JPH04213778A - Pattern matching device - Google Patents
Pattern matching deviceInfo
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- JPH04213778A JPH04213778A JP2401174A JP40117490A JPH04213778A JP H04213778 A JPH04213778 A JP H04213778A JP 2401174 A JP2401174 A JP 2401174A JP 40117490 A JP40117490 A JP 40117490A JP H04213778 A JPH04213778 A JP H04213778A
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Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】本発明はパターンマッチング装置
に係り、特にマスターパターンの位置を求めるパターン
マッチング装置に関する。半導体集積回路(IC)の各
製造工程において、試料に対して正確に露光、配線等を
行なうには、試料に設定したマスターパターンの位置を
求め、装置に対する試料の位置決めを正確に行なう必要
がある。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pattern matching apparatus, and more particularly to a pattern matching apparatus for determining the position of a master pattern. In each manufacturing process of semiconductor integrated circuits (ICs), in order to accurately expose and wire a sample, it is necessary to determine the position of the master pattern set on the sample and accurately position the sample relative to the equipment. .
【0002】0002
【従来の技術】図3は従来のパターンマッチング装置の
一例のブロック図を示す。同図中、中央処理装置(CP
U)はパターンマッチングを行なう際の基準パターンと
なるマスターパターンを予め内蔵メモリに格納している
。また撮像装置としてのテレビジョン(TV)カメラ2
2は、試料上の比較パターンを撮像する。2. Description of the Related Art FIG. 3 shows a block diagram of an example of a conventional pattern matching device. In the figure, the central processing unit (CP
U) stores in advance a master pattern, which is a reference pattern when performing pattern matching, in a built-in memory. Also, a television (TV) camera 2 as an imaging device
2 images a comparison pattern on the sample.
【0003】例えば、ICチップの位置決めをする場合
、TVカメラ22で試料、すなわちICチップを撮像す
る。このとき、図4に示すようにICチップ31には例
えば左上隅と右下隅の配線パターンのある所にマスター
パターン32及び33が予め形成されている。このマス
ターパターン32及び33は例えば図5(A)に示すよ
うに、横方向に8ドット(画素)、縦方向に4ドットの
計32ドットからなる所謂8×4ドットパターンで、そ
のうち斜線で示す4ドットが黒で、残りの28ドットが
白であるものとする。For example, when positioning an IC chip, a TV camera 22 takes an image of the sample, that is, the IC chip. At this time, as shown in FIG. 4, master patterns 32 and 33 are formed in advance on the IC chip 31, for example, at the upper left corner and lower right corner where the wiring pattern is located. The master patterns 32 and 33 are, for example, as shown in FIG. 5A, a so-called 8×4 dot pattern consisting of 8 dots (pixels) in the horizontal direction and 4 dots in the vertical direction, a total of 32 dots, among which are indicated by diagonal lines. Assume that 4 dots are black and the remaining 28 dots are white.
【0004】図3のCPU21はこのマスターパターン
本来の黒ドットと白ドットの組合せパターンを基準パタ
ーンとして内蔵メモリに記憶しており、この記憶基準パ
ターン(マスターパターン)を読み出してメモリ23に
送出して格納させる。一方、TVカメラ22はICチッ
プ31を撮像して撮像範囲内の画像情報をディジタル処
理した後、それをメモリ24に格納する。ここで、TV
カメラ22の撮像範囲から切り出したマッチング画面は
図4に破線34で示す如き大きさである。The CPU 21 in FIG. 3 stores the original combination pattern of black dots and white dots of this master pattern as a reference pattern in its built-in memory, and reads out this stored reference pattern (master pattern) and sends it to the memory 23. Store it. On the other hand, the TV camera 22 takes an image of the IC chip 31 and digitally processes the image information within the imaging range, and then stores it in the memory 24 . Here, TV
The matching screen cut out from the imaging range of the camera 22 has a size as shown by a broken line 34 in FIG.
【0005】図3のマッチング判定部25は上記のメモ
リ23からのマスターパターンと、メモリ24よりの撮
像パターン(すなわちマッチング画面34の比較パター
ン)とを比較し、両パターンの各ドット間の不一致数が
最も少ない位置を求める。ここで、マッチング判定部2
5は図6に示すように、マッチング画面34内の画像情
報のうち、マスターパターン32,33と同じ8×4ド
ットの大きさの比較領域35の画像情報パターンと前記
マスターパターンとを各ドット間で同一値のドットか比
較し、かつ、不一致ドット数を計数記憶し、その処理が
終わると比較領域35を1ドット分右方向へずらして再
び上記各ドット間の比較及び計数を行なう。以下、上記
と同様にして比較領域35をマッチング画面34の左上
から右下まで順次シフトさせつつマスターパターンの各
ドットとの比較及び不一致ドット数の計数(パターンマ
ッチング)を行なう。The matching determination unit 25 in FIG. 3 compares the master pattern from the memory 23 and the imaged pattern from the memory 24 (that is, the comparison pattern on the matching screen 34), and determines the number of mismatches between each dot of both patterns. Find the position where is the least. Here, matching determination unit 2
5, as shown in FIG. 6, among the image information in the matching screen 34, the image information pattern in the comparison area 35 having the same size of 8×4 dots as the master patterns 32 and 33 and the master pattern are arranged between each dot. The dots are compared to see if they have the same value, and the number of mismatched dots is counted and stored. When the process is completed, the comparison area 35 is shifted to the right by one dot and the above-mentioned comparison and counting between each dot is performed again. Thereafter, in the same manner as described above, the comparison area 35 is sequentially shifted from the upper left to the lower right of the matching screen 34, and comparison with each dot of the master pattern and counting of the number of mismatched dots (pattern matching) are performed.
【0006】このようにして、マッチング判定部25は
パターンマッチングを行ない、不一致ドット数が最も少
ない位置をもって、最もマスターパターン32に近いパ
ターンが得られる位置と判定し、その位置座標をレジス
タ26に格納する。レジスタ26に格納された位置座標
はマッチング回路30の外部へ通知される。In this way, the matching determining section 25 performs pattern matching and determines that the position with the least number of mismatched dots is the position where a pattern closest to the master pattern 32 can be obtained, and stores the position coordinates in the register 26. do. The position coordinates stored in the register 26 are notified to the outside of the matching circuit 30.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかるに、TVカメラ
22で撮像して得られるマッチング画面34の比較パタ
ーンは、マスターパターン32又は33を正確に撮像し
て得られる黒ドットと白ドットの組合せパターンが含ま
れているとは限らずICチップ31への光の当り具合や
ICチップ31の表面など、場合によってマッチング画
面34全体が白く写り、よって比較領域35の比較パタ
ーンも図5(B)に示す如く32ドットすべて白ドット
となることがあり得る。However, the comparison pattern of the matching screen 34 obtained by imaging with the TV camera 22 is different from the combination pattern of black dots and white dots obtained by accurately imaging the master pattern 32 or 33. In some cases, the entire matching screen 34 appears white depending on the condition of the light hitting the IC chip 31, the surface of the IC chip 31, etc., and therefore the comparison pattern of the comparison area 35 is also shown in FIG. 5(B). It is possible that all 32 dots become white dots.
【0008】この場合はマッチング画面34全体が白い
ので、本来ICチップ31の位置決めができないはずで
あるが、図5(A)に示すマスターパターンと同図(B
)に示す比較パターンのパターンマッチングの結果、不
一致なドットの数が4個だけとなるので、一致度が87
.5%(=(32−4)×100/32)になってしま
う。従って、この場合にはマッチング画面34のいずれ
かの位置でマッチングがとれたものとなってしまう。In this case, since the entire matching screen 34 is white, it should not be possible to position the IC chip 31, but the master pattern shown in FIG.
), the number of mismatched dots is only 4, so the degree of matching is 87.
.. It becomes 5% (=(32-4)×100/32). Therefore, in this case, matching will be achieved at any position on the matching screen 34.
【0009】また、マスターパターン32,33が白、
黒半分ずつの個数のドットからなるときは全ドット白又
は黒の比較パターンとパターンマッチングを行なうと一
致度は50%となるが、実際上、マスターパターン32
,33の設定時には白ドットと黒ドットの比率が20対
80ぐらいの方が縦方向、横方向ともに特徴のあるパタ
ーンをマスターパターンとしてとりやすいので、やはり
パターンマッチングがとれたものとなってしまう。[0009] Furthermore, the master patterns 32 and 33 are white,
When the number of dots is half black, if pattern matching is performed with a comparison pattern of all dots white or black, the degree of matching will be 50%, but in reality, the master pattern 32
, 33, when the ratio of white dots to black dots is about 20:80, it is easier to take a characteristic pattern in both the vertical and horizontal directions as a master pattern, so the pattern matching will still be achieved.
【0010】本発明は上記の点に鑑みなされたもので、
正確なパターンマッチングを行なうパターンマッチング
装置を提供することを目的とする。[0010] The present invention has been made in view of the above points.
An object of the present invention is to provide a pattern matching device that performs accurate pattern matching.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理構成
図を示す。同図中、マッチング判定部11はマスターパ
ターンと撮像パターンとを比較して、両パターンの各ド
ット間の不一致数が最も少ない位置を求める。一致度算
出手段12はマスターパターンと撮像パターンの各ドッ
ト間の不一致数が最も少ない位置における、両パターン
中の黒ドットの一致度と白ドットの一致度とを夫々別々
に算出する。[Means for Solving the Problems] FIG. 1 shows a diagram of the basic configuration of the present invention. In the figure, a matching determination unit 11 compares the master pattern and the imaged pattern to find a position where the number of mismatches between each dot of both patterns is the least. The degree of coincidence calculating means 12 separately calculates the degree of coincidence of black dots and the degree of coincidence of white dots in the master pattern and the imaged pattern at the position where the number of mismatches between each dot of the master pattern and the imaged pattern is the smallest.
【0012】マッチング度算出手段13は上記の黒ドッ
ト及び白ドットの両一致度に基づいてパターンマッチン
グ度を算出する。The matching degree calculating means 13 calculates the pattern matching degree based on the degree of matching of both the black dots and the white dots.
【0013】[0013]
【作用】本発明では、マッチング判定部11によりマス
ターパターンと撮像パターンの各ドット間の不一致数が
最も少ない位置を求め、更に一致度算出手段12及びマ
ッチング度算出手段13により黒ドットと白ドットの各
一致度を夫々勘案してパターンマッチング度を算出する
。[Operation] In the present invention, the matching determining unit 11 determines the position where the number of mismatches between each dot of the master pattern and the imaged pattern is the least, and the matching degree calculating means 12 and the matching degree calculating means 13 determine the position where the number of mismatches between the dots of the master pattern and the imaged pattern is the least. The degree of pattern matching is calculated by taking into account each degree of matching.
【0014】このため、撮像パターンの異常により、撮
像パターンが黒ドット及び白ドットのいずれか一方のみ
からなる場合には、黒ドットの一致度と白ドットの一致
度にアンバランスが生じるが、本発明ではこのアンバラ
ンスを平均化したパターンマッチング度により、パター
ンマッチングの判定ができる。[0014] Therefore, if the imaging pattern consists of either black dots or white dots due to an abnormality in the imaging pattern, an imbalance will occur between the matching degree of black dots and the matching degree of white dots. In the invention, pattern matching can be determined based on the pattern matching degree obtained by averaging this imbalance.
【0015】[0015]
【実施例】図2は本発明の一実施例のブロック図を示す
。同図中、図1及び図3と同一構成部分には同一符号を
付し、その説明を省略する。図2において、マッチング
回路20は前記一致度算出手段12に相当する黒/白ド
ット一致度算出回路28を有している。また、マッチン
グ回路20の外部に前記マッチング度算出手段13に相
当するマッチング度算出回路29が設けられている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 2 shows a block diagram of one embodiment of the present invention. In the figure, the same components as in FIGS. 1 and 3 are denoted by the same reference numerals, and their explanations will be omitted. In FIG. 2, the matching circuit 20 has a black/white dot coincidence calculation circuit 28 corresponding to the coincidence calculation means 12. Further, a matching degree calculation circuit 29 corresponding to the matching degree calculation means 13 is provided outside the matching circuit 20.
【0016】次に本実施例の動作について説明する。マ
ッチング判定部27はメモリ23からのマスターパター
ンと、メモリ24からのマッチング画面の比較パターン
とに基づいて、従来のマッチング判定部25と同様方法
にて両パターンの各ドット間の不一致数が最も少ない、
マッチング画面の位置を求める。黒/白ドット一致度算
出回路28はこの不一致数が最も少ない位置における、
マスターパターンと比較パターンの黒ドットと白ドット
の夫々について、一致度を次式に基づいて算出する。Next, the operation of this embodiment will be explained. Based on the master pattern from the memory 23 and the comparison pattern of the matching screen from the memory 24, the matching judgment section 27 uses the same method as the conventional matching judgment section 25 to determine the smallest number of mismatches between each dot of both patterns. ,
Find the position of the matching screen. The black/white dot coincidence degree calculation circuit 28 calculates, at the position where the number of mismatches is the smallest,
The degree of matching is calculated for each of the black dots and white dots of the master pattern and comparison pattern based on the following equation.
【0017】
黒ドットの一致度={(マスターパターンの黒ドッ
トの数)−(不一致な黒ド
ットの数)}/(マスターパターンの黒
ドットの数) (
1) 白ドットの一致度={(マスターパターンの白
ドットの数)−(不一致な白ド
ットの数)}/(マスターパターン
の白ドットの数)
(2)このようにして算出された黒ドットの一致度と
白ドットの一致度とはマッチング度算出回路29に供給
され、ここで次式に基づいてマッチングの一致度を算出
させる。Matching degree of black dots = {(number of black dots in master pattern) - (unmatched black dots)
(number of black dots in master pattern)}/(number of black dots in master pattern) (
1) Matching degree of white dots = {(number of white dots in master pattern) - (unmatched white dots)
(number of white dots in master pattern)}/(number of white dots in master pattern)
(2) The black dot matching degree and the white dot matching degree calculated in this way are supplied to the matching degree calculating circuit 29, which calculates the matching degree based on the following equation.
【0018】
(マッチングの一致度)={(黒ドットの一致度)
+(白ドットの一致度)}
×100÷2(%)
(3)かかるマッチング
の一致度(すなわちマッチング度)が、50%より大な
る所定の閾値以上のとき、パターンマッチングがとれた
と判定される。(Degree of matching) = {(Degree of matching of black dots)
+ (matching degree of white dots)}
×100÷2(%)
(3) When the degree of matching (that is, the degree of matching) is equal to or greater than a predetermined threshold value greater than 50%, it is determined that pattern matching has been achieved.
【0019】次に具体例について説明する。いま、マス
ターパターンが図5(A)に示す如き、8×4ドットの
うち斜線位置に黒ドットがあるパターンであり、一方、
比較パターンが図5(B)に示す如く8×4ドットすべ
てが白ドットであるものとする。この場合、黒/白ドッ
ト一致度算出回路28は、前記(1)式,(2)式に基
づいて、次の(4),(5)式を得る。Next, a specific example will be explained. Now, the master pattern is a pattern with black dots at diagonal positions among 8×4 dots as shown in FIG. 5(A), and on the other hand,
Assume that the comparison pattern is such that all 8×4 dots are white dots as shown in FIG. 5(B). In this case, the black/white dot coincidence calculation circuit 28 obtains the following equations (4) and (5) based on equations (1) and (2).
【0020】[0020]
【数1】[Math 1]
【0021】これにより、マッチング度算出回路29は
前記(3)式に基づいてマッチングの一致度を算出する
。従って、マッチングの一致度(マッチング度)は、(
マッチング度)=(0+1)×100÷2=50(%)
(6)となる。Thereby, the matching degree calculation circuit 29 calculates the degree of matching based on the above equation (3). Therefore, the matching degree (matching degree) is (
Matching degree)=(0+1)×100÷2=50(%)
(6) becomes.
【0022】なお、比較パターンがすべて黒ドットの場
合もマッチング度は50%となる。また、比較パターン
がマスターパターンと同一なときは、マッチング度は1
00%となり、比較パターンがマスターパターンと白黒
逆のパターンのときマッチング度は0%となる。そこで
、上記の点に鑑みパターンがとれたか否かの閾値を例え
ば80%とすると、(6)式で示したマッチング度50
%の場合は、パターンマッチングがとれないと正確に判
定できる。Note that the degree of matching is also 50% when all the comparison patterns are black dots. Also, when the comparison pattern is the same as the master pattern, the matching degree is 1.
00%, and when the comparison pattern is a pattern that is black and white opposite to the master pattern, the matching degree is 0%. Therefore, in view of the above points, if the threshold value for determining whether a pattern has been established is, for example, 80%, then the matching degree shown in equation (6) is 50%.
%, it can be accurately determined that pattern matching cannot be achieved.
【0023】なお、上記のマッチング度算出回路29は
、マッチング回路20内に設けてもよく、黒/白ドット
一致度算出回路28をマッチング回路20の外部に設け
てもよい。また、本発明のマッチング度の算出は(3)
式に限定されるものではなく、要は黒ドットの一致度と
白ドットとを総合的に勘案した値が得られればよい。The matching degree calculating circuit 29 may be provided within the matching circuit 20, or the black/white dot matching degree calculating circuit 28 may be provided outside the matching circuit 20. In addition, the calculation of the matching degree of the present invention is (3)
It is not limited to the formula, but the point is that it is sufficient to obtain a value that comprehensively takes into account the degree of coincidence of black dots and white dots.
【0024】[0024]
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、黒ドット
の一致度と白ドットの一致度とを総合的に勘案したパタ
ーンマッチング度によりパターンマッチングの判定を行
なうため、従来に比べて正確なパターンマッチングがで
きる等の特長を有するものである。As described above, according to the present invention, pattern matching is determined based on the degree of pattern matching that comprehensively takes into account the degree of coincidence of black dots and the degree of coincidence of white dots. It has features such as being able to perform sophisticated pattern matching.
【図1】本発明の原理構成図である。FIG. 1 is a diagram showing the principle configuration of the present invention.
【図2】本発明の一実施例のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of one embodiment of the invention.
【図3】従来の一例のブロック図である。FIG. 3 is a block diagram of a conventional example.
【図4】マスターパターンとマッチング画面の説明図で
ある。FIG. 4 is an explanatory diagram of a master pattern and a matching screen.
【図5】マスターパターンと比較パターンの説明図であ
る。FIG. 5 is an explanatory diagram of a master pattern and a comparison pattern.
【図6】マッチング画面におけるマッチング判定を説明
する図である。FIG. 6 is a diagram illustrating matching determination on a matching screen.
11,29 マッチング判定部 12 一致度算出手段 13 マッチング度算出手段 28 黒/白ドット一致度算出回路 29 マッチング度算出回路 11, 29 Matching judgment section 12 Matching degree calculation means 13 Matching degree calculation means 28 Black/white dot coincidence calculation circuit 29 Matching degree calculation circuit
Claims (2)
ドットの組合せパターンと同一のマスターパターンと、
撮像装置により該試料の一部を撮像して得られた撮像パ
ターンとを比較して、両パターンの各ドット間の不一致
数が最も少ない位置を求めるマッチング判定部(11)
と、該両パターンの各ドット間の不一致数が最も少ない
位置における、前記マスターパターン中の黒ドットと前
記撮像パターン中の黒ドットとの一致度と、該マスター
パターン中の白ドットと該撮像パターン中の白ドットと
の一致度とを夫々別々に算出する一致度算出手段(12
)と、該一致度算出手段(12)により算出された黒ド
ット及び白ドットの両方の一致度に基づいてパターンマ
ッチング度を算出するマッチング度算出手段(13)と
を有することを特徴とするパターンマッチング装置。1. A master pattern that is the same as a combination pattern of black dots and white dots formed in advance on the sample;
A matching determination unit (11) that compares an imaged pattern obtained by imaging a part of the sample with an imaging device and determines a position where the number of mismatches between each dot of both patterns is the least.
, the degree of coincidence between the black dots in the master pattern and the black dots in the imaged pattern at a position where the number of mismatches between each dot of both patterns is the smallest, and the white dots in the master pattern and the imaged pattern. Matching degree calculation means (12
), and a matching degree calculating means (13) for calculating a pattern matching degree based on the degree of matching of both black dots and white dots calculated by the matching degree calculating means (12). matching device.
、前記黒ドットの一致度と前記白ドットの一致度の和を
所定値で除算した値をマッチング度として算出すること
を特徴とする請求項1記載のパターンマッチング装置。2. The matching degree calculating means (13) calculates a value obtained by dividing the sum of the matching degree of the black dots and the matching degree of the white dots by a predetermined value as the matching degree. 1. The pattern matching device according to 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2401174A JP2963773B2 (en) | 1990-12-10 | 1990-12-10 | Pattern matching device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2401174A JP2963773B2 (en) | 1990-12-10 | 1990-12-10 | Pattern matching device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04213778A true JPH04213778A (en) | 1992-08-04 |
JP2963773B2 JP2963773B2 (en) | 1999-10-18 |
Family
ID=18511026
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2401174A Expired - Lifetime JP2963773B2 (en) | 1990-12-10 | 1990-12-10 | Pattern matching device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2963773B2 (en) |
-
1990
- 1990-12-10 JP JP2401174A patent/JP2963773B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2963773B2 (en) | 1999-10-18 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
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