JPH0421477A - 位置検出装置 - Google Patents

位置検出装置

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JPH0421477A
JPH0421477A JP12552890A JP12552890A JPH0421477A JP H0421477 A JPH0421477 A JP H0421477A JP 12552890 A JP12552890 A JP 12552890A JP 12552890 A JP12552890 A JP 12552890A JP H0421477 A JPH0421477 A JP H0421477A
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JP
Japan
Prior art keywords
light
pattern
protective layer
ladder pattern
photosensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP12552890A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiko Fujimura
義彦 藤村
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Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、直線移動における移動位置を検出する位置検
出装置に係り、詳しくは、ゴミ等の付着物や汚れ等によ
り誤検出を生じることの無い高信頼な位置検出装置に関
する。
[従来の技術] 例えば、記録ヘッドを機械的に走査することにより画像
形成を行なう所謂シリアル型プリンタにおいては、印字
ドツトの形成位置を正確に制御する上で、記録ヘットの
走査位置に応じて印字タイミング信号を印加することか
要求される。それ故、これらプリンタには、記録ヘッド
の走査位置を検出すべく走査方向に沿って位置検出装置
(リニアエンコーダ)が配設されている。
従来、この種の用途に使用されるリニアエンコーダとし
ては、第8図に示す光学式リニアエンコーダか一般的で
ある。具体的には、ラダーパターンaが印刷された透明
フィルムbと、このフィルムbを介して対峙する発光素
子と受光素子とを有してフィルムbの張設方向に移動す
るフォトセンサCとから構成されており、受光素子に入
射する光量の変化、即ちフィルムbのラダーパターンa
に遮られる光量に応じて第9図に実線で示すような波形
の出力が上記フォトセンサCから得られるものである。
[発明か解決しようとする課題] しかし、上述した従来の光学式リニアエンコーダには、
以下に示すような欠点が存在する。
先ず、第一の問題点は、走査時におけるフォトセンサC
とフィルムbとの位置ずれに起因している。フィルムb
が常にフォトセンサCの発光素子と受光素子との間の中
央を通過しないと、第9図に破線で示すように、フォト
センサ出力か小さくなり且つ波形に乱れか生じる。この
ような出力の乱れは、ある一定のスレッショルドレベル
で比較した場合に、ゼロクロス点の時間すれとなって現
れるので、ラダーパターンaに対応した位置検出信号を
出力することができないという問題点が生じてしまう。
この問題点は、シリアル型プリンタにおいて、印字ドツ
トの形成位置のバラつきとなって現れ、画像品質を劣化
させる要因の−っである。
また、第二の問題点はフィルムbに付着する埃や汚れ等
に起因している。第10図に示すように、フィルムbの
表面に埃や汚れ等dか付着すると、当該付着部分におい
ても発光素子からの光が遮られることとなり、ラダーパ
ターンaとは無関係に出力波形が変動し、スレッショル
ドレベルに達しない波形も生じてしまう。従って、当該
部分においては位置検出信号の出力か得られない、とい
う問題点か生じてしまう。それ故、シリアル型プリンタ
においては、記録ヘッドの移動位置に応じて出力される
べき印字タイミング信号が全く不規則に出力されること
となり、画像品質が劣化してしまう。
特にこの第二の問題点は、インク滴を吐出することによ
って画像形成を行なうインクジェットプリンタに顕著で
ある。インクジェットプリンタでは、その記録動作故に
、記録ヘッドの周辺雰囲気にインク飛沫が浮遊し、フィ
ルム表面にインクが付着し易いからである。
本発明はこのような問題点に鑑みなされたものであり、
その目的とするところは、ラダーパターンに正確に対応
した位置検出を行なうことができるのは勿論のこと、埃
や微粉末等、汚れが比較的付着し易い環境にあっても精
度良く位置検出を行なうことか可能な位置検出装置を提
供することにある。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するために、本発明の位置検出装置は、
光の反射率の異なる領域が交互に配列されたラダーパタ
ーンを有すると共に、当該パターン上に保護層が形成さ
れた反射板と、この反射板に沿って移動し、上記保護層
を透過してラダーパターン上に集光するよう反射板に対
して光を照射する光収束手段と、上記反射板により生じ
る反射光を光電変換するフォトセンサを有し、位置検出
信号を出力する検出手段とからなることを特徴とするも
のである。
このような技術的手段において、上記反射板としでは、
ラダーパターンの表面か光透過性を有する所定厚さの保
護層により被覆されているものでおれば、その構成を適
宜設計変更して差し支えなく、例えば、ラダーパターン
を有する基板上に保護層を設けても良いし、ガラス基板
からなる保護層の一面にラダーパターンを印刷するよう
にしても良い。
また、上記光収束手段としては、光を収束して上記反射
板に照射し、この収束光かラダーパターン上に集光する
一方、保護層上では収束光が比較的大きな径のスポット
光となるものであれば、その収束の度合い等適宜設計変
更して差し支えない。
この際、ラダーパターン上における収束光の径(以下、
ビーム径)は、読み取るラダーパターンのピッチによっ
て適宜選定して差し支えないが、保護層上での収束光の
径(以下、スポット径)は、保護層上に付着する汚れ等
を誤って読み取らないよう(するため、上記ビーム径に
対して数十倍程度の値を持っていることが必要であり、
例えば、ビーム径を10μmとしたときスポット径は5
00μ771〜21M1程度である。尚、このビーム径
とスポット径との差は、収束光の収束率あるいは反射板
の保護層の厚さを適宜選定することによって任意に設定
される。
更に、上記検出手段としては、)tトセンサによってラ
ダーパターンの反射光を受光し、これら基づいてパルス
状の位置検出信号を出力するものであれば、その構成を
適宜設計変更して差し支えない。但し、フォトセンサは
、反射板における収束光の正反射成分の入光しない位置
に配設されることが必要である。また、フォトセンサに
よって得られる波状信号を二値化してパルス信号とする
出力部としては、ある値に固定されたスレッショルドレ
ベルを基準とするものであっても良いが、フォトセンサ
出力の強弱に追従して正確なパルス信号を出力するとい
う観点からすれば、フォトセンサ出力の時間平均に基づ
いて変動するスレッショルドレベルを用いて二値化を行
なうのが好ましい。
[作 用] 上記技術的手段は次のように作用する。
位置検出手段は、反射板に照射された収束光かラダーパ
ターンにおいて生じる拡散反射光を受光して位置検出信
号を出力する。この際、収束光はラダーパターンに集光
するよう収束しており、当該パターンを被覆する保護層
上では比較的広い範囲に照射されることとなる。それ故
、保護層ではラダーパターンに比して拡散反射光の発生
が少なく、保護層上に付着したゴミ、汚れ等が74トセ
ンサに入射する光量に与える影響が小さくなる。
[実施例] 以下、添付図面に基づいて本発明の位置検出装置を詳細
に説明する。
◎第一実施例 第1図は本発明の第一実施例の概略を示すものであり、
ラダーパターン11を有する反射板1と、上記反射板1
に対して収束光を照射する光収束手段2と、反射板1に
よる反射光を受光して位置検出信号を出力する検出手段
3とから構成されている。
先ず、上記反射板1は、第2図に示すように、カラスか
らなる保護層12の一面に62.5μmピッチ毎に幅3
1.25μmの黒色ラダーパターン11を設けた物であ
る。その具体的製作方法としては、厚ざ3#1の板カラ
ス(例えば、フォトマスク用あるいはコーニング705
9等)に感光性樹脂をコーティングし、フォトマスク作
成プロセスを用いて上記パターンに対応したラダーパタ
ーン11を形成した後、ラダーパターン11上に白色塗
料をコーティングして被覆層13を形成し、これを5f
fi幅にカットして製作されている。
一方、上記光収束手段2は、波長780nmの赤色LD
からなる光源(例えば、松下電子工業製MEL4743
 ) 21と、この光源21から発した光を上記反射板
1のラダーパターン11に集光するレンズ22とから構
成されており、保護層12を透過してラダーパターン1
1に収束光を照itするよう反射板1の一側に配設され
ている。
また、上記検出手段3は、中心感度が800nmのPI
Nフtトダイオードからなり、上記反射板1による拡散
反射光を受光して波状信号を出力するフォトセンサ(例
えば、松下電子工業製PN300 )31と、上記波状
信号を一定のスレッショルドレベルで二値化してパルス
状の位置検出信号を出力する出力部32とから構成され
ている。
尚、本実施例では、収束光がラダーパターン11を走査
するビーム径を10μm、保護層12上に形成するスポ
ット径を約500μ而とした。そして、上記ビーム径の
変動を防止するために、光源21、レンズ22及びフォ
トセンサ31を保持するセンサホルダ4を反射板1の保
護層12と機械的に接触させ、光源21と反射板1との
間隙の変動防止を図っている。
このような構成において、ラダーパターン11の読み取
り動作は以下のようにして行われる。即ち、光源21か
ら発せられた光はレンズ22て集光されて収束光となり
ラダーパターン11上に照射され、センサホルダ4の移
動に伴なって当該パターン11を走査する。そして、上
記照射に伴ないラダーパターン11て生じる拡散反射光
量は、白色ラダ一部で大きく黒色ラダ一部では小さいの
で、この拡散反射光をフyt t−センサ31て受光す
ることにより、ラダーパターン11の読み取りが行われ
る。
このとき、本実施例の位置検出装置では、ラダーパター
ン11を保護層12て被覆すると共に、光源21から発
せられた光を当該パターン11上に集光しているので、
保護@12表面で生じる拡散反射光量はラダーパターン
11で生じるそれよりも著しく小さく、フォトセンサ3
1の出力に与える影響は少ないものとなる。
従って、第3図に示すように、保護層12に付着した埃
、汚れ等によって生じるセンサ31出力の減衰は小さい
ものとなり、ラダーパターン11の読み取りか確実に行
われるものである。
又、収束光によってラダーパターン11を照明している
ので(本実施例ではパターン上で収束光の径が10μm
)、高密度のラダーパターンく本実施例では62.5μ
瓦ピツチ)11を読取ることができその分解能が高いも
のとなっている。
◎第二実施例 上記第一実施例では、ある一定のスレッショルドレベル
に基づいてセンサ31が出力する波状信号の二値化を行
なっているが、この場合、保護層12が極度に汚れてセ
ンサ出力が大きく減衰すると、スレッショルドレベルに
達しない波形部が生じ、ラダーパターン11に対応して
パルス状の位置検出信号を出力することができなくなっ
てしまう。
そこで、本実施例では、上記波状信号を時間平均し、そ
の値をスレッショルドレベルとして用いてセンサ出力の
二値化を行なっている。
具体的には、第4図に示すように、フォトセンサ出力を
積分回路32aに入力して時間平均し、この時間平均出
力を差分回路32bによってセンサ出力から減じた後、
ゼロクロス検出32cを行なってパルス状の位置検出信
号を出力するものである。
尚、このとき上記積分回路32aの時定数は、保護層1
2表面に収束光が形成するスポット光の半径と同一の距
離を、光収束手段2が走査する時間に設定している。又
、フォトセンサ出力の高周波振動によるゼロクロス点の
誤検出を防止するため、上記ゼロクロス検出32cにお
いては、フォトセンサ出力がスレッショルドレベルから
所定値以上前れた後に次のゼロクロス点の検出が行われ
るようヒステリシスが付与されている。
従って、この第二実施例によれば、第5図に示すように
、保護層12の汚れ等に起因してフォトセンサ31の波
状信号が減衰すると、この波状信号の時間平均として与
えられるスレッショルドレベルも減衰することとなり、
波状信号を確実に二値化することかできるものである。
尚、上記した各実施例において、センサホルダ4に対す
るフォトセンサ31の取り付は位置は、反射板1て生じ
た収束光の正反射成分が入射しない位置であればその配
設態様は制限されないが、好ましくは、第6図及び第7
図に示すように、位置検出手段3のフォトセンサ31を
光収束手段2の光源21と同心円状に配置するのか良い
このような配置を採ることにより、反射板1て生じた拡
散反射光は、収束光を形成するレンズ22によって効率
良くフォトセンサ31に入射することとなり、フォトセ
ンサ31の波状出力を安定したものとすることができる
[発明の効果] 以上説明してきたように、本発明の位置検出装置によれ
ば、ラダーパターンを保護層で被覆し反射板を形成する
と共に、この反射板の照明をラダーパターンに集光する
収束光によって行なうことにより、保護層ではラダーパ
ターンに比して拡散反射光の発生が少なく、保護層上に
付着したゴミ、汚れ等がフォトセンサの受光量に与える
影響を減じることができるので、ラダーパターンに正確
に対応した位置検出信号を出力することか可能となる。
又、フォトセンサの波状出力を当該出力の時間平均に基
づくスレッショルドレへルを用いて二値化することによ
り、ゴミ、汚れ等によるセンサ出力の変動に対処でき、
極めて安定した位置検出か可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の位置検出装置の第一実施例を示す概略
構成図、第2図は第一実施例に係る反射板を示す斜視図
、第3図は第一実施例におけるフォトセンサの出力例を
示すグラフ、第4図は本発明の第二実施例における検出
手段の構成を示すブロック線図、第5図は第二実施例に
おけるスレッショルドレベルの変化を説明するグラフ、
第6図はフォトセンサの配設態様の一例を示す平面図、
第7図は第6図のI−I断面図、第8図は従来のフtト
センサを示す斜視図、第9図は従来のフォトセンサが有
する第1の問題点を説明するグラフ、第10図は従来の
フtトセンサが有する第2の問題点を説明するグラフで
ある。 [符号説明] 1:反射板     2:光収束手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光の反射率の異なる領域が交互に配列されたラダーパタ
    ーンを有すると共に、当該パターン上に保護層が形成さ
    れた反射板と、この反射板に沿って移動し、上記保護層
    を透過してラダーパターン上に集光するよう反射板に対
    して光を照射する光収束手段と、上記反射板により生じ
    た反射光を光電変換するフォトセンサを有し、位置検出
    信号を出力する検出手段とからなることを特徴とする位
    置検出装置
JP12552890A 1990-05-17 1990-05-17 位置検出装置 Pending JPH0421477A (ja)

Priority Applications (1)

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JP12552890A JPH0421477A (ja) 1990-05-17 1990-05-17 位置検出装置

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JP12552890A JPH0421477A (ja) 1990-05-17 1990-05-17 位置検出装置

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JPH0421477A true JPH0421477A (ja) 1992-01-24

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ID=14912411

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JP12552890A Pending JPH0421477A (ja) 1990-05-17 1990-05-17 位置検出装置

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JP (1) JPH0421477A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012152545A (ja) * 2011-01-07 2012-08-16 Toshiba Corp X線ct装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012152545A (ja) * 2011-01-07 2012-08-16 Toshiba Corp X線ct装置

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