JPH042033U - - Google Patents

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JPH042033U
JPH042033U JP4212590U JP4212590U JPH042033U JP H042033 U JPH042033 U JP H042033U JP 4212590 U JP4212590 U JP 4212590U JP 4212590 U JP4212590 U JP 4212590U JP H042033 U JPH042033 U JP H042033U
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JP
Japan
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section
hybrid
laser
trimming
socket
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JP4212590U
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例によるハイブリツ
ドIC抵抗トリミング試験装置を示す構成図、第
2図はこの考案のハイブリツドIC抵抗トリミン
グ試験装置における処理シーケンスのフローチヤ
ート、第3図は従来のハイブリツドIC抵抗トリ
ミング試験装置を示す構成図、第4図はハイブリ
ツドIC抵抗トリミング試験装置における処理シ
ーケンスのフローチヤートである。 図において、1はハイブリツドICソケツト部
、2はレーザートリミング装置部、3は信号発生
処理部、4は電源部、5は計算機部、6は計測器
部、7は表示部、8は検知器である。なお、図中
同一又は相当部分は同一符号を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ハイブリツドIC単体をセツトする為のハイブ
    リツドICソケツト部と、レーザーで抵抗トリミ
    ングを行うレーザートリミング装置部と、上記ハ
    イブリツドICソケツト部及びレーザートリミン
    グ装置部への入力条件設定並びに制御を行う信号
    発生処理部と、上記ICソケツト部、信号発生処
    理部へ電源の供給を行う電源部と、所定のプログ
    ラムを収納し、上記信号発生処理部の制御を行う
    計算機部と、上記ハイブリツドICソケツト部の
    出力信号を測定する計測器部と、測定結果を表示
    する表示部とを備えたハイブリツドIC抵抗トリ
    ミング試験装置において、連続で投下していたレ
    ーザー光を段階的に投下した際、個々のレーザー
    光出力に要した所定の時間を測定し、その時間が
    所定の規定値を超えた場合、レーザートリミング
    装置部のレーザー光を自動的に止める手段を具備
    したことを特徴とするハイブリツドIC抵抗トリ
    ミング試験装置。
JP4212590U 1990-04-20 1990-04-20 Pending JPH042033U (ja)

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JPH042033U true JPH042033U (ja) 1992-01-09

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