JPH04208872A - 電磁継電器の自動試験装置 - Google Patents
電磁継電器の自動試験装置Info
- Publication number
- JPH04208872A JPH04208872A JP2340287A JP34028790A JPH04208872A JP H04208872 A JPH04208872 A JP H04208872A JP 2340287 A JP2340287 A JP 2340287A JP 34028790 A JP34028790 A JP 34028790A JP H04208872 A JPH04208872 A JP H04208872A
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- JP
- Japan
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 3
- 244000145845 chattering Species 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電力制御機器等の継電回路に用いられる電磁
継電器の自動試験装置に関する。
継電器の自動試験装置に関する。
一般に、電力制御機器の内部には多くの電磁継電器が使
用されており、これら電磁継電器の故障判定手法として
、接点抵抗値による故障判定が知られている。
用されており、これら電磁継電器の故障判定手法として
、接点抵抗値による故障判定が知られている。
これは、電磁継電器の接点側負荷として定電流源を接続
しておき、継電器コイルに動作電圧を印加して接点を閉
じたときの接点間型圧をマイクロボルトメータで検出し
、これから接点抵抗値を求めて電磁継電器の故障を判定
するものである。この様な試験によって、接点部の動作
を確認できると共に、接点抵抗値と接点側負荷との関係
から電磁継電器の信頼性を判定することができる。この
様な動作試験および信頼性試験は、多くの場合、試験員
が手作業にて実施していた。
しておき、継電器コイルに動作電圧を印加して接点を閉
じたときの接点間型圧をマイクロボルトメータで検出し
、これから接点抵抗値を求めて電磁継電器の故障を判定
するものである。この様な試験によって、接点部の動作
を確認できると共に、接点抵抗値と接点側負荷との関係
から電磁継電器の信頼性を判定することができる。この
様な動作試験および信頼性試験は、多くの場合、試験員
が手作業にて実施していた。
ところで、電磁ms器などの機械的接点を有する機構部
品の接点抵抗は接点を閉じてがらの抵抗値が時間の経過
と共に低下する傾向があり、また接点を閉じた瞬間には
バウンシングやチャタリングなどの現象が発生する。
品の接点抵抗は接点を閉じてがらの抵抗値が時間の経過
と共に低下する傾向があり、また接点を閉じた瞬間には
バウンシングやチャタリングなどの現象が発生する。
そこで、継電器コイルに動作電圧を印加してから接点抵
抗値がある程度落ち着いてがら接点抵抗値を測定してい
た。
抗値がある程度落ち着いてがら接点抵抗値を測定してい
た。
したがって、従来は、時間の経過と共に変化する接点抵
抗値をバウンシングやチャタリングなどの影響を考慮し
ながら試験員が手作業にて測定していたので、正確な接
触抵抗値を求めるのが極めて困難であり、正確な故障判
定を行うのが難しかった。また、接点抵抗値がある程度
落ち着いてから接点抵抗値を測定していたことから故障
セ1定に多くの時間を要するという問題があった。
抗値をバウンシングやチャタリングなどの影響を考慮し
ながら試験員が手作業にて測定していたので、正確な接
触抵抗値を求めるのが極めて困難であり、正確な故障判
定を行うのが難しかった。また、接点抵抗値がある程度
落ち着いてから接点抵抗値を測定していたことから故障
セ1定に多くの時間を要するという問題があった。
本発明は以上のような実情に鑑みてなされたものて、(
、:軸性の高い故障判定を自動的に実施できて、J(験
員の負担を大幅に軽減でき、しかも故l4tJI定の高
速化を図り得る電磁継電器の自動試験装置を提(共する
ことを目r白とする。
、:軸性の高い故障判定を自動的に実施できて、J(験
員の負担を大幅に軽減でき、しかも故l4tJI定の高
速化を図り得る電磁継電器の自動試験装置を提(共する
ことを目r白とする。
[発明の構成]
〔課題を解決するだめの手段〕
上記[]的を達成するために、本発明による自動試験装
置は、外部から起動信号が入力すると、試験対象となる
電磁継電器のコイル側回路を閉じて継電器コイルに電圧
を印加する開閉手段と、前記継電器コイルへの電圧印加
に伴って開閉する継電器接点の接点抵抗値を検出する接
点抵抗値検出手段と、前記接点抵抗値検出手段で検出さ
れた接点抵抗値と予め設定された設定値とを比較して、
前記接点抵抗値が前記設定値を超えたときに故障判定用
信号を出力する比較手段と、前記起動信号が入力してか
ら所定時間経過後に第1の遅延信号を出力し、さらに所
定時間経過後に第2の遅延信号を出力する遅延手段と、
前記第1の遅延信号または第2の遅延信号が出力され、
かつ前記故障判定用信号が出力されていないとき前記電
磁継電器を正常であると判定し、前記第2の遅延信号が
出力され、かつ前記故障判定用信号が出力されていると
き前記電磁継電器の接点が故障していることを示す故障
判定信号を出力する故障判定手段とを具備してなるもの
とした。
置は、外部から起動信号が入力すると、試験対象となる
電磁継電器のコイル側回路を閉じて継電器コイルに電圧
を印加する開閉手段と、前記継電器コイルへの電圧印加
に伴って開閉する継電器接点の接点抵抗値を検出する接
点抵抗値検出手段と、前記接点抵抗値検出手段で検出さ
れた接点抵抗値と予め設定された設定値とを比較して、
前記接点抵抗値が前記設定値を超えたときに故障判定用
信号を出力する比較手段と、前記起動信号が入力してか
ら所定時間経過後に第1の遅延信号を出力し、さらに所
定時間経過後に第2の遅延信号を出力する遅延手段と、
前記第1の遅延信号または第2の遅延信号が出力され、
かつ前記故障判定用信号が出力されていないとき前記電
磁継電器を正常であると判定し、前記第2の遅延信号が
出力され、かつ前記故障判定用信号が出力されていると
き前記電磁継電器の接点が故障していることを示す故障
判定信号を出力する故障判定手段とを具備してなるもの
とした。
本発明によれば、起動信号の入力に応じて継電器コイル
に電圧が印加されて継電器接点が閉じ、この接点抵抗値
が接点抵抗値検出手段で検出されて比較手段に入力され
る。そして、接点抵抗値が設定値よりも大きいときは故
障判定用信号を出力する。遅延手段からは、起動信号の
入力タイミングに基づいて、例えば継電器接点が閉じた
直後に出力されるようなタイミングで第1の遅延信号が
出力され、バウンシング等の影響を受けず接点抵抗値が
ある程度落ちむく頃のタイミングで第2の遅延信号か出
力される。これによって、故障判定手段では、バウンシ
ング等が発生していないときには早いタイミングで故障
判定され、接点抵抗値が大きく変動して正確に測定でき
ないときには、第2の遅延信号によるタイミングで故障
判定が実施される。
に電圧が印加されて継電器接点が閉じ、この接点抵抗値
が接点抵抗値検出手段で検出されて比較手段に入力され
る。そして、接点抵抗値が設定値よりも大きいときは故
障判定用信号を出力する。遅延手段からは、起動信号の
入力タイミングに基づいて、例えば継電器接点が閉じた
直後に出力されるようなタイミングで第1の遅延信号が
出力され、バウンシング等の影響を受けず接点抵抗値が
ある程度落ちむく頃のタイミングで第2の遅延信号か出
力される。これによって、故障判定手段では、バウンシ
ング等が発生していないときには早いタイミングで故障
判定され、接点抵抗値が大きく変動して正確に測定でき
ないときには、第2の遅延信号によるタイミングで故障
判定が実施される。
以下、本発明の一実施例について第1図〜第3図を参照
して説明する。
して説明する。
第1図は本実施例に係る自動試験装置の機能ブロックを
示す図である。同図に示す符号1は、試験対象となる電
磁継電器であり、操作コイル部と接点部と榎Hしている
。電磁継電器1の操作コイル部は、コイル側電源2に接
続されていて、操作コイル、電源2間には、コイル側回
路の開閉器3が介挿されている。このコイル側回路開閉
器3は、外部から与えられる動作信号(起動信号)によ
って動作してコイル側回路を開閉する。具体的には、動
作信号が入力されている状態では回路を閉じ、逆に動作
信号の入力がなくなると回路を開とする。
示す図である。同図に示す符号1は、試験対象となる電
磁継電器であり、操作コイル部と接点部と榎Hしている
。電磁継電器1の操作コイル部は、コイル側電源2に接
続されていて、操作コイル、電源2間には、コイル側回
路の開閉器3が介挿されている。このコイル側回路開閉
器3は、外部から与えられる動作信号(起動信号)によ
って動作してコイル側回路を開閉する。具体的には、動
作信号が入力されている状態では回路を閉じ、逆に動作
信号の入力がなくなると回路を開とする。
なお、電磁継電器1の接点部がb接点(ノーマルクロー
ズ)の場合、コイル側回路開閉器3は負論理、すなわち
動作信号が入力されていない状態で回路を閉じるように
動作するものとする。
ズ)の場合、コイル側回路開閉器3は負論理、すなわち
動作信号が入力されていない状態で回路を閉じるように
動作するものとする。
電磁継電器1の接点部は、操作コイル部の通電によって
開閉する。この接点部には、測定用負荷4および接点側
電源5が接続されている。電磁継電器1の接点部が閉じ
ると、接点側回路に電流が流れ接点部の両端電圧が降下
する。この両端電圧Vaは測定されて比較器6の一方の
入力端子に入力される。この比較器6の他方の入力端子
には、比較基準設定器7で設定された設定値vbがD/
A変換器8を介して入力される。なお、比較器6に設定
される設定値vbとしては、例えば接点部で許容される
最大の接点抵抗値に対応した電圧値vbが設定される。
開閉する。この接点部には、測定用負荷4および接点側
電源5が接続されている。電磁継電器1の接点部が閉じ
ると、接点側回路に電流が流れ接点部の両端電圧が降下
する。この両端電圧Vaは測定されて比較器6の一方の
入力端子に入力される。この比較器6の他方の入力端子
には、比較基準設定器7で設定された設定値vbがD/
A変換器8を介して入力される。なお、比較器6に設定
される設定値vbとしては、例えば接点部で許容される
最大の接点抵抗値に対応した電圧値vbが設定される。
接点抵抗値が大きくなると接点両端電圧Vaも大きくな
るので、比較器6では、入力する両端電圧値Vaが設定
値vbを超えたときに故障判定用信号を出力する。
るので、比較器6では、入力する両端電圧値Vaが設定
値vbを超えたときに故障判定用信号を出力する。
一方、第1の遅延回路9と第2の遅延回路]0とは直列
に接続されていて、各遅延回路9.10は遅延時間設定
器11によってそれぞれ任意の遅延時間が設定される。
に接続されていて、各遅延回路9.10は遅延時間設定
器11によってそれぞれ任意の遅延時間が設定される。
第1の遅延回路9には、コイル側回路開閉器3と共に上
記動作信号が入力され、設定された遅延時間経過後に、
第1の遅延信号を第2の遅延回路10および第1のAN
D回路12に出力する。第1のAND回路12には、さ
らに比較器6の出力がインバータ13を介して入力され
、両者の論理積条件が成立したときに正常判定信号を出
力する。また、第2の遅延回路10は、第1の遅延回路
9から出力された第1の遅延信号か入力してから設定さ
れた遅延時間経過後に第2の遅延信号を第2のAND回
路14に出力する。第2のAND回路14は、さらに比
較器6の出力が直接入力され、両者の論理積条件が成立
したときに故障判定信号を出力する。
記動作信号が入力され、設定された遅延時間経過後に、
第1の遅延信号を第2の遅延回路10および第1のAN
D回路12に出力する。第1のAND回路12には、さ
らに比較器6の出力がインバータ13を介して入力され
、両者の論理積条件が成立したときに正常判定信号を出
力する。また、第2の遅延回路10は、第1の遅延回路
9から出力された第1の遅延信号か入力してから設定さ
れた遅延時間経過後に第2の遅延信号を第2のAND回
路14に出力する。第2のAND回路14は、さらに比
較器6の出力が直接入力され、両者の論理積条件が成立
したときに故障判定信号を出力する。
次に、以上のように構成された本実施例の動作について
説明する。
説明する。
本実施例は第2図に示すフローチャートに基づいて動作
する。即ち、外部からの起動信号がコイル側回路開閉器
3に与えられると、コイル側回路開閉器3が動作してコ
イル側回路が閉しられ、電磁継電器1の操作コイルに電
圧が印加される。これと同時に、第1の遅延回路9にも
動作信号が入力され、設定された遅延時間経過後に第1
の遅延信号を、第1のAND回路12および第2の遅延
回路10に出力する。
する。即ち、外部からの起動信号がコイル側回路開閉器
3に与えられると、コイル側回路開閉器3が動作してコ
イル側回路が閉しられ、電磁継電器1の操作コイルに電
圧が印加される。これと同時に、第1の遅延回路9にも
動作信号が入力され、設定された遅延時間経過後に第1
の遅延信号を、第1のAND回路12および第2の遅延
回路10に出力する。
電磁継電器1では操作コイルに電圧が印加されると接点
が閉じて接点側回路に電流が流れ、接点の両端に電圧が
発生する。この接点間型圧Vaは比較器6に入力され、
設定値vbと比較され、接点間型圧Vaが設定値vbよ
りも小さいときには比較器6出力がローレベルとなり、
接点間型圧Vaが設定値vbよりも大きいときには比較
器6出力がハイレベルとなって故障判定用信号が出力さ
れる。
が閉じて接点側回路に電流が流れ、接点の両端に電圧が
発生する。この接点間型圧Vaは比較器6に入力され、
設定値vbと比較され、接点間型圧Vaが設定値vbよ
りも小さいときには比較器6出力がローレベルとなり、
接点間型圧Vaが設定値vbよりも大きいときには比較
器6出力がハイレベルとなって故障判定用信号が出力さ
れる。
ここで、第1および第2の遅延時間を例えば第3図に示
すようなタイミングに設定する。即ち、接点が閉してか
ら比較的早い時期に第1の遅延信号を出力し、接点部の
バウンシングやチャタリングか十分に収まる時期に第2
の遅延信号を出力するように設定する。
すようなタイミングに設定する。即ち、接点が閉してか
ら比較的早い時期に第1の遅延信号を出力し、接点部の
バウンシングやチャタリングか十分に収まる時期に第2
の遅延信号を出力するように設定する。
従って、第1の遅延タイミングにおいて、比較器6から
故障判定用信号が出力されいなければ、第1のAND回
路12の論理積条件が成立して、電磁継電器]が正常で
ある旨を示すハイレベル信号を正常判定信号として出力
して処理を終了する。
故障判定用信号が出力されいなければ、第1のAND回
路12の論理積条件が成立して、電磁継電器]が正常で
ある旨を示すハイレベル信号を正常判定信号として出力
して処理を終了する。
また、比較器6から故障判定用信号が出力されていると
きは、逆に第1のAND回路12の論理積条件は不成立
となり正′/;ξ判定信号は出力されない。
きは、逆に第1のAND回路12の論理積条件は不成立
となり正′/;ξ判定信号は出力されない。
この時、第2のAND回路14は、第2の遅延回路]O
から第2の遅延信号が出力されていないため論理積条件
は不成立となり故障判定信号は出力されない。これは、
第3図に示すように、接点が閉じてから間もない間はバ
ウンシングやチャタリングがなびいている可能性がある
ので、接点部は正常であるにも係1)らず接点両端電圧
が高くなる場合がある。そこで、この様な場合に誤って
故障判定するのを防止するために第1の遅延タイミング
では故障判定は行わず、正常判定のみを行うようにして
いる。
から第2の遅延信号が出力されていないため論理積条件
は不成立となり故障判定信号は出力されない。これは、
第3図に示すように、接点が閉じてから間もない間はバ
ウンシングやチャタリングがなびいている可能性がある
ので、接点部は正常であるにも係1)らず接点両端電圧
が高くなる場合がある。そこで、この様な場合に誤って
故障判定するのを防止するために第1の遅延タイミング
では故障判定は行わず、正常判定のみを行うようにして
いる。
第1の遅延タイミングで正常判定信号が出力されなかっ
た場合には、さらに第2の遅延タイミングで判定が行わ
れる。接点部のバウンシング等が収まり、故障判定用信
号が出力されなければ、第1のAND回路12の論理条
件が成立して正常判定信号が出力される。また、故障判
定用信号が出力されていれば、第2のAND回路14の
論理積条件が成立して、電磁継電器1が故障している旨
を示す故障判定信号が出力される。
た場合には、さらに第2の遅延タイミングで判定が行わ
れる。接点部のバウンシング等が収まり、故障判定用信
号が出力されなければ、第1のAND回路12の論理条
件が成立して正常判定信号が出力される。また、故障判
定用信号が出力されていれば、第2のAND回路14の
論理積条件が成立して、電磁継電器1が故障している旨
を示す故障判定信号が出力される。
この様に本実施例によれば、接点両端子電圧Vaと設定
値vbとを比較して、この比較結果を第1の遅延タイミ
ングで判定して、正常であればそのまま判定処理を終了
させ、接点両端子電圧Vaが設定値vbを超えていて故
障の可能性がある場合に限りさらに第2の遅延タイミン
グで故障判定を行うようにした。その結果、故障判定に
要する時間を大幅に短縮することができ、さらにバウン
シングやチャタリングによる誤判定を確実に防止できる
ので装置の信頼性を向上させることができる。また、遅
延時間や基準値vbを設定して、動作信号を与えるよう
にすれば、自動的に故障判定試験を実施することができ
、試験員の負担を大幅に軽減することができる。
値vbとを比較して、この比較結果を第1の遅延タイミ
ングで判定して、正常であればそのまま判定処理を終了
させ、接点両端子電圧Vaが設定値vbを超えていて故
障の可能性がある場合に限りさらに第2の遅延タイミン
グで故障判定を行うようにした。その結果、故障判定に
要する時間を大幅に短縮することができ、さらにバウン
シングやチャタリングによる誤判定を確実に防止できる
ので装置の信頼性を向上させることができる。また、遅
延時間や基準値vbを設定して、動作信号を与えるよう
にすれば、自動的に故障判定試験を実施することができ
、試験員の負担を大幅に軽減することができる。
なお、遅延時間設定器11や比較基準設定器7をコンピ
ュータのメモリ上においてコンピユータ化して、コンピ
ュータから周期的に動作信号を与えるようにすれば、1
子方回〜2千万回にもおよぶ継電器の連続動作試験に得
に有効である。
ュータのメモリ上においてコンピユータ化して、コンピ
ュータから周期的に動作信号を与えるようにすれば、1
子方回〜2千万回にもおよぶ継電器の連続動作試験に得
に有効である。
[発明の効果]
以上詳記したように本発明によれば、信頼性の高い故障
判定を自動的に実施できて試験員の負担を大幅に軽減で
き、しかも故障判定の高速化を図り得る電磁継電器の自
動試験装置を提供できる。
判定を自動的に実施できて試験員の負担を大幅に軽減で
き、しかも故障判定の高速化を図り得る電磁継電器の自
動試験装置を提供できる。
第1図は本発明の一実施例に係る電磁継電器の自動試験
装置の機能ブロック図、第2図は同実施例の動作説明図
、第3図は故障判定タイミングを説明するための図であ
る。 1・電磁継電器、2・・コイル側電源、3・・コイル側
回路開閉器、4・接点側負荷、5・・・接点側電源、6
・比較器、7・・・比較基準設定器、9・・・第1の遅
延回路、10・・第2の遅延回路、11・・・遅延時間
設定器、12・・・第1のAND回路、13・・インバ
ータ、14・・第2のAND回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 1 図 故障 正常第
2図 第3図
装置の機能ブロック図、第2図は同実施例の動作説明図
、第3図は故障判定タイミングを説明するための図であ
る。 1・電磁継電器、2・・コイル側電源、3・・コイル側
回路開閉器、4・接点側負荷、5・・・接点側電源、6
・比較器、7・・・比較基準設定器、9・・・第1の遅
延回路、10・・第2の遅延回路、11・・・遅延時間
設定器、12・・・第1のAND回路、13・・インバ
ータ、14・・第2のAND回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 1 図 故障 正常第
2図 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 外部から起動信号が入力すると、試験対象となる電磁継
電器のコイル側回路を閉じて継電器コイルに電圧を印加
する開閉手段と、 前記継電器コイルへの電圧印加に伴って開閉する継電器
接点の接点抵抗値を検出する接点抵抗値検出手段と、 前記接点抵抗値検出手段で検出された接点抵抗値と予め
設定された設定値とを比較して、前記接点抵抗値が前記
設定値を超えたときに故障判定用信号を出力する比較手
段と、 前記起動信号が入力してから所定時間経過後に第1の遅
延信号を出力し、さらに所定時間経過後に第2の遅延信
号を出力する遅延手段と、前記第1の遅延信号または第
2の遅延信号が出力され、かつ前記故障判定用信号が出
力されていないとき前記電磁継電器を正常であると判定
し、前記第2の遅延信号が出力され、かつ前記故障判定
用信号が出力されているとき前記電磁継電器の接点が故
障していることを示す故障判定信号を出力する故障判定
手段と、 を具備したことを特徴とする電磁継電器の自動試験装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2340287A JPH04208872A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 電磁継電器の自動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2340287A JPH04208872A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 電磁継電器の自動試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04208872A true JPH04208872A (ja) | 1992-07-30 |
Family
ID=18335500
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2340287A Pending JPH04208872A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 電磁継電器の自動試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04208872A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106415295A (zh) * | 2014-10-06 | 2017-02-15 | 株式会社Lg 化学 | 开关劣化检测设备和方法 |
WO2024185752A1 (ja) * | 2023-03-09 | 2024-09-12 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 劣化判定装置 |
WO2024203048A1 (ja) * | 2023-03-27 | 2024-10-03 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 劣化判定装置 |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2340287A patent/JPH04208872A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106415295A (zh) * | 2014-10-06 | 2017-02-15 | 株式会社Lg 化学 | 开关劣化检测设备和方法 |
EP3206042A4 (en) * | 2014-10-06 | 2018-06-20 | LG Chem, Ltd. | Switch deterioration detection device and method |
WO2024185752A1 (ja) * | 2023-03-09 | 2024-09-12 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 劣化判定装置 |
WO2024203048A1 (ja) * | 2023-03-27 | 2024-10-03 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 劣化判定装置 |
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