied to the coating film

【図
4】塗膜インピーダンスの等価回路
[Figure 4] Equivalent circuit of coating film impedance

【図5】診断プログ
ラムのフローチャート
[Figure 5] Flowchart of diagnostic program

【図6】塗膜の寿命推定線図[Figure 6] Paint film life estimation diagram

【図7】塗膜の寿命推定線図の異なる表示例[Figure 7] Different display examples of paint film life estimation diagrams

【図8】診
断結果の表示例を示す図
[Figure 8] Diagram showing an example of displaying diagnostic results

【図9】従来例を示す装置のブロック図[Fig. 9] Block diagram of a device showing a conventional example

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11はパーソナルコンピュータ、12はCPU、16は
ディスプレイ、18はI/Fボード(電圧印加手段)、
19は塗膜、20はプローブ、21は下地金属、22は
プリアンプ(電流測定手段)を示す。
11 is a personal computer, 12 is a CPU, 16 is a display, 18 is an I/F board (voltage application means),
19 is a coating film, 20 is a probe, 21 is a base metal, and 22 is a preamplifier (current measuring means).

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  塗膜の表面に宛われるプローブと、所
定波形の電圧を前記塗膜の下地金属と前記プローブとの
間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜の劣化度を判断
するために前記塗膜を通じて前記プローブに流れる電流
を測定する電流測定手段とを具備してなる塗膜劣化診断
装置。
1. A probe that is applied to the surface of a paint film, voltage application means that applies a voltage of a predetermined waveform between the base metal of the paint film and the probe, and a method for determining the degree of deterioration of the paint film. and current measuring means for measuring the current flowing to the probe through the coating film.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100508877B1 (en) * 2002-02-07 2005-08-18 금호석유화학 주식회사 method for detecting the coating defect and corrosion points of the pipelines in soil using the electrochemical impedance spectroscopy

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KR100508877B1 (en) * 2002-02-07 2005-08-18 금호석유화학 주식회사 method for detecting the coating defect and corrosion points of the pipelines in soil using the electrochemical impedance spectroscopy

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